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文檔簡介
1、精品文檔制程才能指數(shù) Ca 或精確度;Accuracy :表示制程特性中心位置的偏移程度,值等于零,即不偏移;值越大偏移越大,越小偏移越??;制程精確度CaCaoability of Accuracy 標準公式簡易公式T=USL-LSL= 規(guī)格上限-規(guī)格下限=規(guī)格公差Cak PS.單邊規(guī)格設計規(guī)格因沒有規(guī)格中心值,故不運算Ca 制造規(guī)格將單邊規(guī)格公差調(diào)整為雙邊規(guī)格,如此方可運算Ca Xbar 實績平均值規(guī)格中心值 T 2 規(guī)格公差2 TUSL LSL= 規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格公差PS. 制程特性定義單邊規(guī)格設計規(guī)格因沒有規(guī)格中心值,故不運算 Ca 制造規(guī)格將單邊規(guī)格公差調(diào)整為雙邊規(guī)格 ,如此方可運
2、算Ca 當Ca 0 時,代表量測制程之實績平均值與規(guī)格中心相同;無偏移當Ca 1 時,代表量測制程之實績平均值與規(guī)格上或下限相同;偏移 100% 評等參考:Ca 值愈小,品質(zhì)愈佳;依 Ca 值大小可分為四級等級 Ca 值 處理原就A 0|Ca| 12.5% 保護現(xiàn)狀B 12.5% |Ca| 25% 改進為A 級C25% |Ca| 50% 馬上檢討改善實行緊急措施,全面檢討D50% |Ca| 100% 必要時停工生產(chǎn)制程精密度CpCaoability of Precision 制程才能指數(shù) Cp,Pp ,CPU ,CPL (精密度;Precision ):表示制程特性的一樣性程度,值越大越集中,
3、越小越分散;精品文檔第 1 頁,共 25 頁精品文檔或:雙邊才能指數(shù)長期 :雙邊績效指數(shù)短期 :單邊上限才能指數(shù):單邊下限才能指數(shù)USL :特性值之規(guī)格上限;即產(chǎn)品特性大于 LSL :特性值之規(guī)格下限;即產(chǎn)品特性小于USL 在工程上將造成不合格 LSL 在工程上將造成不合格:制程平均數(shù)估量值;即制程目前特性值的中心位置:制程標準差估量值;即制程目前特性值的一樣程度PS.制程特性定義單邊規(guī)格 設計規(guī)格 因沒有規(guī)格上限或下限沒有規(guī)格下限Cp CPU Cpk 沒有規(guī)格上限Cp CPL Cpk 制程特性依不同的工程規(guī)格其定義如下:;等級處理原就CpPp 無規(guī)格界限時CpkPpkCa CpPp CPU單
4、邊上限USL CpkPpkCPU Ca CpPpCPLCPL 單邊下限LSL CpkPpkCa雙邊規(guī)格USL, LSL CpPp CpkPpk USL LSL 6 MINCPU,CPL 精品文檔第 2 頁,共 25 頁精品文檔Ca |平均值規(guī)格中心|公差2 簡易公式量測制程之實績平均值與規(guī)格中心的差異性;Cp USL LSL 規(guī)格上限規(guī)格下限 6 6 個標準差 PS.單邊規(guī)格 設計規(guī)格因沒有規(guī)格上限或下限規(guī)格上限平均值USL X Cpu 3 個標準差 3 平均值規(guī)格下限X LSL Cpl 3 3 個標準差 評等參考當Cp 愈大時,代表工廠制造才能愈強,所制造產(chǎn)品的常態(tài)支配越集中;等級判定:依C
5、p 值大小可分為五級Ca 值2處理原就等級A+ 2Cp 無缺點考慮降低成本A Cp 保護現(xiàn)狀B Cp 1有缺點發(fā)生C1Cp 馬上檢討改善實行緊急措施,進行品質(zhì)DCp 改善,并研討規(guī)格綜合制程才能指數(shù)Cpk :同時考慮偏移及一樣程度;精品文檔第 3 頁,共 25 頁精品文檔Cpk 1 k Cp 或MIN CPU,CPL Ppk 1 k Pp 或MIN PPU,PPL X K |Ca| T/2 PS. 制程特性定義單邊規(guī)格設計規(guī)格因沒有規(guī)格上限或下限沒有規(guī)格下限Cp CPU Cpk | 公差2 沒有規(guī)格上限Cp CPL Cpk 制程特性依不同的工程規(guī)格其定義如下:;等級處理原就CpPp 無規(guī)格界限
