《工序能力分析》ppt課件

1、 工序才能及工序才能指數(shù)的計算工序才能及工序才能指數(shù)的計算 1. 根本要點根本要點2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征1. 1. 根本要點根本要點 1 只有工序才能強的工藝才可能消費出質(zhì)量好、只有工序才能強的工藝才可能消費出質(zhì)量好、可靠性程度高的產(chǎn)品。可靠性程度高的產(chǎn)品。 2 工序才能指數(shù)是一種表示工藝程度上下的方便工序才能指數(shù)是一種表示工藝程度上下的方便方法，其本質(zhì)作用是反映方法，其本質(zhì)作用是反映工藝成品率工藝成品率的上下。的上下。 3 “ 66設(shè)計設(shè)計是在工序才能指數(shù)分析根底上對是在工序才能指數(shù)分析根底上對消費工藝程度的新要求，其本質(zhì)作用也是反映消費工藝程度的新要求，其本質(zhì)作用也是反

2、映工藝成品工藝成品率率的上下。的上下。1. 1. 根本要點根本要點預(yù)備知識關(guān)于測試數(shù)據(jù)的預(yù)備知識關(guān)于測試數(shù)據(jù)的“ “ 分布分布關(guān)于正態(tài)分布關(guān)于正態(tài)分布 工序才能及工序才能指數(shù)的計算工序才能及工序才能指數(shù)的計算 1. 根本要點根本要點2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征1 工序才能工序才能2 潛在工序才能指數(shù)：潛在工序才能指數(shù)： Cp3 實際工序才能指數(shù)：實際工序才能指數(shù)： Cpk4 單側(cè)標(biāo)準(zhǔn)值情況的工序才能指數(shù)單側(cè)標(biāo)準(zhǔn)值情況的工序才能指數(shù)CPL和和CPU5 Cp和和Cpk的常規(guī)計算方法的常規(guī)計算方法2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定

3、量表征1 1 工序才能工序才能 通常工藝參數(shù)服從正態(tài)分布通常工藝參數(shù)服從正態(tài)分布 N,2 正態(tài)分布標(biāo)準(zhǔn)偏向正態(tài)分布標(biāo)準(zhǔn)偏向的大小反映了參數(shù)的分散程度。絕大部的大小反映了參數(shù)的分散程度。絕大部分?jǐn)?shù)值集中在分?jǐn)?shù)值集中在33范圍內(nèi)，其比例為范圍內(nèi)，其比例為99.7399.73% 2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征1 1 工序才能工序才能 通常工藝參數(shù)服從正態(tài)分布通常工藝參數(shù)服從正態(tài)分布 N,2 正態(tài)分布標(biāo)準(zhǔn)偏向正態(tài)分布標(biāo)準(zhǔn)偏向的大小反映了參數(shù)的分散程度。絕大部的大小反映了參數(shù)的分散程度。絕大部分?jǐn)?shù)值集中在分?jǐn)?shù)值集中在33范圍內(nèi)，其比例為范圍內(nèi)，其比例為99.7399.73% 通常將通常

4、將66稱為工序才能。稱為工序才能。66范圍越小，表示該工序加工的范圍越小，表示該工序加工的工藝參數(shù)越集中，那么消費出成品率高、可靠性好的產(chǎn)品的才工藝參數(shù)越集中，那么消費出成品率高、可靠性好的產(chǎn)品的才能越強，即固有才能越強。能越強，即固有才能越強。 2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征2潛在工序才能指數(shù)潛在工序才能指數(shù)CP 為了綜合表示工藝程度滿足工藝參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求的程為了綜合表示工藝程度滿足工藝參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)要求的程 度，工業(yè)消度，工業(yè)消費中廣泛采用下式定義的費中廣泛采用下式定義的工序才能指數(shù)工序才能指數(shù)：CP=TU-TL/ 6=T/ 6 通過積分可得通過積分可得工藝成品率為：工藝成品率為

