千分尺校準教程50張幻燈片

1、千分尺千分尺檢定規(guī)程（JJG21-2019）千分尺的檢定或校準一、范圍 本規(guī)程適用于分度值為0.01mm，測量上限至500mm的外徑千分尺;測量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力為0.001mm，0.0001mm，測量上限至500mm的數(shù)顯外徑千分尺的首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢驗。二、概述千分尺是由尺架、測砧、測微螺桿、測力裝置、鎖緊裝置和讀數(shù)裝置等組成。如圖所示：二、概述二、概述二、概述二、概述二、概述三、計量性能要求 1、測微螺桿的軸向串動和徑向擺動 測微螺桿的軸向串動和徑向擺動均不大于0.01mm。 2、測砧與測微螺桿測量面的相對偏移 測砧與測微螺桿 測量面的相對偏移量應不超

2、過表1規(guī)定。表1 測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量 mm三、計量性能要求三、計量性能要求 3、測力 千分尺的測力（系指測量面與球面接觸時所作用的力）應為（510）N。 4、刻線寬度及寬度差 微分筒刻線寬度為（0.080.20）mm，固定套管上的刻線與微分筒上的刻線的寬度差均應不大于0.03mm。帶刻度盤的刻線寬度為（0.200.30）mm，其寬度差應不大于0.05mm三、計量性能要求 5、指針與刻度盤的相對位置 板厚千分尺刻度盤上的指針末端應蓋住刻線盤短刻線長度的30%80%，指針末端上表面至 刻線度盤表面的距離應不大于0.7mm。指針末端與刻度盤刻線的寬度應一致，差值應不大于0.05mm。

3、6、微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離 微分筒錐面棱邊至固定套管刻線表面的距離應不大于0.4mm。 三、計量性能要求 7、微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置 當測量下限調整正確后，微分筒上的零刻線與固定套管縱刻線對準時，微分筒的端面與固定套管毫米刻線右邊緣應相切，若不相切，壓線不大于0.05mm，離線不大于0.1mm。 三、計量性能要求 8、測量面的平面度 外徑千分尺測量面的平面度度應補大于0.6m。壁厚千分尺、板厚千分尺測量面的平面度應不大于1.5 m。數(shù)顯外徑千分尺測量面平面度應不大于0.3 m。 9、數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性 數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性不大于1 m。三

4、、計量性能要求 10、數(shù)顯外徑千分尺任意位置時數(shù)值漂移應不大于1 m/h。 11 、兩測量面的平面度 外徑千分尺鎖緊裝置緊固與松開時，千分尺兩工作面的平行度均應不超過表2規(guī)定。三、計量性能要求 表2外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩側量面的平面度測量范圍/mm最大允許誤差/m兩測量面的平行度/m025，25 504250 75，75 10053100 125，125 15064150 175，175 20075200 225，225 25086250 275，275 30097300 325，325 350109350 375，375 40011400 425，425 4501211450 47

5、5，475 50013三、計量性能要求 板厚千分尺兩測面的平行度應不超過4m 數(shù)顯外徑千分尺兩測面的平行度應不超過表3規(guī)定。三、計量性能要求 表3數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差及兩測量面的平面度56300 325，325 350350 375，375 40067400 425，425 450450 475，475 50045250 275，275 3003.54200 225，225 25034150 175，175 2002.53100 125，125 1502.0350 75，75 1001.520 25，25 50兩測量面的平行度/m最大允許誤差/m測量范圍/mm三、計量性能要求 12

6、 示值誤差 外徑千分尺示值的最大允許誤差應不超過表2規(guī)定。 壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允許誤差應不超過8m。 數(shù)顯外徑千分尺示值的最大允許誤差應不超過表3規(guī)定 對于測量上限大于150mm的千分尺可只檢測微頭示值誤差，測微頭各點相對零點的示值最大允許誤差不超過3m。三、計量性能要求 13 數(shù)顯外徑千分尺細分誤差數(shù)顯外徑千分尺數(shù)顯裝置的細分誤差應不超過2m。 14 校對用的量桿 14.1外徑千分尺校對用的量桿 外徑千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量應不超過表4規(guī)定。三、計量性能要求 表4 外徑千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量校對量桿標稱尺寸/mm尺寸偏差/m變動量/m25，50217531

7、.5100321254215042.517552.520053.5225，2506 3.5275，30073.5325，350，375，40094425，450，475115三、計量性能要求 14.2 數(shù)顯外徑千分尺校對用量 數(shù)顯外徑千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量應不超過表5規(guī)定。三、計量性能要求 表5 數(shù)顯外徑千分尺校對用量桿的尺寸偏差和變動量標稱尺寸/mm尺寸偏差/m變動量/m25，501.251751.5110021125，150，1752.51.5200，225，2503.51.5275，30042325，350，375，4004.52.5425，450，47553四、通用技術要求

