壓力管道元件無損檢測通用規(guī)程

1、壓力管道元件無損檢測通用規(guī)程第一部分：通用要求1 主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本工藝規(guī)定了射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、滲透檢測四種常規(guī)的無損檢測方法及質(zhì)量 分級評定要求 ;1.2本工藝適用于壓力管道元件和承壓設(shè)備的無損檢測 ;1.3與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件及鋼管桿的對接焊接接頭 ,也可參照本工藝中相關(guān)的 無損檢測方法使用 ;2 引用標(biāo)準(zhǔn)TSG D2001 壓力管道元件制造許可規(guī)則GB151 熱交換器GB150 壓力容器TSG R0004 固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程TSG-D0001 壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程N(yùn)B/T 47013 承壓設(shè)備無損檢測3 使用原則3.1 應(yīng)根據(jù)受檢承壓設(shè)備的

2、材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、制造方法、焊接方法、焊接接頭形式,預(yù)計(jì)可能產(chǎn)生的缺陷種類、形狀、部位和方向 ,選擇適宜的無損檢測方法 ;3.2 射線檢測主要用于金屬材料制承壓設(shè)備熔化焊接接頭的內(nèi)部缺陷的檢測,適用于制作對接焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼 ,低合金鋼 ,不銹鋼 ;3.3 超聲檢測適用于金屬材料制承壓設(shè)備原材料、零部件和焊接接頭的檢測;3.4 磁粉檢測適用于鐵磁性材料制原材料、零部件和焊接接頭表面、近表面缺陷的檢測;3.5 滲透檢測適用于非多孔性金屬材料和非金屬材料制承壓設(shè)備在制造、 安裝及使用中產(chǎn)生的 表面開口缺陷的檢測 ;4 一般要求4.1 無損檢測人員4.1.1 從事承壓設(shè)備的原材料零部件和焊接接

3、頭無損檢測人員 ,應(yīng)按照特種設(shè)備無損檢測人員 考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得相應(yīng)無損檢測資格 ;4.1.2具有無損檢測方法資格級別的人員 ,只能從事與其資格級別相應(yīng)的無損檢測工作 ,并負(fù) 相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任 ;4.1.3 無損檢測人員必須身體健康 ,并每一年進(jìn)行一次放射工作人員職業(yè)性健康檢查 ,并有記錄 可查;每年進(jìn)行一次視力檢查 ,校正視力不得低于 1.0;4.1.4 無損檢測人員應(yīng)能熟練操作各種檢測儀器 ,嚴(yán)格按相應(yīng)的工藝卡中的技術(shù)參數(shù)進(jìn)行合理 的檢測;4.2 對接焊接接頭的要求4.2.1 焊縫及熱影響區(qū)的表面質(zhì)量 （包括焊縫余高） 應(yīng)經(jīng)外觀檢查合格 ,表面的不規(guī)則狀態(tài)在底 片上的圖像應(yīng)不掩蓋焊

4、縫中的缺陷或與之相混淆 ,否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)男拚?;4.2.2 焊縫兩側(cè)應(yīng)清除焊疤 ,飛濺等物質(zhì) ,焊縫表面和熱影響區(qū)表面不允許有裂紋、氣孔、弧坑 和夾渣等缺陷 ;4.3 無損檢測資料4.3.1 檢測記錄和報(bào)告應(yīng)準(zhǔn)確 ,完整 ,并經(jīng)相應(yīng)的責(zé)任人員簽名認(rèn)可 ;4.3.2 檢測記錄和報(bào)告等保存期不得少于設(shè)計(jì)使用年限 ;達(dá)到設(shè)計(jì)使用年限后可上報(bào)企業(yè)質(zhì)管辦商訂處理方式 ;4.3.3 檢測用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)進(jìn)行定期檢定（校準(zhǔn)） ,并有相應(yīng)記錄 ;5 無損檢測標(biāo)識經(jīng)無損檢測合格的產(chǎn)品或零部件上應(yīng)作出永久性標(biāo)識 ,標(biāo)記應(yīng)清晰 ,分別采用 RTP、 UTP、 MTP 、PTP鋼印作為常規(guī)檢測方法的合格標(biāo)記 ;產(chǎn)

5、品上不適合打鋼印標(biāo)記時(shí) ,可采用詳細(xì)的檢測草圖 或其它有效的方式 ,使下道工序或最后檢測人員能夠辯明 ;第二部分：射線檢測通用工藝規(guī)程1主題內(nèi)容及適用范圍1.1 本工藝規(guī)程規(guī)定了壓力管道元件及承壓設(shè)備受壓元件的熔化焊對接接頭的 X 射線檢測方 法、底片質(zhì)量和質(zhì)量分級的要求 ;1.2 本工藝規(guī)程適用于壓力管道元件及承壓設(shè)備受壓元件的對接焊接接頭的檢測;用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼 ;1.3 本工藝規(guī)程規(guī)定射線檢測技術(shù)為 AB 級中靈敏度技術(shù) ;2 引用標(biāo)準(zhǔn)TSG D2001壓力管道元件制造許可規(guī)則GB151熱交換器GB150壓力容器TSG R0004固定式壓力容器安全技

6、術(shù)監(jiān)察規(guī)程TSG-D0001壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程N(yùn)B/T 47013承壓設(shè)備無損檢測3.射線檢測人員要求3.1 從事射線檢測的人員應(yīng)按照 特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則 的要求取得射 線檢測資格證書，評片人員必須持有u級或川級資格證書；3.2 從事射線檢測人員上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識的培訓(xùn),并取得放射工作人員證 ;3.3 射線檢測人員必須身體健康 ,經(jīng)體檢合格,評片人員視力應(yīng)每年檢查一次；未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正 的近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0（小數(shù)記錄值為 1.0）；3.4 射線檢測人員應(yīng)能熟練操作射線機(jī) ,正確選用透照工藝 ,合理使用暗室處理方法 ,并應(yīng)熟悉焊 接工藝、金屬

