第四章_電法勘探-2部分

1、4.2.1.2聯(lián)合剖面法聯(lián)合剖面法聯(lián)合剖面法裝置形式聯(lián)合剖面法裝置形式1.聯(lián)合剖面法的電極裝置形式聯(lián)合剖面法的電極裝置形式裝置形式：裝置形式：它 是 由 兩 個(gè) 三 極 裝 置 即它 是 由 兩 個(gè) 三 極 裝 置 即AM和和MNB聯(lián)合而成。在兩聯(lián)合而成。在兩個(gè)三極裝置中有個(gè)公共的無窮遠(yuǎn)個(gè)三極裝置中有個(gè)公共的無窮遠(yuǎn)極極C（），電極排列以測點(diǎn)），電極排列以測點(diǎn)O呈呈左右對(duì)稱左右對(duì)稱AO=BO，MO=NO。當(dāng)。當(dāng)將無窮遠(yuǎn)極在測線的中垂線上布將無窮遠(yuǎn)極在測線的中垂線上布置，置，OC5AO；沿測線布置，；沿測線布置，OC10AO。MNANAM 2k聯(lián)合剖面法測量方法聯(lián)合剖面法測量方法聯(lián)合剖面法的測量方

2、法：聯(lián)合剖面法的測量方法：當(dāng)當(dāng)A極供電時(shí)，測量極供電時(shí)，測量MN兩兩點(diǎn)間電位差點(diǎn)間電位差UMNA及供電回路中及供電回路中電流電流I，根據(jù)視電阻率公式計(jì)算，根據(jù)視電阻率公式計(jì)算出出SA；B極供電時(shí)，同樣可以算極供電時(shí)，同樣可以算出出SB 。因此，一個(gè)測點(diǎn)可以得。因此，一個(gè)測點(diǎn)可以得到兩個(gè)視電阻率值。到兩個(gè)視電阻率值。聯(lián)合剖面法電極裝置系數(shù)：聯(lián)合剖面法電極裝置系數(shù)：4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)1）4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)2）良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖面曲線良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖面曲線 2. 幾種規(guī)則形狀地質(zhì)體聯(lián)合剖面幾種規(guī)則形狀地質(zhì)體聯(lián)合剖面S曲線曲線分析分析（1） 良導(dǎo)直立薄

3、脈良導(dǎo)直立薄脈s曲線分析及其特征曲線分析及其特征a.當(dāng)電極裝置位于點(diǎn)當(dāng)電極裝置位于點(diǎn)1位置時(shí)，位置時(shí)， jMN=j0, MN=1，sA=1。b.隨著電極逐漸向礦脈接近并處于處于隨著電極逐漸向礦脈接近并處于處于點(diǎn)點(diǎn)2位置時(shí)，與點(diǎn)位置時(shí)，與點(diǎn)1相比相比jMNj0，MN極仍極仍在在1介質(zhì)中，所以介質(zhì)中，所以MN=1，因此，因此sA1。c.電極裝置繼續(xù)向礦脈靠近處于點(diǎn)電極裝置繼續(xù)向礦脈靠近處于點(diǎn)3的位的位置，礦脈吸引電流線的作用較點(diǎn)置，礦脈吸引電流線的作用較點(diǎn)2更加強(qiáng)更加強(qiáng)烈，烈，SA仍大于仍大于1且比點(diǎn)且比點(diǎn)2還大，這時(shí)還大，這時(shí)SA取取得極大值。得極大值。良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖面曲線良導(dǎo)直立薄脈聯(lián)合剖

4、面曲線 （1）良導(dǎo)直立薄脈）良導(dǎo)直立薄脈s曲線分析及其曲線分析及其特征特征d.電極裝置于點(diǎn)電極裝置于點(diǎn)4位置時(shí)，位置時(shí)， A極發(fā)出極發(fā)出的電流線均被礦脈吸引，因此經(jīng)過的電流線均被礦脈吸引，因此經(jīng)過MN極的電流線將急劇的減少，所以極的電流線將急劇的減少，所以sA亦亦隨之減小，此時(shí)獲得隨之減小，此時(shí)獲得sA極小值。極小值。e.繼續(xù)向右移動(dòng)電極裝置至點(diǎn)繼續(xù)向右移動(dòng)電極裝置至點(diǎn)5位置位置時(shí)，時(shí)，MN間的電流密度間的電流密度jMN sB ，交點(diǎn)右側(cè)，交點(diǎn)右側(cè)sA sB 。我們稱這種交點(diǎn)為我們稱這種交點(diǎn)為低阻正交點(diǎn)低阻正交點(diǎn)。交點(diǎn)的。交點(diǎn)的電阻率電阻率s值低于或接近于圍巖電阻率值低于或接近于圍巖電阻率1。

5、在用聯(lián)合剖面法找礦中就是在用聯(lián)合剖面法找礦中就是利用低利用低阻正交點(diǎn)的位置來確定良導(dǎo)脈及構(gòu)造破阻正交點(diǎn)的位置來確定良導(dǎo)脈及構(gòu)造破碎帶在地面上的投影位置碎帶在地面上的投影位置。4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)4）4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)5）高阻直立巖脈高阻直立巖脈s曲線曲線 利用交點(diǎn)性質(zhì)及電阻率的高低和利用交點(diǎn)性質(zhì)及電阻率的高低和sA 與與sB兩條曲線之間開闊兩條曲線之間開闊的程度可區(qū)別高阻巖脈與低阻巖脈。的程度可區(qū)別高阻巖脈與低阻巖脈。（2）高阻直立巖脈）高阻直立巖脈s曲線特征曲線特征高阻直立脈曲線特點(diǎn)：高阻直立脈曲線特點(diǎn)：1）sA及及sB兩條曲線交點(diǎn)處的視兩條曲線

