半導(dǎo)體物理試題匯總_第1頁
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文檔簡介

1、半導(dǎo)體物理學(xué)考題 A A(20102010 年 1 1 月)解答、(2020 分)簡述下列問題:1.1. (5 5 分)布洛赫定理。解答:在周期性勢場中運(yùn)動的電子,若勢函數(shù) V V(x x)具有晶格的周期性,即:V V(x+nax+na)=V=V(x x), ,則晶體中電子的波函數(shù)具有如下形式:中(x x)=e=eikxikxu uk k(x x), ,其中,u uk k(x x)為具有晶格周期性的函數(shù),即:u uk k(xnaxna)= =u uk k(x x)2.2. (5 5 分)說明費(fèi)米能級的物理意義;試畫出 N N 型半導(dǎo)體的費(fèi)米能級隨溫度的變化曲線。解答:費(fèi)米能級EF是反映電子在各

2、個能級中分布情況的參數(shù)。能量為EF的量子態(tài)被電子占據(jù)的幾率為 1/21/2。N N 型半導(dǎo)體的費(fèi)米能級隨溫度變化曲線如右圖所示:(2 2 分)3 3、(5 5 分)金屬和 N N 型半導(dǎo)體緊密接觸,接觸前,二者的真空能級相等,W WM MWd0=4.5Ml04cm二n51015所以受主全部電離。電中性條件為:(2)(2) (4 4 分)室溫時,一般半導(dǎo)體都未進(jìn)入本征激發(fā)區(qū),可忽略本征激發(fā)。而nNnNa,表明為 N N 型半導(dǎo)體。nNa-Nd-ndgdexpNdEf-Ed、kT/由于Ef=Ed,n+Na=,gd1N=1)(nN)=3(510151015)=1.81016(cmJ3)(3)(4(3

3、)(4 分)電離施主濃度Nd-nd=n+Na=6M1015cm中性施主濃度nd=Nd-(nNa)=1.21016cm電離受主濃度Na=1015cm中性受主濃度pa=0四、(1010 分)試用一維非均勻摻雜(摻雜濃度隨 x x 的增加而下降)的非簡并關(guān)系式:%二kTkT% %e e解答:由于摻雜濃度不均勻,電離后空穴濃度也不均勻,形成擴(kuò)散電流dpjp-eDp-dx空穴向右擴(kuò)散的結(jié)果,使左邊形成負(fù)電荷區(qū),右邊形成正電荷區(qū),產(chǎn)生反漂移電流jp二e%pEip p 型半導(dǎo)體模型導(dǎo)出愛因斯坦x x 方向的自建電場 E Ej,j,導(dǎo)致熱平衡情況下,自建電場引起的漂移電流與擴(kuò)散電流彼此抵消,總的電流密度為零:

4、-eDpdp+e-LppEj=0pdxp而E=dV,有電場存在時,在各處產(chǎn)生附加勢能-eV(x),使能帶發(fā)生傾斜。dx設(shè) x x 處價帶頂為Ev(x)=Ev-eV(x),則 x x 處的空穴濃度為p(x)=NVexp-EF-(EVTeV(x)五、(15分)(1)試證明,一般情況下,本征半導(dǎo)體的電阻率不是最高電阻率;(2)(2)最高電阻率是本征電阻率的多少倍?(3)(3)若LRp,最高電阻率的半導(dǎo)體是 N N 型還是 P P 型?解答:2.n.令f(n)=n5十一L|1p,當(dāng)f(n)為最小值時,P P 為最大值。n2令d=n;,得到:dnnn2,=24%0,則n(3)(4分)已知n=ni,2p=

5、,即pn,所以,最高電阻率的半導(dǎo)體是P型半導(dǎo)體。dp=NVexpdxEF-EVeV(x)ikTedVkTdxedV-PkTdxpekTEi_e-eDpP-E-e%pEi=0kTDpkT得證。11(1)(8分)電阻率P=二neJn-pep12n;e(n,%)n2_此時,fldnf(n)為最小值,P P 為最大值:12ne而本征半導(dǎo)體電阻率為:R1ni&n,p)般情況下,p,所以,:imax,得證。(3分)p pmaxpiD坐ndxx3x3,則DnLnA=S(GnA)所以,maiGmaiG/)/)六、(1515 分)光照射如圖所示 P P 型樣品,假設(shè)光被均勻地吸收,電子一空穴對的產(chǎn)生率為子的壽命

6、為開始光照(t=0t=0)時,過剩少子濃度為零。.不考慮表面復(fù)合,求出在光照達(dá)到穩(wěn)定時的過剩少子濃度分布;(3 3). .當(dāng) x=0 x=0 的表面的表面復(fù)合速度為 S S 時,求出樣品中穩(wěn)態(tài)的過剩少子濃度分布。解答:(1 1). .(5 5 分)由于無外場作用,且光被均勻吸收,非平衡載流子產(chǎn)生均勻,則連續(xù)性方程為:所以An(t)=Gi+Ae,/玄由邊界條件:t=0,An=0,得到A=-Gwn=G(1-e,/)(2 2). .(5 5 分)無表面復(fù)合,光照達(dá)到穩(wěn)定時,過剩載流子濃度將不再隨時間變化:(3 3)(5 5 分)當(dāng) x=0 x=0 處有表面復(fù)合,則引起載流子向- -X X方向的擴(kuò)散,

7、此時,穩(wěn)態(tài)連續(xù)性方程為:令GTn,則有:An(x)=Gin+Aej/Ln+Bex/Ln設(shè)樣品無窮大,而An(x)是有限值,因此,B=B=0,則An(x)=GEn+Ae*/Ln在 x=0 x=0 處,表面復(fù)合率=擴(kuò)散流密度,即:七、(1515 分)半導(dǎo)體光吸收有哪幾種?描述各種吸收過程及其吸收譜的特點,給出相應(yīng)吸收能量閾值。解答:半導(dǎo)體光吸收:本征吸收,激子吸收,雜質(zhì)吸收,自由載流子吸收,晶格振動吸收(1 1 分)1 1、(3 3 分)本征吸收:電子由價帶向?qū)У能S遷所引起的光吸收。吸收譜為連續(xù)譜,在高能端。吸收閾值為:hvEq(直接躍遷),hvEq-Ep(間接躍遷)gqp2、(3 3 分)激子

8、吸收:價帶中的電子吸收hvEg g 的光子,從價帶激發(fā),但還不足以進(jìn)入導(dǎo)帶成為自由電子因庫侖作用仍然和價帶中留下的空穴聯(lián)系起來,形成束縛態(tài),即為激子,所引起的光吸收為激子吸收。吸收.求出在光照開始后任意時刻 t t 的過剩少子濃度;、二n.:tft有;njt以,得至Un=Ae/TTj.n.:tnnG=0,Dnd-4n-+G=0,則dxndx2LnG G(小注入),少譜在低溫時才可觀察到,在能量略低于本征吸收限處,為分立譜,并漸與本征吸收譜相連。吸收能量閾值為:EgE;x3 3、(3 3 分)雜質(zhì)吸收:占據(jù)雜質(zhì)能級的電子或空穴的躍遷所引起的光吸收。分為中性雜質(zhì)吸收和電離雜質(zhì)吸收,吸收譜皆為連續(xù)譜,中性雜質(zhì)吸收譜在吸收譜的較低能量側(cè),吸收能量閾值為:E1;電離雜質(zhì)吸收譜相對于中性雜質(zhì)吸收譜在能量較高側(cè),吸收能量閾值為:Eg-EI4 4、(3

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