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文檔簡(jiǎn)介

主講:艾海濤SPC知識(shí)培訓(xùn).000.010.020.030.040.050.060.070.080.090.100123456LCLCLUCL????08-8-151一、SPC概念

SPC是英文StatisticalProcessControl(統(tǒng)計(jì)過程控制)三字首的簡(jiǎn)稱。是將統(tǒng)計(jì)學(xué)技術(shù),應(yīng)用于控制生產(chǎn)工序,對(duì)過程中的各個(gè)階段進(jìn)行監(jiān)控,務(wù)求在每一工序所生產(chǎn)的制品都可達(dá)到要求的規(guī)格,保證產(chǎn)品與服務(wù)滿足要求的均勻性。而非倚靠最后的品質(zhì)各站點(diǎn)檢出潛伏的次品。推行SPC是現(xiàn)代質(zhì)量管理的要求,為的是貫徹預(yù)防原則。貫徹預(yù)防原則是現(xiàn)代質(zhì)量管理的核心和精髓。08-8-152二、SPC的產(chǎn)生工業(yè)革命以后,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)展,大規(guī)模生產(chǎn)的形成,如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量成為一個(gè)突出問題,單純依靠事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求,必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。于是,英、美等國(guó)開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。1924年,美國(guó)的休哈特博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”,對(duì)過程變量進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。08-8-153三、SPC的特點(diǎn)1、SPC可以判斷過程的異常,及時(shí)告警。2、SPC是全系統(tǒng)、全過程的,強(qiáng)調(diào)全員參加,而不是只依靠少數(shù)質(zhì)量管理人員。

3、強(qiáng)調(diào)應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)來保證預(yù)防原則的實(shí)現(xiàn)。4、強(qiáng)調(diào)從整個(gè)過程、整個(gè)體系來推行SPC,而不是僅局限于個(gè)別工序,采用什么控制圖的問題。