6、時CpkPpkCaCpPpCPU單邊上限USL CpkPpkCPU CaCpPpCPL單邊下限LSL CpkPpkCPL Ca CpPpUSL LSL 6 雙邊規(guī)格USL, LSL CpkPpk MINCPU,CPL Ca |平均值規(guī)格中心評等參考當Cpk 值愈大,代表制程綜合才能愈好;等級判定:依Cpk 值大小可分為五級等級ppm :Cpk 值1處理原就A+ 1.67 Cpk 無缺點考慮降低成本A 1.33 Cpk 保護現(xiàn)狀B 1Cpk 有缺點發(fā)生C0.67 Cpk 馬上檢討改善DCpk 實行緊急措施,進行品質(zhì)改善,并研討規(guī)格估量制程不良率制程特性支配為常態(tài)時,可用標準常態(tài)支配右邊機率估量;
7、精品文檔第 4 頁,共 25 頁精品文檔等級處理原就pUSL 無規(guī)格界限時pLSL ppUSLP Z Z USL 單邊上限USL pLSL ppUSL pUSL單邊下限LSL pLSL P Z Z LSL ppLSL P Z Z USL pUSL雙邊規(guī)格USL, LSL pLSL P Z Z LSL ppUSL +pLSL ZUSL CPU x 3 , ZLSLCPL x 3 估量標準差Estimated Standard Deviation1. 當STD TYPE=TOTAL ;制程變異存有特殊緣由及共同緣由時,以此估量標準差;2. 當STD TYPE=sbar/c4;使用XBAR-s 管制
8、圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的支配為常態(tài)時,以此估量標準差;3. 當STD TYPE=Rbar/d2 ;使用XBAR-R管制圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的支配為常態(tài)時,以此估量標準差;組標準差Subgroup Standard Deviation 標準差平均 k = 樣本組數(shù)組中位數(shù)Subgroup Median 中位數(shù)平均精品文檔第 5 頁,共 25 頁精品文檔組全距Subgroup Range Ri Xmax Xmin 全距平均XBAR 管制圖分析 XControl Chart 1. 由平均數(shù)管制圖與標準差管制圖組成;與XR 管制圖相同,惟 s 管制圖檢出力較 R 管制
9、圖大,但運算麻煩;一般樣本大小小于 10 可以使用R 管制圖,大于 10 就使用s 管制圖;有運算機軟件幫忙時,使用 s 管制圖當然較好;2. X-s 管制圖數(shù)據(jù)表:序號日期時間si X1 觀測值Xn X RX 2 . 1 X ijn ,X11 X 12 . X1n X 1 s 1 2X21 X 22 . X 2n X 2 s 2 .Xkn .Xk1 k Xk2 . Xk sk Xi Xi k ,s sik 未知A3 s A3 s . 3. 管制界限:假設管制特性的支配為N( , 2 )注: 有關常數(shù)可以對比本附錄最終所列之表2 或表3;. 制程平均及標準差已知UCL X X 3X 3 (n)
10、-2Xbar CLX X Xbar -2 LCL X X 3 X 3 (n) Xbar UCL S S 3S c4 3c 5 B 4s UCL S S C4 s 精品文檔第 6 頁,共 25 頁精品文檔LCL S S 3 S c4 3c 5 B 3s 小于零時不計Xbar ,sc 4 ,(n )-2A 3 ,B4 (c4 3C 5)c 4,B 3(c4 3c 5)c 4 XBAR R 管制圖分析 XR Control Chart 1. 由平均數(shù)管制圖與全距管制圖組成;品質(zhì)數(shù)據(jù)可以合理分組時,可以使用 析制程變異;工業(yè)界最常使用的計量值管制圖;2. X-R 管制圖數(shù)據(jù)表:X 管制圖分析或管制制程