7、材料等知識 ,應(yīng)了解壓力管道元件制造工藝 ,熟悉有關(guān)壓力管道元件的法規(guī)、 標(biāo)準(zhǔn) 和技術(shù)條件；3. 5 對接接頭的表面質(zhì)量要求應(yīng)符合通用部分有關(guān)要求；4.射線檢測和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)4.1 范圍：必須符合固定式壓力管道元件安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 ,GB150 和設(shè)計(jì)文件的要求；4.2 凡要求進(jìn)行 100%射線檢測的容器對其 A 類和 B 類焊接接頭應(yīng)不低于 JB/T4730.2-2005 標(biāo) 準(zhǔn)中質(zhì)量等級U級的要求；凡局部射線檢測的容器，對其 A 類和 B 類焊接接頭應(yīng)不低于 JB/T4730.2-2005標(biāo)準(zhǔn)中質(zhì)量等級川級的要求，對低溫容器檢測長度不得少于各焊接接頭長度 的 50%；對非低溫容器檢測長度不得少

8、于各焊接接頭長度的20%,且均不得小于 250mm；4.3 局部射線檢測的容器對其所有的 T 型連接部位,以及拼接封頭（管板）的對接接頭，必須進(jìn) 行射線檢測；4.4 局部射線檢測的容器 ,如在焊接接頭上開孔 ,則以開孔中心為圓心 ,1.5 倍開孔直徑為半徑的 圓中所包容的焊接接頭 ,被補(bǔ)強(qiáng)圈、支座、墊片、內(nèi)件等所覆蓋的焊接接頭必須進(jìn)行射線檢測；4.5 如封頭采用拼接焊縫，則在壓制之后進(jìn)行 100%射線檢測；公稱直徑大于 250mm 的接管對接 接頭應(yīng)進(jìn)行射線檢測；4.6 對局部射線檢測的焊接接頭 ,若在檢測部位發(fā)現(xiàn)超標(biāo)缺陷時(shí) ,則應(yīng)在該缺陷兩端的延伸部位 , 增加不少于該焊縫長度的 10%進(jìn)行

9、,若仍有不允許的缺陷時(shí) ,則對該條焊接接頭做 100%的射 線檢測；5. 檢驗(yàn)程序：5.1 經(jīng)焊接檢驗(yàn)員檢查合格的焊接接頭 ,應(yīng)有焊接檢驗(yàn)員填寫無損檢測委托單交無損檢測室5.2 無損檢測室接到委托單后 ,方可安排射線檢測；5.3 焊縫及熱影響區(qū)若不符 3.5 的要求時(shí),無損檢測室應(yīng)將委托單反饋焊接檢驗(yàn)員；5.4 對有延遲裂紋傾向的材料射線檢測，應(yīng)當(dāng)至少在焊接完成 24 小時(shí)后方可進(jìn)行；有再熱裂紋傾 向的材料應(yīng)當(dāng)在熱處理后增加一次無損檢測；5.5 檢測人員必須按本工藝做好一切準(zhǔn)備工作，并編制射線透照檢測工藝卡，按本工藝程序進(jìn)行 操作、暗室處理和底片評定；6.布片（劃線）規(guī)定：6.1 焊縫射線檢測

10、編號的規(guī)定；6.1.1 產(chǎn)品試板的編號，按該試板所代表的產(chǎn)品編號為檢測編號；并且應(yīng)有試板的編號 AS,工藝 評定試板的工藝評定號為檢測編號，片號以 S1、S2表示之；6.1.2 整臺產(chǎn)品以產(chǎn)品編號作為檢測編號，其表示方法：A 1209 / 3該批臺匕次順H 造年份號-產(chǎn)品類別代號例：A1209/3 其表示內(nèi)容為 2012 年壓力管道元件第 9 批共 3 臺；6.1.3 整臺產(chǎn)品的焊縫編號以焊接工藝卡節(jié)點(diǎn)圖上的編號為依據(jù)，縱縫以“A 表示，第一條縱縫為 1A、第二條縱縫為 2A；縱縫第 1 張為 A1、縱縫第 2 張為 A2；如第 1 條縱縫第二張片即以 1A2表示之;環(huán)縫以“B 表示,第一條環(huán)

11、縫為 1B、 第二條環(huán)縫為 2B；環(huán)縫第 1 張為 B1、 環(huán)縫第 2 張為 B2；如第 1 條環(huán)縫第二張片即以 1B2 表示之；6.1.4 平板封頭焊縫檢測以“FA”示,第一條 FA1 表示，第一張片為 FA1-1 表示，成型封頭焊縫以 所配的產(chǎn)品編號及焊卡上的編號為準(zhǔn)；6.1.5 焊縫返修標(biāo)記，一次返修在片號后加“ R1 二次返修在片號后加“ R2”示，增拍片在片號前加” G 表示，旋壓（折邊）后復(fù)拍在片號加?！北硎?；如:1A1R1 表示第一條縱縫第一張片第一次返修；1B1R2 表示第一條環(huán)焊縫第一張片第二次返 修；G1B3 表示第一條環(huán)縫第三張片，該片為增拍片；6.2 焊縫檢測一次透照長

12、度 L3 和透照次數(shù) N 的確定；6.2.1 縱縫（包括試板縱縫）的 L3 規(guī)定一般為 300mm 特殊情況下 L3 可增大和縮小，但應(yīng)滿足 透照厚度比 KW1.03（ A 級、AB 級）要求;旋邊（折邊）部分應(yīng)單獨(dú)按 K 值要求進(jìn)行劃線布片；6.2.2 環(huán)縫使用定向曝光則根據(jù) NB/T47031.2-2005 標(biāo)準(zhǔn)取 K7.5d2/3bAB 級射線檢測技術(shù)：f 10d2/3b7.1.3 對每臺 X 射線機(jī)均應(yīng)作出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)；對使用 中的曝光曲線每年應(yīng)校驗(yàn)一次；7.1.4 X 射線照相時(shí)應(yīng)盡量選用較低的管電壓；X 光機(jī)能量應(yīng)留有 20%余量，以保證儀器使用

13、壽 命；7.2 膠片：選用 T3 類或更高類別的膠片類型，如: Agfa D7,天津川型，上海 GX-A7；其本底灰霧 度應(yīng)不大于 0.3;7.3 增感屏：采用鉛箔增感，前屏厚度 0.02-0.05mm 后屏厚度大于前屏，一般采用 0.03/0.10;增感 屏和膠片在透照中應(yīng)保證緊貼；7.4 暗盒：一般使用 80X360mm 和 80250mm,暗盒不得漏光，對初次制定的檢測工藝，或使用中 工藝條件及環(huán)境發(fā)生改變時(shí)，應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查，暗盒背面要貼附“ B 鉛字標(biāo)記；（其高度為 13mm,厚度為 1.6mm）;7.5 像質(zhì)計(jì)：7.5.1 線型像質(zhì)計(jì)的型號&規(guī)格應(yīng)符合 JB/T7902