6、交點(diǎn)處的視電阻率值遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其圍巖電阻率值，電阻率值遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其圍巖電阻率值，交點(diǎn)左側(cè)交點(diǎn)左側(cè)sAsB，我們稱這種交點(diǎn)為我們稱這種交點(diǎn)為高阻反交點(diǎn)高阻反交點(diǎn)，交點(diǎn)，交點(diǎn)的位置與高阻脈在地面上的投影位置的位置與高阻脈在地面上的投影位置相對(duì)應(yīng)。相對(duì)應(yīng)。2）交點(diǎn)兩側(cè)）交點(diǎn)兩側(cè)sA及及sB曲線呈兩翼曲線呈兩翼閉攏狀態(tài)。閉攏狀態(tài)。低阻傾斜薄板上聯(lián)剖曲線低阻傾斜薄板上聯(lián)剖曲線h=5cm；L=80cm；=30（3）傾斜良導(dǎo)脈）傾斜良導(dǎo)脈s曲線特征曲線特征礦脈傾斜時(shí)礦脈傾斜時(shí)s曲線特點(diǎn)：曲線特點(diǎn)：1）sA和和sB兩條曲線不對(duì)稱。反傾向兩條曲線不對(duì)稱。反傾向一側(cè)的電極供電時(shí)，一側(cè)的電極供電時(shí)， s曲線異常反映明曲線

7、異常反映明顯。顯。2）低阻正交點(diǎn)位置相對(duì)于礦體頂部向）低阻正交點(diǎn)位置相對(duì)于礦體頂部向礦體傾斜的方向移動(dòng)。礦體傾角越小、礦體傾斜的方向移動(dòng)。礦體傾角越小、埋深越淺以及埋深越淺以及AO極距越大，曲線的不對(duì)極距越大，曲線的不對(duì)稱性及交點(diǎn)位移也越大。稱性及交點(diǎn)位移也越大。為了判斷礦體的傾斜方向，通常采為了判斷礦體的傾斜方向，通常采取大小兩種極距的聯(lián)合剖面測量，根據(jù)取大小兩種極距的聯(lián)合剖面測量，根據(jù)s曲線的不對(duì)稱性和交點(diǎn)位移情況判斷曲線的不對(duì)稱性和交點(diǎn)位移情況判斷礦體的傾斜方向礦體的傾斜方向4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)6）直立巖層接觸面直立巖層接觸面s曲線曲線 浮土下直立巖層接觸面浮土下直

8、立巖層接觸面s曲線曲線 （4） 兩種直立巖層接觸面兩種直立巖層接觸面s曲線特征曲線特征在兩種直立巖層接觸面處（無浮在兩種直立巖層接觸面處（無浮土），土），sA及及sB曲線均出現(xiàn)了較大的跳曲線均出現(xiàn)了較大的跳躍。躍。 sA曲線變化情況較曲線變化情況較sB曲線更為曲線更為明顯。所以可用明顯。所以可用sA曲線極大值點(diǎn)確定曲線極大值點(diǎn)確定巖層接觸面位置。巖層接觸面位置。有浮土覆蓋時(shí)，由于良導(dǎo)性浮土的有浮土覆蓋時(shí)，由于良導(dǎo)性浮土的影響使巖層接觸面處影響使巖層接觸面處s曲線變化較平緩，曲線變化較平緩，兩種巖層接觸界面的位置與兩種巖層接觸界面的位置與sA曲線極曲線極大值下降三分之一的地方相對(duì)應(yīng)大值下降三分之

9、一的地方相對(duì)應(yīng)，即與，即與2/3sA極值點(diǎn)的橫坐標(biāo)位置相對(duì)應(yīng)。極值點(diǎn)的橫坐標(biāo)位置相對(duì)應(yīng)。 4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)7）4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)8）表土不均勻?qū)Ρ硗敛痪鶆驅(qū)曲線的影響曲線的影響 3.地形及表土不均勻?qū)β?lián)合剖面曲線的影響地形及表土不均勻?qū)β?lián)合剖面曲線的影響（1） 表土電阻率不均勻?qū)Ρ硗岭娮杪什痪鶆驅(qū)曲線的影響曲線的影響表土不均勻的影響：表土不均勻的影響：埋深較淺的局部低阻體及一個(gè)凸起的小山脊會(huì)引起埋深較淺的局部低阻體及一個(gè)凸起的小山脊會(huì)引起sA與與sB曲線同時(shí)下降。反之當(dāng)存在一個(gè)埋藏較淺的高阻體及地面曲線同時(shí)下降。反之當(dāng)存在一個(gè)埋藏較淺的高阻

10、體及地面上存在一個(gè)小窄溝時(shí)，則會(huì)引起上存在一個(gè)小窄溝時(shí)，則會(huì)引起sA及及sB曲線同時(shí)升高。對(duì)曲線同時(shí)升高。對(duì)于于sA及及sB曲線發(fā)生同時(shí)上下跳動(dòng)現(xiàn)象，我們稱它為曲線發(fā)生同時(shí)上下跳動(dòng)現(xiàn)象，我們稱它為s曲線雙曲線雙支同步跳躍。支同步跳躍。 采用采用“比值法比值法”加以消除，方法如下：加以消除，方法如下：（1） 表土電阻率不均勻?qū)Ρ硗岭娮杪什痪鶆驅(qū)曲線的影響曲線的影響4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)9）表土電阻率不均勻?qū)β?lián)合剖表土電阻率不均勻?qū)β?lián)合剖面面s曲線的影響及其消除曲線的影響及其消除（a）F與與F曲線；（曲線；（b）sA與與sB曲線曲線BsiAsiAiFAsiBsiBiF1）對(duì)各

