GB/T 15136-1994半導(dǎo)體集成電路石英鐘表電路測(cè)試方法的基本原理

UDC.621.315.59：621.382L56中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T_15136—94半導(dǎo)體集成電路石英鐘表電路測(cè)試方法的基本原理Generalprinciplesofmeasuringmethodsforquartzclockandwatchcircuitsofsemiconductorintegratedcircuits1994-06-25發(fā)布1995-02-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

次主題內(nèi)容與適用范圍2引用標(biāo)準(zhǔn)總的要求4參數(shù)測(cè)試4.1電源電壓范圍Ver4.2電源電流/oo4.3驅(qū)動(dòng)電機(jī)電流7wor4.4驅(qū)動(dòng)電機(jī)電壓Vxor4.50起振電壓Vsr4.6停振電壓Vsr4.7驅(qū)動(dòng)電機(jī)脈沖周期了ror4.8動(dòng)電機(jī)脈沖寬度wwor4.9率電壓變化率S，4.10頻率誤差E，4.11振蕩頻率溫度系數(shù)“4.12報(bào)時(shí)輸出端驅(qū)動(dòng)NPN管電流7wA(10報(bào)時(shí)輸出端驅(qū)動(dòng)PNP管電流1m4.13（11）輸入高電平電壓Vm4.14（11），輸入低電平電壓Vr4.15（12）3輸入高電平電流/m4.16（13)榆入低電平電流1u4.17（14）榆出高電平電壓Vom·4.18（14)4.19輸出低電平電壓Vou（15))輸出高電平電流/om4.20(16)輸出低電平電流1ou4.21<16)

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體集成電路石英鐘表電路測(cè)試方法的基本原理GB/T15136-94Generalprinciplesofmeasuringmethodsforguartzclockandwatchcircuitsofsemiconductorintegratedcircuits主題內(nèi)客與適用范醫(yī)本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路石英鐘表電路(以下簡(jiǎn)稱器件)電參數(shù)測(cè)試方法的基本原理.本標(biāo)準(zhǔn)適用于指針式和數(shù)字式普通計(jì)時(shí)功能的石英鐘表用半導(dǎo)體集成電路的電參數(shù)測(cè)試。2引用標(biāo)準(zhǔn)GB3431.1半導(dǎo)體集成電路文字符號(hào)、電參數(shù)文宇符號(hào)GB3431.2半導(dǎo)體集成電路文字符號(hào)引出端功能符號(hào)GB4728電氣圖用圖形符號(hào)3總的要求3.1若無(wú)特殊說(shuō)明,測(cè)試期間，環(huán)境或參考點(diǎn)溫度偏離規(guī)定值的范圍應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定3.2測(cè)試期間，施于被測(cè)器件的電源電壓應(yīng)在規(guī)定值的土1%以內(nèi)，施于被測(cè)器件的其他電參量的精度應(yīng)符合器件詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定。3.3測(cè)試期間，應(yīng)避免外界干擾對(duì)測(cè)試精度的影響。振蕩回路在測(cè)試期間應(yīng)按照詳細(xì)規(guī)范的規(guī)定連接測(cè)試儀表。儀表的連接方式不應(yīng)影響振蕩回路的參數(shù)指標(biāo)。3.4被測(cè)器件與測(cè)試系統(tǒng)連接或斷開(kāi)時(shí)，不應(yīng)超過(guò)器件的使用極限條件。3.5測(cè)試期間，被測(cè)器件應(yīng)按器件詳細(xì)規(guī)范規(guī)定連接外圍網(wǎng)絡(luò)。3.6若電參數(shù)值是由幾步測(cè)試的結(jié)果經(jīng)計(jì)算確定時(shí)，這些測(cè)試應(yīng)連續(xù)進(jìn)行。3.7測(cè)試期間,測(cè)試設(shè)備或操作者應(yīng)避免因靜電感應(yīng)而引起器件失效。4參數(shù)測(cè)試4.1電源電壓范圍Vs4.1.1目的測(cè)試器件處于正常工作狀態(tài)時(shí)的電源