14、 的規(guī)定 JB/T7902 中未包含的線號、絲徑等內(nèi)容,應(yīng)符合 HB7684 的有關(guān)規(guī)定；7.5.2 像質(zhì)計(jì)的選用應(yīng)符合下列表格的要求表 3 像質(zhì)計(jì)靈敏度值一單壁透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)應(yīng)識別絲號 （絲徑,mm）公稱厚度（T）范圍,mmA 級AB 級B 級18（ 0.063） 2.517（ 0.080）2.5 4.016（ 0.100）2.0 3.5:4615（ 0.125）2.0 3.53.5 5.06814（ 0.160）3.5 5.05.0 78 1213（ 0.20）5.0 77 10:12 2012（ 0.25）7 1010 1520 3011（ 0.32）10 1515 2530 35

15、10（ 0.40）15 252532:35 459（ 0.50）25 3232 4045 658（ 0.63）32 4040 55651207（ 0.80）40 5555 851202006（ 1.00）55 85851502003505（ 1.25）851501502503504（ 1.60）1502502503503（2.00）2503503502（2.50）350表 4 像質(zhì)計(jì)靈敏度值一一雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于源側(cè)應(yīng)識別絲號（絲徑,mm）公稱厚度（T）范圍,mmA 級AB 級B 級18 （0.063） 2.517 （0.080）2.5 4.016 （0.100）2.0 3.04615

16、（0.125）2.0 3.03.0 4.56914 （0.160）3.0 4.54.5 79 1513 （0.20）4.5 77 1115 2212 （0.25）7 1111 1522 3111 （0.32）1110 （0.40）15 2222 3240 489 （0.50）22 3232 4448 568 （0.63）32 4444 547 （0.80）44 54表 5 像質(zhì)計(jì)靈敏度值一一雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計(jì)置于膠片側(cè)應(yīng)識別絲號（絲徑,mm）公稱厚度（T）范圍,mmA 級AB 級B 級18 (0.063)2.5 4.016 (0.100)W2.0:2.0

17、3.54615 (0.125)2.0 3.53.5 5.56 1214 (0.160)3.5 5.55.5 1112 1813 (0.20)5.5 1111 1718 3012 (0.25)11 1717 2630 4211 (0.32)17 2626 3942 5510 (0.40)2639:39 5155 709 (0.50)39 5151 64701008 (0.63)51 6464 851001807 (0.80)64 85851251803006 (1.00)851251252253005 (1.25)1252252253754 (1.60)2253753753 (2.00)375表

18、 6 不同焊接型式的透照厚度 W公稱厚度焊縫余高透照厚度 W （mm）單壁透照雙壁單影或雙壁雙影透照T無TTX2T單面TTX2T雙面TTX2T單面（有墊板）TTX2注：1） T表示受檢工件名義厚度，不考慮材料制造偏差和加工減??；2） W表示射線照射方向上材料的公稱厚度；多層透照時(shí)，透照厚度為通過的各層材料公稱厚 度之和；（不考慮墊板厚度及余高）3） 焊縫兩側(cè)母材厚度不同時(shí)，以薄板公稱厚度計(jì)算；7.5.2 像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（被檢區(qū)長度 1/4 部位），金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)；7.5.3 單壁透照時(shí)像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在源側(cè)，雙壁單影透照時(shí)像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置于膠片側(cè)；雙壁雙影透照

19、時(shí)可放置于源側(cè)，也可放置于膠片側(cè)；7.5.4 單壁透照中，如果像質(zhì)計(jì)無法放置于源側(cè)，也可放置于膠片側(cè)；但應(yīng)進(jìn)行對比試驗(yàn)，以保證實(shí) 際透照的底片靈敏度符合要求；當(dāng)像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)時(shí)，應(yīng)在像質(zhì)計(jì)上適當(dāng)位置放置鉛字“ F”作為標(biāo)記，“F 標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報(bào)告中注明；7.5.6 小徑管（外直徑 DoW1OOMM）可選用通用線型像質(zhì)計(jì)或 JB/T4730.2-2005 附錄 F 規(guī)定的專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計(jì)，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置；7.5.7 底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能清晰地看到長度不小于10mm 的連續(xù)金屬絲影像時(shí)，則認(rèn)為該絲是可識別的；專

20、用像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識別兩根金屬絲；7.6 標(biāo)記：7.6.1 被檢測的每段焊縫附近（底片上）應(yīng)有下列鉛質(zhì)的識別標(biāo)記，產(chǎn)品編號、像質(zhì)返修標(biāo)記“ R” 需增拍時(shí)還應(yīng)增拍標(biāo)記“G 及必要時(shí)的“F 標(biāo)記；其排列示意如下圖；.口/僉產(chǎn)1品編號注：透照日期的放置按慣例排列 6 位數(shù)進(jìn)行；如 120525 表示 2012 年 5 月 25 日;7.6.2 各種標(biāo)記至少離焊縫 5mm,各種標(biāo)記應(yīng)符合 6.1 要求，每次攝片在標(biāo)記帶上必須有符合 7.5 要求的像質(zhì)計(jì)；8.貼片、對位、屏蔽的要求：8.1 貼片時(shí)應(yīng)保證整個(gè)膠片暗盒于被檢焊縫緊貼；8.2 定向曝光時(shí)，射線束的中心應(yīng)對準(zhǔn)透照區(qū)中心，并使強(qiáng)度最大的射線束覆蓋

