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.1XRD宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定 報(bào)告人：林建平 導(dǎo)師：王獻(xiàn)輝教授.2主要內(nèi)容主要內(nèi)容 殘余應(yīng)力定義 XRD測(cè)定原理 測(cè)定方法 殘余應(yīng)力計(jì)算軟件的使用 測(cè)試方法的優(yōu)缺點(diǎn)及用途.3殘余應(yīng)力殘余應(yīng)力 定義：產(chǎn)生應(yīng)力的各種外載荷（力、溫度等）去除后，在物體內(nèi)依然存在的應(yīng)力 。.4測(cè)定原理 殘余應(yīng)力 晶格畸變 晶面間距變化XRD衍射峰位置發(fā)生偏移測(cè)量衍射峰偏移的多少計(jì)算殘余應(yīng)力的大小2dsin=N.5晶面間距隨應(yīng)力變化示意圖 .6測(cè)定方法測(cè)定方法 采用采用sin2 法法 計(jì)算公式為：計(jì)算公式為： 其中其中.7（半高寬法）確定衍射角2 .8 計(jì)算K值 計(jì)算M值（最小二乘法） 計(jì)算應(yīng)力=K.M.9計(jì)算軟件的簡(jiǎn)介 .10計(jì)算軟件的簡(jiǎn)介 .11計(jì)算軟件的簡(jiǎn)介 .12注意事項(xiàng) 表面狀態(tài)：試樣采用化學(xué)或電解拋光，不采用機(jī)械拋光 晶粒度：大小在30m左右最好，不大于100m.13主要的優(yōu)缺點(diǎn)及應(yīng)用 優(yōu)點(diǎn)：無(wú)損、可測(cè)表（界）面應(yīng)力、可區(qū)分應(yīng)力類(lèi)型、適用于塊狀試樣 缺點(diǎn)：只對(duì)無(wú)粗晶和無(wú)織構(gòu)的材料才有效、數(shù)據(jù)的分散性強(qiáng)、不能測(cè)得動(dòng)態(tài)瞬時(shí)應(yīng)力 應(yīng)用：檢測(cè)強(qiáng)化效果，工件的失效分析，預(yù)測(cè)工件的壽命，評(píng)價(jià)界面的結(jié)合能力等14此課件下載可

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