ASME標(biāo)準(zhǔn)射線檢驗(yàn)

1、ASME標(biāo)準(zhǔn)第卷第二部分：射線檢驗(yàn)第一章、適用范圍 （C）（B）鑄件和焊縫的射線照相檢驗(yàn)方法鑄件和焊縫的射線照相檢驗(yàn)方法 第二章、一般要求1.檢測(cè)文件 （B）（1）射線照相檢驗(yàn)應(yīng)按書(shū)面規(guī)程進(jìn)行。射線照相檢驗(yàn)應(yīng)按書(shū)面規(guī)程進(jìn)行。每個(gè)規(guī)程至少包括下列內(nèi)容： a) 材料類(lèi)型及厚度范圍； b) 使用的同位素或最高X射線管電壓； c) 射線至工件的最小距離； d) 工件的源側(cè)至膠片的最大距離； e) 最大射線源尺寸； f) 膠片牌子及名稱(chēng)； g) 所用的增感屏。 (2)規(guī)程的演示：按照書(shū)面規(guī)程在生產(chǎn)上按照書(shū)面規(guī)程在生產(chǎn)上或工藝上所攝制的底片，其黑度和透度或工藝上所攝制的底片，其黑度和透度計(jì)成像要求達(dá)到規(guī)程

2、要求，應(yīng)作為與規(guī)計(jì)成像要求達(dá)到規(guī)程要求，應(yīng)作為與規(guī)程符合的滿意憑證。程符合的滿意憑證。2.表面準(zhǔn)備 （B）（B）(1)材料（包括鑄件） 表面的不規(guī)則不至于遮蔽或者混淆任何不連續(xù)性的成像。(2)焊縫 應(yīng)當(dāng)采用任何適當(dāng)?shù)姆椒ㄏ齼?nèi)壁（可靠近時(shí)）和外壁的焊波或焊縫表面高低不平，直至他們?cè)谏渚€照片上形成的圖射線照片上形成的圖像不至于遮蔽任何缺陷的圖像或是與他像不至于遮蔽任何缺陷的圖像或是與他們混淆。們混淆。 3.背散射的控制 （C）（C） 將一個(gè)高度不小于13mm和厚度不小于1.6mm的鉛字在曝光時(shí)貼到每個(gè)膠片暗盒的背面。 4.底片上的標(biāo)識(shí) （B）（B） 底片上標(biāo)識(shí)應(yīng)用合同號(hào)、零件號(hào)、焊縫或焊接接頭號(hào)

3、或部件號(hào)、制造廠的標(biāo)記符合或名稱(chēng)、照相日期、定位標(biāo)記。在在任何情況下，上述標(biāo)識(shí)都不能遮蔽被檢任何情況下，上述標(biāo)識(shí)都不能遮蔽被檢的區(qū)域。的區(qū)域。 5.黑度范圍的檢查 （B） 判定底片黑度，采用黑度計(jì)成階梯黑度比較片。 6.報(bào)告 （B） 至少包括以下內(nèi)容： a) 標(biāo)識(shí)，即工件/合同號(hào)和爐號(hào)； b) 標(biāo)記放置的尺寸圖； c) 底片（曝光）數(shù)量； d) X射線管電壓或所用同位素類(lèi)型； e) 焦點(diǎn)尺寸； f) 母材類(lèi)型和厚度、焊縫厚度、焊縫余高； g) 源至工件的最小距離； h) 工件源側(cè)至膠片的最大距離； i) 膠片制造廠和制造廠的類(lèi)型和名稱(chēng)； j) 暗盒中的膠片數(shù)量（單、雙片）； k) 單壁或雙壁曝

4、光（透照技術(shù)）； l) 單壁或雙壁觀察。第三章、檢測(cè)設(shè)備與材料 1.膠片的選用和處理 （C）（B） (1)膠片的選用。按照SE-1815工業(yè)射線照相膠片體系的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法。允許使用的膠片體系級(jí)別是：特殊級(jí)、和W-A和W-B級(jí)。膠片的貯存原則：先購(gòu)入者先使用。膠片的貯存原則：先購(gòu)入者先使用。 (2)膠片處理 按照SE999工業(yè)射線照相膠片處理質(zhì)量控制的標(biāo)準(zhǔn)方法指南或SE94射線照相試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)方法指南第部分作為處理膠片的參考依據(jù)。 顯定、水洗的溫度和時(shí)間應(yīng)遵循膠片生產(chǎn)廠的推薦。2.增感屏的使用 （B） 按本規(guī)程進(jìn)行射線照相檢驗(yàn)時(shí)，可以使用金屬增感屏。SE94：采用采用Ir192前屏最小厚度前屏最小厚