21、透照區(qū)焊縫；8.3 攝片時(shí)應(yīng)采用鉛光柵、鉛遮板、鉛襯板等，照射場內(nèi)不應(yīng)堆放雜物，以防止散亂射線影響底 片質(zhì)量;為檢查散射線的影響程度，當(dāng)?shù)灼稀癇 出現(xiàn)較淡的影響時(shí)，說明散射線影響較重，應(yīng)予 復(fù)照；9. 透照方式和操作順序；9.1 應(yīng)根據(jù)工件特點(diǎn)上和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式；應(yīng)優(yōu)先選用單壁透照法，在單壁 透照不能實(shí)施時(shí)方可采用雙壁透照；典型透照方式見下圖：射線源射線源(A)(B)像質(zhì)計(jì)搭接標(biāo)記透照日期 中心標(biāo)記增拍片標(biāo)記 焊縫及部位編號返修標(biāo)記（D）（A）縱縫透照法（B）環(huán)縫外透法（C）雙壁單影法（D）雙壁雙影法9.2 透照時(shí)射線束中心一般應(yīng)垂直指向透照區(qū)中心9.3 對于 100mmv

22、Do 400mm 的環(huán)向?qū)咏宇^（包括曲率相同的曲面焊接接頭）,A級,AB 級允許采用 KW1.2 9.4 小口徑管采用雙壁透照時(shí)，當(dāng)同時(shí)滿足 T（壁厚） 8mm g（焊縫寬度） WD0/4時(shí)應(yīng)采用傾 斜透照方式橢圓成像；橢圓成像時(shí)，應(yīng)控制映象的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在 1 倍焊 縫寬度左右；不滿足上述條件時(shí)或橢圓成像有困難時(shí)可采用垂直透照方式重疊成像；9.5 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^ 100%檢測透照時(shí)；采用傾斜透照橢圓成像時(shí)，當(dāng) T/ D0 0.12 時(shí)，相隔 120或 60透照 3 次;垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔 120或 60透照 3 次;9.6 操作順序：9.6.1 按“

23、X光機(jī)安全操作規(guī)程”做好開機(jī)前檢查工作和必要的訓(xùn)機(jī)”9.6.2 開機(jī)后，升高壓前預(yù)熱 3-5 分鐘，再根據(jù)曝光規(guī)范緩慢升壓，再升 mA 至規(guī)定值,在時(shí)間到前 15秒，應(yīng)緩慢降 mA 和 KV 值至結(jié)束；9.6.3 透照結(jié)束不能立即切斷電源，至少冷卻 5 分鐘后方可切斷電源；9.6.4 透照人員在透照結(jié)束，應(yīng)做好原始記錄和攝片定位圖，;并應(yīng)在原始記錄上簽名和簽署檢測 日期；射線源/，需要時(shí)也可選用有利發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透10. 暗室處理10.1 顯定影液均應(yīng)與所用膠片廠推薦的配方相符 ,配制好放置 24 小時(shí)后,方可使用 ;10.2 顯定影液使用溫度應(yīng)嚴(yán)格控制在 20C坐C范圍內(nèi)；10.3 顯影時(shí)間

24、為 5-8 分鐘,膠片應(yīng)在顯影液重不斷擺動 ,顯影結(jié)束應(yīng)在清水（或停影液）中停顯30后方可進(jìn)行定影，定影時(shí)間不少于 15 分鐘，定影結(jié)束應(yīng)在流水中沖洗不少于 30,水洗結(jié)束后 進(jìn)行脫水烘（晾）干處理；10.4 暗室操作人員應(yīng)嚴(yán)格按暗室處理的有關(guān)操作規(guī)程進(jìn)行操作,并要將發(fā)現(xiàn)的不符合要求的底片及時(shí)通知攝片人員復(fù)照；11. 底片評定：1 1 . 1 底片質(zhì)量要求11.1.1 底片有效評定區(qū)的黑度應(yīng)符合下列要求：A 級：1.5 DW4.0AB 級：2.0 D 20 40單晶直探頭5 1 20mm 40 250單晶直探頭2.5 2 25mm4.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊用雙晶直探頭檢測厚度不大于 20mm 鋼板時(shí)，采

25、用 CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊;用單直探頭檢測厚度大于2060mm 的鋼板時(shí)，采用 CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊;試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近；4.4 基準(zhǔn)靈敏度4.4.1 板厚不大于 20mm 時(shí)采用的 CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高 10dB 作為基準(zhǔn)靈敏度；4.4.2 板厚大于 20mm 時(shí)，應(yīng)將 CBI試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準(zhǔn)靈敏度；4.4.3 板厚不小于探頭的 3 倍近場區(qū)時(shí)，也可取鋼板無缺陷完好部件的第一次底波來校準(zhǔn)靈敏度，其結(jié)果應(yīng)與 4.4.2 的要求相一致；4.5 檢測方法4.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測；當(dāng)檢測人員認(rèn)為需

26、要或設(shè)計(jì)圖樣要求時(shí)，也可選鋼板的上、 下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測；4.5.2 耦合方式耦合方式采用直接接觸法；4.5.3 掃查方式探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于 100mm 的平行線進(jìn)行掃查；在鋼板剖口預(yù)定線兩側(cè)各50mm 內(nèi)應(yīng)作 100%掃查；4.6 缺陷的測定與記錄4.6.1 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的 50%，即 F1 50%b）當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1 波高未達(dá)到滿刻度，此時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第 一次反射波（B1）波高之比大于或等于 50%，即 B1V100%而 F1/B1A50%c）底面第一次

27、反射波（B1）波高低于滿刻度的 50%，即 B1V50%;462 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法：a）檢出缺陷后，應(yīng)在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測，以確定缺陷的范圍；b）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，探頭的移動方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%;此時(shí),探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；兩種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)；c）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波

28、與底面第一次反射波高之比為 50%;此時(shí),探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點(diǎn)；兩 種方法測得的結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn)；d）確定 4.6.1 c）中缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面 第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的 50%；此時(shí)探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度 探 頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)；e）當(dāng)板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時(shí)，基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的第二次反射波來校準(zhǔn)；4.7 缺陷的評定方法4.7.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度；若單個(gè)缺陷的指示長度小于 40mm 時(shí), 可不

29、作記錄；4.7.2 單個(gè)缺陷指示面積的評定規(guī)則a） 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b） 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于 100mm 或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值） 時(shí),以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積；c）指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表 2；表 2鋼板質(zhì)量分級等級單個(gè)缺陷指示長度 mm單個(gè)缺陷指示面積 cm在任一 1mx1m 檢測面積內(nèi) 存在的缺陷面積百分比%以下單個(gè)缺陷指 示面積不計(jì) cm2IV80V253V9nV100V505V15川V120V10010V25IVV150V10010V25V超過V級者注：V級鋼板主要用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝；4