11、個(gè)測點(diǎn)的）對(duì)各個(gè)測點(diǎn)的sA與與sB值取其值取其 比值，分別計(jì)算出比值，分別計(jì)算出FA和和FB。2）繪制）繪制F曲線剖面圖。曲線剖面圖。1測點(diǎn)測點(diǎn)1地形對(duì)地形對(duì)s曲線的影響曲線的影響 （2）山脊山谷地形對(duì)）山脊山谷地形對(duì)s曲線的影響曲線的影響曲線特點(diǎn)：曲線特點(diǎn)：對(duì)應(yīng)山脊地形對(duì)應(yīng)山脊地形sA及及sB出現(xiàn)低阻反交點(diǎn)；出現(xiàn)低阻反交點(diǎn)；而在山谷地形上而在山谷地形上sA及及sB形成高阻正交點(diǎn)。形成高阻正交點(diǎn)。4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)10）0地形實(shí)測改sss式中：式中：S實(shí)測是實(shí)測是s實(shí)測值；實(shí)測值；S曲線是純由地形引起的曲線是純由地形引起的s值；值；0是純介質(zhì)的電阻率值；是純介質(zhì)的電阻率

12、值； S改改是消除了地形影響后的是消除了地形影響后的s值。值。4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)11）地形影響的改正辦法：地形影響的改正辦法：最簡單的是最簡單的是“模型實(shí)驗(yàn)校正模型實(shí)驗(yàn)校正法法”，也稱為，也稱為“比較法比較法” 。把野外實(shí)際地形按比例縮小在。把野外實(shí)際地形按比例縮小在土槽中，通過模型實(shí)驗(yàn)得出純地形影響的視電阻率曲線。土槽中，通過模型實(shí)驗(yàn)得出純地形影響的視電阻率曲線。校正后的數(shù)值是：校正后的數(shù)值是：4.聯(lián)合剖面法的應(yīng)用聯(lián)合剖面法的應(yīng)用（1）尋找金屬礦中的應(yīng)用）尋找金屬礦中的應(yīng)用某區(qū)內(nèi)出露巖層有大理巖及閃長巖兩種，在兩種巖某區(qū)內(nèi)出露巖層有大理巖及閃長巖兩種，在兩種巖石的接觸

13、部位見有矽卡巖及黃鐵礦化，并有微量的黃銅石的接觸部位見有矽卡巖及黃鐵礦化，并有微量的黃銅礦。區(qū)內(nèi)均為浮土掩蓋，露頭很少。大理巖和閃長巖電礦。區(qū)內(nèi)均為浮土掩蓋，露頭很少。大理巖和閃長巖電阻率均比較高，為在本區(qū)利用聯(lián)合剖面法尋找接觸交代阻率均比較高，為在本區(qū)利用聯(lián)合剖面法尋找接觸交代型銅礦創(chuàng)造了物理前提。型銅礦創(chuàng)造了物理前提。4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)12）4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)13）我國某銅礦床上聯(lián)合剖面曲線我國某銅礦床上聯(lián)合剖面曲線 （1） 尋找金屬礦中的應(yīng)用尋找金屬礦中的應(yīng)用圖為實(shí)測的聯(lián)合剖面曲線，圖為實(shí)測的聯(lián)合剖面曲線，由圖可見，由圖可見，sA與與sB曲

14、線出現(xiàn)明曲線出現(xiàn)明顯的低阻正交點(diǎn)和曲線的不對(duì)稱。顯的低阻正交點(diǎn)和曲線的不對(duì)稱。根據(jù)曲線不對(duì)稱可知，礦體是傾根據(jù)曲線不對(duì)稱可知，礦體是傾斜的，其傾斜方向應(yīng)向斜的，其傾斜方向應(yīng)向sA與與sB的極大值及極小值降低的一側(cè)傾的極大值及極小值降低的一側(cè)傾斜。因此推斷礦體向南西傾斜。斜。因此推斷礦體向南西傾斜。后經(jīng)鉆探證實(shí)，該異常為賦存于后經(jīng)鉆探證實(shí)，該異常為賦存于接觸帶附近接觸交代型銅礦所引接觸帶附近接觸交代型銅礦所引起。起。 4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)14）某地破碎帶上聯(lián)合剖面曲線某地破碎帶上聯(lián)合剖面曲線1砂卵石；砂卵石；2流紋巖；流紋巖；3斷層斷層（2）尋找和追索破碎帶）尋找和追索破碎

15、帶測線的方向沿橫慣河谷布置，采用的電極裝置為測線的方向沿橫慣河谷布置，采用的電極裝置為AO=20，MN=5m，從觀測結(jié)果可見在，從觀測結(jié)果可見在6號(hào)點(diǎn)處出現(xiàn)了低阻正交點(diǎn)，推斷號(hào)點(diǎn)處出現(xiàn)了低阻正交點(diǎn)，推斷可能為破碎帶引起的，因?yàn)橹挥性诹严吨胁藕兴实妥鑾??？赡転槠扑閹б鸬?，因?yàn)橹挥性诹严吨胁藕兴实妥鑾А＝?jīng)坑探證明確有破碎裂隙，厚約經(jīng)坑探證明確有破碎裂隙，厚約1米。米。（2）尋找和追索破碎帶）尋找和追索破碎帶為了追索破碎帶的走向，使用同樣的電極距在河谷下游距為了追索破碎帶的走向，使用同樣的電極距在河谷下游距前一剖面前一剖面30米處又布置了一條剖面，結(jié)果在米處又布置了一條剖面，結(jié)果在10

16、號(hào)點(diǎn)附近又出現(xiàn)號(hào)點(diǎn)附近又出現(xiàn)了一低阻正交點(diǎn)，兩交點(diǎn)連線的方向即為破碎帶的走向。了一低阻正交點(diǎn)，兩交點(diǎn)連線的方向即為破碎帶的走向。該區(qū)河谷寬為該區(qū)河谷寬為200m，河谷內(nèi)地形平坦，大部分為砂卵石覆，河谷內(nèi)地形平坦，大部分為砂卵石覆蓋，在河谷兩側(cè)出露的巖石為白堊紀(jì)流紋巖。聯(lián)合剖面法的任蓋，在河谷兩側(cè)出露的巖石為白堊紀(jì)流紋巖。聯(lián)合剖面法的任務(wù)就是在流紋巖中尋找破碎帶。務(wù)就是在流紋巖中尋找破碎帶。 某地破碎帶上聯(lián)合剖面曲線某地破碎帶上聯(lián)合剖面曲線1砂卵石；砂卵石；2流紋巖；流紋巖；3斷層斷層4.2.1.2聯(lián)合剖面法（續(xù)聯(lián)合剖面法（續(xù)15）4.2.1.3對(duì)稱四極剖面法對(duì)稱四極剖面法IUKMNABsMNA

