藥物常用的晶型表征方法、檢測(cè)方法及其注意事項(xiàng)總結(jié)

1、藥物常用的晶型表征方法、檢測(cè)方法及其注意事項(xiàng)總結(jié)在創(chuàng)新藥研究或者仿制藥反向工程的研究中，晶型是普遍需要研究的內(nèi)容。創(chuàng)新藥研究中，需要進(jìn)行晶型、鹽型等篩選；仿制藥項(xiàng)目，需要對(duì)原研藥品進(jìn)行反向解剖，確認(rèn)其晶型。常用的晶型檢測(cè)方法你都知道哪些呢？本文整理了相關(guān)知識(shí)點(diǎn)為大家答疑解惑，跟小編一起來(lái)看看吧分析技術(shù)測(cè)試指標(biāo)X射線衍射粉末衍射XRPD、單晶RRD晶型，結(jié)晶度熱技術(shù)差示掃描量熱儀DSC、熱重分析TGA、熱顯微鏡（HSM）熔點(diǎn)，晶型，脫水脫溶劑溫度光譜光學(xué)顯微鏡粒徑，晶癖拉曼光譜Raman晶型，溶劑成分，溶液濃度，溶劑殘留量近紅外NIR溶劑殘留量，水分含量，轉(zhuǎn)晶程度固態(tài)核磁共振光譜溶劑殘留量，晶型

2、掃描隧道顯微鏡法晶型（晶體表面單個(gè)原子及其排列狀態(tài)）其他動(dòng)態(tài)水吸附DVS吸濕性現(xiàn)對(duì)X射線衍射法、差示掃描量熱法（DSC）、熱重分析（TGA）檢測(cè)原理及檢測(cè)過(guò)程中可能遇到的問(wèn)題進(jìn)行簡(jiǎn)單描述。一、射線行射法光在傳播過(guò)程中，遇到障礙物或小孔時(shí)，光將偏離直線傳播的途徑而繞到障礙物后面?zhèn)鞑サ默F(xiàn)象，叫光的衍射（diffraction of light）。1、原理光是一種電磁波，而X射線也是一種電磁波，其波長(zhǎng)很?。s在0.001100 nm）。當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有X射線衍射分析相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干

3、涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，每種晶體所產(chǎn)生的衍射都反映出該晶體內(nèi)部的原子分布規(guī)律。X射線衍射的滿足條件：布拉格方程 2dsin=n，其中，d為晶面間距，為入射線，反射線與反射晶面之間的夾角，為波長(zhǎng)，n為反射級(jí)數(shù)，布拉格方程是X射線在晶體產(chǎn)生衍射時(shí)的必要條件，對(duì)于X射線衍射，當(dāng)光程差等于波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)，晶面的散射線將相長(zhǎng)加強(qiáng)。2、掃描模式（1）步進(jìn)掃描粉末衍射儀的一種工作方式（掃描方式）。試樣每轉(zhuǎn)動(dòng)一步（固定的）就停下來(lái)，測(cè)量記錄系統(tǒng)開(kāi)始測(cè)量該位置上的衍射強(qiáng)度。強(qiáng)度的測(cè)量也有兩種方式：定時(shí)計(jì)數(shù)方式和定數(shù)計(jì)時(shí)方式。然后試樣再轉(zhuǎn)過(guò)一步，再進(jìn)

4、行強(qiáng)度測(cè)量。如此一步步進(jìn)行下去，完成指定角度范圍內(nèi)衍射圖的掃描。步進(jìn)掃描一般耗費(fèi)時(shí)間較多，因而須認(rèn)真考慮其參數(shù)。選擇步進(jìn)寬度時(shí)需考慮兩個(gè)因素：一是所用接收狹縫寬度，步進(jìn)寬度至少不應(yīng)大于狹縫寬度所對(duì)應(yīng)的角度；二是所測(cè)衍射線線形的尖銳程度，步進(jìn)寬度過(guò)大則會(huì)降低分辨率甚至掩蓋衍射線剖面的細(xì)節(jié)。為此，嘉峪檢測(cè)網(wǎng)提醒步進(jìn)寬度不應(yīng)大于最尖銳峰的半高度寬的1/2，但是，也不宜使步進(jìn)寬度過(guò)小。步進(jìn)時(shí)間即每步停留的測(cè)量時(shí)間，若長(zhǎng)一些，可減小計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差，提高準(zhǔn)確度與靈敏度，但將損失工作效率。（2）定速連續(xù)掃描是粉末衍射儀最常用的一種工作方式（掃描方式）。試樣和接收狹縫以角速度比1:2的關(guān)系勻速轉(zhuǎn)動(dòng)。在轉(zhuǎn)動(dòng)過(guò)程中