30、.7.3 缺陷面積百分比的評定規(guī)則在任一 Imxim 檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定；如鋼板面積小于 1mX1m,可按比例折算；4.8 鋼板質(zhì)量等級4.8.1 鋼板質(zhì)量分級見表 2；4.8.2 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各 50mm （板厚大于 100mm 時(shí),以板厚的一半為準(zhǔn)）內(nèi)，缺陷的指示長 度大于或等于 50mm 時(shí),應(yīng)評為 V 級；4.8.3 在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為 V 級；5.承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級5.1 范圍本條適用于承壓設(shè)備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級；本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用

31、于內(nèi)外徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測；5.2 探頭雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz;探頭晶片面積不小于 150mm2;單晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用 2MHz5MHz,探頭晶片一般為 1425w;5.3 試塊5.3.1 單晶直探頭標(biāo)準(zhǔn)試塊，工件檢測距離大于等于 45 伽時(shí)，采用 CSI 試塊；5.3.2 雙晶直探頭試塊工件檢測距離小于 45 伽時(shí)，應(yīng)采用 CSH試塊；5.3.3 檢測面是曲面時(shí)，應(yīng)采用 CSE標(biāo)準(zhǔn)試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失；5.4 檢測時(shí)機(jī)檢測原則上安排在熱處理后，孔、臺等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行，檢測面的表面粗糙度 Ra 6.3 卩如 5.5檢測方法5.5.

32、1 一般原則鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測；5.5.2 縱波檢測a） 原則上應(yīng)從兩個(gè)相互垂直的方向進(jìn)行檢測，盡可能的檢測到鍛件的全體積；主要檢測方 向如圖 1 所示；其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行；b） 鍛件厚度超過 400 伽時(shí),應(yīng)從相對兩端面進(jìn)行 100%的掃查；5.5.3 橫波檢測鋼鍛件橫波檢測應(yīng)按 NB/T47031 的要求進(jìn)行；5.6 靈敏度的確定561 單晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定當(dāng)被檢測部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時(shí)，原則上可采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度；對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近 場區(qū)時(shí)，可直接米用 C

33、SI 標(biāo)準(zhǔn)試塊確定基準(zhǔn)靈敏度；5.6.2 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用 CSH試塊,依次測試一組不同檢測距離的3平底孔（至少三個(gè)）；調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度；5.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的2mm平底孔當(dāng)量直徑；5.7 缺陷當(dāng)量的確定5.7.1 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時(shí)，采用 AGV 曲線及計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量；對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單晶直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺陷當(dāng) 量;也可用其它等效方法來確定；5.7.2 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過 4dB/m,應(yīng)考慮修正；5.8 缺陷記錄5.8.1

34、 記錄當(dāng)量直徑超過4m時(shí)的單個(gè)缺陷的波幅和位置；5.8.2 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布；餅形鍛件應(yīng)記錄大于等于4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應(yīng)記錄大于或等于3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū)；缺陷密集區(qū)面積以 50mX50m的方塊作為最小量度單位，其邊界可由 6dB 法決定；5.8.3 底波降低量應(yīng)按表 3 的要求記錄；表 3 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級dB等級InIVV底波降低量BG/BF 8 14 14 20 20 26 26注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷；5N腿腳;脾細(xì)懈5.9 質(zhì)量分級5.9.1 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級見表 4；5.9.2 缺陷引起

35、的底波降低量的質(zhì)量分級見表3；表 4 單個(gè)缺陷的質(zhì)量分級mm等級InVV缺陷當(dāng)量直徑 0dB 8dB) 4+( 8dB12dB) 4+ 12dB16dB) 4+16dB5.9.3 缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級見表 5;表 5 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級等級InVV密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比，0 05 5 10 10 20 205.9.4 表 3、表 4 和表 5 的等級應(yīng)作為獨(dú)立的等級分別使用；5.9.5 當(dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級為V級6.鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級；6.1 適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設(shè)備對接焊接接頭的超聲檢測和質(zhì)量分級；本條適用于母材厚度為 8m

36、m400mm 全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測；母材厚度為 6mm 8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應(yīng)按照 JB/T4730.3 2005 附錄 G （規(guī)范性附錄）的規(guī) 定進(jìn)行；本條不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于 159mm 的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^、內(nèi)徑小于或等 于200mm 的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于 250mm 或內(nèi)外徑之比小于 80%的縱 向?qū)雍附咏宇^超聲檢測；6.2 超聲檢測技術(shù)等級6.2.1 超聲檢測技術(shù)等級選擇超聲檢測技術(shù)等級分為 A、B、C 二個(gè)檢測級別；超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合有關(guān)規(guī)范、標(biāo) 準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定；6.2.2 不同檢測技術(shù)等級的要求6.2.2

37、.1 A 級僅適用于母材厚度 8mm- 46mm 的對接焊接接頭，采用一種 K 值探頭采用直波法 和一次反射波法在對接焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測；一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測；622.2B 級檢測a）母材厚度 8mm- 46mm 時(shí)，一般用一種 K 值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊 接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測；b）母材厚度大于 46mm120mm 時(shí)，一般用一種 K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測,如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K 值探頭進(jìn)行檢測；c） 應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測；檢測時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10。20乍兩個(gè)

38、方向的斜平行掃查，見圖 2；如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作 兩個(gè)方向的平行掃查，見圖 3；6.2.2.3 C 級檢測：采用 C 級檢測時(shí)應(yīng)將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用 直探頭進(jìn)行檢測，檢測方法見 6.4.4；a）母材厚度 8m46 伽時(shí)，一般用兩種 K 值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接 接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測；兩種探頭的折射角相差不小于 10其中一個(gè)折射角應(yīng)為 45b）母材厚度大于 46 伽120 伽時(shí)，一般用兩種 K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測；兩種探頭的折射角相差應(yīng)不小于 10；對于單側(cè)坡口角度小于 5的