8、 1 外觀 1.1 千分尺及其校對用的量桿不應有碰傷、腐蝕，帶礠或其他缺陷，標尺刻線應清晰、均勻，數(shù)顯外徑千分尺數(shù)字顯示應清晰、完整。 1.2 千分尺應附有調整零位工具，測量上限大于或等于25mm的千分尺應附有校對用的量桿。千分尺應具有測力裝置、隔熱裝置和鎖緊裝置。校對量桿應有隔熱裝置。四、通用技術要求 1.3 千分尺上應標有分度值、測量范圍、制造廠名（或廠標）及出廠編號。 1.4 后續(xù)檢定和使用中檢驗的千分尺及其校對用的量桿不應有影響使用準確度的外觀缺陷。四、通用技術要求 2 各部分的相互作用 2.1 微分筒轉動和測微螺桿的移動應平穩(wěn)無卡滯現(xiàn)象。 2.2 可調或可換測砧的調整或裝卸應順暢，作

9、用要可靠，調零和緊鎖裝置的作用應切實有效。 2.3 帶有表盤的千分尺，表針移動應靈活、無卡滯現(xiàn)象。 2.4數(shù)顯外徑千分尺各工作按鈕應靈活可靠。五、計量器具控制 計量器具控制包括首次檢定、后續(xù)檢定和使用中檢定。 1 檢定條件 1.1環(huán)境條件 檢定千分尺的室內溫度和被檢千分尺在室內平衡溫度的時間均應符合表6規(guī)定。室內濕度不大于70%RH五、計量器具控制表6 室內溫度及被檢千分尺在室內平衡溫度的時間受檢千分尺名稱受檢千分尺測量范圍/mm室內溫度對20的允許偏差/平衡溫度的時間/h千分尺 校對用的 量桿 外徑、板厚、壁厚100532100 5004 23數(shù)顯100313100 200214200 50

10、0115五、計量器具控制 1.2 檢定設備 主要檢定設備見表7。 2 檢定項目 檢定項目見表7。五、計量器具控制 3 檢定方法 3.1 外觀 目力觀察。 3.2 各部分的相互作用 手動試驗和目力觀察。 3.3 測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動 一般情況下用手感檢驗測微螺桿的軸向竄動和徑向擺動。有異議時，可按下列方法檢定。五、計量器具控制 3.3.1 測微螺桿的軸向竄動，用杠桿千分表檢定。檢定時，杠桿千分表與測微螺桿測量面接觸，沿測微螺桿軸向方向分表返加力3N5N，如圖7所示。桿杠千分表示值變化，即為軸向竄動量。 3.3.2 測微螺桿的徑向擺動亦用杠桿千分表檢定。檢定時，將測微螺桿伸出尺架10mm后

11、，使杠桿千分表接觸測微螺桿端部，再沿杠桿千分表測量方向加力2N3N，然后在相反方向加同樣大小的力，此時杠桿千分表示值的變化即為徑向擺動。徑向擺動的檢定應在測微螺桿相互垂直的兩個方向進行。五、計量器具控制 3.4 測砧與測微螺桿測量面的相對偏移 一般情況下目力觀察千分尺測砧與測微螺桿測量面的相對偏移，(025)mm的千分尺可使兩測量面直接接觸觀察其偏移量，測量上限大于25mm的千分尺可借助校對量桿進行檢定。如有異議時，可按下列方法進行檢定。五、計量器具控制 測量范圍為（025）mm的用塞尺比較；測量上限大于25mm的外徑千分尺用專用檢具測出偏移量。 在平板上用杠桿百分表檢定；對于測量范圍大于30

12、0mm的千分尺用百分表檢定。檢定時借助千斤頂放置在平板上(圖9),調整千斤頂使千分尺的測微螺桿與平板工作面平行，然后用百分表測出測砧與測微螺桿在這一方位上的偏移量，然后將尺架側轉90，按上述方法測出測砧與測微螺桿在另一方位上的偏移量。測砧與測微螺桿測量面的相對偏移量按下式求得：= 五、計量器具控制 3.5 測力 用分度值不大于0.2N的專用測力計檢定。檢定時，使測量面與測力計的球工作面接觸后進行。 3.6 刻線寬度及寬度差 在工具顯微鏡上檢定。微分筒或刻線盤上的刻線寬度至任意抽檢3條刻線。此項檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。 五、計量器具控制 3.7 指針與刻線的相對位置 指針末端與刻

13、度盤短刻線的相對位置可用目力估計。指針末端上表面至刻度盤表面的距離應用塞尺進行檢定。上述檢定應在刻度盤上均勻分布的3各位置上進行。指針末端與刻度盤的刻線的寬度差在工具顯微鏡上檢定。此項檢定也可采用滿足不確定度要求的其他方法。五、計量器具控制 3.8 微分筒錐面的端面棱邊至固定套管刻線面的距離 在工具顯微鏡上檢定。也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻線表面上用比較法檢定，檢定時在微分筒轉動一周內不少于3各位置上進行。 3.9 微分筒錐面的端面與固定套管毫米刻線的相對位置 當測量下限調整正確后，使微分筒錐面的端面與固定套管任意毫米刻線的右邊緣相切時，讀取微分筒的零刻線與固定套管縱向刻線的偏移量。五