08-8-154四、SPC的作用在質(zhì)量診斷方面,可以用來量度過程的穩(wěn)定性,即過程是否處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài);在質(zhì)量控制方面,可以用來確定什么時(shí)候需要對(duì)過程加以調(diào)整,而什么時(shí)候則需要使過程保持相應(yīng)的穩(wěn)定狀態(tài);在質(zhì)量改進(jìn)方面,可以用來確認(rèn)某過程是否得到了改進(jìn)。08-8-155四、SPC的作用1、從數(shù)據(jù)到圖形應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)可以反饋生產(chǎn)或服務(wù)過程性質(zhì)變化的信息。2、幫助我們分析過程變化的原因(普通原因和特殊原因)3、對(duì)于超出控制界限的點(diǎn)采取整改行動(dòng)。4、根據(jù)樣本數(shù)據(jù)可以對(duì)過程性質(zhì)作出評(píng)價(jià)5、評(píng)定生產(chǎn)/過程性質(zhì)變化與原來過程狀態(tài)進(jìn)行比較。數(shù)據(jù)SPC圖形你敢跑!措施08-8-156五、SPC控制圖應(yīng)用的好處節(jié)約成本使標(biāo)準(zhǔn)趨于準(zhǔn)確使過程更加穩(wěn)定使控制規(guī)格更加真實(shí)減少檢驗(yàn)頻度減少問題出現(xiàn)的頻度改善和提高客戶的滿意度可靠地測(cè)出實(shí)際過程能力改善測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度改善產(chǎn)品品質(zhì)減少出貨周期時(shí)間08-8-157六、員工對(duì)SPC的責(zé)任A.提供并紀(jì)錄正確、真實(shí)的數(shù)據(jù)。B.留意SPC圖上的數(shù)據(jù)走勢(shì),如有超出UCL(管制上限),立即采取相關(guān)改善措施。C.留意制定之次品分析表,關(guān)心主要之次品并向主管反映次品之成因,協(xié)助有關(guān)人員減低主要次品的形成。D.積極參與SPC圖的制作,確保SPC圖之?dāng)?shù)據(jù)準(zhǔn)時(shí)更新。唯有工藝穩(wěn)定,關(guān)鍵因素被控制在制定范圍內(nèi),即時(shí)處理并解決錯(cuò)誤問題,才可確保工藝輸出品質(zhì)優(yōu)良之產(chǎn)品,生產(chǎn)暢順。08-8-158SPC強(qiáng)調(diào)預(yù)防,防患于末然是SPC的宗旨08-8-159七、SPC控制圖定義什么是控制圖對(duì)過程質(zhì)量加以測(cè)定、記錄并進(jìn)行控制管理的一種用統(tǒng)計(jì)方法設(shè)計(jì)的圖。控制圖的組成UCL(UpperControlLimit)上控制限LCL(LowerControlLimit)下控制限CL(CentralLine)中心線按時(shí)間順序抽取的樣品統(tǒng)計(jì)量數(shù)值的描點(diǎn)序列08-8-1510八、SPC常用的術(shù)語(yǔ)名稱解釋平均值(X)一組測(cè)量值的均值極差Range)一個(gè)子組、樣本或總體中最大與最小值之差σ(Sigma)用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母標(biāo)準(zhǔn)差(StandardDeviation)過程輸出的分布寬度或從過程中統(tǒng)計(jì)抽樣值(例如:子組均值)的分布寬度的量度,用希臘字母σ或字母s(用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差)表示。分布寬度(Spread)一個(gè)分布中從最小值到最大值之間的間距中位數(shù)?x將一組測(cè)量值從小到大排列后,中間的值即為中位數(shù)。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù),一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。單值(Individual)一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的一次測(cè)量,通常用符號(hào)X表示。08-8-1511名稱解釋中心線(CentralLine)控制圖上的一條線,代表所給數(shù)據(jù)平均值。過程均值(ProcessAverage)一個(gè)特定過程特性的測(cè)量值分布的位置即為過程均值,通常用X來表示。鏈(Run)控制圖上一系列連續(xù)上升或下降,或在中心線之上或之下的點(diǎn)。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。變差(Variation)過程的單個(gè)輸出之間不可避免的差別;變差的原因可分為兩類:普通原因和特殊原因。特殊原因(SpecialCause)一種間斷性的,不可預(yù)計(jì)的,不穩(wěn)定的變差根源。有時(shí)被稱為可查明原因,它存在的信號(hào)是:存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。08-8-1512名稱解釋普通原因(CommonCause)造成變差的一個(gè)原因,它影響被研究過程輸出的所有單值;在控制圖分析中,它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。過程能力(ProcessCapability)是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離,用Z來表示。移動(dòng)極差(MovingRange)兩個(gè)或多個(gè)連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。08-8-1513制程控制系統(tǒng)

有反饋的過程控制系統(tǒng)模型

過程的呼聲人設(shè)備材料方法產(chǎn)品或環(huán)境服務(wù)輸入過程/系統(tǒng)輸出

顧客的呼聲我們工作的方式/資源的融合統(tǒng)計(jì)方法顧客識(shí)別不斷變化的需求量和期望08-8-1514變差的普通原因和特殊原因普通原因:

是指過程在受控的狀態(tài)下,出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程的變差的原因。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)系統(tǒng)的偶然原因。只有過程變差的普通原因存在且不改變時(shí),過程的輸出才可以預(yù)測(cè)。

特殊原因:(通常也叫可查明原因)是指造成不是始終作用于過程的變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時(shí)將造成(整個(gè))過程的分布改變。只用特殊原因被查出且采取措施,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測(cè)的影響過程的輸出。08-8-1515

每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同

范圍范圍范圍范圍但它們形成一個(gè)模型,若穩(wěn)定,可以描述為一個(gè)分布

范圍范圍范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分位置分布寬度形狀或這些因素的組合08-8-1516如果僅存在變差的普通原因,目標(biāo)值線隨著時(shí)間的推移,過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè)。預(yù)測(cè)時(shí)間范圍目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因,隨著時(shí)間的推預(yù)測(cè)移,過程的輸出不穩(wěn)定。時(shí)間范圍08-8-1517局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施

局部措施通常用來消除變差的特殊原因通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施通??杉m正大約15%的過程問題對(duì)系統(tǒng)采取措施通常用來消除變差的普通原因幾乎總是要求管理措施,以便糾正大約可糾正85%的過程問題08-8-1518過程控制

受控

(消除了特殊原因)

時(shí)間范圍不受控(存在特殊原因)08-8-1519

過程能力受控且有能力符合規(guī)范(普通原因造成的變差已減少)