39、窄間隙焊縫，如 有可能應(yīng)增加對檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法；c）應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測；檢測時(shí),將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查 見圖 3；203 W46.3 試塊6.3.1 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為 CSKIA、CSKmA；26.3.2 檢測曲面工件時(shí)，如檢測曲率半徑 RWW/4 時(shí),（W 為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時(shí)為探頭 寬度,縱縫檢測時(shí)為探頭長度），應(yīng)采用與檢測面曲率相同的對比試塊，反射孔的位置可參照標(biāo) 準(zhǔn)試塊確定;試塊寬度 b 一般應(yīng)滿足：b2 入 S/Do. （1）式中：b-試塊寬度，伽；入-超聲波波長，伽；S 聲程； Do -聲源有效直徑，伽;6.4 檢測準(zhǔn)備641

40、 檢測面a）檢測區(qū)的寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度 30%的一段區(qū)域，這個(gè)區(qū)b）探頭移動區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)；檢測表面應(yīng)平整,便于探頭的掃查,其表面粗糙度 Ra 應(yīng)小于等于 6.3um一般應(yīng)進(jìn)行打磨；1）采用一次反射法檢測時(shí)，探頭移動區(qū)大于或等于 1.25P:P=2TK. （1）或P=2TtanB. （2）式中：P跨距，伽；T 母材厚度,伽；K 探頭 K 值；B探頭折射角（ ;2）采用直射法檢測時(shí)，探頭移動區(qū)應(yīng)大于或等于 0.75P;c）去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材齊平；保留余高的焊縫，如果焊縫表面有較大 的降起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?，并作圓

41、滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評定；6.4.2 探頭 K 值斜探頭的 K 值（角度）選取可參照表 6 的規(guī)定;條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大 K 值探頭；表 6 推薦采用的斜探頭 K 值板厚 T,mmK 值6253.02.0 （ 7260） 25 462.51.5 （6856）461202.01.0 （6045） 120 4002.01.0 (60 45643 檢測頻率檢測頻率一般為 2MHz5MHz;644 母材的檢測對于 C 級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探 頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在；該項(xiàng)檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗(yàn)收檢測；母材檢 測的要點(diǎn)如

42、下：a）檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率 2MHz5MHz 的直探頭晶片直徑 10 伽25 伽;b） 檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%;c） 凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度 20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄；6.5 距離一波幅曲線的繪制6.5.1 距離一波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成；評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為U區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)榇▍^(qū)，如圖 5 所示,如果距離一波 幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的 20%;6.5

43、.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇a）壁厚為 6 伽60 伽的焊接接頭，其距離一波幅曲線靈敏度按表 7 的規(guī)定;表 7 距離一波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚評定線定量線判廢線815 1 心 12dB 1 心 6dB1X6+2dBCSKMA 15461X-69dB13dB1X6+5dB 46 1201x6dB1X61X6+10dBb） 檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將各線靈敏度均提高 6dB;c） 檢測面曲率半徑RWW2/4時(shí),距離一波幅曲線的繪制應(yīng)在與檢測面曲率相同的對比試塊上進(jìn) 行；d） 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度；6.6 檢測方法6.6.1 平板對接焊接接頭的超聲檢測a）為檢測縱向缺陷，斜探

44、頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查,見圖 6;探頭 前后移動的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動時(shí)，還應(yīng)作 1015勺左右轉(zhuǎn)動；不同檢測等級對縱向缺陷的檢測要求見 6.2;b） 不同檢測等級對橫向缺陷的檢測要求見6.2;c） 為觀察缺陷動狀波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖 7;6.6.2 曲面工件（工件直徑小于或等于 500 伽）對接接頭的超聲檢測；a）檢測面為曲面時(shí)，可盡量按平板對接焊接接頭的檢測方法進(jìn)行檢測；對于受幾何形狀限制，無 法檢測的部位應(yīng)予以記錄；b） 縱縫

45、檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應(yīng)小于 10%;1） 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭 K 值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整 個(gè)焊接接頭；2） 探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和 K 值的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測定；3） 應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差 異，必要時(shí)進(jìn)行修正；c） 環(huán)縫檢測時(shí)，對比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測面曲率半徑的 0.91.5 倍；6.6.3 管座角焊縫的檢測a） 般原則在選擇檢測面和探頭時(shí)，應(yīng)考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭 結(jié)構(gòu)中的主要缺陷；b） 檢測方式根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，

46、管座角焊縫的檢測有如下五種檢測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施 檢測;檢測方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定，并考慮主要檢測對象和幾何條件的限制；，見圖 8 位置 1;，見圖 9 位置 1;在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測見圖 8 位置 4; 見圖9 位置 2;，見圖 8 位置 3 和圖 9 位置 3;，見圖 8 位置 2;d）管座角焊縫以直探頭檢測為主，必要時(shí)應(yīng)增加斜探頭檢測的內(nèi)容；探頭頻率、尺寸應(yīng)按 5.2 和 6.4 的規(guī)定進(jìn)行,管座角焊縫斜探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表7 的規(guī)定，直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表 8 的規(guī)定;距離一波幅曲線的制作詳見 6.5.1評定線定量線判廢線2mm平底孔3m

47、平底孔6m平底孔6.7 缺陷定量檢測6.7.1 靈敏度應(yīng)調(diào)到定量線靈敏度6.7.2 對所有反射波幅達(dá)到或超過定量線的缺陷，均應(yīng)確定其位置、最大反射波幅和缺陷當(dāng)量；6.7.3 缺陷位置測定缺陷位置測定以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn)；6.7.4 缺陷最大反射波幅的測定將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號的位置，測定波幅大小，并確定它在距離一波幅曲線圖中 的區(qū)域；6.7.5 缺陷定量應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量值徑或缺陷指示長度 AL;a）缺陷當(dāng)量直徑心用當(dāng)量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測，可采用公式計(jì)算，距離一波 幅曲線和試塊對比來確定缺陷當(dāng)量尺寸；b）陷指示長度AL的檢測采用以下方法：1）

48、 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測2）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測3） 在接管外壁采用斜探頭檢測4）在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測表 8 管座角焊縫直探頭距離一波幅曲線的靈敏度1） 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn) 且位于U區(qū)或U區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿刻度的 80% 后，用 6dB 法測其指示長度；2） 當(dāng)缺陷反射波值起伏變化，有多個(gè)高點(diǎn),且位于U區(qū)或U區(qū)以上時(shí)，使波幅降到熒光屏滿 刻度的 80%后應(yīng)以端點(diǎn) 6dB 法測其指示長度；3） 當(dāng)缺陷反射波峰位于I區(qū)時(shí)，如認(rèn)為有必要記錄時(shí)，將探頭左右移動，使波幅降到評定線 以此測定缺陷指示長度；6.8 缺陷評定6.8.1 超過評定線的信號應(yīng)注意其是否有裂紋等危害性缺陷特