14、、計量器具控制 3.10 測量面的平面度 對于新制的和修理后的千分尺，用二級平晶以光波干涉法檢定，將平面平晶的測量面與千分尺測量面研合，調整平晶使測量面上的干涉環(huán)或干涉帶的數(shù)目盡可能少。外徑千分尺測量面不應出現(xiàn)2條以上，壁厚千分尺，板厚千分尺不應出現(xiàn)5條以上，數(shù)顯千分尺不應出現(xiàn)1條以上相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶。 對于后續(xù)檢定的可用刀口尺用光隙法檢定 在距測量面邊緣0.4mm范圍內的平面度忽略不計。五、計量器具控制 3.11 數(shù)顯外徑千分尺的示值重復性 在相同測量條件下重復測量5次分別讀數(shù)。示值重復性以最大與最小讀數(shù)的差值確定。 3.12 數(shù)顯外徑千分尺任意位置時數(shù)值漂移 在測量范圍內的任意位置

15、鎖緊測微螺桿，觀察1h內顯示值的變化不超過規(guī)定值。五、計量器具控制 3.13 量測量面的平行度 測量上限至100mm千分尺兩測量面的平行度用4塊厚度差為1/4測微螺桿螺距的平行平晶檢定，也可用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等量塊檢定，外徑、板厚千分尺用5等量塊檢定。測量上限大于100mm的千分尺兩測量面的平行度用鋼球檢具檢定。 兩測量面的平行度也可用其他相應準確度的儀器檢定。五、計量器具控制 使用平行平晶檢定時，依次將4塊厚度差為1/4螺距的平行平晶放入兩測量面間，使量測量面與平行平晶接觸，轉動棘輪機構，并輕輕轉動平晶，使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目減至最少。分別讀取量測量面上的干涉條紋數(shù)，取兩

16、測量面上的干涉條紋數(shù)目之和與所用光的波長值的計算結果作為兩測量面的平行度。利用平行平晶組中每一塊平行平晶按上速程序分別進行檢定，取其中最大值作為受檢千分尺的兩測量面平行度測量結果。五、計量器具控制 使用量塊檢定時，采用其尺寸差為1/4螺距的4塊量塊進行。每個量塊以其同一部位放入測量面間的4個位置上分別在微分筒上讀數(shù)，并求出其差值。以四組差值中最大值作為被檢千分尺兩測量面的平行度。 五、計量器具控制 3.14 示值誤差 外徑、壁厚、板厚千分尺示值誤差用5等專用量塊檢定，數(shù)顯千分尺用4等專用量塊檢定。各種千分尺的受檢點應均勻分布于測量范圍的5點上，如表8中所示。得出千分尺示值與相應量塊尺寸的差值，

17、各點上的示值誤差均不超過表2或表3最大允許誤差的要求。五、計量器具控制 測量上限大于100mm的千分尺，將專用量塊依次研合在相當于千分尺測量范圍下限的5等量塊上依稀進行檢定。各點上的示值誤差均不應超過表2或表3中的規(guī)定。對于測量范圍大于25mm的千分尺應以相應的千分尺測量下限的量塊對零。五、計量器具控制 表8 各種千分尺受檢點測量范圍/mm受檢點尺寸/mm0102.12 4.25 6.37 8.50 100153.12 6.24 9.37 12.50 150255.12 10.25 15.37 20.5 25或5.12 10.24 15.36 21.5 25大于25A+5.12 A+10.25

18、 A+15.37 A+20.5 A+25或A+5.12 A+10.24 A+15.36 A+21.5 A+25注:表中A為千分尺的測量下限。五、計量器具控制 對于測量上限大于150mm的千分尺在平面度、平行度、測砧與測微螺桿測量面的相對偏移等計量性能均滿足要求情況下，可以只檢定測微頭的示值誤差。用專用量塊借助專用檢具按（025）mm的千分尺受檢點檢定。 3.15 數(shù)顯千分尺細分誤差 在測量范圍任意位置上，沿測量方向轉動微分筒，每間隔0.04mm檢定一次，共檢定12點，分別讀出各受檢點數(shù)顯裝置的顯示值與微分筒讀數(shù)值之差。其最大差值應符合要求。對于沒有微分筒的數(shù)顯千分尺，可用量塊檢定。 五、計量器具控制 3.16 校對用量桿 外徑千分尺校對用量桿的尺寸及變動量在光學計或測長機上采用4等量塊以比較法進行檢定。數(shù)顯千分尺校對用量桿的