5、，檢測(cè)器連續(xù)地測(cè)量X射線的散射強(qiáng)度，各晶面的衍射線依次被接收。計(jì)算機(jī)控制的衍射儀多數(shù)采用步進(jìn)電機(jī)來(lái)驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀轉(zhuǎn)動(dòng)，因此實(shí)際上轉(zhuǎn)動(dòng)并不是嚴(yán)格連續(xù)的，而是一步一步地（每步0.0025）跳躍式轉(zhuǎn)動(dòng)，在轉(zhuǎn)動(dòng)速度較慢時(shí)尤為明顯。但是檢測(cè)器及測(cè)量系統(tǒng)是連續(xù)工作的。連續(xù)掃描的優(yōu)點(diǎn)是工作效率較高。例如以2每分鐘轉(zhuǎn)動(dòng)4的速度掃描，掃描范圍從2080的衍射圖15分鐘即可完成，而且也有不錯(cuò)的分辨率、靈敏度和精確度，因而對(duì)大量的日常工作（一般是物相鑒定工作）是非常合適的。但在使用長(zhǎng)圖記錄儀記錄時(shí)，記錄圖會(huì)受到計(jì)數(shù)率表RC的影響，須適當(dāng)?shù)剡x擇時(shí)間常數(shù)。3、其他參數(shù)測(cè)角儀：是粉末衍射儀上最精密的機(jī)械部件，用來(lái)精確測(cè)量衍射

6、角。發(fā)散狹縫：測(cè)角儀上用來(lái)限制發(fā)散光束的寬度。發(fā)散狹縫的寬度決定了入射X射線束在掃描平面上的發(fā)散角。接收狹縫：測(cè)角儀上用來(lái)限制所接收的衍射光束的寬度。接收狹縫是為了限制待測(cè)角度位置附近區(qū)域之外的X射線進(jìn)入檢測(cè)器，它的寬度對(duì)衍射儀的分辨能力、線的強(qiáng)度以及峰高/背底比有著重要的影響作用。防散射狹縫：測(cè)角儀上用來(lái)防止一些附加散射（如各狹縫光闌邊緣的散射，光路上其它金屬附件的散射）進(jìn)入檢測(cè)器，有助于減低背景。防散射狹縫是光路中的輔助狹縫，它能限制由于不同原因產(chǎn)生的附加散射進(jìn)入檢測(cè)器。例如光路中空氣的散射、狹縫邊緣的散射、樣品框的散射等等。此狹縫如果選用得當(dāng)，可以得到最低的背底，而衍射線強(qiáng)度的降低不超過(guò)

7、2。如果衍射線強(qiáng)度損失太多，則應(yīng)改較寬的防散射狹縫。Sollar狹縫：測(cè)角儀上一組平行薄金屬片光闌，由一組平行等間距的、平面與射線源焦線垂直的金屬薄片組成，用來(lái)限制X射線在測(cè)角儀軸向方向的發(fā)散，使X射線束可以近似的看作僅在掃描圓平面上發(fā)散的發(fā)散束。4、檢測(cè)過(guò)程中注意事項(xiàng)及可能遇到的問(wèn)題分析（1）同一份樣品重現(xiàn)性差的可能原因樣品粉末顆粒大，導(dǎo)致樣品中顆粒能產(chǎn)生衍射的晶面減少，使得某個(gè)峰很強(qiáng)，其他峰很弱。解決辦法：研磨或研磨過(guò)篩（研磨力度適宜，不可轉(zhuǎn)晶，顆粒不可過(guò)細(xì)而破壞了晶體結(jié)構(gòu)）有些顆粒不大的樣品，但是晶體的晶癖特征（主要是針狀、棒狀、片狀：存在很窄的晶面），可能會(huì)導(dǎo)致?lián)駜?yōu)取向，某些方向過(guò)度衍

