T∕CNTAC 62-2020 防護服 靜電性能試驗 電荷衰減法

1、 ICS 59.080.01CCS W 04T/CNTAC 622020防護服靜電性能試驗電荷衰減法Protective clothing - Electrostatic performance test - charge decay method2020-12-01發(fā)布2021-01-01實施 T/CNTAC 622020前言本文件按照GB/T1.1-2020標準化工作導則第1部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定起草。I T/CNTAC 622020防護服靜電性能試驗電荷衰減法1范圍本文件規(guī)定了表面靜電電荷衰減性能的測試方法。本文件適用于防護服或用于制作防護服的紡織織物，包括含導電纖維的防

2、護服或防護服用織物。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T86292017紡織品試驗用家庭洗滌和干燥程序3術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1電荷衰減charge decay試樣上的電荷因誘導遷移，導致試樣表面電荷聚集處的電荷密度或表面電位下降。3.23.33.4空白最大電場強度 Emax blank electric field strength未放試樣時，記錄裝置上顯示的電場強度（kV/m）。試樣最大電場強度 ER

3、 sample electric field strength試樣在測量位置時，記錄裝置上顯示的最大電場強度（kV/m）。半衰期（t50） half decay time試樣在測量位置時，記錄裝置上顯示的場強衰減到Emax /2所需的時間（s）。3.5屏蔽系數(shù)（S） shielding factor1 T/CNTAC 622020EREmax和ER之間的關(guān)系： S 1Emax屏蔽系數(shù)越大，靜電性能越好。4原理階躍電壓發(fā)生器提供階躍電壓，電極位于試樣正下方，不與試樣接觸，通過誘導效應對試樣進行充電。試樣上與充電電極極性相反的電荷會被誘導遷移。為保證電場分布不變，誘導電荷形成的電位會逐漸減弱，試樣

4、上方的感應探頭檢測到這一變化。此信號經(jīng)過放大后，在記錄裝置上可查看試樣實時衰減曲線，進而確定試樣半衰期和屏蔽系數(shù)。5裝置與用具5.1靜電電荷衰減測試儀靜電電荷衰減測試儀主要由電極、支撐環(huán)、試樣夾、階躍電壓發(fā)生器、感應探頭、記錄裝置組成（見圖1）。a）電極：銅制圓盤，直徑（701）mm，固定在由絕緣材料構(gòu)成的支架上。b）支撐環(huán)：一個內(nèi)徑為（1001）mm的不銹鋼環(huán)，與電極同心，且接地。電極頂面與支撐環(huán)頂部之間的距離應為（4.00.1）mm。c）試樣夾：由內(nèi)環(huán)和外環(huán)組成，試樣夾在兩環(huán)之間。內(nèi)環(huán)的外徑（2501）mm、內(nèi)徑（2201）mm，試樣夾內(nèi)環(huán)接地，且與電極和支撐環(huán)同心。d）階躍電壓發(fā)生器：一

5、個壓電式或其它合適的電壓發(fā)生器，能夠在30s內(nèi)產(chǎn)生（120050）V階躍電壓。e）感應探頭：由金屬圓盤、屏蔽外殼和電荷放大器組成，接地的屏蔽外殼環(huán)繞金屬圓盤，并連接到電荷放大器。金屬圓盤，直徑（30.00.1）mm。感應探頭底部端面與支撐環(huán)頂部之間的距離應為（501）mm。f）記錄裝置：是記錄感應探頭輸出與時間相關(guān)數(shù)據(jù)的裝置，并且能夠記錄全部輸出的數(shù)據(jù)。2 T/CNTAC 6220201、電荷放大器；2、記錄裝置；3、感應片；4、屏蔽外殼；5、試樣夾；6、試樣；7、支撐環(huán)；8、電極；9、階躍電壓發(fā)生器圖1儀器結(jié)構(gòu)示意圖5. 2靜電中和器在測量之前中和所測試樣上的靜電荷。6調(diào)濕和試驗用大氣條件調(diào)