規(guī)范下限

規(guī)范上限

時(shí)間范圍受控但沒有能力符合規(guī)范(普通原因造成的變差太大)08-8-1520控制圖

上控制限中心限下控制限1、收集收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2、控制根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限識(shí)別變差的特殊原因并采取措施3、分析及改進(jìn)確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程08-8-1521

過程改進(jìn)循環(huán)1、分析過程2、維護(hù)過程本過程應(yīng)做什么?監(jiān)控過程性能會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤?查找變差的特殊原因并本過程正在做什么?采取措施。達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)?確定能力計(jì)劃實(shí)施計(jì)劃實(shí)施措施研究措施研究計(jì)劃實(shí)施

3、改進(jìn)過程措施研究改進(jìn)過程從而更好地理解普通原因變差減少普通原因變差08-8-1522九、控制圖的類型計(jì)量型數(shù)據(jù)X-R均值和極差圖計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)Pchart不良率管制圖X-δ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖nPchart不良數(shù)管制圖X-R中位值極差圖Cchart缺點(diǎn)數(shù)管制圖X-MR單值移動(dòng)極差圖Uchart單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖08-8-1523十、控制圖的選擇確定要制定控制圖的特性是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎?否關(guān)心的是不合格品率?否關(guān)心的是不合格數(shù)嗎?是樣本容量是否恒定?是使用np或p圖否使用p圖樣本容量是否恒定?否使用u圖是是使用c或u圖是性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣—例如:化學(xué)槽液、批量油漆等?否子組均值是否能很方便地計(jì)算?否使用中位數(shù)圖是使用單值圖X-MR是08-8-1524接上頁(yè)子組容量是否大于或等于9?是否是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的S值?使用X—R圖是否使用X—R圖使用X—s圖08-8-1525計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖與過程、產(chǎn)品有關(guān)的控制圖

計(jì)量單位:(mm,g/L等)過程

人員

方法

材料

環(huán)境

設(shè)備

123456結(jié)果舉例控制圖舉例外形尺寸(mm)孔徑(mm)銅厚(um)線寬、線距(mm)藥水濃度(g/L)X-R圖

X-MR圖08-8-1526接上頁(yè)測(cè)量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果不精密精密準(zhǔn)確不準(zhǔn)確??????????????????????????????????08-8-1527使用控制圖的準(zhǔn)備1、建立適合于實(shí)施的環(huán)境a排除阻礙人員公正的因素b提供相應(yīng)的資源c管理者支持2、定義過程根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系,分析每個(gè)階段的影響因素。3、確定待控制的特性應(yīng)考慮到:顧客的需求當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域特性間的相互關(guān)系4、確定測(cè)量系統(tǒng)a規(guī)定檢測(cè)的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。b確保檢測(cè)設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。08-8-1528接上頁(yè)5、使不必要的變差最小確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行確保輸入的材料符合要求恒定的控制設(shè)定值注:應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件,如:刀具更新,新的材料批次等,有利于下一步的過程分析。08-8-1529管控點(diǎn)的選擇原則顧客的需求:這里顧客是指任何后續(xù)過程,以及使用最終產(chǎn)品的顧客。關(guān)鍵性的流程控制點(diǎn):這些關(guān)鍵性的控制點(diǎn)往往是造成缺陷或報(bào)廢的潛在原因。當(dāng)前的潛在問題區(qū)域:考慮現(xiàn)在的浪費(fèi)或性能不好的證據(jù)(如廢品,返工,與目標(biāo)不符等)以及存在風(fēng)險(xiǎn)的區(qū)域(如:對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)或服務(wù),或過程中任意要素即將進(jìn)行變化。)確定5W1H(何時(shí),何地,誰,如何,收集什么信息,為什么)。在研究開始之前應(yīng)消除不必要的外部變差原因。目的是確定甚至不使用控制圖時(shí)就能且應(yīng)糾正的明顯問題。在所有情況下,應(yīng)堅(jiān)持在過程登記表記錄所有相關(guān)事件例如:使用流程改變,原材料的變化,員工的變化等)08-8-1530十二、計(jì)量型控制圖計(jì)算公式08-8-153108-8-153212.1X-MR圖—單值和移動(dòng)極差圖目的:對(duì)公司生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)制程的初始能力進(jìn)行分析和監(jiān)控,對(duì)有規(guī)格變異的產(chǎn)品質(zhì)量特性或過程質(zhì)量特性值進(jìn)行動(dòng)態(tài)控制,以判定工程是否處于穩(wěn)定狀態(tài),并依據(jù)制定相應(yīng)的措施糾正變異??刂泣c(diǎn)出界!問題在這!措施應(yīng)是—!08-8-153312.1X-MR圖—單值和移動(dòng)極差圖1、用途測(cè)量費(fèi)用很大時(shí),(例如破壞性實(shí)驗(yàn))或是當(dāng)任何時(shí)刻點(diǎn)的輸出性質(zhì)比較一致時(shí)(例如:化學(xué)溶液濃度等)。1-1移動(dòng)圖的三中用法:

