新舊標(biāo)準(zhǔn)差異及補(bǔ)充試驗(yàn)要求

1、附件：新舊標(biāo)準(zhǔn)差異及補(bǔ)充試驗(yàn)要求GB/T9364.4新舊標(biāo)準(zhǔn)差異及補(bǔ)充試驗(yàn)序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)條款GB/T9364.4新舊標(biāo)準(zhǔn)差異補(bǔ)充試驗(yàn)檢查工程GB 9364.4-2006GB/T 9364.4-20211標(biāo)準(zhǔn)名稱的修改小型熔斷器第4局部：通用模件熔斷體根據(jù)IEC 60127-4： 2021標(biāo)準(zhǔn)名稱的修改，標(biāo)準(zhǔn)名 稱由?小型熔斷器 第4局部：通用模件熔斷體? 增補(bǔ)為?小型熔斷器 第4局部：通用模件熔斷 體UMF 穿孔式和外表貼裝式?/2前言用于熔斷器座里的熔斷體，正在考慮中。根據(jù)目前標(biāo)準(zhǔn)制修訂情況，刪除了范圍中“用于 熔斷器座里的熔斷體，正在考慮中/3表1和表2的順序表1單一安培額定值熔斷體試驗(yàn)一覽表

2、表2最大電壓降和持續(xù)功耗調(diào)整表1和表2的順序：表1最大電壓降和持續(xù)功耗表2單一安培額定值熔斷體試驗(yàn)一覽表/4表1表中的額定電流最大至6.3A增加8A和10A兩種額定電流及對(duì)應(yīng)的最大電壓 降和最大持續(xù)功率/57.3.1 一般要求覆銅箔的標(biāo)稱厚度應(yīng)為0.035mm覆銅箔的標(biāo)稱厚度應(yīng)為 0.035mm 額定電流大 于 5A 時(shí)為 0.070mm/序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)條款GB/T9364.4新舊標(biāo)準(zhǔn)差異補(bǔ)充試驗(yàn)檢查工程GB 9364.4-2006GB/T 9364.4-202168.6.1穿孔式熔斷體的可焊性熔斷體應(yīng)經(jīng)受GB/T2423.28-1982試驗(yàn)Ta,使用方案1,應(yīng)符合下述條件： 老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)

3、； 浸漬條件：235C 5C, 2s 0.5s ;浸漬深度：2.0mm 0.5mm從基座表 面；助焊劑類型：非活性；擋板：使用檔板。熔斷體應(yīng)經(jīng)受GB/T2423.28-2005試驗(yàn)Ta,使 用方案1，應(yīng)符合下述條件：老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)；浸漬條件：250 C 3 C, 3s 0.3s ；浸漬深度：2.0mm土 0.5mm從基座表 面；助焊劑類型：非活性；擋板：使用檔板。做補(bǔ)充試驗(yàn)78.6.2外表貼裝式熔斷體的可焊性熔斷體應(yīng)經(jīng)受IEC60068-2-58 : 1989試驗(yàn)Tb,應(yīng)符合下述條件：老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)；浸漬條件：對(duì)采用波峰焊：235 C 5 C,2s 0.2s ；對(duì)采用回流焊：2

4、15C 3C, 3s 0.3s浸漬深度：端子應(yīng)被持續(xù)地浸漬，要求 其全部的金屬外表都被錫 液覆蓋；助焊劑類型：非活性的。熔斷體應(yīng)按照IEC60068-2-58 : 2004中的6.2 進(jìn)行試驗(yàn)，應(yīng)符合下述條件：老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)；浸漬條件： 245 C 5C, 3s 0.3s ；浸漬深度：端子應(yīng)被持續(xù)地浸漬，要求其全部的金屬外表都被錫液覆蓋； 助焊劑類型：非活性的。做補(bǔ)充試驗(yàn)序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)條款GB/T9364.4新舊標(biāo)準(zhǔn)差異補(bǔ)充試驗(yàn)檢查工程GB 9364.4-2006GB/T 9364.4-202188.7.1穿孔式熔斷體的耐焊接熱熔斷體應(yīng)經(jīng)受GB/T2423.28-1982試驗(yàn)Tb, 使用方案