6、濕和試驗用大氣的環(huán)境條件為溫度（202），相對濕度（355），環(huán)境風速應在0.1m/s以下。7試樣7.1預處理7.1.1如果需要，按照GB/T86292017中的4N程序洗滌，由有關(guān)各方商定可選擇洗滌5、10、30次等，多次洗滌時可將時間累加進行連續(xù)洗滌，或者按有關(guān)方認可的次數(shù)進行洗滌。按照GB/T86292017中自然晾干程序干燥樣品。注1：累加時間時，將4N程序洗滌、沖洗1、沖洗2、沖洗3中時間分別進行累加。注2：對于不打算重復使用的樣品（例如一次性服裝），不需要預處理。3 T/CNTAC 6220207.1.2調(diào)濕平衡將試樣或洗滌晾干后的試樣，在50下預烘一定時間（建議1小時），將預烘后

7、的試樣在第6章規(guī)定環(huán)境下放置24小時調(diào)濕平衡，試樣處理時避免污染。7.2取樣隨機裁取試樣3塊，每塊試樣的尺寸為300mmx300mm，試樣不得有接縫。如果對未經(jīng)切割的樣品進行測試，則應在樣品的三個不同的合適的位置進行測量。8試驗步驟8.1測定初始電場強度（無試樣）在電極和感應探頭之間沒有試樣的情況下進行測量。打開記錄裝置，打開電壓發(fā)生器以提供階躍電壓給電極，此時感應探頭測得穩(wěn)定的最大值記為空白最大電場強度Emax。注：對于沒有屏蔽效應的材料，試樣最大電場強度ER等于空白最大電場強度Emax（見圖2）。X：時間；Y：場強（相對單位）圖2沒有屏蔽效應材料的衰減示意圖8.2測試試樣8.2.1將第一個

8、試樣安裝于試樣夾上，試樣和支撐環(huán)同心，試樣夾接地。8.2.2使用靜電中和器對試樣進行消電處理，確保感應探頭顯示為零。8.2.3打開記錄裝置，打開電壓發(fā)生器以提供階躍電壓給電極。注：記錄器追蹤開始時會出現(xiàn)瞬態(tài)峰值。計算ER時忽略這樣的峰值。4 T/CNTAC 622020X：時間（s）；Y：場強（相對單位）圖3具有屏蔽效應材料的衰減示意圖8.2.4當感應探頭感應的實時數(shù)值降到1/2Emax或運行30s后，停止記錄數(shù)據(jù)。（數(shù)值下降為1/2Emax或運行30s，兩種情況以先發(fā)生的為試驗終點。）8.2.5記錄裝置將感應電極的數(shù)值下降為1/2Emax的情況記為ER，此時的時間為t50。8.2.6對于具有

9、一定屏蔽效應的樣品，ER小于Emax（見圖3）。如果EREmax/2，則記錄半衰期t50為30s。8.2.7移除試樣，重復8.2測試過程以測試其余兩個試樣。9結(jié)果計算和表示對三塊試樣進行同樣試驗，半衰期t50和屏蔽系數(shù)S分別以三塊試樣試驗結(jié)果的算術(shù)平均值作為該試樣最終結(jié)果。半衰期t50 修約0.01s，屏蔽系數(shù)修約至0.01。10評價具有一定屏蔽效應的樣品應至少滿足下列要求之一：半衰期t504s；屏蔽系數(shù)S0.2。11試驗報告試驗報告應該包括以下內(nèi)容：a)執(zhí)行標準；b)試驗日期；5 T/CNTAC 622020c)儀器型號；d)試驗環(huán)境條件；e)樣品狀態(tài)描述及試樣數(shù)量；f)試樣是否洗滌，如洗滌注明洗滌次數(shù)；g)每個試樣的半衰期和屏蔽系數(shù)，每種試樣的半衰期、屏蔽系數(shù)的平均值；h)如果需要，給出樣品的評價；i)試驗人員；j)任何偏離本方法的細