17、NAMK對(duì)稱四極剖面法裝置形式對(duì)稱四極剖面法裝置形式1 對(duì)稱四極剖面法電極裝置形式對(duì)稱四極剖面法電極裝置形式（1）對(duì)稱四極裝置特點(diǎn)：）對(duì)稱四極裝置特點(diǎn)：A、M、N、B四個(gè)電極在測線上四個(gè)電極在測線上排列成一直線，各電極均以測點(diǎn)排列成一直線，各電極均以測點(diǎn)O為為中心呈左右對(duì)稱布置，即中心呈左右對(duì)稱布置，即AO=BO，MO=NO。保持個(gè)電極間的距離不變，整個(gè)保持個(gè)電極間的距離不變，整個(gè)裝置沿測線一起移動(dòng)進(jìn)行測量。裝置沿測線一起移動(dòng)進(jìn)行測量。 因此，所測的因此，所測的s值的變化反映了值的變化反映了沿剖面方向一定深度范圍內(nèi)巖石電阻沿剖面方向一定深度范圍內(nèi)巖石電阻率的變化情況。用下式計(jì)算視電阻率率的變化

18、情況。用下式計(jì)算視電阻率s ：4.2.1.3對(duì)稱四極剖面法（續(xù)對(duì)稱四極剖面法（續(xù)1）復(fù)合對(duì)稱四極剖面法裝置形式復(fù)合對(duì)稱四極剖面法裝置形式（2）復(fù)合對(duì)稱四極裝置特點(diǎn)：）復(fù)合對(duì)稱四極裝置特點(diǎn)：在對(duì)稱四極剖面法中采用兩種大小不同的供電電極距測在對(duì)稱四極剖面法中采用兩種大小不同的供電電極距測量構(gòu)成的復(fù)合對(duì)稱四極裝置。量構(gòu)成的復(fù)合對(duì)稱四極裝置。在每個(gè)測點(diǎn)上分別用大極距在每個(gè)測點(diǎn)上分別用大極距AB及小極距及小極距AB供電，與供電，與其對(duì)應(yīng)的則可測得其對(duì)應(yīng)的則可測得s AB及及 s AB ，這樣在一條測線上就可以，這樣在一條測線上就可以有反映不同深度情況的兩條有反映不同深度情況的兩條s曲線。曲線。ABAMN

19、B4.2.1.3對(duì)稱四極剖面法（續(xù)對(duì)稱四極剖面法（續(xù)2）高阻基巖隆起的高阻基巖隆起的s曲線曲線 可 見 ， 視 電 阻 率可 見 ， 視 電 阻 率S S曲線起伏情況，比曲線起伏情況，比較好的反映了基巖表面較好的反映了基巖表面的起伏。的起伏。 2.對(duì)稱四極剖面法對(duì)稱四極剖面法s曲線的分析曲線的分析 （1）良導(dǎo)覆蓋層下高阻基巖隆起）良導(dǎo)覆蓋層下高阻基巖隆起s曲線的分析曲線的分析 1號(hào)點(diǎn)遠(yuǎn)離基巖界面，號(hào)點(diǎn)遠(yuǎn)離基巖界面， jMN= j0，MN=1；測點(diǎn)位于測點(diǎn)位于2號(hào)點(diǎn)位置時(shí)，因基巖號(hào)點(diǎn)位置時(shí)，因基巖發(fā)生隆起其表面靠近地表，電場則因發(fā)生隆起其表面靠近地表，電場則因高阻基巖向地表排斥電流線而引起電高阻

20、基巖向地表排斥電流線而引起電流畸變，致使流畸變，致使jmn j0 ，則視電阻率，則視電阻率S1；測點(diǎn)位于；測點(diǎn)位于3號(hào)點(diǎn)處的情況與號(hào)點(diǎn)處的情況與1號(hào)點(diǎn)相同。號(hào)點(diǎn)相同。4.2.1.3對(duì)稱四極剖面法（續(xù)對(duì)稱四極剖面法（續(xù)3） 復(fù)合對(duì)稱四極復(fù)合對(duì)稱四極s曲線曲線（a）12古河道（基巖為低阻）古河道（基巖為低阻）復(fù)合對(duì)稱四極剖面法復(fù)合對(duì)稱四極剖面法是是采用兩種不同的供電電采用兩種不同的供電電極距、不同的探測深度而極距、不同的探測深度而得到的兩條得到的兩條s s曲線，區(qū)分曲線，區(qū)分高阻隆起或古河道的異常。高阻隆起或古河道的異常。 2.對(duì)稱四極剖面法對(duì)稱四極剖面法s曲線的分析曲線的分析（2）復(fù)合對(duì)稱四極）

21、復(fù)合對(duì)稱四極s曲線的分析曲線的分析 在基巖為高阻的隆起上，在基巖為高阻的隆起上，s AB曲線低于曲線低于s AB ；在古河；在古河道（基巖為低阻）上，道（基巖為低阻）上， s AB曲線位于曲線位于s AB的上方。的上方。4.2.1.3對(duì)稱四極剖面法（續(xù)對(duì)稱四極剖面法（續(xù)4）對(duì)稱四極剖面的等對(duì)稱四極剖面的等s平面圖平面圖 3.對(duì)稱四極剖面法的應(yīng)用對(duì)稱四極剖面法的應(yīng)用 （1） 確定浮土層下的基巖起伏確定浮土層下的基巖起伏實(shí)例實(shí)例1：尋找沉積在基巖低洼處：尋找沉積在基巖低洼處 鋁土礦。鋁土礦?；鶐r洼地處沉積的鋁土礦電基巖洼地處沉積的鋁土礦電阻率最低，并在視電阻率平面等阻率最低，并在視電阻率平面等值線