5、度 0.13mm Co60前屏最小厚度前屏最小厚度0.25mm 3.像質(zhì)計(jì)的規(guī)格 （B）（B） ASME標(biāo)準(zhǔn)像質(zhì)計(jì)指示器應(yīng)由表T233.1和T233.2所組成。 T233.1孔型像質(zhì)指示器孔型像質(zhì)指示器 T233.2線型像質(zhì)指示器線型像質(zhì)指示器 4.底片的觀察設(shè)施（觀片燈） 應(yīng)能提供柔和背景亮度，而不會(huì)在應(yīng)能提供柔和背景亮度，而不會(huì)在底片上引起討厭的反射、陰影或眩光。底片上引起討厭的反射、陰影或眩光。應(yīng)具有一個(gè)足夠強(qiáng)的可變光源。觀看的條件，應(yīng)能使來(lái)自底片邊緣以外的光線，或來(lái)自底片低黑度部位的光線不至于干擾對(duì)底片作出解釋。第四章、黑度計(jì)和階梯黑度比較片 （B） 1.黑度計(jì)：在使用期間應(yīng)至少每在使

6、用期間應(yīng)至少每90天進(jìn)行如天進(jìn)行如下校驗(yàn)：下校驗(yàn)： a) 標(biāo)準(zhǔn)黑度底片至少應(yīng)有標(biāo)準(zhǔn)黑度底片至少應(yīng)有5個(gè)階梯，個(gè)階梯，其黑度至少自1.0到4.0。標(biāo)準(zhǔn)黑度片應(yīng)在標(biāo)定有效期內(nèi)； b) 應(yīng)遵守黑度計(jì)制造商規(guī)定的操作說(shuō)明； c) 應(yīng)該讀出標(biāo)準(zhǔn)黑度片或階梯校驗(yàn)黑度片上最接近黑度1.0、2.0、3.0和4.0的讀數(shù)。 d) 實(shí)際讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)黑度片的誤差不超過(guò)實(shí)際讀數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)黑度片的誤差不超過(guò)0.05。 2.階梯黑度比較片。第一次使用前應(yīng)進(jìn)行下列驗(yàn)證： a) 在檢驗(yàn)合格的黑度計(jì)上進(jìn)行驗(yàn)證； b) 實(shí)際讀數(shù)與階梯黑度比較比較片上標(biāo)明的黑度誤差不超過(guò)0.1，階梯黑度比階梯黑度比較片每年進(jìn)行一次驗(yàn)證。較片每年進(jìn)行一次

7、驗(yàn)證。第五章 檢測(cè) 1.射線照相技術(shù) （A）（A） 在任何可以實(shí)施的情況下，應(yīng)當(dāng)采用單在任何可以實(shí)施的情況下，應(yīng)當(dāng)采用單壁透照技術(shù)。壁透照技術(shù)。當(dāng)單壁透照技術(shù)無(wú)法實(shí)施時(shí)，應(yīng)采用雙壁透照技術(shù)。為了能證實(shí)充分覆蓋，應(yīng)進(jìn)行足夠次數(shù)的曝光。 (1)單壁透照技術(shù)。射線只通過(guò)焊縫（材料）的單層壁照到膠片上成像。（單壁單影） (2)雙壁透照技術(shù) 單壁觀察：（雙壁單影）至少進(jìn)行三次互成120o的曝光。 雙壁觀察：注意像質(zhì)計(jì)放在源側(cè)，要滿足注意像質(zhì)計(jì)放在源側(cè)，要滿足Ug要求要求 a) 橢圓成像：至少要進(jìn)行二次互成至少要進(jìn)行二次互成90o的曝光；的曝光； b) 重疊成像：至少要進(jìn)行三次互成至少要進(jìn)行三次互成60o

8、或或120o的的曝光。曝光。 2.輻射能量的選擇 （B） 使用的輻射能量必須達(dá)到黑度何像質(zhì)計(jì)的要求。 一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于一般來(lái)說(shuō)，對(duì)于100kV到到500kV的的X射線源，通常在厚度范圍為射線源，通常在厚度范圍為2.5到到10個(gè)半個(gè)半價(jià)層時(shí)，可獲得滿意的照相效果。價(jià)層時(shí)，可獲得滿意的照相效果。 3.輻射方向的選擇 （B） 在任何可行的情況下，應(yīng)使射線束在任何可行的情況下，應(yīng)使射線束的中心對(duì)準(zhǔn)受檢區(qū)域的中心。的中心對(duì)準(zhǔn)受檢區(qū)域的中心。4.幾何不清晰度的計(jì)算 （B）Ug=Fd/DUg幾何不清晰度F射線源尺寸（有效焦點(diǎn)大?。ヾ被檢焊縫或工件的射線源側(cè)到膠片距離D射源到被檢焊縫或工件的距離規(guī)定：材料厚度