11、平均;使用管制圖分序號日期時間X1觀測值Xn X RA2 R . X 2 . 1X11 X 12 . X1n X 1 R 1 2X21 X 22 . X 2n X 2 R 2 .k Xk1 Xk2 . Xkn Xk Rk Xi X ijn ,Ri max X ij- min X ij未知A2 R Xi k ,R ik 3. 管制界限:假設管制特性的支配為N( , 2 )注: 有關常數(shù)可以對比本附錄最終所列之表2 或表3;. 制程平均及標準差已知UCL X X 3X 3 (n)-2Xbar Xbar CLX X LCL X X 3 X 3 (n)-2 Xbar UCL R R 3R d2 3d
12、3 D4 R 精品文檔第 7 頁,共 25 頁精品文檔UCL R R 3 R d2 3d 3 RD3 R 小于零時不LCL R R d2 計 Xbar ,Rd2 ,(n)-2A 2 ,D4 (d2 3d 3)d 2,D 3(d2 3d 3)d2 簡易公式估量標準差Estimated Standard Deviation1. 當STD TYPE=TOTAL ;制程變異存有特殊緣由及共同緣由時,以此估量標準差;2. 當STD TYPE=sbar/c4 ;使用XBAR-s 管制圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的支配為常態(tài)時,以此估量標準差; sc4 3. 當STD TYPE=Rbar/d2 ;
13、使用XBAR-R 管制圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的支配為常態(tài)時,以此估量標準差; Rd2組標準差Subgroup Standard Deviation si 標準差平均s sik k = 樣本組數(shù)組中位數(shù)Subgroup Median 中位數(shù)平均組全距Subgroup Range Ri Xmax Xmin 全距平均 R Rik 標準公式精品文檔第 8 頁,共 25 頁精品文檔1. 當STD TYPE=TOTAL ;制程變異存有特殊緣由及共同緣由時,以此估量標準差;2. 當STD TYPE=sbar/c4 ;使用XBAR-s 管制圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的支配為常態(tài)時,
14、以此估量標準差;3. 當STD TYPE=Rbar/d2 ;使用XBAR-R管制圖分析制程,制程顯示在管制狀態(tài)下且特性的支配為常態(tài)時,以此估量標準差;組標準差Subgroup Standard Deviation 標準差平均 k = 樣本組數(shù)組中位數(shù)Subgroup Median 中位數(shù)平均組全距Subgroup Range Ri Xmax Xmin 全距平均直方圖分析Histogram Analysis 將收集的數(shù)據(jù)依大小次序歸類于既定的組別中,以觀看整體數(shù)據(jù)分布的情形,一般可以了解其中心位置,分散程度及支配型態(tài);直方圖及次數(shù)支配表之制作步驟如下:1. 收集數(shù)據(jù):數(shù)據(jù)最好收集50 個以上,較
15、簡潔顯示出整體數(shù)據(jù)分布的情形;例如下表,=100 ;精品文檔第 9 頁,共 25 頁精品文檔次序 測定值1 10 1120 21 30 31 40 41 50 51 60 61 70 71 80 81 90 91 100 2. 準備組數(shù):分組的組數(shù)并沒有統(tǒng)一的規(guī)定,但太多或太少組皆會使直方圖失真,建議分組組數(shù)依數(shù)據(jù)之樣本大小 n 準備,如下表;本例 n=100 ,k=10 ;數(shù)據(jù)之樣本大小 建議分組組數(shù) 50 100 610 100 250 712 250 以上 10 25 3. 準備組距:組距h 可由組數(shù)k 除以全距R來準備,如下式;全距 R組距h 組數(shù) k 制程才能分析圖Process C