22、圖上明顯的表示出了低阻閉值線圖上明顯的表示出了低阻閉合圈的位置，根據(jù)低阻閉合圈的合圈的位置，根據(jù)低阻閉合圈的范圍即可確定古生代基巖頂面洼范圍即可確定古生代基巖頂面洼地的位置地的位置巖溶區(qū)對(duì)稱四極剖面法巖溶區(qū)對(duì)稱四極剖面法剖面圖剖面圖1粘土；粘土；2灰?guī)r灰?guī)r實(shí)例實(shí)例2：確定基巖起伏界面。：確定基巖起伏界面。右圖是某地巖溶區(qū)對(duì)稱四極右圖是某地巖溶區(qū)對(duì)稱四極 剖面法剖面法S剖面圖，它清楚的反映剖面圖，它清楚的反映出灰?guī)r基底起伏情況?；?guī)r中的出灰?guī)r基底起伏情況?；?guī)r中的巖溶漏斗因被低阻沉積物充填，巖溶漏斗因被低阻沉積物充填，所以所以S剖面曲線反映出的低阻部剖面曲線反映出的低阻部位恰與巖溶漏斗對(duì)應(yīng)。位恰

23、與巖溶漏斗對(duì)應(yīng)。4.2.1.3對(duì)稱四極剖面法（續(xù)對(duì)稱四極剖面法（續(xù)5）對(duì)稱四極剖面法的對(duì)稱四極剖面法的剖面平面圖剖面平面圖1頁巖；頁巖；2大理巖大理巖（2）對(duì)稱四極剖面法在地質(zhì)填）對(duì)稱四極剖面法在地質(zhì)填圖中的應(yīng)用圖中的應(yīng)用實(shí)例：實(shí)例：圖為某地尋找頁巖及大理巖圖為某地尋找頁巖及大理巖接觸界限的接觸界限的S剖面圖。剖面圖。當(dāng)測點(diǎn)由頁巖區(qū)進(jìn)入大理巖當(dāng)測點(diǎn)由頁巖區(qū)進(jìn)入大理巖地區(qū)時(shí)，地區(qū)時(shí)， S曲線發(fā)生躍變，而在曲線發(fā)生躍變，而在頁巖及大理巖地區(qū)頁巖及大理巖地區(qū)S曲線比較平曲線比較平穩(wěn)，所以可以根據(jù)穩(wěn)，所以可以根據(jù)S曲線躍變的曲線躍變的特點(diǎn)劃出兩種巖層的接觸界面來。特點(diǎn)劃出兩種巖層的接觸界面來。4.2.

24、1.3對(duì)稱四極剖面法（續(xù)對(duì)稱四極剖面法（續(xù)6）正確地確定工作任務(wù)是保證工作順利進(jìn)行和取得顯著正確地確定工作任務(wù)是保證工作順利進(jìn)行和取得顯著效果的重要環(huán)節(jié)。效果的重要環(huán)節(jié)。電阻率剖面法必須具備的地質(zhì)條件和地電阻率剖面法必須具備的地質(zhì)條件和地球物理前提：球物理前提：1. 被探測的地質(zhì)體與圍巖的電阻率有較大的差異。被探測的地質(zhì)體與圍巖的電阻率有較大的差異。2. 被探測的地質(zhì)體相對(duì)于埋藏深度具有一定的規(guī)模。被探測的地質(zhì)體相對(duì)于埋藏深度具有一定的規(guī)模。3. 被探測的地質(zhì)體的異常應(yīng)能從各干擾體的異常背景中區(qū)被探測的地質(zhì)體的異常應(yīng)能從各干擾體的異常背景中區(qū) 分顯示出來。分顯示出來。4. 浮土電阻率很低（如沼

25、澤、稻田區(qū)），厚度又很大的地浮土電阻率很低（如沼澤、稻田區(qū)），厚度又很大的地 區(qū)或地表接地電阻過大（如凍土層厚度大于區(qū)或地表接地電阻過大（如凍土層厚度大于12m及地及地表為礫巖掩蓋）的地區(qū)，不利于開展電阻率剖面法工作。表為礫巖掩蓋）的地區(qū)，不利于開展電阻率剖面法工作。4.2.2電阻率剖面法的野外工作方法電阻率剖面法的野外工作方法4.2.2.1確定任務(wù)確定任務(wù)4.2.2.2測區(qū)范圍、測網(wǎng)與比例尺測區(qū)范圍、測網(wǎng)與比例尺測線的方向應(yīng)垂直被探測地質(zhì)體的主要走向。測線的方向應(yīng)垂直被探測地質(zhì)體的主要走向。如成礦如成礦受構(gòu)造控制，測線應(yīng)垂直構(gòu)造的走向；成礦受巖性的控制，受構(gòu)造控制，測線應(yīng)垂直構(gòu)造的走向；成礦

26、受巖性的控制，則應(yīng)垂直巖層走向。當(dāng)發(fā)現(xiàn)的異常走向與測線交角小于則應(yīng)垂直巖層走向。當(dāng)發(fā)現(xiàn)的異常走向與測線交角小于90過多時(shí)，應(yīng)垂直異常走向布置補(bǔ)充工作。過多時(shí)，應(yīng)垂直異常走向布置補(bǔ)充工作。測網(wǎng)密度由被探測地質(zhì)體的大小、埋深和工作性質(zhì)來測網(wǎng)密度由被探測地質(zhì)體的大小、埋深和工作性質(zhì)來確定。確定。普查時(shí)，至少要有普查時(shí)，至少要有12條測線穿過異常，每條測線條測線穿過異常，每條測線上至少有上至少有35個(gè)測點(diǎn)在異常區(qū)；詳查時(shí)，至少應(yīng)有個(gè)測點(diǎn)在異常區(qū)；詳查時(shí)，至少應(yīng)有35條條測線、測線、510點(diǎn)、線穿過異常。點(diǎn)、線穿過異常。1. 對(duì)稱四極剖面法極距的選擇對(duì)稱四極剖面法極距的選擇實(shí)際工作中常用的數(shù)據(jù)如下：實(shí)際