a單值b移動(dòng)組c固定子組

2、數(shù)據(jù)收集2-1在數(shù)據(jù)圖上,從左到右記錄單值的讀數(shù)。

2-2計(jì)算單值間的移動(dòng)極差(MR),通常是記錄每對(duì)連續(xù)讀數(shù)間的差值。

2-3單值圖(X)圖的刻度按下列最大者選?。?/p>

a產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)。

b單值的最大值與最小值之差的1.5到2倍。2-4移動(dòng)極差圖(MR)的刻度間隔與X圖一致。08-8-153412.1X-MR圖—單值和移動(dòng)極差圖1計(jì)算控制限

X=(X1+X2+…+Xk)/K

R=(MR1+MR2+…+MRk)/(K-1)

UCLMR=D4R

LCLMR=D3RUCLX=X+E2RLCLX=X-E2R08-8-153512.1X-MR圖—單值和移動(dòng)極差圖n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22E22.661.771.461.291.181.111.051.010.98樣本容量小于7時(shí),沒有極差的控制下限。n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.0808-8-153612.2X-R圖—均值和極差圖定義:用于長(zhǎng)度、重量、時(shí)間、強(qiáng)度、力值、成份等以計(jì)量值來管理工程的控制圖,利用統(tǒng)計(jì)手法,設(shè)定控制均值X和極差R的界限,同時(shí)利用統(tǒng)計(jì)手法判定導(dǎo)致工程質(zhì)量變異是隨機(jī)原因,還是異常原因的圖表。光強(qiáng)度1000Cd,此應(yīng)為計(jì)量值!今天我打了12只野鳥!我計(jì)數(shù)了!08-8-15371計(jì)算平均極差(R)及過程均值(X)R=(R1+R2+…+Rk)/k(K表示子組數(shù)量)

X=(X1+X2+…+Xk)/k2計(jì)算控制限

計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均值和極差的變化和范圍??刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。

計(jì)算公式:

UCLx=X+A2RUCLR=D4RLCLx=X-A2RLCLR=D3R

08-8-153812.3均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖(X-s圖)

一般來講,當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用S圖代替R圖:

a

數(shù)據(jù)由計(jì)算機(jī)按設(shè)定時(shí)序記錄和/或描圖的,因s的計(jì)算程序容易集成化。

b使用的子組樣本容量較大,更有效的變差量度是合適的c由于容量大,計(jì)算比較方便時(shí)。

1如果原始數(shù)據(jù)量大,常將他們記錄于單獨(dú)的數(shù)據(jù)表,計(jì)算出X和s

2

計(jì)算每一子組的標(biāo)準(zhǔn)差s=∑(Xi–X)2n–108-8-1539

式中:Xi,X;N分別代表單值、均值和樣本容量。

注:s圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的X圖的相同。3計(jì)算控制限

均值的上下限

USLX=X+A3SLSLX=X-A3S

計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差的控制限

LSLS=B4S

LSLS=B3S

08-8-154012.4中位數(shù)極差圖(X-R)

可用來對(duì)幾個(gè)過程的輸出或一個(gè)過程的不同階段的輸出進(jìn)行比較1一般情況,中位數(shù)圖用于子組的樣本容量小于或等于10的情況,當(dāng)子組樣本容量為偶數(shù)時(shí),中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。2只要描一張圖,刻度設(shè)置為下列的較大者:

a產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù)

b測(cè)量值的最大值與最小值之差的1.5到2倍。c刻度應(yīng)與量具一致。3將每個(gè)子組的單值描在圖中一條垂直線上,圈上子組的中位數(shù),并連接起來。4將每個(gè)子組的中位數(shù)?X和極差R填入數(shù)據(jù)表.5

