標準解讀
《GB/T 15167-1994 半導體激光光源總規(guī)范》是中國關于半導體激光光源制定的一項國家標準,旨在為半導體激光器(也稱為激光二極管)的生產、測試、使用和驗收提供統一的技術要求和方法。此標準詳細規(guī)定了半導體激光光源的基本性能指標、測試條件、測試方法以及安全要求,確保產品的一致性和可靠性。以下是該標準主要內容的概述:
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范圍:明確了標準適用的半導體激光光源類型,通常包括各種波長、結構和應用領域的半導體激光二極管。
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引用標準:列出了實施本標準時需要參考的其他相關國家標準或國際標準,這些標準涉及基礎術語、測量方法、安全規(guī)范等方面。
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術語和定義:對半導體激光光源相關的專業(yè)術語進行了界定,幫助讀者準確理解標準內容。
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分類與命名:根據半導體激光器的工作波長、輸出功率、結構特點等進行分類,并規(guī)定了命名規(guī)則,便于產品的標識和區(qū)分。
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技術要求:
- 性能指標:規(guī)定了半導體激光光源的關鍵性能參數,如輸出功率、光束質量、工作壽命、穩(wěn)定性、調制特性等。
- 環(huán)境適應性:包括溫度、濕度、振動、沖擊等環(huán)境因素對激光器性能的影響要求。
- 安全性:確保激光產品的輻射安全,符合國家對于激光產品的安全等級劃分和控制要求。
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測試方法:詳細描述了如何測試上述各項技術要求所涉及的性能指標,包括測試環(huán)境、測試設備、測試步驟及數據處理方法。
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檢驗規(guī)則:規(guī)定了產品出廠前應進行的檢驗項目、抽樣方案、合格判定準則等,以保證出廠產品質量。
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標志、包裝、運輸和儲存:要求產品需有清晰的標識信息,同時對包裝材料、方式、運輸條件及儲存環(huán)境提出具體要求,以防止損壞并保持產品性能穩(wěn)定。
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質量保證期限:規(guī)定了制造商應對產品提供質保的時間范圍,以及在質保期內應承擔的責任。
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- 廢止
- 已被廢除、停止使用,并不再更新
- 1994-08-15 頒布
- 1995-03-01 實施



文檔簡介
UDC621.375.826L47中華人民共和國國家標準GB/T15167-94半導體激光光源總規(guī)范Generalspecificationforlightsourceofsemiconductorlasers1994-08-15發(fā)布1995-03-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布
月次主題內容與適用范圍2引用標準·……·3術語、符號、代號4產品分類5技術要求6試驗方法7檢驗規(guī)則8標志、包裝、運輸、財存其他
中華人民共和國國家標準半導體激光光源總規(guī)范GB/T15167-94GeneralspecificationforIightsourceofsemiconductorasers1主題內容與適用范圍本規(guī)范規(guī)定了各類半導體激光光源(以下簡稱產品)的通用要求。產品的特性和有關詳細要求在具體型號產品的詳細規(guī)范中規(guī)定。本規(guī)范適用于由激光二極管管芯、監(jiān)視光敏二極管管芯、熱傳感器(需要時)、致冷器(需要時)封裝于同一外殼內并與尾纖(需要時)幫合成一體的半導體激光光源(簡稱模塊)也適用于由激光二極管(帶或不帶尾纖)構成的激光光源(簡稱二極管光源)。D引用標準GB191包裝儲運圖示標志GB2423.2電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法GB2423.4電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法GB2423.6電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Eb:碰撞試驗方法GB2423.10電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fe:振動(正弦)試驗方法GB2423.15電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ga:恒加速度試驗方法GB2423.22電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法GB2423.23電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Q:密封GB2423.28電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗T:錫焊試驗方法GB2423.29電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗U;引出端及整體安裝件強度GB2424.16電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程密封試驗導則GB2828逐批檢查計數抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)GB2829周期檢查計數抽樣程序及抽樣表(適用于生產過程穩(wěn)定性的檢查)GB6388運輸包裝收發(fā)貨標志GB6663直熱式負溫度系數熱敏電阻器總規(guī)范GB7247激光產品的輻射安全、設備分類、要求和用戶指南GB7408星期編號SJ2214.3半導體光敏二極管暗電流的測試方法SJ2214.5半導體光敏二極管結電容的測試方法SJ2214.9半導體光敏二、三極管脈沖上升、下降時間的測試方法SJ2214.10半導體光敏二、三極管光電流的測試方法SJ2749半導體激
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