27、工作中常用的數(shù)據(jù)如下：AB（46）HMN=（1/51/3）AB 其中其中H為礦頂埋深。為礦頂埋深。電剖面法通常取電剖面法通常取MN大小與點(diǎn)距相等或兩倍點(diǎn)距。大小與點(diǎn)距相等或兩倍點(diǎn)距。復(fù)合四極剖面中，大極距反映深部情況，一般是復(fù)合四極剖面中，大極距反映深部情況，一般是AB/2（35）H，（，（H是覆蓋層的平均厚度）；小極距反映淺部情是覆蓋層的平均厚度）；小極距反映淺部情況，一般況，一般AB/2 （12）H。大極距與小極距兩者的比值。大極距與小極距兩者的比值在兩倍以上。在兩倍以上。4.2.2.3電極距的選擇電極距的選擇2.聯(lián)合剖面法極距的選擇聯(lián)合剖面法極距的選擇選擇最合適的極距稱為最佳電極距：選擇

28、最合適的極距稱為最佳電極距：AO3H（H為礦頂埋深）為礦頂埋深）對(duì)于薄板狀良導(dǎo)性礦體，最佳極距為：對(duì)于薄板狀良導(dǎo)性礦體，最佳極距為：AO=1/2（L+d）其中：）其中： L礦體沿走向的長度。礦體沿走向的長度。d礦脈向下延伸的長度。礦脈向下延伸的長度。鄰近有不均勻體時(shí)電極距的選擇：還應(yīng)使鄰近有不均勻體時(shí)電極距的選擇：還應(yīng)使AO1/2P P為礦體與不均勻體之間的距離。為礦體與不均勻體之間的距離。無窮遠(yuǎn)極的選擇：一般取無窮遠(yuǎn)極的選擇：一般取OC（510）OA最大，最最大，最好沿垂直測線方向布置好沿垂直測線方向布置C（）極。）極。對(duì)測量電極對(duì)測量電極MN的選擇：的選擇：MN=（1/31/5）AO通常通

29、常MN等于測點(diǎn)距。等于測點(diǎn)距。4.2.2.3電極距的選擇（續(xù)電極距的選擇（續(xù)1）3.中間梯度法電極距的選擇中間梯度法電極距的選擇在保證觀測質(zhì)量可靠的前提下，供電電極距在保證觀測質(zhì)量可靠的前提下，供電電極距AB應(yīng)盡可能大。應(yīng)盡可能大。測量電極距選擇：測量電極距選擇：MN=（1/201/50）AB4.2.2.3電極距的選擇（續(xù)電極距的選擇（續(xù)2）4.2.3電阻率測深法電阻率測深法定義：定義：電阻率測深法簡稱電測深法，它是以地下巖（礦）電阻率測深法簡稱電測深法，它是以地下巖（礦）石的電性差異為基礎(chǔ)，人工建立地下穩(wěn)定直流電場或脈動(dòng)電石的電性差異為基礎(chǔ)，人工建立地下穩(wěn)定直流電場或脈動(dòng)電場，通過逐次加大供

30、電（或發(fā)送）與測量（或接收）電極極場，通過逐次加大供電（或發(fā)送）與測量（或接收）電極極距，觀測與研究同一測點(diǎn)下垂直方向不同深度范圍巖（礦）距，觀測與研究同一測點(diǎn)下垂直方向不同深度范圍巖（礦）層電阻率的變化規(guī)律，以查明礦產(chǎn)資源或解決與深度有關(guān)的層電阻率的變化規(guī)律，以查明礦產(chǎn)資源或解決與深度有關(guān)的各類地質(zhì)問題的一組直流電法勘探方法。各類地質(zhì)問題的一組直流電法勘探方法。電測深的主要特點(diǎn)：電測深的主要特點(diǎn)：電測深法適用于勘探在垂向上有明電測深法適用于勘探在垂向上有明顯電性差的水平的或緩傾斜（傾角小于顯電性差的水平的或緩傾斜（傾角小于20）巖層厚度、埋）巖層厚度、埋藏深度等。藏深度等。4.2.3電阻率測

31、深法（續(xù)電阻率測深法（續(xù)1）工作方法：工作方法：保持測點(diǎn)保持測點(diǎn)O不動(dòng)，仍以不動(dòng)，仍以O(shè)點(diǎn)為中心，分別點(diǎn)為中心，分別向外對(duì)稱地移動(dòng)向外對(duì)稱地移動(dòng)A、B供電電極，之后測量供電電極，之后測量M、N兩點(diǎn)間的兩點(diǎn)間的電位差及供電回路中的電流。根據(jù)視電阻率公式計(jì)算出電位差及供電回路中的電流。根據(jù)視電阻率公式計(jì)算出S值。如此繼續(xù)擴(kuò)大值。如此繼續(xù)擴(kuò)大AB，就可以算出對(duì)應(yīng)于每個(gè)，就可以算出對(duì)應(yīng)于每個(gè)AB的的S 。然后然后以以AB/2為橫座標(biāo)為橫座標(biāo)，以以S為縱座標(biāo)繪出電測深曲線。為縱座標(biāo)繪出電測深曲線。電測深法的裝置類型：電測深法的裝置類型：對(duì)稱四極測深、三極測深及偶對(duì)稱四極測深、三極測深及偶極測深，經(jīng)常被應(yīng)