控制限的計(jì)算

?08-8-15415-1計(jì)算子組中位數(shù)的均值,并在圖上畫上這條線作為中位線,將其記為?X;5-2計(jì)算極差的平均值,記為R;5-3計(jì)算極差和中位數(shù)的上下控制限:USLR=D4RUSLX=X+

A2RLSLR=D3RLSLX=X-A2R

式中:D3、D4和A2是隨樣本容量變化的常數(shù),見下表:

?????

?n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22A21.881.190.800.690.550.510.430.410.3608-8-154212.5P管制圖P圖是用來測(cè)量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品(缺陷)項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。

1收集數(shù)據(jù)2選擇子組的容量、頻率和數(shù)量子組容量:子組容量足夠大(最好能恒定),并包括幾個(gè)不合格品。分組頻率:根據(jù)實(shí)際情況,兼大容量和信息反饋快的要求。

子組數(shù)量:收集的時(shí)間足夠長(zhǎng),使得可以找到所有可能影響過程的變差源。一般為25組。3計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率(P)

P=np/n08-8-1543

n為每組檢驗(yàn)的產(chǎn)品的數(shù)量;np為每組發(fā)現(xiàn)的不良品的數(shù)量。選擇控制圖的坐標(biāo)刻度4選擇控制圖的坐標(biāo)刻度

一般不良品率為縱坐標(biāo),子組別(小時(shí)/天)作為橫坐標(biāo),縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的1.5到2倍。5將不合格品率描繪在控制圖上a描點(diǎn),連成線來發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。

b在控制圖的“備注”部分記錄過程的變化和可能影響過程的異常情況。6計(jì)算控制限計(jì)算過程平均不合格品率(P)

P=(n1p1+n2p2+…+nkpk)/(n1+n2+…+nk)08-8-1544式中:n1p1;nkpk分別為每個(gè)子組內(nèi)的不合格的數(shù)目

n1;nk為每個(gè)子組的檢驗(yàn)總數(shù)計(jì)算上下控制限(USL;LSL)

USLp=P+3P(1–P)/n

LSLp=P–3P(1–P)/nP為平均不良率;n為恒定的樣本容量08-8-15457過程能力解釋計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖上的每一點(diǎn)直接表明不符合顧客要求的不合格品的百分?jǐn)?shù)和比值,這就是對(duì)能力的定義08-8-154612.6不合格品數(shù)的np圖

1不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告。2各階段子組的樣本容量相同。

3受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同,樣本容量足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。

4記錄表上記錄樣本的容量。5計(jì)算控制限

計(jì)算過程不合格數(shù)的均值(np)

np=(np1+np2+…+npk)/k08-8-1547式中的np1,np2,…為K個(gè)子組中每個(gè)子組的不合格數(shù)。計(jì)算上下控制限UCLnp=np+3np(1-p)LCLnp=np-3np(1-p)p為過程不良品率,n為子組的樣本容量。過程控制解釋和過程能力解釋同p管制圖08-8-154812.7不合格(缺陷)數(shù)的c圖1C圖用來測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格(的缺陷)的數(shù)量,C圖要求樣本的容量恒定或受檢驗(yàn)材料的數(shù)量恒定,主要用于以下兩類檢驗(yàn):2不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上(如:每條尼龍上的瑕疵,玻璃上的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn)),以及可以用不合格的平均比率表示的地方(如100平方米上的缺陷)3在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。4檢驗(yàn)樣本的容量(零件的數(shù)量,織物的面積,電線的長(zhǎng)度等)要求相同,這樣描繪的C值將反映質(zhì)量性能的變化而不是外觀的變化,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。08-8-15495記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格數(shù)(C)。6計(jì)算控制限計(jì)算過程不合格數(shù)均值(C):C=(C1+C2+…+Ck)/K式中:C1,C2,…Ck為每個(gè)子組內(nèi)的缺陷數(shù)計(jì)算控制限U/LCLc=C±3C7過程控制解釋(同P管制圖)8過程能力解釋

固定樣本容量為n的過程能力為

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