16、apability Analysis 數(shù)據(jù)常因測定單位不同,而無法相互比較制程特性在品質(zhì)上的好壞;因此,定義出品質(zhì)指針來衡量不同特性的品質(zhì),在工業(yè)上是很重要的一件事情;制程才能指數(shù)是依特性值的規(guī)格及制程特性的中心位置及一樣程度,來表示制程中心的偏移及制程均勻度;基本上,制程才能分析必需先假設制程是在管制狀態(tài)下進行配;如此,數(shù)據(jù)的分析才會有合理的依據(jù);,也就是說制程很穩(wěn)固,以及特性支配為常態(tài)分 制程才能指數(shù) Cp ,Pp ,CPU ,CPL (精密度;Precision ):表示制程特性的一樣性程度,值越大越集中,越小越分散;或:雙邊才能指數(shù) 長期 :雙邊績效指數(shù)短期 :單邊上限才能指數(shù)精品文檔
17、第 10 頁,共 25 頁精品文檔:單邊下限才能指數(shù)USL :特性值之規(guī)格上限;即產(chǎn)品特性大于 USL 在工程上將造成不合格LSL :特性值之規(guī)格下限;即產(chǎn)品特性小于 LSL 在工程上將造成不合格:制程平均數(shù)估量值;即制程目前特性值的中心位置:制程標準差估量值;即制程目前特性值的一樣程度 制程才能指數(shù)Ca 或精確度;Accuracy :表示制程特性中心位置的偏移程度,值等于零,即不偏移;值越大偏移越大,越小偏移越??;制程才能指數(shù) Ca 或精確度;Accuracy :表示制程特性中心位置的偏移程度,值等于零,即不偏移;值越大偏移越大,越小偏移越小;制程精確度CaCaoability of Acc
18、uracy 標準公式簡易公式T=USL-LSL= 規(guī)格上限- 規(guī)格下限=規(guī)格公差Cak PS.單邊規(guī)格 設計規(guī)格因沒有規(guī)格中心值,故不運算Ca 制造規(guī)格將單邊規(guī)格公差調(diào)整為雙邊規(guī)格,如此方可運算Ca Xbar 實績平均值規(guī)格中心值 T 2 規(guī)格公差2 TUSL LSL= 規(guī)格上限規(guī)格下限規(guī)格公差PS. 制程特性定義單邊規(guī)格設計規(guī)格因沒有規(guī)格中心值,故不運算 Ca 制造規(guī)格將單邊規(guī)格公差調(diào)整為雙邊規(guī)格 ,如此方可運算Ca 當Ca 0 時,代表量測制程之實績平均值與規(guī)格中心相同;無偏移當Ca 1 時,代表量測制程之實績平均值與規(guī)格上或下限相同;偏移 100% 精品文檔第 11 頁,共 25 頁精品
19、文檔評等參考:Ca 值愈小,品質(zhì)愈佳;依Ca 值大小可分為四級處理原就等級Ca 值A 0|Ca| 12.5% 保護現(xiàn)狀B 12.5% |Ca| 25% 改進為A 級C25% |Ca| 50% 馬上檢討改善實行緊急措施,全面檢討D50% |Ca| 100% 必要時停工生產(chǎn) 綜合制程才能指數(shù) Cpk :同時考慮偏移及一樣程度;Cpk 1 k Cp 或MIN CPU,CPL Ppk 1 k Pp 或MIN PPU,PPL 制程特性在不同的工程規(guī)格其定義亦不相同,請參考本附錄前段的計量值之統(tǒng)計數(shù)值解說;XBAR R 管制圖分析 XR Control Chart 1. 由平均數(shù)管制圖與全距管制圖組成;品
20、質(zhì)數(shù)據(jù)可以合理分組時,可以使用工業(yè)界最常使用的計量值管制圖;2. X-R 管制圖數(shù)據(jù)表:X 管制圖分析或管制制程平均;使用管制圖分析制程變異;序號日期時間X 1 X2觀測值Xn X 未知R. . 1X11 X 12 . X1n X 1 R12X21 X 22 . X2n X 2 R2 .k Xk1 Xk2 . Xkn Xk Rk Xi Xijn ,Ri max X ij- min Xij Xi k ,R ik 3. 管制界限:假設管制特性的支配為N( , 2 )注: 有關常數(shù)可以對比本附錄最終所列之表2 或表3;. 制程平均及標準差已知UCL X X 3X 3 (n)-2 Xbar A2 R
