超聲波檢測(cè)第六章

1、超聲波檢測(cè)第六章 第1頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 第六章 鍛件與鑄件超聲波探傷 鍛件和鑄件是制造各種機(jī)械設(shè)備及鍋爐、壓力容器的重要毛坯件，特別是鍛件，在高參數(shù)大型容器中和受壓元件制造中應(yīng)有非常廣泛。它們?cè)谏a(chǎn)加工過(guò)程中常會(huì)產(chǎn)生一些缺陷，影響設(shè)備的安全使用，因此有必要對(duì)其進(jìn)行超聲檢測(cè)。本章重點(diǎn)討論鍛件檢測(cè)問(wèn)題，對(duì)鑄件檢測(cè)也將作簡(jiǎn)單介紹。第2頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三6.1 鍛件超聲探傷6.1.1 鍛件加工及常見(jiàn)缺陷 鍛件是將鑄錠或鍛坯在鍛錘或模具的壓力下變形制成一定形狀和尺寸的零件毛坯。鍛壓過(guò)程包括加熱、變形和冷卻。鍛造的方式大致分

2、為鐓粗、拔長(zhǎng)和滾壓，鐓粗是鍛壓力施加于坯料的兩端，形變發(fā)生在橫截面上，拔長(zhǎng)是鍛壓力施加于坯料的外圓，形變發(fā)生在長(zhǎng)度方向。滾壓是先鐓粗坯料，然后沖孔，再插入芯棒并在外圓施加鍛壓力。滾壓既有縱向變形，又有橫向變形。其中鐓粗主要用于餅類鍛件，拔長(zhǎng)主要用于軸類鍛件，而筒形鍛件一般先鐓粗，后沖孔，再滾壓。第3頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 為了改善鍛件的組織性能，鍛后還要進(jìn)行正火、退火或調(diào)質(zhì)等熱處理，因此鍛件的晶粒一般都很細(xì)，有良好的透聲性。 鍛件中的缺陷主要有兩個(gè)來(lái)源：一種是由鑄錠中缺陷引起的缺陷；另一種是鍛造過(guò)程及熱處理中產(chǎn)生的缺陷。常見(jiàn)的缺陷類型有：1.縮孔縮孔是鑄錠冷

3、卻收縮時(shí)在頭部形成的缺陷，鍛造時(shí)因切頭量不足而殘留下來(lái)，多見(jiàn)于軸類鍛件的頭部，具有較大的體積，并位于橫截面中心，在軸向具有較大的延伸長(zhǎng)度。第4頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三2.縮松 縮松是在鑄錠凝固收縮時(shí)形成的孔隙和孔穴，在鍛造過(guò)程中因變形量不足而未被消除?？s松多出現(xiàn)在大型鍛件中。3.夾雜物 根據(jù)其來(lái)源或性質(zhì)，夾雜物分為內(nèi)在夾雜物、外來(lái)非金屬夾雜物和金屬夾雜物。內(nèi)在非金屬夾雜物是鑄錠中包含的脫氧劑、合金元素與氣體的反應(yīng)物尺寸較小，常漂浮于熔液上，最后集結(jié)在鑄錠中心及頭部。 外來(lái)非金屬夾雜物是冶煉、澆注過(guò)程中混入的耐火材料或雜質(zhì)，尺寸較大，故?；祀s于鑄錠下部。偶然落入

4、的非金屬夾雜則無(wú)確定位置。第5頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 金屬夾雜物是冶煉時(shí)加入合金較多且尺寸較大，或者澆注時(shí)飛濺小顆?；虍惙N金屬落入后未被完全熔化而形成的缺陷。4.裂紋 鍛件裂紋的形成原因很多。按形成原因，裂紋的種類可大致分為以下幾種：因冶金缺陷（如縮孔殘余）在鍛造時(shí)擴(kuò)大形成的裂紋。因鍛造工藝不當(dāng)（如加熱溫度過(guò)高、加熱速度過(guò)快、變形不均勻、變形量過(guò)大、冷卻速度過(guò)快等）而形成的裂紋。 熱處理過(guò)程中形成的裂紋。如淬火時(shí)加熱溫度較高，是鍛件組織粗大，淬火時(shí)可能產(chǎn)生裂紋；冷卻不當(dāng)引起的開(kāi)裂，回火不及時(shí)或不當(dāng)，由鍛件內(nèi)部殘余應(yīng)力引起的裂紋。第6頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，

5、5月20日，10點(diǎn)16分，星期三5.折疊（新教材內(nèi)容） 熱金屬的突出部位被壓折并嵌入鍛件表面形成的缺陷稱為折疊，多發(fā)生在鍛件的內(nèi)圓角和尖角處。折疊表面上的氧化層，能使該部位的金屬無(wú)法連接。6.白點(diǎn) 白點(diǎn)是鍛件含氫較高，鍛后冷卻過(guò)快，鋼中溶解的氫來(lái)不及逸出，造成應(yīng)力過(guò)大引起的開(kāi)裂。白點(diǎn)主要集中在鍛件大截面中心。合金總含量超過(guò)3.54.0和含Cr、Ni、Mn的合金鋼大型鍛件容易產(chǎn)生白點(diǎn)。白點(diǎn)在鋼中總是成群出現(xiàn)。第7頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 (鋼鍛件中由于氫的存在所產(chǎn)生的小裂紋稱為白點(diǎn)。白點(diǎn)對(duì)鋼材的力學(xué)性能影響很大，當(dāng)白點(diǎn)平面垂直方向受應(yīng)力作用時(shí)，會(huì)導(dǎo)致鋼件突然斷裂

