標準解讀

GB/T 12085.2-1989 是一項中國國家標準，專注于光學和光學儀器在不同環(huán)境條件下的試驗方法。該標準具體針對的是低溫、高溫、濕熱三種環(huán)境試驗，旨在確保光學和光學儀器在各類惡劣氣候條件下仍能保持其性能穩(wěn)定性和可靠性。以下是該標準內容的詳細說明：

標準適用范圍

本標準適用于各種類型的光學儀器及其組件，包括但不限于相機鏡頭、望遠鏡、顯微鏡、激光設備等，規(guī)定了這些設備在進行低溫、高溫、濕熱環(huán)境適應性測試時應遵循的方法和程序。

低溫試驗

  • 目的：驗證光學儀器在低溫環(huán)境下的工作性能和材料耐受性。
  • 條件：規(guī)定了具體的低溫測試溫度范圍，通常包括幾個等級，如-10°C、-20°C、-40°C等，具體依據產品應用需求而定。
  • 方法：將樣品放置于可控溫的低溫箱內，逐步降溫至預定溫度并保持一定時間，之后檢查樣品的功能與外觀變化。

高溫試驗

  • 目的：評估光學儀器在高溫環(huán)境中的運行穩(wěn)定性和材料的熱穩(wěn)定性。
  • 條件：設定一系列高溫測試點，例如50°C、60°C、70°C等，根據設備預期使用環(huán)境確定。
  • 方法：將樣品至于高溫箱中，加熱至目標溫度并維持一段時間，觀察和記錄任何功能異?；蛭锢碜冃?。

濕熱試驗

  • 目的：檢驗光學儀器在高濕度及高溫共同作用下的性能和抗腐蝕能力。
  • 條件：不僅設定溫度（如40°C、50°C），還規(guī)定相對濕度水平（如90%RH、95%RH）。
  • 方法：利用濕熱試驗箱模擬濕熱環(huán)境，使樣品暴露于高溫高濕條件下，檢查密封性、內部凝露及功能影響。

試驗過程控制

  • 預處理：所有試驗前，樣品需進行適當預處理，確保處于基準狀態(tài)。
  • 監(jiān)測：在試驗過程中，需持續(xù)監(jiān)控并記錄環(huán)境參數，確保符合試驗條件。
  • 恢復：試驗結束后，樣品需在標準大氣條件下恢復一段時間，再進行性能檢測和評估。

結果評估

  • 通過對比試驗前后樣品的功能表現(xiàn)、外觀變化及結構完整性，評估其在極端環(huán)境下的適應性。
  • 判定是否滿足設計要求或相關標準規(guī)范。

該標準為光學和光學儀器的制造商、檢測機構提供了統(tǒng)一的測試方法，以確保產品在不同氣候條件下的可靠性和用戶滿意度。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 12085.2-2010
  • 1989-12-29 頒布
  • 1990-08-01 實施
?正版授權
GB/T 12085.2-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法低溫、高溫、濕熱_第1頁
GB/T 12085.2-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法低溫、高溫、濕熱_第2頁
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文檔簡介

UDC681.7.08N30中華人民共和國國家標準GB12085.2-89光學和光學儀器環(huán)境試驗方法低溫、高溫、濕熱Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Cold,heat,humidity1989-12-29發(fā)布1990-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準光學和光學儀器環(huán)境試驗方法GB12085.2-89低溫、高溫、濕熱Opticsandopticaliastruments-Environmentalltes1methods-Cold,heat,humidity主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記本標準適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。2試驗目的研究試樣的光學、熱學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程度。引用標準GB12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法專術語、試驗范圍GB2423.1電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB2423.2電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.3電電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB2423.4電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db；交變濕熱試驗方法試驗條件4.1試驗箱（室）有效工作空間中各處溫度應均勻，并應和控制點的數值一致，試驗箱（室）壁上和頂上的結水不得滴落到試樣上。4.2散熱試樣試驗時，應在有關標準中規(guī)定溫度傳感器的安裝位置和數量。5條件試驗試樣的各個部分都達到試驗箱（室）的溫度±3℃之內開始試驗。對散熱試樣，在溫度穩(wěn)定的試驗箱（室）內試樣的溫度變化在每小時不超過±1℃時作為開始（或終止）暴露周期的時間（條件試驗方法14或15)。試樣的溫度達到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1h。5.1恒應力狀態(tài)試樣在恒應力狀態(tài)暴露期間，溫度變化應十分緩慢以防止試樣損壞。用條件試驗方法11或12時，溫度變化階段應保持最大的相對濕度，并在有關標準中說明試樣上是否允許出現(xiàn)攝露。5.1.1條件試驗方法10：低溫條件試

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