8、射，其他方向衍射不足，這時(shí)也可采用研磨的辦法減少擇優(yōu)取向的影響。由于樣品表面不平引起的誤差。樣品表面不平整，那么 X 射 線通過(guò)樣品后就不能完全聚焦在聚焦圓上。從而使得峰變寬其不對(duì)稱。解決辦法：在制備樣品時(shí)，盡量使樣品鋪平整緊密。且樣品表面應(yīng)與 樣品盤(pán)表面保持平行，樣品不應(yīng)過(guò)少或鋪得過(guò)厚。樣品本身在測(cè)試條件下不穩(wěn)定：如樣品易吸濕后轉(zhuǎn)晶，常溫下部分轉(zhuǎn)晶等。（2）同一個(gè)晶型，衍射峰強(qiáng)度不一樣不同批次結(jié)晶度存在差異，衍射峰強(qiáng)度變?nèi)酰Y(jié)晶度變差。結(jié)晶度：晶態(tài)和非晶態(tài)共存時(shí)結(jié)晶相所占比例，有時(shí)也指結(jié)晶完整度。結(jié)晶完整的晶體：通常晶粒較大，衍射線強(qiáng)，峰尖銳且對(duì)稱。結(jié)晶度差的晶體：衍射峰寬而彌散。（3）不同

9、批次的樣品，原本重疊的峰分開(kāi)了，仍是同一個(gè)晶型不同批次對(duì)應(yīng)晶面的結(jié)晶情況不一樣。比如，晶體在后期生長(zhǎng)更完善后，結(jié)晶程度變高，峰變窄，進(jìn)而兩個(gè)峰能分開(kāi)。（4）同一個(gè)樣品，衍射峰角度有偏移所有角度均整體偏移，偏移角度在0.2度以內(nèi)均正常，儀器測(cè)試誤差，可通過(guò)軟件調(diào)整。部分左偏移，部分右偏移，考慮是否發(fā)生轉(zhuǎn)晶。（5）晶型一樣，晶癖不一定一樣晶型是內(nèi)部結(jié)構(gòu)，晶癖是外部表現(xiàn)。同一個(gè)晶型，在不同的助（/反）溶劑的相互作用下，改變晶體生長(zhǎng)動(dòng)力學(xué)，促進(jìn)或抑制某晶面生長(zhǎng)，形成不同晶癖。（6）對(duì)制劑檢測(cè)原料藥為晶體，但載藥量過(guò)低，低于儀器檢出限?？梢蕴岣咴纤庉d藥量，采用相同的工藝制備制劑成品，確認(rèn)原料藥晶型在制

10、劑工藝過(guò)程中是否發(fā)生轉(zhuǎn)晶。原料藥是晶體，但在制劑工藝生發(fā)生轉(zhuǎn)晶，轉(zhuǎn)為無(wú)定型，那么需要確定制劑中原料藥載藥量高于檢測(cè)限。二、差式掃描量熱法（DSC）1、原理：在對(duì)供試品與熱惰性的參比物進(jìn)行同時(shí)加熱(或冷卻)的條件下,當(dāng)供試品發(fā)生某種物理或化學(xué)的變化時(shí),將使熱效應(yīng)改變,供試品和參比物質(zhì)之間將產(chǎn)生溫度差(T)。嘉峪檢測(cè)網(wǎng)提醒這種在程序控制溫度下,測(cè)定供試品與參比物之間溫度差與溫度或時(shí)間)關(guān)系的方法稱為差熱法(DTA)。而測(cè)量輸給供試品與參比物熱量差(dQ/dT)與溫度(或時(shí)間)關(guān)系的方法稱差示掃描量熱法(DSC)。2、DSC圖譜分析：（1）玻璃轉(zhuǎn)化溫度（Tg）非晶聚物有三種力學(xué)狀態(tài)，它們是玻璃態(tài)、高

11、彈態(tài)和粘流態(tài)。在溫度較低時(shí)，材料為剛性固體狀，與玻璃相似，在外力作用下只會(huì)發(fā)生非常小的形變，此狀態(tài)即為玻璃態(tài)：當(dāng)溫度繼續(xù)升高到一定范圍后，材料的形變明顯地增加，并在隨后的一定溫度區(qū)間形變相對(duì)穩(wěn)定，此狀態(tài)即為高彈態(tài)，溫度繼續(xù)升高形變量又逐漸增大，材料逐漸變成粘性的流體，此時(shí)形變不可能恢復(fù)，此狀態(tài)即為粘流態(tài)。我們通常把玻璃態(tài)與高彈態(tài)之間的轉(zhuǎn)變，稱為玻璃化轉(zhuǎn)變，它所對(duì)應(yīng)的轉(zhuǎn)變溫度即是玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。玻璃化轉(zhuǎn)變?cè)谇€中具體表現(xiàn)為基線的整體提升。（2）熔化峰熔融峰可顯示熔融發(fā)生時(shí)的溫度（oneset值），峰值溫度（peak值），但這兩種溫度值與熔點(diǎn)值可能并不一致（如受升溫速率等影響）；物體的熔化是一個(gè)過(guò)