32、用的是極測深，經(jīng)常被應(yīng)用的是對(duì)稱四極測深法對(duì)稱四極測深法。4.2.3.1電測深法的基本原理電測深法的基本原理MN電測深工作原理電測深工作原理 2.隨著隨著AB/2的距離逐漸增大，電流向下的穿透深度相應(yīng)增的距離逐漸增大，電流向下的穿透深度相應(yīng)增大。大。因因2 1 ，即第二層介質(zhì)對(duì)電流向上排斥，此時(shí)，即第二層介質(zhì)對(duì)電流向上排斥，此時(shí) jMN j0 。所以所以s 1 ， S曲線隨曲線隨AB/2增大而升高（圖中增大而升高（圖中“2”點(diǎn)）。點(diǎn)）。3. AB/2h1時(shí)，第一層相對(duì)變薄，電場分布決定于第二層，所以時(shí)，第一層相對(duì)變薄，電場分布決定于第二層，所以s = 2。 21二層地電斷面二層地電斷面S曲線的

33、形曲線的形成過程：成過程：1. 當(dāng)當(dāng)AB/2h1時(shí)，因供電電極距很小，時(shí)，因供電電極距很小，電流主要在分布在淺部的電流主要在分布在淺部的1介質(zhì)中，介質(zhì)中，此時(shí)此時(shí)jMN=j0，MN= 1，因此，因此s = 1 （圖中（圖中“1”點(diǎn)）。點(diǎn)）。4.2.3.1電測深法的基本原理（續(xù)）電測深法的基本原理（續(xù)）電測深法的物理實(shí)質(zhì)：電測深法的物理實(shí)質(zhì)：我們知道我們知道勘探深度取決于供電電極距的大小勘探深度取決于供電電極距的大小，因此只，因此只要在同一測點(diǎn)上采取不斷地?cái)U(kuò)大供電電極距要在同一測點(diǎn)上采取不斷地?cái)U(kuò)大供電電極距AB的距離，即的距離，即會(huì)達(dá)到控制勘探深度的目的，籍以了解巖石電阻率隨深度會(huì)達(dá)到控制勘探深

34、度的目的，籍以了解巖石電阻率隨深度的變化情況，這就是電測深法的基本出發(fā)點(diǎn)。的變化情況，這就是電測深法的基本出發(fā)點(diǎn)。改變電極距的目的就是改變電場向下作用的空間范圍改變電極距的目的就是改變電場向下作用的空間范圍，從而達(dá)到對(duì)測點(diǎn)下面不同深度巖層研究的目的。這就是從而達(dá)到對(duì)測點(diǎn)下面不同深度巖層研究的目的。這就是電電測深法的物理實(shí)質(zhì)測深法的物理實(shí)質(zhì)。4.2.3.2地電斷面與電測深曲線類型地電斷面與電測深曲線類型石 灰 巖黃土潛 水 面地質(zhì)斷面與地電斷面的關(guān)系地質(zhì)斷面與地電斷面的關(guān)系圖中從地質(zhì)角度來劃分就是二圖中從地質(zhì)角度來劃分就是二層，因潛水面上下的黃土濕度不同，層，因潛水面上下的黃土濕度不同，故地電斷

35、面是三層。故地電斷面是三層。只有電性層與巖層相吻合時(shí)地只有電性層與巖層相吻合時(shí)地質(zhì)斷面才與地電斷面相一致。質(zhì)斷面才與地電斷面相一致。因此在電測深中需要經(jīng)常研究因此在電測深中需要經(jīng)常研究地電斷面與地質(zhì)斷面間的關(guān)系，才地電斷面與地質(zhì)斷面間的關(guān)系，才能根據(jù)地電斷面推斷地質(zhì)斷面達(dá)到能根據(jù)地電斷面推斷地質(zhì)斷面達(dá)到劃分巖層的目的。劃分巖層的目的。地電斷面：地電斷面：按巖層的電性不同來劃分?jǐn)嗝?。按巖層的電性不同來劃分?jǐn)嗝妗５刭|(zhì)斷面：地質(zhì)斷面：根據(jù)巖性的不同來確定界面。根據(jù)巖性的不同來確定界面。 G型電測深曲線型電測深曲線 D型電測深曲線型電測深曲線 1二層地電斷面電測深曲線類型二層地電斷面電測深曲線類型二層

36、地電斷面共有三個(gè)參數(shù)即二層地電斷面共有三個(gè)參數(shù)即1、2和和h1（因（因h2為無為無限厚可以不予考慮），因此有限厚可以不予考慮），因此有12兩種類型。兩種類型。（1）12電測深曲線，稱其為電測深曲線，稱其為D型曲線。型曲線。（2）123時(shí)，即形成時(shí)，即形成H型曲線；型曲線；（2）K型曲線：型曲線：當(dāng)當(dāng)13時(shí)，即形成時(shí)，即形成K型電測深曲線。型電測深曲線。（3）A型及型及Q型曲線：型曲線：當(dāng)當(dāng)1223時(shí)，則分時(shí)，則分 別形成別形成A型及型及Q型電測深曲線。型電測深曲線。多多層層電電測測深深曲曲線線類類型型 3.四層及多層電測深曲線類型四層及多層電測深曲線類型四層地電斷面共有七個(gè)參數(shù)，其電阻率和厚度

37、分別為四層地電斷面共有七個(gè)參數(shù)，其電阻率和厚度分別為1、 2 、 3、 4、和、和h1、h2、h3，按照各層電阻率之間的組合關(guān)，按照各層電阻率之間的組合關(guān)系的不同，四層地電斷面的電測深曲線可分成八種類型，即系的不同，四層地電斷面的電測深曲線可分成八種類型，即HK、HA、KH、KQ、AA、AK、QH及及QQ型，電性層更多型，電性層更多時(shí)，每增加一層表示電測深曲線類型的字母便增加一個(gè)。時(shí)，每增加一層表示電測深曲線類型的字母便增加一個(gè)。 4.2.3.2地電斷面與電測深曲線類型（續(xù)地電斷面與電測深曲線類型（續(xù)3）4.2.3.3電測深的工作方法電測深的工作方法測網(wǎng)的選擇：測網(wǎng)的選擇：取決于測區(qū)勘探要求的