5、： 可得工序才能指數(shù)與成品率之間的關(guān)系：可得工序才能指數(shù)與成品率之間的關(guān)系： 標(biāo)準(zhǔn)范圍標(biāo)準(zhǔn)范圍 CP 工藝成品率工藝成品率 不合格品率不合格品率 3 1 99.73% 2700PPM 6 2 99.9999998% 0.002PPM 結(jié)論：結(jié)論：工序才能指數(shù)越高，成品率也越高。工序才能指數(shù)越高，成品率也越高。2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征3 3 實際工序才能指數(shù)：實際工序才能指數(shù)： CPK 2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征3 3 實際工序才能指數(shù)：實際工序才能指數(shù)： CPK 在元器件消費中，采用閉環(huán)工藝控制的情況并不多，大多為在元器件消費中，采用閉環(huán)工藝控制的

6、情況并不多，大多為“ 間間接接工藝控制，很難使兩者重合。例如，工藝控制，很難使兩者重合。例如，IC中的擴散工藝，并不中的擴散工藝，并不能在擴散過程中隨時監(jiān)測方塊電阻能在擴散過程中隨時監(jiān)測方塊電阻Rs的變化情況，因此不能做到的變化情況，因此不能做到在在Rs到達(dá)標(biāo)準(zhǔn)中心值時完畢擴散。實際上都是先做試片，根據(jù)試到達(dá)標(biāo)準(zhǔn)中心值時完畢擴散。實際上都是先做試片，根據(jù)試片測試結(jié)果調(diào)整工藝條件。理論說明片測試結(jié)果調(diào)整工藝條件。理論說明, 對于這種對于這種“ 間接間接 控制的控制的工藝，工藝參數(shù)分工藝，工藝參數(shù)分 布中心值布中心值與標(biāo)準(zhǔn)與標(biāo)準(zhǔn) 中心值偏移的程度一般為中心值偏移的程度一般為1.5 。實際工藝才能指

7、數(shù)實際工藝才能指數(shù)CPK計算公式：計算公式： 偏離為偏離為1.5 情況下情況下Cpk與與Cp的關(guān)系：的關(guān)系：假設(shè)工藝參數(shù)分布的中心值假設(shè)工藝參數(shù)分布的中心值與標(biāo)準(zhǔn)中心值偏移的程度為與標(biāo)準(zhǔn)中心值偏移的程度為1.5，即：，即：-TU+TL/2=1.5， 由上式可得：由上式可得：Cpk=Cp-0.5 即工藝參數(shù)分布的中心值即工藝參數(shù)分布的中心值與標(biāo)準(zhǔn)中心值偏移為與標(biāo)準(zhǔn)中心值偏移為1.5的情況下，的情況下，Cpk要比要比Cp小小0.5。假如。假如Cp2，Cpk只有只有1.5。因此，有時將。因此，有時將Cp稱為稱為潛在工序才能指數(shù)潛在工序才能指數(shù)，將，將Cpk稱為稱為實際工序才能指數(shù)實際工序才能指數(shù)，簡

8、稱為，簡稱為工序才能指數(shù)。工序才能指數(shù)。 2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征4 4單側(cè)標(biāo)準(zhǔn)值情況的工序才能指數(shù)單側(cè)標(biāo)準(zhǔn)值情況的工序才能指數(shù)CPL和和CPU： 假如要求參數(shù)大于某一下限值假如要求參數(shù)大于某一下限值TL ，無上限要求，無上限要求，工序才能指數(shù)應(yīng)按下式計算：工序才能指數(shù)應(yīng)按下式計算： CPLTL/3 假設(shè)假設(shè)TL ，那么取，那么取CPL為零，說明該工序完全為零，說明該工序完全沒有工序才能。沒有工序才能。 假如參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)只規(guī)定了上限值假如參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)只規(guī)定了上限值TU ，無下限要求，無下限要求，那么工序才能指數(shù)應(yīng)按下式計算：那么工序才能指數(shù)應(yīng)按下式計算： CPUTU/3 假設(shè)假設(shè)TU ，那么取，那么取CPU為零，說明該工序完全為零，說明該工序完全沒有工序才能沒有工序才能。2. 2. 工序才能的定量表征工序才能的定量表征5 Cp和和Cpk的常規(guī)計算方法的常規(guī)計算方法 計算計算Cp和和Cpk的關(guān)鍵是計算母體正態(tài)分布的均值和的關(guān)鍵是計算母體正態(tài)分布的均值和