5、1A，應(yīng)符合下述條件：老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)； 浸漬條件：260C 5C, 10s 1s ;浸漬深度：2.0mm 0.5mm從基座表面；助焊劑類型：活性的；擋板：使用檔板。熔斷體應(yīng)經(jīng)受GB/T2423.28-2005試驗(yàn)Tb,使用方案1，應(yīng)符合下述條件：老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)；浸漬條件：260 C 5 C, 10s 1s ；浸漬深度：2.0mm土 0.5mm從基座表面；助焊劑類型：活性的；擋板：使用檔板。做補(bǔ)充檢查98.7.2外表貼裝式熔斷體的耐焊 接熱熔斷體應(yīng)經(jīng)受IEC60068-2-58 : 1989試驗(yàn) Tb。老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)； 浸漬條件：260C 5C, 10s 1s ；浸漬深度

6、：10mm助焊劑類型：活性的。熔斷體應(yīng)經(jīng)受IEC60068-2-58 : 2004中的6.2進(jìn)行試驗(yàn)，且應(yīng)符合下述條件：老化：不進(jìn)行按接收狀態(tài)； 浸漬條件：260 C 5 C, 10s 1s ；浸漬深度：10mm助焊劑類型：活性的。做補(bǔ)充檢查序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)條款GB/T9364.4新舊標(biāo)準(zhǔn)差異補(bǔ)充試驗(yàn)檢查工程GB 9364.4-2006GB/T 9364.4-2021109.7熔斷體溫度應(yīng)在熔斷體外表上的最熱點(diǎn)測(cè)量環(huán)境溫度上的溫升值，應(yīng)采用細(xì)熱電偶線或 對(duì)溫度無(wú)明顯影響的其他測(cè)試方法，溫升不應(yīng)超過(guò)70K。a對(duì)于符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格單 1的熔斷體，應(yīng)在熔 斷體外表上的最熱點(diǎn)測(cè)量環(huán)境溫度上的溫升 值，應(yīng)采用細(xì)熱電

7、偶線或?qū)囟葻o(wú)明顯影響 的其他測(cè)試方法。對(duì)于額定電流不超過(guò) 6.3A 的熔斷體溫升不應(yīng)超過(guò) 75K，對(duì)于額定電流大 于6.3A的熔斷體溫升不應(yīng)超過(guò) 95K。b對(duì)于符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格單 2的熔斷體，應(yīng)在與相 關(guān)試驗(yàn)板焊在一起的熔斷體的端子測(cè)量環(huán)境溫 度上的溫升值。應(yīng)采用不大于0.21mm2的細(xì)熱 電偶線或?qū)囟葻o(wú)明顯影響的其他測(cè)試方 法。溫升不應(yīng)超過(guò)95K。做補(bǔ)充檢查119.8動(dòng)作過(guò)電壓在分?jǐn)嗄芰υ囼?yàn)期間，通過(guò)熔斷體上的 電壓應(yīng)能被適宜的示波器和探頭系統(tǒng)顯 示出來(lái)，而且，需要指示并記錄下述時(shí)間 內(nèi)的電壓：從開(kāi)關(guān)閉合的瞬間到通過(guò)熔斷 體的電流減少到10mA的間隔一個(gè)適宜 的示波器應(yīng)能記錄下任何持續(xù)1 y

8、s或更長(zhǎng)時(shí)間的過(guò)電壓 應(yīng)記錄在該時(shí)間間隙里的最大電壓。在任 何情況下，該值都不應(yīng)大于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格單中 所給的最大動(dòng)作過(guò)電壓。在分?jǐn)嗄芰υ囼?yàn)期間，通過(guò)熔斷體上的電壓應(yīng) 能被適宜的示波器和探頭系統(tǒng)顯示出來(lái)，而且,需要指示并記錄下述時(shí)間內(nèi)的電壓：從開(kāi)關(guān)閉 合的瞬間到通過(guò)熔斷體的電流減少到10mA的間隔一個(gè)適宜的示波器應(yīng)能記錄下任何持續(xù)5 或更長(zhǎng)時(shí)間的過(guò)電壓應(yīng)記錄在該時(shí)間間隙里的最大電壓。在任何情 況下，該值都不應(yīng)大于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格單中所給的最 大動(dòng)作過(guò)電壓。/序號(hào)標(biāo)準(zhǔn)條款GB/T9364.4新舊標(biāo)準(zhǔn)差異補(bǔ)充試驗(yàn)檢查工程GB 9364.4-2006GB/T 9364.4-2021圖2的圖片說(shuō)明圖2的圖片說(shuō)明銅箔的寬度W=5.0mm銅箔的寬度W 5.0mm額定電流不超過(guò) 5A時(shí);7.5mm額定電流超過(guò)5A時(shí)。12圖2、圖3的圖片 說(shuō)明圖3