49、征，如有懷疑時(shí)，應(yīng)采取改變探頭 K 值、增加檢測面、觀察動態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特性作判定，如對波型不能判斷時(shí)，應(yīng)輔以其 它檢測方法作綜合判定；6.8.2 缺陷指示長度小于 10 伽時(shí)，按 5 伽計(jì)；6.8.3 相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時(shí)，應(yīng)作為一條缺陷處理，兩缺陷 長度之和作為其指示長度（間距不計(jì)入缺陷長度）；6.9 質(zhì)量分級焊接接頭質(zhì)量分級按表 9 的規(guī)定進(jìn)行；表 9焊接接頭質(zhì)量分級等級板厚 T反射波幅（所在區(qū)域）單個(gè)缺陷指示長度 L多個(gè)缺陷累計(jì)長度 LI6 400I非裂紋類缺陷6 120nL=T/3,最小為 10,最大不 超過 30在任意 9T焊縫長度范圍內(nèi) L

50、不超過 Tn6 120nL=2T/3,最小為 12,最大不 超過 40在任意 4.5T 焊縫長度范圍內(nèi) L 不超過 T6 120n超過n級者超過n級者川所有缺陷i、n、川裂紋等危害性缺陷注 1:母材板厚不同時(shí)，取薄板側(cè)厚度值；注 2:當(dāng)焊縫長度不足 9T （I級）或 4.5T（U級）時(shí),可按比例折算；當(dāng)折算后的缺陷累計(jì)長 度小于單個(gè)缺陷指示長度時(shí)，以單個(gè)缺陷指示長度為準(zhǔn)；超聲檢測報(bào)告超聲檢測報(bào)告至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：a）委托單位：b）被檢工件：名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況；c）檢測設(shè)備：探傷儀、探頭、試塊；d）檢測規(guī)范：技術(shù)等級、探頭 K 值、探頭頻率、檢測面和檢測靈敏

51、度；e） 檢測部位及缺陷的類型、尺寸、位置和分布應(yīng)在草圖上予以標(biāo)明，如有因幾何形狀限制 檢測不到的部位，也應(yīng)加以說明；f） 檢測結(jié)果及質(zhì)量分級、檢測標(biāo)準(zhǔn)名稱和驗(yàn)收等級；g）檢測人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)等級；h）檢測日期；第四部分：磁粉檢測通用工藝規(guī)程1.主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了磁粉檢測的人員、設(shè)備器材、檢測技術(shù)、質(zhì)量分級和檢測記錄報(bào)告等的基本 要求;1.2 本規(guī)程適用于壓力管道元件及承壓設(shè)備的原材料、零部件和焊接接頭的表面、近表面缺陷 的檢測 ,不適用于奧氏體不銹鋼和其他非鐵磁性材料的檢測 ;壓力管道元件制造許可規(guī)則 熱交換器 壓力容器 固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 壓力管道

52、安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 承壓設(shè)備無損檢測3.一般要求3.1 磁粉檢測人員要求 3.1.1 磁粉檢測人員應(yīng)按照特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得磁粉檢 測資格證書 ,復(fù)檢和簽發(fā)報(bào)告人員應(yīng)有中級資格證書 ;3.1.2 磁粉檢測人員的未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近（距）視力和遠(yuǎn)（距）視力應(yīng)不低于5.0（小數(shù)記錄值為 1.0）,并一年檢查一次 ,不得有色盲 ;3.2 磁粉檢測設(shè)備、器材3.2.1 本規(guī)程采用電磁軛式磁粉探傷儀 ;當(dāng)使用磁軛最大間距時(shí) , 交流電磁軛至少應(yīng)有 45N 的提 升力；直流電磁軛至少應(yīng)有 177N 的提升力;電磁軛的提升力至少半年校驗(yàn)一次；322 本規(guī)程采用水基磁膏配制的磁懸液，

53、配制的磁懸液濃度范圍為 1025g/L,沉淀濃度為1.22.4ML/100ML,其濃度用磁懸液濃度沉淀管進(jìn)行測定；3.2.3 本規(guī)程選用 A1 型標(biāo)準(zhǔn)試片,用以檢測磁粉檢測設(shè)備、 磁懸液的綜合性能 ,了解被檢工件表 面有效磁場強(qiáng)度和方向 ,有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確；3.2.4 標(biāo)準(zhǔn)試片使用方法：使用時(shí) ,應(yīng)將試片無人工缺陷的面朝外；為使試片與被檢面接觸良好 , 可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上 ,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷；3.3 磁化技術(shù)參數(shù)的選擇3.3.1 磁化電流：交流直流其數(shù)值大小應(yīng)根據(jù) A1-30/100 型標(biāo)準(zhǔn)試片實(shí)驗(yàn)或提升力校驗(yàn)來確定; 3.3.2磁化方法：縱向磁

54、化的磁軛法；3.3.3 磁化方向：被檢工件的每一被檢區(qū)域至少應(yīng)進(jìn)行兩次獨(dú)立的檢測,兩次檢測的磁力線方向應(yīng)大致相互垂直；3.3.4 通電方式：連續(xù)法；3.4 被檢工件表面準(zhǔn)備被檢工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其他粘附磁粉的物質(zhì),表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)作適當(dāng)處理,如打磨;其表面粗糙度 Ra 25 卩皿3.5 檢測時(shí)機(jī) 焊接接頭的磁粉檢測應(yīng)安排在焊接工序完成后進(jìn)行;對于有延遲裂紋傾向的材料 ,磁粉檢測應(yīng)根據(jù)要求至少在焊接完成 24h 后進(jìn)行;除另有要求 ,對于緊固件和鍛件的磁粉檢測應(yīng)安排在最 終熱處理后進(jìn)行 ;4.檢測方法4.1 接通電源、檢查儀器工作是否正常

