光耦壽命評估公式

1、光耦壽命評估報告評估目的：根據(jù)光耦壽命評估公式，對CM80A逆變驅(qū)動板的光耦壽命進(jìn)行評估CM80A驅(qū)動板使用的光耦型號是OPI1268,類型是門檻型，以下是對其壽命評估方法：125r度條件下L0的時間計算方法：在缺省狀態(tài)下，給定廠家的曲線條件，如廠家給 定60r，衰減20%，100000小時，按缺省1000h小時計算。Lf=17583h，校正系數(shù)就是 100000/17583=5.687,這樣125度的系數(shù)就更改為1000*5.687。不同的光耦計算出的校正系數(shù) 是不同的，此主要看廠家給定的衰減曲線。從評估的角度看，溫度越高，評估的時間越準(zhǔn)。 實際上當(dāng)評估低溫時，計算出的時間可能由1倍到3倍的

2、誤差，此基本是正常的。也就是采 用廠家最高溫度得出的系數(shù)更接近實際的情況。光耦壽命評估公式如下：光耦類型：1、CTR型(線性)f1一1)AF = e 8.62x10-5 I Tx+273+Thermal_co*IFx*UFx To+273+Thermal_co*IFo*UFo)Lx _ 氣(CTR * Thermal_co - CTR x 10 x AF x -0 CtR02、門檻型f11)e 8 62x10-51 Tx+273+Thermal_co*IFx*UFx To+273+Thermal_co*IFo*UFo JAF =DutyL L (I -I * Thermal _co) x 10

3、 x AFx - 0 FX_th0IFX光耦參數(shù)說明：T0廠家光耦CTR衰減測試溫度，固定取為125 CIF0 125C下光耦測試發(fā)光二極管電流，固定取為25mAVF0 廠家光耦CTR衰減測試發(fā)光二極管導(dǎo)通壓降，固定取為1.4VL0 CTR在125C下的校正系數(shù)，固定取為5687CTR0所使用光耦的額定最小CTR。同一個型號的光耦有幾種不同的CTR檔(CTR范圍， 有光耦型號后綴確定)。CTR0和對應(yīng)光耦的實際型號溫度影響系數(shù)溫度對CTR衰減影響系數(shù)，取決于器件參數(shù)測試條件，如果器件額定參數(shù) 在比較寬的范圍內(nèi)測得，該系數(shù)取為0.8,否則取為1Ith0器件導(dǎo)通所需最大電流（查詢器件規(guī)格書）Tx光

4、耦在額定工況下的表面溫度EA 激活能，常數(shù)，固定取為0.37AF加速系數(shù)，又前面參L0數(shù)計算得到Thereml-co將電壓，電流的影響折算為溫度影響的系數(shù)，固定取為1Ifx實際流過光耦發(fā)光二極管的電流最小電流CTR 衰減比 為（CTR0-CTRx）/CTR0，計算書自動求得Ith劣化比 為（IFx-Ith0）/IFx，計算書自動求得Vfx發(fā)光二極管的額定導(dǎo)通電壓，一般固定取為1.2VLx光耦在實際工況下的工作壽命OPI1268光耦參數(shù):計算 參數(shù)To(C )IF0(mA )VF0(V )L0Ith0(mA )Tx(C )IFx(mA )VFx(V )Duty125201.4568755014.

5、871.20.5通過以上光耦壽命評估公式，可以知道影響光耦壽命因素有以下關(guān)系:1、與PWM信號的占空比Duty （反比）2、光耦在額定工況下的溫度Tx （反比）3、器件導(dǎo)通所需的最大電流Ith0 （反比）4、實際流過光耦發(fā)光二極管的電流最小電流Ifx （反比）計算光耦壽命有關(guān)參數(shù):EA := 07IFO := 20Tx := 50UFO := 1.4Therm al_co := 1Duty := 1IFx = 14.8.710 := 56S7+UFx := 12IthO := 5TO ;= 125門檻型光耦計算公式;ririfJALTx+273+ Thsiiiial_o)IF3UFi jTH2T 3+Thsrmal_co. IRK UF0j_(S.62.10AF :=DutyAF= 12,3 洱LxLO (IFx - MjOThermal co)- 1D-AF光耦壽命小時數(shù)：Lx = 4.679 x 10jLxLx year :=2