6、。因此，鋼材不允許白點(diǎn)存在。白點(diǎn)多在高碳鋼、馬氏體鋼和貝氏體鋼中出現(xiàn)。奧氏體鋼和低碳鐵素體鋼一般不出現(xiàn)白點(diǎn))。 鍛件中缺陷所具有的特點(diǎn)與其形成過(guò)程有關(guān)。鑄錠組織在鍛造過(guò)程中沿金屬延伸方向被拉長(zhǎng)，由此形成的纖維狀組織通常被稱為金屬流線。金屬流線方向一般代表鍛造過(guò)程中金屬延伸的主要方向。除裂紋外，鍛件中的多數(shù)缺陷，尤其是由鑄錠中缺陷引起的鍛件缺陷常常是沿金屬流線方向分布的，這是鍛件中缺陷的重要特征之一。第8頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三6.1.2 探傷方法概述 按探傷時(shí)間分類，鍛件探傷可分為原材料探傷和制造工程中的探傷，產(chǎn)品檢驗(yàn)及在役檢驗(yàn)。鍛件可采用接觸法或水浸法進(jìn)行檢

7、測(cè)。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，以及人們對(duì)于水浸法便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)檢測(cè)、人為因素少、檢測(cè)可靠性高的特點(diǎn)的認(rèn)識(shí)不斷加深，那些要求高分別力、高靈敏度和高可靠性檢測(cè)的重要鍛件，越來(lái)越多地采用水浸法進(jìn)行檢測(cè)。鍛件的組織很細(xì)，由此引起的聲波衰減和散射影響相對(duì)較小，因此，鍛件上有時(shí)可以用較高的檢測(cè)頻率（如10MHz以上），以滿足高分辨力檢測(cè)要求和實(shí)現(xiàn)對(duì)較小尺寸缺陷檢測(cè)的目的。 第9頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 由于經(jīng)過(guò)鍛造變形，鍛件中的缺陷一般具有方向性。通常冶金缺陷的分布和方向與鍛造流線方向有關(guān)。因此，為了得到最好的檢測(cè)效果，鍛件檢測(cè)時(shí)聲束入射面和入射方向的選擇需要考慮鍛造變形工藝和

8、流線方向，并應(yīng)盡可能使聲束方向與鍛造流線方向垂直。以模鍛為例，模鍛件的變形流線是與外表面平行的，因此檢測(cè)時(shí)一般要求超聲聲束方向應(yīng)與外表面垂直入射，掃查需沿外表面形狀進(jìn)行，通常需要采用水浸法或水套探頭方可實(shí)現(xiàn)。 鍛件常用于使用安全要求較高的關(guān)健部件，因此，通常需要對(duì)其表面和外形進(jìn)行加工，以保證鍛件具有光滑的聲入射面滿足高靈敏度檢測(cè)的需要，同時(shí)使其外形盡可能為超聲波覆蓋整個(gè)鍛件區(qū)域提供方便的入射面。第10頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 鍛件檢測(cè)的時(shí)機(jī)，原則上應(yīng)選擇在熱處理后，沖孔、開(kāi)槽等精加工之前進(jìn)行。因?yàn)榭?、槽、臺(tái)階等復(fù)雜形狀會(huì)形成超聲聲束無(wú)法到達(dá)的區(qū)域，增加檢測(cè)的盲

9、區(qū)，同時(shí)可能產(chǎn)生應(yīng)形狀引起的非缺陷干擾波，影響缺陷的檢測(cè)和判別。而在熱處理后進(jìn)行檢測(cè)，有利于發(fā)現(xiàn)熱處理過(guò)程產(chǎn)生的缺陷，如熱處理裂紋等。鍛件超聲檢測(cè)常用技術(shù)有：縱波直入射檢測(cè)、縱波斜入射檢測(cè)、橫波檢測(cè)。由于鍛件外形可能很復(fù)雜，有時(shí)為了發(fā)現(xiàn)不同取向的缺陷，在同一個(gè)鍛件上需同時(shí)采用縱波和橫波檢測(cè)。其中縱波直入射檢測(cè)是最基本的檢測(cè)方式。第11頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三1.軸類鍛件的檢測(cè)方法 軸類鍛件的鍛造工藝主要以拔長(zhǎng)為主，因而大部分缺陷的取向與軸線平行，此類缺陷的檢測(cè)以縱波直探頭從徑向檢測(cè)效果最佳。考慮到缺陷會(huì)有其他的分布及取向。因此軸類鍛件檢測(cè)，還應(yīng)輔以直探頭在端面

10、的軸向檢測(cè)，必要是還應(yīng)附以斜探頭的徑向檢測(cè)及軸向檢測(cè)。 （1）直探頭徑向和軸向檢測(cè) 如圖6.1所示，用直探頭作徑向檢測(cè)時(shí)也將探頭置于軸的外圓作全面掃查，以發(fā)現(xiàn)軸類鍛件中常見(jiàn)的縱向缺陷。用直探頭作軸向檢測(cè)時(shí)，探頭置于軸的端面，并在軸端作全面掃查，以檢出與軸線垂直的橫向缺陷。但當(dāng)軸的長(zhǎng)度太長(zhǎng)或軸有多個(gè)直徑不等的軸段時(shí)，會(huì)有聲束掃查不到的死區(qū)，因而此方法有一定的局限性。第12頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 圖 6.1 軸類鍛件直探頭徑向、軸向探傷（2）斜探頭周向及軸向檢測(cè) 當(dāng)缺陷呈徑向且為單片狀時(shí)，或軸上有幾個(gè)不同直徑的軸段，直探頭徑向或軸向檢測(cè)都很難發(fā)現(xiàn)。此時(shí)，需要使用