9、50.8 Ug0.51 材料厚度50.876.2 Ug0.76 材料厚度76.2101.6 Ug1.02 材料厚度101.6 Ug1.785.位置標(biāo)記的放置 （B）（B）位置標(biāo)記（定位標(biāo)記）的放置見(jiàn)圖T275 5.1源側(cè)標(biāo)記：適用于外透法，適用于外透法，F(xiàn)R的的偏心法。偏心法。 5.2片側(cè)標(biāo)記：適用于環(huán)縫適用于環(huán)縫“雙單法雙單法”，F(xiàn)R的偏心法，直縫的偏心法，直縫“雙單法雙單法”要另加要另加附加長(zhǎng)度。附加長(zhǎng)度。 5.3源片兩側(cè)均可標(biāo)記：適用于內(nèi)透中心法適用于內(nèi)透中心法 6.像質(zhì)計(jì) （C）（B） 6.1材料：與被透材料相同組別或級(jí)別或與被透材料相同組別或級(jí)別或比被透照材料射線吸收性低的組別或級(jí)比

10、被透照材料射線吸收性低的組別或級(jí)別的合金材料制作。別的合金材料制作。 6.2型號(hào)選用：選用應(yīng)符合表T276的規(guī)定。 不管哪種透照方式，均須按照單壁焊縫不管哪種透照方式，均須按照單壁焊縫透照厚度選。透照厚度選。像質(zhì)計(jì)放在膠片側(cè)，應(yīng)顯示絲、孔徑應(yīng)比源側(cè)減小一檔，并放“F”標(biāo)記。襯環(huán)和襯帶不作為厚度的一部分襯環(huán)和襯帶不作為厚度的一部分考慮?？紤]。 6.3放置的數(shù)量 (1)通常：一般每張底片上至少有1個(gè)像質(zhì)計(jì)。若底片上有效評(píng)定區(qū)內(nèi)任一點(diǎn)的黑度大于像質(zhì)若底片上有效評(píng)定區(qū)內(nèi)任一點(diǎn)的黑度大于像質(zhì)計(jì)附近的黑度計(jì)附近的黑度30，或小于像質(zhì)計(jì)附件的黑，或小于像質(zhì)計(jì)附件的黑度度15，則超差區(qū)域必須增放像質(zhì)計(jì)重新拍，

11、則超差區(qū)域必須增放像質(zhì)計(jì)重新拍片。片。 (2)周向一次曝光：至少放3個(gè)，相隔120o，與環(huán)焊縫垂直相交的縱焊縫同時(shí)透照時(shí)，要在被透縱縫遠(yuǎn)端增放一個(gè)像質(zhì)計(jì)。 (3)球形容器周曝：用中心法周曝時(shí)，要求每條環(huán)縫各放3個(gè)相隔120o，其余焊縫放置1個(gè)。 (4)多工件全景曝光：多工件圍繞射線源一周全景曝光時(shí)，要求每個(gè)工件都放一個(gè)像質(zhì)計(jì)。 6.4墊片尺寸 使用平板孔型像質(zhì)計(jì)時(shí)，要在平板下放置1塊同材質(zhì)，尺寸略大于像質(zhì)計(jì)面積的墊板，期厚度等于被檢焊縫余高，在底在底片上應(yīng)使像質(zhì)計(jì)至少有三條輪廓可見(jiàn)。片上應(yīng)使像質(zhì)計(jì)至少有三條輪廓可見(jiàn)。例題： （1）問(wèn)答：簡(jiǎn)述ASME規(guī)范所用的無(wú)損檢測(cè)方法及英文縮寫(xiě)。 （2）問(wèn)答

12、：ASME規(guī)范第V卷包括無(wú)損檢驗(yàn)方法及驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)。 （3）判斷：對(duì)焊縫進(jìn)行射線照相檢驗(yàn)，焊縫的內(nèi)外表面必須打磨與母材齊平。（ ） （4）選擇：判定底片黑度，應(yīng)采用（ ） A黑度計(jì) B階梯黑度比較片 C憑經(jīng)驗(yàn)肉眼觀察 D A和B （5）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，在射線照片上，識(shí)別系統(tǒng)必須要以射線照相影像的方式顯示，且不能遮蔽被檢區(qū)域。（ ） （6）判斷：ASME規(guī)范第V卷無(wú)損檢驗(yàn)是方法標(biāo)準(zhǔn)，這些方法的驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)亦包括在內(nèi)。（ ） （7）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，材料厚度小于50.8mm的情況下，幾何不清晰度的最大值為0.51mm。（ ） （8）判斷：ASME 規(guī)范中規(guī)定，在任何可以實(shí)施的情況下應(yīng)當(dāng)采