21、CLX X Xbar 精品文檔第 12 頁,共 25 頁精品文檔LCL X X 3 X 3(n)-2 Xbar A 2 R UCL R R 3 R d2 3d 3 D 4R UCL R R 3 R d2 RLCL R R d 2 3d 3 D 3R 小于零時不計Xbar ,Rd 2 ,(n)-2 A 2 ,D4 (d2 3d 3)d2 ,D3 (d2 3d 3)d2 XMED R 管制圖分析R Control Chart 1. 由中位數(shù)與全距管制圖組成;2. 與XR 管制圖相同,惟管制圖檢出力較差,但運算較為簡潔;管制圖數(shù)據(jù)表:觀測值序號日期時間X1 X 2 . Xn X R1X11 X 12
22、 . X 1n 1R 1 2X 21 X 22 . X 2n 2R 2 .Xk1 Xk2 . Xkn .k Rk k i Med Xij,Ri max Xij- min X ij k ,R ik 精品文檔第 13 頁,共 25 頁精品文檔3. 管制界限:假設管制特性的支配為N( , 2 )未知. 注: 有關常數(shù)可以對比本附錄最終所列之表2 或表3;. 制程平均及標準差已知UCL Xmed Xmed 3 Xmed 3m 3 (n)-2 m 3 A2 R UCL Xmed Xmed 3 Xmed LCL Xmed Xmed 3 Xmed 3m 3(n )-2 m 3 A 2R UCL R R 3
23、R d2 3d 3 D 4R UCL R R d2 RLCL R R 3 R d 2 3d 3 D 3R 小于零時不計,Rd2 ,Xmed ,(n )-2XBAR 管制圖分析 XControl Chart 1. 由平均數(shù)管制圖與標準差管制圖組成;與XR 管制圖相同,惟 s 管制圖檢出力較 R 管制圖大,但運算麻煩;一般樣本大小小于 10 可以使用R 管制圖,大于 10 就使用s 管制圖;有運算機軟件幫忙時,使用 s 管制圖當然較好;2. X-s 管制圖數(shù)據(jù)表:Xi 序號日期,時間X 1 觀測值Xn X RX2 . 1Xijn si X 11 X12 . X1n X 1 s 1 X22 . X2
24、n 2X 21 X 2 s 2 .Xkn .Xk1 k Xk2 . Xk sk Xi k ,s si k 精品文檔第 14 頁,共 25 頁精品文檔3. 管制界限:假設管制特性的支配為 N( , 2 )注: 有關常數(shù)可以對比本附錄最終所列之 表2 或表3;. 制程平均及標準差已知 未知 . UCL X X 3X 3 (n)-2 Xbar A3 s CLX X Xbar LCL X X 3 X 3(n)-2 Xbar A 3 s UCL S S 3S c 4 3c 5 B 4s UCL S S C4 s LCL S S 3 S c4 3c 5 B3 s 小于零時不計Xbar ,sc 4 ,(n)
25、-2A 3 ,B4 (c4 3C 5)c4 ,B3 (c4 3c 5)c 4 XRm 管制圖分析 X Rm Control Chart 1. 由個別值管制圖與移動全距管制圖組成;品質(zhì)數(shù)據(jù)不能合理分組,有以下情形時,可以使用 X-Rm 管制圖:.一次只能收集到一個數(shù)據(jù),如生產(chǎn)效率及損耗率;.制程品質(zhì)極為均勻,不需多取樣本,如液體濃度;.取得測定值既費時成本又高,如復雜的化學分析及破壞性試驗;2. X-Rm 管制圖數(shù)據(jù)表:序號日期時間觀測值RX 1X 1 R12X 2 R2 .k Xk Rk-1 精品文檔第 15 頁,共 25 頁精品文檔X Xik . . Ri | Xi - X i-1 | Rm
26、 ik-1 3. 管制界限:假設管制特性的支配為N( , 2 )注: 有關常數(shù)可以對比本附錄最終所列之表2 或表3;UCL X X 3X 3 制程平均及標準差已知未知 X E2 Rm CLX X X X E2 Rm LCL X X 3 X 3 UCL R R 3 R d2 3d 3 D4 Rm UCL R R d2 Rm LCL R R 3 R d 2 3d 3 D3 Rm 小于零時不計,Rmd 2 E 2 3d2 計數(shù)型推移圖分析Trend Chart 推移圖是以統(tǒng)計量;如不良率 p ,良率 1-p ,不良數(shù) np ,缺點數(shù) c ,單位缺點數(shù) u ;dpu 及每百萬缺點數(shù)值 dppm 為縱軸