11、適當(dāng)折射角的斜探頭作周向及軸向檢測(cè)?？紤]到缺陷的取向，檢測(cè)時(shí)探頭應(yīng)作正、分兩個(gè)方向的全面掃查，如圖6.2所示。第13頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 圖 6.2 軸類鍛件斜探頭周向、軸向探傷第14頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三2.餅類、碗類鍛件的檢測(cè) 餅類和碗類鍛件的鍛造工藝主要以敦促為主，缺陷以平行端面分布為主，所以用直探頭在端面檢測(cè)是檢出缺陷的最佳方法。 對(duì)于某些重要的餅類、碗類鍛件或厚度大的鍛件，應(yīng)從兩個(gè)端面進(jìn)行檢測(cè)，此外有時(shí)還需從外園面徑向檢測(cè)，如圖6.3所示。 從端面檢測(cè)時(shí)，探頭置于鍛件端面進(jìn)行全面檢測(cè)，以檢出與端面平行的缺陷。從

12、鍛件側(cè)面進(jìn)行徑向檢測(cè)時(shí)，探頭在鍛件側(cè)面掃查，以發(fā)現(xiàn)某些軸向缺陷。第15頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三3.筒形或環(huán)形鍛件的檢測(cè) 筒形或環(huán)形鍛件的鍛造工藝是先鐓粗，后沖孔，再滾壓。因此，缺陷的取向比軸類鍛件和餅類鍛件中的缺陷取向復(fù)雜，所以該類鍛件的檢測(cè)既需要進(jìn)行縱波直入射檢測(cè)，還應(yīng)進(jìn)行橫波斜探頭檢測(cè)。由于鑄錠中質(zhì)量較差的中心孔部分已被沖孔時(shí)去除，因而筒形或環(huán)形鍛件的質(zhì)量一般較好。（1）直探頭檢測(cè) 如圖6.4所示，用直探頭從筒體外圓面或端面進(jìn)行檢測(cè)。外圓檢測(cè)的目的是為了發(fā)現(xiàn)與軸線平行的周向缺陷，端面檢測(cè)的目的是發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的橫向缺陷。第16頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月

13、20日，10點(diǎn)16分，星期三 圖 6.4筒類鍛件直探頭探傷 圖 6.5 筒類鍛件斜探頭探傷第17頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三（2）雙晶直探頭檢測(cè) 是為了檢測(cè)筒體近表面缺陷，可采用雙晶直探頭從外圓面或端面檢測(cè)，如圖6.4所示。（3）斜探頭檢測(cè) 如圖6.5所示，軸向缺陷檢測(cè)是為了發(fā)現(xiàn)與軸線垂直的徑向缺陷，周向檢測(cè)是為了發(fā)現(xiàn)與軸線平行的徑向缺陷。周向檢測(cè)時(shí)，缺陷定位應(yīng)考慮修正。6.1.3 檢測(cè)條件的選擇 1.探頭的選擇 對(duì)于縱波直入射法，可選用單晶直探頭，其參數(shù)如公稱頻率和探頭晶片與被檢材料有關(guān)，若材料為低碳鋼或低合金鋼，可選用較高的檢測(cè)頻率，常用25MHz，探頭晶片尺

14、寸為14mm25mm；若材料為奧氏體鋼，為了避免出現(xiàn)“草狀回波”，提高信噪比，可選擇較低 第18頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三的頻率和較大的探頭晶片尺寸，頻率常為0.52MHz，晶片尺寸為14mm30mm。對(duì)于較小鍛件或?yàn)榱藱z出近表面缺陷，考慮到探頭的盲區(qū)和近場(chǎng)區(qū)的影響，還可選用雙晶直探頭，常用頻率為5MHz。對(duì)于橫波檢測(cè)，一般選擇的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。2.耦合選擇接觸法時(shí)，為了實(shí)現(xiàn)較好的聲耦合，一般要求檢測(cè)面的表面粗糙度RS不高于6.3m，表面平整均勻，無(wú)劃傷、油垢、污物、氧化皮、油漆等。當(dāng)在試塊上調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度時(shí)，要注意補(bǔ)償試塊與工件之間因曲率半徑和表面粗糙度不同引

15、起的耦合損失，鍛件檢測(cè)時(shí)，常用機(jī)油、漿糊、甘油等作耦合劑，當(dāng)鍛件表面粗糙時(shí)也可選用黏度更大的水玻璃作耦合劑。 第19頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三水浸法時(shí)，對(duì)檢測(cè)表面的要求低于接觸法。3.掃查方式的選擇 鍛件探傷時(shí)，原則上應(yīng)在探測(cè)面上從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行全面掃查，并盡可能地檢測(cè)到鍛件的全體積，若鍛件厚度超過(guò)400mm時(shí)，應(yīng)從相對(duì)兩端進(jìn)行100的掃查。掃查覆蓋面應(yīng)為探頭直徑的15，探頭移動(dòng)速率不大于150mm/s。掃查過(guò)程中要注意觀察缺陷波的情況和底波的變化情況。4.材質(zhì)衰減系統(tǒng)的測(cè)定 當(dāng)鍛件尺寸較大時(shí)，材質(zhì)的衰減對(duì)缺陷定量有一定的影響。特別是若材質(zhì)衰減嚴(yán)重時(shí)，影

16、響更明顯。因此，在鍛件檢測(cè)中有時(shí)要測(cè)定材質(zhì)的衰減系數(shù)，衰減系數(shù)的測(cè)定參見(jiàn)節(jié)。第20頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三式中 B1-B2無(wú)缺陷處第一。二次底波高的分貝差；X底波聲程（單程）。 值得注意的是：測(cè)定衰減系數(shù)時(shí)，探頭所對(duì)鍛件底面應(yīng)光潔干凈，底面形狀為大平底或園柱面，x3N，測(cè)試處無(wú)缺陷。一般選取三處進(jìn)行測(cè)試，最后取平均值。 （dB/mm） (6.1)第21頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三5.試塊選擇鍛件檢測(cè)中，要根據(jù)探頭和檢測(cè)面的情況選擇試塊。采用縱波直探頭探傷時(shí)，常選用CS和CS試塊來(lái)調(diào)節(jié)探傷靈敏度和對(duì)缺陷定量。采用單晶直探頭檢測(cè)時(shí)，常