13、用單壁透照技術(shù)。（ ） （9）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，雙壁透照雙壁觀察的情況下，可以適當(dāng)降低幾何不清晰度的要求。（ ） （10）判斷：ASME 規(guī)范中規(guī)定，對(duì)于IQI的要求，射線底片上亦應(yīng)有顯示像質(zhì)指示器的數(shù)字和字母。（ ） （11）判斷：ASME 規(guī)范中規(guī)定，所謂靈敏度就是在射線照相圖象中最小可見(jiàn)細(xì)節(jié)或反差變化。（ ） （12）判斷：ASME規(guī)范中，無(wú)損檢測(cè)（NDE）的定義-檢驗(yàn)材料和/或部組件的技術(shù)方法的開(kāi)發(fā)和應(yīng)用。在這些方法中對(duì)缺陷的探測(cè)、定位、測(cè)量、評(píng)定和評(píng)價(jià)不會(huì)破壞其以后的有用性和使用性。（ ） （13）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，在射線照片上，識(shí)別系統(tǒng)必須要求以射線照相影象的方式顯

14、示。且不能遮蔽被檢區(qū)域。（ ） （14）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)黑度片至少應(yīng)有6各階梯.（ ） （15）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，在任何可行情況下，應(yīng)使射線束的中心對(duì)準(zhǔn)受檢區(qū)域的中心。（ ） （16）判斷：膠片貯存的原則是先購(gòu)入者先使用。（ ） （17）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，雙壁透照雙壁觀察的情況下，像質(zhì)指示器可以放在膠片側(cè)。（ ） （18）判斷：ASME規(guī)范中，給出幾何不清晰度的公式的目的在于說(shuō)明和指導(dǎo)工作，并且僅限于一定的使用范圍內(nèi)有效。（ ） （19）判斷：ASME規(guī)范中，曝光圖表應(yīng)按各X射線裝置編制，并且在每次主要元件替換時(shí)進(jìn)行校正，例如X射線管或高壓變壓器。（ ） （20）

15、ASME 規(guī)范中規(guī)定，在單壁觀察的情況下，曲面或球面形部件，其凸面一側(cè)對(duì)著射線源時(shí)，應(yīng)在（ ）。 A.射線源一側(cè)加標(biāo)記 B膠片一側(cè)加標(biāo)記 C A、B D以上都不對(duì) （21）選擇：ASME 規(guī)范中規(guī)定，采用雙壁透照技術(shù)，單壁觀察的情況下當(dāng)要求環(huán)縫（材料）全部覆蓋時(shí)，至少進(jìn)行（ ）次互成（ ）度的曝光。 A4、90 B3、120 C2、180 D以上都不對(duì)。 （22）選擇：ASME 規(guī)范中規(guī)定，像質(zhì)指示器應(yīng)是（ ） A孔型 B線型 C孔型或線型 D槽型。 （23）選擇：ASME規(guī)范中，黑度計(jì)在使用期間應(yīng)至少每（ ）天進(jìn)行校驗(yàn)。 A90 B120 C150 D60 （24）選擇：ASME規(guī)范中使用濾

16、板的目的：（ ） A減少散射輻射，從而提高對(duì)比度。 B減少邊蝕，從而提高對(duì)比度。 C減少厚度變化部分的對(duì)比度。 D以上全是。 （25）選擇：ASME 規(guī)范中規(guī)定，采用Ir-192放射源作射線照相時(shí)，前鉛增感屏的最小厚度：（ ）。 A.0.2mm B0.25 C0.13mm D0.05mm （26）選擇：以下參數(shù)，在曝光曲線中不是必要參數(shù)的是那一個(gè)：（ ）。 A.材料厚度 B定影時(shí)間 C曝光時(shí)間 D增感屏類(lèi) 型及厚度 （28） 簡(jiǎn)述ASME規(guī)范所用的無(wú)損檢測(cè)方法及縮寫(xiě)。第六章、評(píng)定 1.底片的質(zhì)量要求 （B） 所有底片，都不應(yīng)有機(jī)械、化學(xué)或其他的污損，以避免對(duì)被透照工件的受檢區(qū)域產(chǎn)生遮蔽或混淆任何缺陷的影像。 所謂污損包括下列各種但不限于這些： a) 灰霧； b) 處理時(shí)產(chǎn)生的缺陷，如條文、水跡或化學(xué)污斑等； c) 劃痕、指紋、摺紋、靜電痕跡、黑點(diǎn)