38、詳細(xì)程度及測區(qū)的地質(zhì)條件。取決于測區(qū)勘探要求的詳細(xì)程度及測區(qū)的地質(zhì)條件。測線的方向應(yīng)與地質(zhì)構(gòu)造方向垂直，測線的長度應(yīng)大于尋測線的方向應(yīng)與地質(zhì)構(gòu)造方向垂直，測線的長度應(yīng)大于尋找的地質(zhì)構(gòu)造的寬度。找的地質(zhì)構(gòu)造的寬度。1詳查要有三至五條測線通過有意義的構(gòu)造帶，每條測詳查要有三至五條測線通過有意義的構(gòu)造帶，每條測線要有三到五個(gè)測點(diǎn)位于構(gòu)造帶上。線要有三到五個(gè)測點(diǎn)位于構(gòu)造帶上。2在普查工作中至少要有一條測線通過最小的有意義的在普查工作中至少要有一條測線通過最小的有意義的構(gòu)造帶，處于構(gòu)造帶上至少應(yīng)有二至三個(gè)測點(diǎn)。構(gòu)造帶，處于構(gòu)造帶上至少應(yīng)有二至三個(gè)測點(diǎn)。4.2.3.3電測深的工作方法（續(xù)電測深的工作方法（

39、續(xù)1）電極距的選擇：電極距的選擇：1. 供電電極距大小的標(biāo)準(zhǔn)以使電測深曲線首尾兩端供電電極距大小的標(biāo)準(zhǔn)以使電測深曲線首尾兩端 出現(xiàn)漸近線為原則，所以要求出現(xiàn)漸近線為原則，所以要求: (AB/2)minh1，(AB/2)max（520）（AB）n+1 1.5（AB）n 2 . 測量電極測量電極MN的選擇的選擇1/3ABMN1/30AB4.2.3.3電測深的工作方法（續(xù)電測深的工作方法（續(xù)2）AB/2AB/2（m m）34.5691215254065MN/2（m m）11111151555AB/2AB/2（m m）10015022532550075010001500MN/2（m m）5255252

40、5252510025100100100供電電極距及其供電電極距及其MN間的關(guān)系表間的關(guān)系表 裝置形式：裝置形式：先從小的供電電極距開始，然后逐漸增大先從小的供電電極距開始，然后逐漸增大AB，MN不不變，當(dāng)變，當(dāng)AB增大到增大到AB=30MN時(shí)，則增大時(shí)，則增大MN間的距離，并在間的距離，并在變換變換MN時(shí)，對(duì)相鄰時(shí)，對(duì)相鄰AB極距采用兩種極距采用兩種MN進(jìn)行觀測，以便曲進(jìn)行觀測，以便曲線圓滑處理。常用的供電電極距及其線圓滑處理。常用的供電電極距及其MN間的關(guān)系見表。間的關(guān)系見表。4.2.3.4電測深結(jié)果的圖示電測深結(jié)果的圖示11 01 0 0s ( .m )A B /2 (m )電測深曲線圖電

41、測深曲線圖電測深曲線圖：電測深曲線圖： 以以AB/2為橫座標(biāo)，以為橫座標(biāo)，以為縱座標(biāo)，為縱座標(biāo)，將每一個(gè)將每一個(gè)AB/2所對(duì)應(yīng)的所對(duì)應(yīng)的值點(diǎn)在雙對(duì)數(shù)座標(biāo)紙上，用點(diǎn)線值點(diǎn)在雙對(duì)數(shù)座標(biāo)紙上，用點(diǎn)線將將值連接起來，即得到一個(gè)測深點(diǎn)的視電阻率電測深曲值連接起來，即得到一個(gè)測深點(diǎn)的視電阻率電測深曲線。線。 電測深曲線類型圖電測深曲線類型圖 4.2.3.4電測深結(jié)果的圖示（續(xù)電測深結(jié)果的圖示（續(xù)1）目的：目的：該圖可給出地電該圖可給出地電斷面或構(gòu)造的粗略概念斷面或構(gòu)造的粗略概念幾種常用的電測深定性解釋圖件：幾種常用的電測深定性解釋圖件： 1. 電測深曲線類型圖電測深曲線類型圖將測區(qū)內(nèi)各電測深點(diǎn)的位置將測區(qū)

42、內(nèi)各電測深點(diǎn)的位置按工作比例尺將其標(biāo)在圖上；按工作比例尺將其標(biāo)在圖上；在各測點(diǎn)的旁邊標(biāo)明該點(diǎn)的在各測點(diǎn)的旁邊標(biāo)明該點(diǎn)的電測深曲線類型；電測深曲線類型；將相同曲線類型范圍圈在一將相同曲線類型范圍圈在一起，構(gòu)成電測深曲線類型圖。起，構(gòu)成電測深曲線類型圖。 等等AB/2視電阻率剖面圖視電阻率剖面圖1AB/2=1000m 2AB/2=3000m 4.2.3.4電測深結(jié)果的圖示（續(xù)電測深結(jié)果的圖示（續(xù)2）目的：了解某一深度范圍內(nèi)沿水平方向的電性變化。2. 等等AB/2視電阻率剖面圖視電阻率剖面圖以各測深點(diǎn)間的距離為橫以各測深點(diǎn)間的距離為橫座標(biāo)，以某一座標(biāo)，以某一AB/2各測點(diǎn)所對(duì)各測點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的應(yīng)的值為縱座標(biāo)；值為縱座標(biāo)；用曲線將各測深點(diǎn)對(duì)應(yīng)的用