17、選用CS標(biāo)準(zhǔn)試塊，其結(jié)構(gòu)尺寸見(jiàn)JB/T4730.3-2005圖4和表4。當(dāng)工件檢測(cè)距離小于45mm時(shí)，應(yīng)采用雙晶直探頭，常選用圖6.6所示的CS標(biāo)準(zhǔn)試塊來(lái)調(diào)節(jié)探傷靈敏度和對(duì)缺陷定量。該試塊的人工缺陷為平底孔，孔徑有2、3、4、6等四種，距離L分別為5、10、15、20、25、30、35、40、45mm。當(dāng)探測(cè)面為曲面時(shí)，應(yīng)采用曲面底面對(duì)比試塊來(lái)測(cè)定由于曲率不同引起的耦合損失。對(duì)比試塊如圖6.7所示。第22頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三試塊序號(hào) CS-1 CS-2 CS-3 CS-4 150100150200D50608080表81 CS標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸第23頁(yè)，共73頁(yè)

18、，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三試塊序號(hào) 孔徑 檢測(cè)距離L123456789CS-1 2 51015202530354045CS-23CS-34CS-4 6表82 CS標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸第24頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三6.探傷時(shí)機(jī) 鍛件超聲波探傷應(yīng)在熱處理后進(jìn)行，因?yàn)闊崽幚砜梢约?xì)化晶粒，減少衰減，此外，還可以發(fā)現(xiàn)熱處理過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷。對(duì)于帶孔、槽和臺(tái)階的鍛件，超聲波探傷應(yīng)在孔、槽、臺(tái)階加工前進(jìn)行。因?yàn)榭住⒉?、臺(tái)階對(duì)探傷不利，容易產(chǎn)生各種非缺陷回波。當(dāng)熱處理后材質(zhì)衰減仍較大且對(duì)于探傷結(jié)果有較大影響時(shí)，應(yīng)重新進(jìn)行熱處理。6.1.4 掃描速度和靈敏度的調(diào)節(jié)1

19、.掃描速度的調(diào)節(jié)鍛件檢測(cè)前，一般根據(jù)鍛件要求的檢測(cè)范圍來(lái)調(diào)節(jié)掃描速度，以便發(fā)現(xiàn)缺陷，并對(duì)缺陷定位。第25頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 掃描速度的調(diào)節(jié)可在試塊上進(jìn)行，也可在鍛件上尺寸已知的部位上進(jìn)行，在試塊上調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，試塊上的聲速應(yīng)盡可能與工件相同或相近。 調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，一般要求第一次底波前沿位置不超過(guò)水平刻度極限的80，以利觀察一次底波之后的某些信號(hào)情況。PB2.探傷靈敏度的調(diào)節(jié) 鍛件的探傷靈敏度是由鍛件技術(shù)文件要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)確定的。一般不低于最大檢測(cè)距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑。 調(diào)節(jié)鍛件檢測(cè)靈敏度的方法有兩種：一種是利于鍛件底波來(lái)調(diào)節(jié)，另一種是利用試塊

20、來(lái)調(diào)節(jié)。第26頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三（1）底波調(diào)節(jié)法 當(dāng)鍛件被探部位厚度,且鍛件具有平行底面或圓柱曲底面時(shí)，常用底波來(lái)調(diào)節(jié)探傷靈敏度。 底波調(diào)節(jié)法，首先要計(jì)算或查AVG曲線求得底面回波與某平底孔回波的分貝差，然后再調(diào)節(jié)。1）計(jì)算：對(duì)于大平底面或?qū)嵭膱A柱體底面，同距離處底波與平底孔回波的分貝差為： 第27頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三式中 波長(zhǎng)，mm;X- 被探部位的厚度，mm；DF 平底孔直徑，mm。對(duì)于空心圓柱體，同距離處圓柱曲底面與平底孔回波分貝差為：第28頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三式中 d-

21、空心圓柱體內(nèi)徑，mm； D- 空心圓柱體外徑，mm； “”- 外圓徑向檢測(cè)，內(nèi)孔凸柱面反射； “”- 內(nèi)孔徑向檢測(cè)，外圓凹柱面反射。2）調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)的底面，調(diào)“增益”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)高，然后用“衰減器”增益dB，這時(shí)靈敏度就調(diào)節(jié)好了。為了便于發(fā)現(xiàn)缺陷可再增益510dB作為掃查靈敏度。第29頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三【例1】 用2.5P20Z探頭徑向檢測(cè)500mm的實(shí)心圓柱體鍛件，CL=5900mm/s，問(wèn)如何利用底波調(diào)節(jié)500mm/2靈敏度？解：由題意得 1 計(jì)算：500mm處底波與2mm平底孔回波分貝差為： 2 調(diào)節(jié)：將探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)圓柱底面，調(diào)“增益

22、”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)60高，然后用“衰減器”增益46 dB，這時(shí)2靈敏度就調(diào)好了，必要時(shí)再增益6 dB作為掃查靈敏度。第30頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三【例2】 用2.5P20Z探頭徑向檢測(cè)1000mm，內(nèi)徑為100mm的空心圓柱體鍛件，CL=5900mm/s，問(wèn)如何利用內(nèi)空回波調(diào)節(jié)450mm/2靈敏度？解：由題意得 D=1000mm，d=100mm 第31頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三1 計(jì)算：450mm處內(nèi)孔回波與2mm平底孔回波分貝差為：2 調(diào)節(jié)：將探頭對(duì)準(zhǔn)完好區(qū)的內(nèi)孔衰減45dB，調(diào)“增益”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)60高，然后用“衰減器”