12、程，包括初熔點(diǎn)、融程和終熔點(diǎn)。 外推起始溫度Tei ，即“初熔點(diǎn)”:外推基線與對(duì)應(yīng)于轉(zhuǎn)變開(kāi)始的曲線最大斜處所作切線的交點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的溫度。 峰溫度Tp ，即“終熔點(diǎn)”:峰達(dá)到的最大值（或最小值）所對(duì)應(yīng)的溫度。終熔點(diǎn)，我們認(rèn)為是樣品剛剛好完全融化。 外推終止溫度Tef ，即“終熔點(diǎn)”:外推基線與對(duì)應(yīng)于轉(zhuǎn)變結(jié)束的曲線最大斜處所作切線的交點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的溫度。目前，我們測(cè)試初熔點(diǎn)Tei數(shù)據(jù)穩(wěn)定，但是終熔點(diǎn)Tp受實(shí)驗(yàn)樣品量、升溫速率影響，數(shù)據(jù)有微小差異。一般都是對(duì)于小分子樣品以DSC 峰基線與峰切線的交點(diǎn)（Onset Point）作為熔點(diǎn)。3、檢測(cè)過(guò)程重注意事項(xiàng)（1）快速升溫，DSC峰型變大（相當(dāng)于靈敏度提高）

13、，特征峰向高溫偏移，相鄰峰分離能力下降；慢速升溫，相鄰峰分離增加，峰型較小，常用10K/min。（2）樣品量小，特征溫度較低，更“真實(shí)”，相鄰峰分離能力增加，峰型較小；樣品量大，增加峰響應(yīng)，峰型變寬，特征峰向高溫偏移。這是因?yàn)檩^多的供試樣品在坩塌中厚度較大，這種情況使供試樣品內(nèi)的傳熱速度減慢，從而形成較大的溫度梯度，導(dǎo)致供試樣品的吸熱峰峰寬變大，既降低了供試樣品吸熱峰的分辨率，又使供試樣品的熔點(diǎn)和熔距的測(cè)定值產(chǎn)生偏差。（3）樣品處理，對(duì)于不同條件的DSC樣品，如何選擇合適的制樣方式？A.塊狀樣品：建議切成薄片或碎粒；B.粉末樣品：使其在坩堝底部鋪平成一薄層；C.堆積方式：一般建議堆積緊密，有利

14、于樣品內(nèi)部的熱傳導(dǎo)；對(duì)于有大量氣體產(chǎn)物生成的反應(yīng)，可適當(dāng)疏松堆積；D.樣品粒度越小，放熱峰越大越尖銳。粒度過(guò)大或者顆粒形狀不規(guī)則，可能會(huì)導(dǎo)致熔距變大?？裳心ィㄑ心チΧ炔豢蛇^(guò)大，破壞晶體構(gòu)象），緊密堆積；E.選擇能與樣品兼容的材質(zhì)坩堝。三、熱重分析（TGA）TGA檢測(cè)原理、操作及分析比較簡(jiǎn)單，所以簡(jiǎn)單描述一下其原理及檢測(cè)過(guò)程中的注意事項(xiàng)。1、原理熱法(TG)是在程序控制溫度下,測(cè)量物質(zhì)的重量與溫度關(guān)系的一種方法。記錄的重量變化與溫度或時(shí)間的關(guān)系曲線即熱重曲線(TG曲線)。由于物相變化(如失去結(jié)晶水、結(jié)晶溶劑、轉(zhuǎn)晶或熱分解等)時(shí)的溫度保持不變,所以熱重曲線通常呈臺(tái)階狀,重量基本不變的區(qū)段稱平臺(tái),利用這種特性，可以區(qū)分樣品中所含的水分是吸附水（或吸附溶劑）還是結(jié)晶水（或結(jié)晶溶劑），并根據(jù)平臺(tái)之間的失重率可計(jì)算出結(jié)晶水或結(jié)晶溶劑的比例。2、影響TGA數(shù)據(jù)的因素（1）樣品量過(guò)多，導(dǎo)致傳熱和揮發(fā)物揮發(fā)速度變慢，導(dǎo)致相鄰失重轉(zhuǎn)變靠近，因此，在靈敏度許可的范圍內(nèi)，樣品量盡可能少。（2）樣品的細(xì)度、裝填緊密程度對(duì)傳熱及揮發(fā)物的揮發(fā)有影響，一般要求樣品細(xì)致均勻，裝填成均勻的薄層（相對(duì)緊實(shí)）。（3）氣體的浮力和對(duì)流浮力的影響：樣品周圍的氣體因溫度的升高而膨脹，比重減小，則樣品的TGA值增加。對(duì)流的影響