標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 16464-1996 半導(dǎo)體器件 集成電路 第1部分：總則》作為中國國家標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)定了半導(dǎo)體器件特別是集成電路的基本要求、測試方法、標(biāo)志、包裝、運輸和儲存等通用規(guī)范。不過，您提供的信息中并未直接給出另一個特定的標(biāo)準(zhǔn)以進行詳細的對比變更分析。但是，我可以基于此類標(biāo)準(zhǔn)更新的一般趨勢和常見變更內(nèi)容，概述可能的變動方向，盡管這無法精確對應(yīng)到某個特定的后續(xù)或前序標(biāo)準(zhǔn)版本。

一般來說，此類標(biāo)準(zhǔn)更新時可能會涉及以下幾個方面的變更：

  1. 技術(shù)內(nèi)容更新：隨著半導(dǎo)體技術(shù)和制造工藝的進步，新標(biāo)準(zhǔn)可能會納入新的技術(shù)要求和測試方法，以適應(yīng)更先進的集成電路產(chǎn)品特性，比如更高的集成度、更快的運行速度、更低的功耗等。

  2. 安全與環(huán)境要求：更新的標(biāo)準(zhǔn)可能會加強對環(huán)境保護和用戶安全的關(guān)注，引入或強化限制有害物質(zhì)使用的規(guī)定（如RoHS指令），以及提高產(chǎn)品在電磁兼容性(EMC)、靜電放電(ESD)防護等方面的要求。

  3. 標(biāo)準(zhǔn)化語言和格式：為了與國際標(biāo)準(zhǔn)接軌，新標(biāo)準(zhǔn)可能會調(diào)整術(shù)語定義、符號標(biāo)記及文檔結(jié)構(gòu)，使其更加國際化、規(guī)范化，便于全球范圍內(nèi)的理解和應(yīng)用。

  4. 測試和評估方法：隨著檢測技術(shù)的發(fā)展，新標(biāo)準(zhǔn)可能會采用更精確、高效的測試設(shè)備和方法來確保集成電路的質(zhì)量和性能，同時可能簡化某些過時的測試流程。

  5. 標(biāo)志、包裝、運輸和儲存要求：為減少運輸損耗和提高存儲效率，標(biāo)準(zhǔn)可能會對集成電路的包裝材料、標(biāo)識要求、防靜電保護措施等進行修訂，確保產(chǎn)品在整個供應(yīng)鏈中的安全和可追溯性。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 1996-07-09 頒布
  • 1997-01-01 實施
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GB/T 16464-1996半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則_第1頁
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文檔簡介

ICS31.200L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16464-1996IEC748-1:1984半導(dǎo)體器件集成電路第1部分:總則SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart:General1996-07-09發(fā)布1997-01-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

第I篇IEC748號標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說明范圍2說明第篇：IEC748-1號標(biāo)準(zhǔn)的目的和說明總則2目的3：說明第篇IEC748-2號、IEC748-3號等標(biāo)準(zhǔn)的目的、說明和要求第W篇：通用術(shù)語………………一般名詞術(shù)語2集成電路的籍位特性工藝術(shù)語5模集成電路和混合膜集成電路器件類型的術(shù)語第V篇通用文字符號…1基本文字符號·……2數(shù)字集成電路的下標(biāo)2.1電壓和電流·……………2.2開關(guān)時間…………3模擬集成電路的下標(biāo)第篇關(guān)于基本額定值和電特性的一般規(guī)定2介紹發(fā)布資料的標(biāo)準(zhǔn)格式以及描述集成電路基本額定值、電特性和功能規(guī)范的方法2.1介紹發(fā)布資料的標(biāo)準(zhǔn)格式·…2.2描述集成電路基本額定值、電特性和功能規(guī)范的方法3“額定值”的基本定義……………冷卻條件的定義……5優(yōu)選溫度一覽表6優(yōu)選電壓一覽表……6.1用于推薦工作條件的優(yōu)選標(biāo)稱電壓-一覽表6.2機械額定值、特性和其他資料…8產(chǎn)品的離散性和一致性：···········99印制線和印制電路）適用于所有種類集成電路的規(guī)范格式10610.1總則

10.2相關(guān)應(yīng)用的描述10.3動能規(guī)范·…·10.4極限值(絕對最大額定值)10.5工作條件……10.610.7編程（適用時）·..10.8機械和環(huán)境額定值，特性和其他資料10.9附加資料·………………·第篇通用測試方法1基本要求………·1.11.2一般注意事項·測試方法的縣體要求…….3測試方法的編號體系·3.1編號原則?……·…··3.2集成電路測試方法的編號表?3.3應(yīng)用表格··.….·….……………·3.4第w篇集成電路的驗收和可靠性第1節(jié)：溉述……第2節(jié)一般原理第3節(jié)電耐久性試驗1目的和說明………2一般要求……2.1電試驗條件…………2.2試驗的持續(xù)時間…2.3失效判定特性和測試…2.4失失效判據(jù)….2.5，注意事項……3特殊要求………3.1耐久性試驗表………3.2耐久性試驗條件…3.3耐久性試驗后，驗收的失效判定特性和失效判據(jù)3.4可靠性試驗的失效判定特性和失效判據(jù)·3.5誤試時處理程序………18第篇靜電敏感器件

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體器件集成電路第1部分：總則GB/T16464-1996IEC748-1:1984SemiconductordevicesIntegratedcircuitsPart1:General本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn)IEC748-1:1984《半導(dǎo)體器件集成電路：第1部分總則》其中包括1991年第1號修改單和1993年第2號修改單的內(nèi)容第I篇IEC748號標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說明圍IEC748給出了有關(guān)集成電路的標(biāo)準(zhǔn)，應(yīng)與IEC747-1一起使用說明TEC748由分別頒發(fā)的IEC748-1號、IEC748-2號等幾項標(biāo)準(zhǔn)組成。通過發(fā)布補充標(biāo)準(zhǔn)(例如IEC748-2A)來適應(yīng)發(fā)展的需要第工篇IEC748-1號標(biāo)準(zhǔn)的目的和說明1總則1EC748-1號標(biāo)準(zhǔn)是748號標(biāo)準(zhǔn)的通用部分,和IC747-1號標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)條款一起構(gòu)成集成電路的通用規(guī)定。因此.IEC747-1號標(biāo)準(zhǔn)的所有條款只要適用于集成電路即可引用日的提供有關(guān)IEC748號標(biāo)準(zhǔn)的范圍和說明的通用內(nèi)容(見第1篇)提供適用于IEC748-2號、748-3號等各類或各分類集成電路標(biāo)準(zhǔn)的一般原則或要求。3說明有關(guān)一般原則或要求的內(nèi)容在本標(biāo)準(zhǔn)的第至第W篇中給予說明。注：本標(biāo)準(zhǔn)第口至第W篇的內(nèi)容：第日篇：關(guān)于IEC748-2號、748-3號等標(biāo)準(zhǔn)的日的、說明和要求第N饒：通用術(shù)語除了I

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