23、增益35 dB，作為檢測(cè)靈敏度，再增益6 dB作為掃查靈敏度。第32頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三（2）試塊調(diào)節(jié)法1）單直探頭檢測(cè)：當(dāng)鍛件的厚度 或由于幾何形狀所限或底面粗糙時(shí)，應(yīng)利用具有人工反射體的試塊來(lái)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度，如CS試塊和CS試塊。調(diào)節(jié)時(shí)將探頭對(duì)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊的平底孔，調(diào)“增益”使平底孔回波達(dá)基準(zhǔn)波高即可。值得注意的是，當(dāng)試塊表面形狀、粗糙度與鍛件不同時(shí)，要進(jìn)行耦合補(bǔ)償。當(dāng)試塊與工件的材質(zhì)衰減相差較大時(shí)，還要考慮介質(zhì)衰減補(bǔ)償?！纠?】 用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚度為50mm的小鍛件，采用CS試塊調(diào)節(jié)50/2靈敏度，試塊與鍛件表面耦合差3dB，問(wèn)如何調(diào)節(jié)靈敏度

24、？第33頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三將探頭對(duì)準(zhǔn)CS試塊中1號(hào)試塊的2平底孔，距離為50mm，調(diào)“增益”使2平底孔回波達(dá)60高，然后再用“衰減器”增益3dB，這時(shí)50/2靈敏度就調(diào)好了?！纠?】 用2.5P14Z探頭檢測(cè)底面粗糙厚度為400mm的鍛件，問(wèn)如何利用100/4平底孔試塊調(diào)節(jié)400/2靈敏度？試塊與工件表面耦合差6dB。解：計(jì)算：100/4平底孔與400/2平底孔回波分貝差：第34頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三調(diào)節(jié)：將探頭對(duì)準(zhǔn)100/4平底孔，調(diào)節(jié)“增益”使4平底孔回波達(dá)基準(zhǔn)高，然后用“衰減器”增益36642Db,這時(shí)400/2

25、靈敏度就調(diào)節(jié)好了。這時(shí)工件上400/2靈敏平底孔缺陷回波正好達(dá)基準(zhǔn)波高。 2）雙晶直探頭檢測(cè)：采用雙晶直探頭檢測(cè)時(shí)，要利用如圖6.6所示CS標(biāo)準(zhǔn)試塊的平底孔來(lái)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度。先根據(jù)檢測(cè)要求選擇相應(yīng)的平底孔試驗(yàn)塊，并依次測(cè)試一組距離不同、直徑相同的平底孔的回波，使其中最高回波達(dá)滿刻度的80，在此靈敏度條件下測(cè)出其他平底孔的回波最高點(diǎn)，并標(biāo)在示波屏上，然后連接這些回波最高點(diǎn)，從而得到一條平底孔距離波幅曲線，并以此作為檢測(cè)靈敏度。第35頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三6.1.5 缺陷位置和大小的測(cè)定 1.缺陷位置的測(cè)定 在鍛件檢測(cè)中，主要采用縱波直探頭檢測(cè)，因此可根據(jù)示波屏

26、上缺陷前沿所對(duì)應(yīng)的水平刻度值f和掃描速度1：n來(lái)確定缺陷在鍛件中的位置。缺陷至探頭的距離xf為 xfnf (8-3) 2.缺陷大小的測(cè)定鍛件檢測(cè)中，對(duì)于尺寸小于聲束截面的缺陷一般用當(dāng)量法定量。若缺陷位于區(qū)域內(nèi)時(shí)，常用當(dāng)量計(jì)算法和當(dāng)量AVG曲線法定量；若缺陷位于區(qū)域內(nèi)，常用試塊比較法定量，對(duì)于尺寸大于聲束截面的缺陷，第36頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三一般采用測(cè)長(zhǎng)法，常用的測(cè)長(zhǎng)法有6dB法和端點(diǎn)6dB法。必要時(shí)還可采用底波高度法來(lái)確定缺陷的相對(duì)大小。下面重點(diǎn)介紹當(dāng)量計(jì)算法和6dB法在鍛件探傷中的應(yīng)用。(1)當(dāng)量計(jì)算法是利用各種規(guī)則反射體的回波聲壓公式和實(shí)際探傷中測(cè)得的

27、結(jié)果（缺陷的位置和波高）來(lái)計(jì)算缺陷的當(dāng)量大小。當(dāng)量計(jì)算法是目前鍛件探傷中應(yīng)用最廣的一種定量方法。用定量計(jì)算法定量時(shí)，要考慮調(diào)節(jié)探傷靈敏度的基準(zhǔn)。 當(dāng)用平底面和實(shí)心園柱體曲底面調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，當(dāng)量計(jì)算公式為：第37頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 當(dāng)用空心圓柱體內(nèi)孔或外圓曲底面調(diào)靈敏度時(shí)，當(dāng)量計(jì)算公式為： 在平面工件檢測(cè)中，用6dB法測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度時(shí)，探頭移動(dòng)的距離就是缺陷的指示長(zhǎng)度，如圖6.8所示。然而對(duì)圓柱形鍛件進(jìn)行軸向探測(cè)時(shí)，探頭的移動(dòng)距離不再是缺陷的指示長(zhǎng)度了，這時(shí)要按幾何關(guān)系來(lái)確定缺陷的指示長(zhǎng)度，如圖6.9所示。第38頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)

