標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 12843-1991 半導(dǎo)體集成電路 微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測試方法的基本原理》這一標(biāo)準(zhǔn)文件，主要規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路中微處理器及與其相連的外圍接口電路在進行電參數(shù)測試時應(yīng)遵循的基本理論、方法和要求。該標(biāo)準(zhǔn)旨在為相關(guān)產(chǎn)品的設(shè)計、生產(chǎn)、檢驗以及質(zhì)量控制提供統(tǒng)一的測試指導(dǎo)原則，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。以下是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的幾個關(guān)鍵點概述：

  1. 適用范圍：標(biāo)準(zhǔn)適用于評估和測試微處理器（CPU）及其與之配套的外圍接口電路（如存儲器、輸入輸出控制器等）的電氣性能參數(shù)。這些參數(shù)包括但不限于工作電壓、電流消耗、信號時序、噪聲容限、頻率響應(yīng)等。

  2. 測試環(huán)境：詳細說明了測試環(huán)境的條件，如溫度、濕度、電源穩(wěn)定性等，以保證測試結(jié)果的一致性和重復(fù)性。此外，還要求測試設(shè)備和儀器需滿足一定的精度要求，以減少測量誤差。

  3. 測試方法：標(biāo)準(zhǔn)詳述了各種電參數(shù)的具體測試方法。例如，通過使用邏輯分析儀、示波器、電源供應(yīng)器等設(shè)備，對芯片的輸入輸出信號延遲時間、高/低電平電壓、上升/下降時間等進行量化測量。同時，介紹了動態(tài)和靜態(tài)測試的不同策略，以及如何在不同操作模式下進行測試。

  4. 參數(shù)定義與計算：對測試中涉及的各種電氣參數(shù)進行了明確的定義，并提供了計算公式或方法，幫助使用者正確理解和分析測試數(shù)據(jù)。這包括但不限于設(shè)置閾值電壓、計算功耗、評估信號完整性等。

  5. 數(shù)據(jù)分析與判斷準(zhǔn)則：標(biāo)準(zhǔn)還提供了對測試數(shù)據(jù)進行分析的方法和判據(jù)，用于判斷被測集成電路是否符合其規(guī)格要求。這包括對測試偏差的允許范圍設(shè)定，以及如何根據(jù)測試結(jié)果進行故障診斷和性能評估。

  6. 安全與防護措施：強調(diào)在進行測試過程中應(yīng)采取適當(dāng)?shù)陌踩胧?，防止靜電放電(ESD)等對集成電路造成損害，確保人員和設(shè)備安全。


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  • 廢止
  • 已被廢除、停止使用，并不再更新
  • 1991-04-28 頒布
  • 1991-12-01 實施
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GB/T 12843-1991半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測試方法的基本原理_第1頁
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GB/T 12843-1991半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測試方法的基本原理-免費下載試讀頁

文檔簡介

UDC621.3.049.774：621.317.3L55中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T12843-91半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數(shù)測試方法的基本原理Generalprincipleofmeasuringmethodsofmicroprocessorsandperipheralinterfacecircuits'parametersforsemiconductorrintegratedcircuits1991-04-28發(fā)布1991-12-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)太集成導(dǎo)體微處理器及外圍接口電路電參數(shù)GB/T12843-91測試方法的基本原理Generalprincipleofmeasuringmethodsofmicroprocessorsandperipheralinterfacecircuits'parametersforsemiconductorintegratedcircuits主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了半導(dǎo)體集成電路微處理器及外圍接口電路(以下簡稱器件)電參數(shù)測試方法的基本原理本標(biāo)準(zhǔn)適用于器件電參數(shù)的測試。2引用標(biāo)準(zhǔn)SJ/Z9015.2（IEC748-2）半導(dǎo)體器件集成電路第2部分數(shù)字集成電路3總要求3.1若無特殊說明，測試期間，環(huán)境或參考點溫度偏離規(guī)定值的范圍，應(yīng)符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定。3.2測試期間，應(yīng)避免外界干擾對測試精度的影響;測試設(shè)備引起的測試誤差應(yīng)符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定3.3測試期間，施于被測器件的電源電壓,應(yīng)在規(guī)定值的士1%以內(nèi);施于被測器件的其他電參量的精度，應(yīng)符合器件詳細規(guī)范的規(guī)定。3.“被測器件與測試系統(tǒng)連接與斷開時，不應(yīng)超過器件的使用極限條件。3.5測試期間,測試設(shè)備或操作者應(yīng)避免因靜電感應(yīng)而引起器件失效4靜態(tài)參數(shù)測試4.1輸入高電平電流1m4.1.1目的本方法是用來測試輸入端施加規(guī)定的高電平時，流入該端的電

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