55、,同時(shí)測定提升力是否符合要求 ;2 引用標(biāo)準(zhǔn)TSG D2001GB151GB150TSG R0004TSG-D0001NB/T 470134.2 將靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片（A1）貼在焊縫邊緣或被檢工件上，按 4.34.4 條操作石 A1-30/100 是 否能清晰顯示 ,若能清晰顯示 ,說明此操作規(guī)范和磁懸液濃度符合要求,否則應(yīng)重新選擇規(guī)范和磁懸液;4.3 磁軛的磁極間距應(yīng)控制在 75mm-200mm 之間,檢測的有效區(qū)域?yàn)閮蓸O連線兩側(cè)各 50mm 的 范圍內(nèi)，磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于 15mm 的重疊；4.4 采用連續(xù)法時(shí) ,被檢工件的磁化 ,施加磁粉的工藝以及觀察磁痕顯示都應(yīng)在磁化通電時(shí)間 內(nèi)完成，

56、通電時(shí)間為 1s-3s,停施磁懸液至少 1s 后方可停止磁化；為保證磁化效果應(yīng)至少反復(fù)磁化 兩次；5 磁痕顯示的分類和記錄5.1 磁痕的分類和處理5.1.1 磁痕顯示分為相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和偽顯示；5.1.2 長度與寬度之比大于 3 的缺陷磁痕 ,按條狀磁痕處理 ,長度與寬度之比不大于 3 的磁痕,按 圓形磁痕處理；5.1.3 長度小于 0.5mm 的磁痕不計(jì)；5.1.4 兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于 2mm 時(shí),按一條磁痕處理 ,其長度 為兩條磁痕之和加間距；5.1.5 缺陷磁痕長軸方向與工件軸線或母線的夾角大于或等于30時(shí),按橫向缺陷處理 ,其他按縱向缺陷處理；52 缺

57、陷磁痕的觀察5.2.1 缺陷磁痕的觀察應(yīng)在磁痕形成后立即進(jìn)行；5.2.2 缺陷磁痕的評定應(yīng)在可見光下進(jìn)行 ,被檢工件表面可見光照度應(yīng)不小于1000Lx；5.2.3 除能確認(rèn)磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不當(dāng)造成的之外 ,其他磁痕顯示均應(yīng) 作為缺陷處理；當(dāng)辨認(rèn)細(xì)小磁痕時(shí) ,應(yīng)用 2 倍 1 0 倍放大鏡進(jìn)行觀察；5 . 3 缺陷磁痕顯示記錄 缺陷磁痕的顯示記錄可采用照相或可剝性塑料薄膜方式記錄,同時(shí)應(yīng)用草圖標(biāo)示；6.復(fù)驗(yàn) 當(dāng)出現(xiàn)下列情況之一時(shí) ,需要復(fù)驗(yàn)：a）檢測結(jié)束時(shí) ,用標(biāo)準(zhǔn)試片驗(yàn)證檢測靈敏度不符合要求時(shí)；b）發(fā)現(xiàn)檢測過程中操作方法有誤或技術(shù)條件改變時(shí)；c）合同各方有爭議或認(rèn)為有必要時(shí)

58、；7.磁粉檢測質(zhì)量分級7.1 不允許存在的缺陷a） 不允許存在任何裂紋和白點(diǎn)；b） 緊固件和軸類零件不允許任何橫向缺陷顯示7.2 焊接接頭的磁粉檢測質(zhì)量分級按表一；焊接接頭的磁粉檢測質(zhì)量等級表等級線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕（評疋框尺寸為 35mrK100mm）I不允許d 1.,且在評定框內(nèi)不大于 1 個(gè)n不允許d 3.（且在評定框內(nèi)不大于 2 個(gè)川LW3.0d 4.51 在評定框內(nèi)不大于 4 個(gè)IV大于川級注：L 表示線性缺陷磁痕長度 mm ； d 表示圓形缺陷磁痕長徑 mm;7.3 受壓加工部件和材料磁粉檢測質(zhì)量分級按表二受壓加工部件和材料磁粉檢測質(zhì)量等級表二等級線性缺陷磁 痕圓形缺陷磁痕（評

59、疋框尺寸為 2500m m2，其中一條矩形邊長最大為 150mm）I不允許d 2.（且在評定框內(nèi)不大于 1 個(gè)nL 4.0d4.（且在評定框內(nèi)不大于 2 個(gè)川L 6.0d6.（且在評定框內(nèi)不大于 4 個(gè)V大于川級注:L 表示線性缺陷磁痕長度 mm；d 表示圓形缺陷磁痕長徑 mm；7.4 綜合評級在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在多種缺陷時(shí)，應(yīng)進(jìn)行綜合評級；對各缺陷分別評定級別，取質(zhì)量級 別最低的級別作為綜合評級的級別；當(dāng)各類缺陷的級別相同時(shí)，則降低一級作為綜合評級的級 別；8檢測記錄、報(bào)告和資料存檔8.1 檢測結(jié)束,應(yīng)填寫檢測原始記錄；內(nèi)容應(yīng)包括工件名稱、編號、材質(zhì)、規(guī)格、熱處理狀態(tài)和 表面狀態(tài)、檢測

60、部位和比例、檢測設(shè)備名稱、型號、磁粉種類,施加磁粉方法,磁化方法和規(guī)范、 靈敏度試片名稱、檢測日期、檢測結(jié)果及缺陷質(zhì)量等級評定和檢測示意圖等；8.2 檢測復(fù)檢人員必須依據(jù)檢測原始記錄和磁痕顯示情況簽發(fā)磁粉檢測報(bào)告，8.3 磁粉檢測報(bào)告的內(nèi)容應(yīng)符合容規(guī)的規(guī)定；8.4 檢測報(bào)告上，復(fù)檢和審核人員均應(yīng)簽名，并注明其技術(shù)資格等級；8.5 檢測記錄和報(bào)告必須字跡端正，記錄齊全，不得任意涂改；并應(yīng)立即整理歸檔，妥善保存至少 至設(shè)計(jì)使用年限；第五部分：滲透檢測通用工藝規(guī)程1 主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了壓力管道元件及承壓設(shè)備焊縫及零部件的著色滲透檢測的人員資格、器材、 檢測工藝和技術(shù)、檢測結(jié)果評定和記錄報(bào)