28、16分，星期三 圖6.8 平面探傷6dB測(cè)長(zhǎng)法 圖6.9 圓弧面探傷6dB測(cè)長(zhǎng)法第39頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三外圓周向測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺陷的指示長(zhǎng)度Lf為：式中：L探頭移動(dòng)的外圓弧長(zhǎng)，mm； R圓柱體外半徑，mm； Xf1缺陷的聲程，mm。內(nèi)孔周向測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺陷的指示長(zhǎng)度Lf為(6.7)第40頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三內(nèi)孔周向測(cè)長(zhǎng)時(shí)，缺陷的指示長(zhǎng)度Lf為(6.8)式中：L探頭移動(dòng)的內(nèi)圓弧長(zhǎng)，mm； r圓柱體內(nèi)半徑，mm； Xf2缺陷的聲程，mm。第41頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三缺陷回波的判別 在鍛件檢測(cè)中，

29、不同性質(zhì)的缺陷回波是不同的，實(shí)際檢測(cè)時(shí)，可根據(jù)示波屏上的缺陷回波情況來(lái)分析缺陷的性質(zhì)和類型。1.單個(gè)缺陷回波 鍛件檢測(cè)中，示波屏上單獨(dú)出現(xiàn)的缺陷回波稱為單個(gè)缺陷回波，一般單個(gè)缺陷是指與臨近缺陷間距大于50mm、回波高不小于2mm的缺陷。如鍛件中單個(gè)的夾層、裂紋等。檢測(cè)中遇到單個(gè)缺陷時(shí)，要測(cè)定缺陷的位置和大小，當(dāng)缺陷較小時(shí)，用當(dāng)量法定量，當(dāng)缺陷較大時(shí)，用6dB法測(cè)定其邊界和面積范圍。 第42頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三2.分散缺陷回波 鍛件檢測(cè)時(shí)，工件中的缺陷較多且分散，缺陷彼此間距較大，這種缺陷回波稱為分散缺陷回波。一般在邊長(zhǎng)50mm的立方體內(nèi)少于5個(gè)，不小于2m

30、m，如分散性的夾層。分散缺陷回波一般不太大。因此常用當(dāng)量法定量，同時(shí)還要測(cè)定分散缺陷的位置。3.密集缺陷回波 鍛件檢測(cè)中，示波屏上同時(shí)顯示的缺陷回波很多，缺陷之間的間隔很小，甚至連成一片，這種缺陷回波稱為密集缺陷回波。 密集缺陷的劃分，根據(jù)不同的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)有不完全相同的定義。第43頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三(1)以缺陷的間距劃分，規(guī)定相鄰缺陷間的間距小于某一值時(shí)為密集缺陷。(2)以單位長(zhǎng)度時(shí)基線內(nèi)顯示的缺陷回波數(shù)量劃分，規(guī)定在相當(dāng)于工件厚度值的基線內(nèi)，當(dāng)探頭不動(dòng)或稍作移動(dòng)時(shí)，一定數(shù)量的缺陷回波連續(xù)或斷續(xù)出現(xiàn)時(shí)為密集缺陷。(3)以單位面積中的缺陷回波劃分，規(guī)定在一定

31、檢測(cè)面積下，探出的缺陷回波數(shù)量超過(guò)某一值時(shí)，定義為密集缺陷。(4)以單位體積內(nèi)缺陷回波數(shù)量劃分，規(guī)定在一定體內(nèi)缺陷回波數(shù)量多于規(guī)定值時(shí)，定義為密集缺陷。第44頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三實(shí)際檢測(cè)中，以單位體積內(nèi)缺陷回波數(shù)量劃分較多。一般規(guī)定在邊長(zhǎng)50mm的立方體內(nèi)，數(shù)量不少于5個(gè)，當(dāng)量直徑不小于2mm的缺陷為密集缺陷。 密集缺陷可能是疏松、非金屬夾雜物、白點(diǎn)或成群的裂紋等。 鍛件內(nèi)不允許有白點(diǎn)缺陷存在，這種缺陷危險(xiǎn)性很大。通常白點(diǎn)的分布范圍較大，且基本集中于鍛件的中心部位，它的回波清晰、尖銳，成群的白點(diǎn)有時(shí)會(huì)使底波嚴(yán)重下降或完全消失。這些特點(diǎn)是判斷鍛件中白點(diǎn)的主要

32、依據(jù)，如圖6.10所示。第45頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三圖6.10 白點(diǎn)的分布與波形第46頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三4.游動(dòng)回波 在園柱形軸類鍛件檢測(cè)過(guò)程中，當(dāng)探頭沿著軸的外圓移動(dòng)時(shí)，示波屏上的缺陷回波會(huì)隨著該缺陷檢測(cè)聲程的變化而游動(dòng)，這種游動(dòng)的動(dòng)態(tài)波形稱為游動(dòng)回波。 游動(dòng)回波的產(chǎn)生是由于不同波束射至缺陷產(chǎn)生反射引起的。波束軸線射至缺陷時(shí)，缺陷聲程小，回波高。左右游動(dòng)探頭，擴(kuò)散波束射至缺陷時(shí)，缺陷聲程大，回波低。這樣同一缺陷回波的位置和高度隨探頭游動(dòng)發(fā)生游動(dòng)，如圖6.11所示。第47頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16

33、分，星期三 圖 6.11 游動(dòng)回波第48頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 不同檢測(cè)靈敏度，同一缺陷的游動(dòng)情況不同。一般可根據(jù)檢測(cè)靈敏度和回波的游動(dòng)距離來(lái)鑒別游動(dòng)回波。一般規(guī)定游動(dòng)范圍達(dá)25mm時(shí)，才算游動(dòng)回波。 根據(jù)缺陷游動(dòng)回波包絡(luò)線的形狀，可粗略地判斷缺陷的形狀。5.底面回波 在鍛件檢測(cè)中，有時(shí)還可根據(jù)底波變化情況來(lái)判別鍛件中的缺陷情況。 當(dāng)缺陷回波很高，并有多次重復(fù)回波，而底波嚴(yán)重下降甚至消失時(shí)，聲明鍛件中存在平大面積缺陷。 當(dāng)缺陷回波和底波都很低甚至消失時(shí)，聲明鍛件中存在大面積且傾斜的傾斜或在檢測(cè)面附加有大缺陷。第49頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)