27、,日期時間為橫軸;依日期時間次序顯示數(shù)量的大小以把握趨勢之變化;其制作方式如下:1. 縱軸為指定的統(tǒng)計量,橫軸為日期時間;2. 記上刻度的數(shù)量;3. 運算統(tǒng)計量,如下表;4. 以統(tǒng)計量點繪推移圖;精品文檔第 16 頁,共 25 頁精品文檔序日時批量檢點檢驗數(shù)不良統(tǒng)計號期間數(shù)數(shù)量PROD1CHK1INSP1 DEF1 STAT1 PROD2 CHK2 INSP2 DEF2 STAT2 INSPk DEFk STATk PRODk CHKk QTY CHK INSP DEF PBAR合計SUM SUM SUM SUM CBARUBAR dppm 計數(shù)值各統(tǒng)計量的運算方式說明如下:不良率p = DE
28、F iINSP i ,INSP QTY SUM PROD i SUM INSP i,DEF SUM DEF i,PBAR DEF iINSP i 不良數(shù)np DEF i QTY SUM PROD i ,INSP SUM INSP i,DEF SUM DEF i,PBAR DEF iINSP i 精品文檔第 17 頁,共 25 頁精品文檔良數(shù)1-p 1DEF iINSP i QTY SUM PROD i ,INSP SUM INSP i,DEF SUM DEF i,PBAR DEF iINSP i 缺點數(shù)c DEF i QTY SUM PROD i ,INSP SUM INSP i,DEF SU
29、M DEF i,CBAR DEF iINSP i 單位缺點數(shù)u ;dpu DEF iINSP i QTY SUM PROD i ,INSP SUM INSP i,DEF SUM DEF i,UBAR DEF iINSP i 每百萬缺點數(shù)dppm DEF i 6 CHK i x INSP i x 10 精品文檔第 18 頁,共 25 頁精品文檔QTY SUM PROD i,CHK SUM CHK ix INSP i,DEF SUM DEF i ,dppm DEF iCHK iINSP i 6x 10 不良率管制圖p Control Chart 1. 分析或管制制程的不良率,樣本大小 n 可以不同
30、;2. 管制圖數(shù)據(jù)表:序 日 時 樣本不良不良 備號 期 間 大小 數(shù) 率 注 n1 d1 p1 n2 d2 p2 nk d k p k pi dini ,pdi ni 3. 管制界限:假設管制的制程平均不良率為p 制程平均不良率已知制程平均不良率未知 UCL p p3 pp 3 p 3 精品文檔第 19 頁,共 25 頁精品文檔CL p p p p LCL p p 3 p p 3 小 p 3 于零時不計 以p 估量p 不良數(shù)管制圖np Control Chart 1. 分析或管制制程的不良數(shù),樣本大小 n 要相同;2. 管制圖數(shù)據(jù)表:序 日 時 樣本不良不良 備號 期 間 大小 數(shù) 數(shù) 注
31、n d1 np 1 n d2 np 2 n d k npk npid i ,p dikn 3. 管制界限:假設管制的制程不良率為 p 制程平均不良率已知 制程平均不良率未知 3UCL np np 3npnp np精品文檔第 20 頁,共 25 頁精品文檔3 CLnp np np np 3LCL np np 3 npnp np3LCL np 小于零時不計 缺點數(shù)管制圖分析c Control Chart 1. 分析或管制制程的缺點數(shù),樣本大小 n 要相同;2. c 管制圖數(shù)據(jù)表:樣本大序號日期時間缺點數(shù)備注小nc1 cI 為n 個單nc2 位中含有之缺點數(shù) n ck c cin x k ;每一單位之平均缺點數(shù)3. 管制界限:假設管制的制程每一單位之平均缺點數(shù)為 制程平均缺點數(shù)已知 制程平均缺點數(shù)未知UCL c c 3 cnc 3 nc 3 精品文檔第 21 頁,共 25 頁精品文檔CL p c nc nc LCL c c 3 c nc 3 nc 3小于零時不計 以柏拉圖分析Pareto Analysis 柏拉圖分析是以 80:20 原理進行重點分析的圖表,不良缺
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