34、16分，星期三 當(dāng)示波屏上出現(xiàn)密集的互相彼連的缺陷回波，底波明顯下降或消失時(shí)，說(shuō)明鍛件中存在密集缺陷。6.1.7 非缺陷回波分析 鍛件檢測(cè)中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)一些非缺陷回波，從而影響對(duì)缺陷波的判別。常見(jiàn)的非缺陷回波有以下幾種：1.三角反射波 周向檢測(cè)圓柱形鍛件時(shí)，由于探頭與圓柱面耦合不好，波束嚴(yán)重?cái)U(kuò)散，在示波屏上出現(xiàn)兩個(gè)的三角反射波，這兩個(gè)三角反射波的聲程分別為1.3d和1.67d（d為圓柱直徑），據(jù)此可以鑒別三角反射波。由于三角反射波總是位于B1之后，而缺陷波一般位于底波B1之前，因此三角反射波不會(huì)干擾對(duì)缺陷的判別。第50頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三2.遲到波 軸向探測(cè)

35、細(xì)長(zhǎng)軸類鍛件時(shí)，由于波形轉(zhuǎn)換，在示波屏上出現(xiàn)的遲到波，遲到波的聲程是特定的，而且可能出現(xiàn)多次。第一次遲到波位于B1之后0.76d處（d為軸類鍛件的直徑），以后各次遲到波的間距均為0.76d。由于遲到波總在B1之后，而缺陷波一般位于B1之前，因此遲到波也不會(huì)影響對(duì)缺陷的判別。 另外從扁平方向探測(cè)扁平鍛件時(shí)，也會(huì)出現(xiàn)遲到波，探傷中應(yīng)注意判別。3. 610反射波 當(dāng)鍛件中存在與檢測(cè)面成610傾角的缺陷時(shí)，示波屏上會(huì)出現(xiàn)610反射波，610反射波是變型橫波垂直入射側(cè)面而引起的，如圖6.12所示。圖中F為缺陷直接波，M為610反射波。第51頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 61

36、0反射波的聲程也是特定的，總是等于610角所對(duì)直角邊的邊長(zhǎng)。產(chǎn)生610反射時(shí)，缺陷直接反射回波較低，而610反射波較高。 另外在探測(cè)如圖6.13所示的鍛件的時(shí)，也會(huì)出現(xiàn)610反射波，同時(shí)還會(huì)產(chǎn)生450反射波。同時(shí)時(shí)可根據(jù)反射波的聲程通過(guò)計(jì)算來(lái)判別。4.輪廓回波 鍛件探傷中，鍛件的臺(tái)階、凹槽等外形輪廓也會(huì)引起一些輪廓回波，檢測(cè)中要注意判別。 此外，在鍛件檢測(cè)中還可能產(chǎn)生一些其他的非缺陷回波，這時(shí)應(yīng)根據(jù)鍛件的結(jié)構(gòu)形狀、材質(zhì)和鍛造工藝，應(yīng)用超聲波反射、折射和波型轉(zhuǎn)換理論進(jìn)行分析和判別。 第52頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 圖6.12 傾斜缺陷的610的反射 圖6.13

37、特殊結(jié)構(gòu)側(cè)壁反射波第53頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三6.1.8 鍛件質(zhì)量級(jí)別的評(píng)定（見(jiàn)JB/T4730.3-2005） 鍛件探傷中常見(jiàn)的缺陷有單個(gè)缺陷和密集缺陷兩大類，實(shí)際探傷中根據(jù)鍛件中單個(gè)缺陷的當(dāng)理尺寸，底波的降低情況和密集缺陷面積占探傷面積的百分比不同將鍛件質(zhì)量分為、等五種，其中級(jí)最高，級(jí)最低。單個(gè)缺陷等級(jí)見(jiàn)表61，底波降低等級(jí)見(jiàn)表62，密集性缺陷見(jiàn)表63。第54頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三1.單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表61。等級(jí) 缺陷當(dāng)量直徑 4 4（0dB8dB） 4（8dB12dB） 4（12dB16dB） 416dB 表61

38、 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表 單位：mm2.缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表62。表61 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級(jí) 單位：dB等 級(jí) 底波降低量 BG/BF 8 814 1420 2026 26 注：本表僅適用于聲束大于近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的缺陷 第55頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三3.密集區(qū)缺陷質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表63。表63 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級(jí)見(jiàn)表 等 級(jí) 密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積的百分比（） 005 510 1020 20 4.表61、表62和表63的等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。5.當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級(jí)為級(jí)。第56頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月2

39、0日，10點(diǎn)16分，星期三下面舉例聲明鍛件的評(píng)級(jí)方法?！纠?】 用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm厚的鋼鍛件，鋼中CL5900m/s，衰減系數(shù)0.005dB/mm，檢測(cè)靈敏度為400mm/4mm平底孔。檢測(cè)中在250mm處發(fā)現(xiàn)一處缺陷，其波高比基準(zhǔn)波高20 dB，試根據(jù)JB/T47302005標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。解：（1）條件判別： （mm)第57頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三(mm)(mm)所以，符合當(dāng)量計(jì)算的條件。 (2)求250mm處4mm當(dāng)量的dB值：第58頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三(3)求該缺陷的當(dāng)量并評(píng)級(jí)：缺陷當(dāng)量：

40、4209.5410.5dB缺陷評(píng)級(jí)：該鍛件評(píng)為級(jí)?！纠?】 用2.5P14Z探頭檢測(cè)面積為400cm2的鍛件，檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)一密集缺陷，其面積為24 cm2，缺陷處底波為30dB，無(wú)缺陷處底波為44dB，試根據(jù)JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。解：（1）根據(jù)密集性缺陷評(píng)級(jí)：因?yàn)?第59頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三所以 評(píng)為級(jí)（2）根據(jù)底波降低量評(píng)級(jí)：因?yàn)?BGBF443014dB所以 評(píng)為級(jí)第60頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三6.2鑄件超聲檢測(cè)6.2.1 鑄件中的常見(jiàn)缺陷 鑄件是金屬液注入鑄模中冷卻凝固而成的，鑄件中常見(jiàn)缺

41、陷有氣孔、縮孔、夾雜和裂紋等。1.氣孔 氣孔是由于金屬液含氣量過(guò)多，模型潮濕及透氣性不佳而形成的空洞。鑄件中的氣孔分為單個(gè)分散氣孔和密集氣孔。2.縮孔 縮孔是由于金屬液冷卻凝固時(shí)體積收縮得不到補(bǔ)縮而形成的缺陷。縮孔多位于澆冒口附近和截面最大部位或截面突變處。第61頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三3.夾雜 夾雜分為非金屬夾雜和金屬夾雜兩類。非金屬夾雜是冶煉是金屬與氣體發(fā)生化學(xué)反應(yīng)形成的產(chǎn)物或澆注時(shí)耐火材料、型砂等混入鋼液形成的夾雜物。金屬夾雜是異種金屬偶爾落入鋼液中未能熔化而形成的夾雜物。4.裂紋 裂紋是鋼液冷卻過(guò)程中由于內(nèi)應(yīng)力（熱應(yīng)力和組織應(yīng)力）過(guò)大是鑄件局部開(kāi)裂而形

42、成的缺陷。鑄件截面尺寸突變處，應(yīng)力集中嚴(yán)重處，容易出現(xiàn)裂紋。裂紋是最危險(xiǎn)的缺陷。6.2.2 鑄件超聲檢測(cè)特點(diǎn)第62頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三1.超聲波穿透性差 鑄件重要特點(diǎn)是組織不致密、不均勻和晶粒粗大，透聲性差。不均勻的組織、粗糙的表面都會(huì)導(dǎo)致超聲散射增大，聲能損失嚴(yán)重，與鍛件相比，鑄件的可探厚度減小。另外粗糙的表面會(huì)使耦合變差，也是鑄件檢測(cè)靈敏度低的原因。 鑄件不均勻是由于鑄件各部分冷卻速度不同引起的。 鑄件的不致密性是由于樹(shù)枝結(jié)晶方式引起的。鑄件晶粒粗大是由于高溫冷卻凝固過(guò)程緩慢，生核、長(zhǎng)核時(shí)間長(zhǎng)、使晶粒變粗。 鑄件的不致密性、不均勻性和晶粒粗大，使超聲波

43、散射衰減和吸收衰減明顯增加、透聲性降低。第63頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三2.聲耦合差 鑄件表面粗糙，聲耦合差，探傷靈敏度低，波束指向性不好，且探頭磨損嚴(yán)重。鑄件探傷中常采用高黏度耦合劑改善這種不良的耦合條件。3.雜波干擾嚴(yán)重 鑄件探傷干擾雜波多。一般是由于粗晶和組織不均勻性引起的散亂反射，形成草狀回波，使信噪比下降。特別是頻率較高時(shí)尤為嚴(yán)重。二是鑄件形狀復(fù)雜，一些輪廓回波和遲到變型波引起的非缺陷信號(hào)多。此外鑄件粗糙表面也會(huì)產(chǎn)生一些反射回波。干擾對(duì)缺陷的正確判定。第64頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 鑄件中的組織不致密和不均勻，以及晶粒

44、粗大，都會(huì)使超聲波產(chǎn)生嚴(yán)重的散射，被探頭接收后，在熒光屏上將顯示為較強(qiáng)的草狀雜波信號(hào)；粗糙的鑄造表面對(duì)聲波的散射也會(huì)形成雜波信號(hào)；另外，鑄件形狀復(fù)雜，也非常容易產(chǎn)生外輪廓反射回波以及遲到回波。這些干擾信號(hào)可能會(huì)妨礙缺陷信號(hào)的識(shí)別。4.缺陷檢測(cè)要求較低 以上所述是鑄件探傷的困難所在，致使鑄件探傷的應(yīng)用和發(fā)展受到一定的限制。但另一方面由于鑄件質(zhì)量要求較低，鑄件中一般允許存在的缺陷尺寸較大，數(shù)量可較多，特別是工藝性的檢測(cè)，有的只要求檢測(cè)危險(xiǎn)性缺陷，以便修補(bǔ)處理。同時(shí)鑄件缺陷出現(xiàn)的部位規(guī)律性強(qiáng)，因此鑄件探傷還是具有一定的價(jià)值。第65頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分，星期三 鑄件分為鑄鋼和鑄鐵，二者缺陷狀況和材質(zhì)及表面特點(diǎn)基本相同，因此其探傷方法也大致相同。6.2.3 鑄鋼件探測(cè)條件的選擇1.探頭 鑄鋼探傷，一般以縱波直探頭為主，輔以橫波斜探頭和縱波雙晶探頭。 鑄鋼件晶粒比較粗大，衰減嚴(yán)重，宜選用較低的頻率，一般為0.52.5MHz。對(duì)于厚度不大又經(jīng)過(guò)熱處理的鑄鋼件，可選用2.02.5MHz，對(duì)于厚度較大和未熱處理的鑄鋼件，宜選用0.52.0MHz。 縱波直探頭的直徑一般為1030mm，橫波斜探頭的折射角常為450、600、700等。第66頁(yè)，共73頁(yè)，2022年，5月20日，10點(diǎn)16分