CPK實用培訓(xùn)教材(ppt 36頁)(共36張)

1、CPK培訓(xùn)教材培訓(xùn)教材Quality核準(zhǔn):審核:編寫：品管中心 汪向陽教材編號 : QC-009版 本 : 1.0【品管中心培訓(xùn)教材】SPC(Statistical Process Control)統(tǒng)計制程管制統(tǒng)計制程管制 統(tǒng)計過程控制統(tǒng)計過程控制 是應(yīng)用統(tǒng)計的方法對過程中的各個環(huán)節(jié)進(jìn)行監(jiān)控與診斷是應(yīng)用統(tǒng)計的方法對過程中的各個環(huán)節(jié)進(jìn)行監(jiān)控與診斷, ,從而達(dá)到從而達(dá)到改進(jìn)與保證產(chǎn)品品質(zhì)的目的改進(jìn)與保證產(chǎn)品品質(zhì)的目的 . .SPC的發(fā)展進(jìn)程 a. 1924年由美國的休哈特年由美國的休哈特(W.A.Shewhart)提出提出. b. 第二次世界大戰(zhàn)后期第二次世界大戰(zhàn)后期, 1940年美國開始將年美國

2、開始將SPC導(dǎo)入武器製導(dǎo)入武器製造商的製程中造商的製程中,取得了良好的效果取得了良好的效果,但世界大戰(zhàn)結(jié)束后由于美但世界大戰(zhàn)結(jié)束后由于美國內(nèi)商業(yè)缺乏競爭國內(nèi)商業(yè)缺乏競爭,SPC在在19501980有有逐漸從美國工業(yè)消有有逐漸從美國工業(yè)消失失. c.戰(zhàn)敗的日本為了復(fù)興經(jīng)濟(jì)戰(zhàn)敗的日本為了復(fù)興經(jīng)濟(jì)1950年從美國邀請休哈特的同事年從美國邀請休哈特的同事戴明戴明(W.Edwards Deming)博士到日本輔導(dǎo)博士到日本輔導(dǎo)SPC的應(yīng)用的應(yīng)用,經(jīng)過經(jīng)過30年努力年努力,取得了輝煌的成就取得了輝煌的成就.從而日本濟(jì)入世界工業(yè)強(qiáng)國之從而日本濟(jì)入世界工業(yè)強(qiáng)國之列列. d.在日本的強(qiáng)大競爭之下在日本的強(qiáng)大競爭

3、之下, 80年代美國在年代美國在SPC作為一種高科作為一種高科技技術(shù)來推廣技技術(shù)來推廣, SPC在美國得到全面的復(fù)興在美國得到全面的復(fù)興,經(jīng)過經(jīng)過15年的努力年的努力到到1995年左右美國與日本在產(chǎn)品質(zhì)量方面的差距才基本保年左右美國與日本在產(chǎn)品質(zhì)量方面的差距才基本保持平持平. 何謂統(tǒng)計？何謂統(tǒng)計？ n統(tǒng)計的基本原料是？統(tǒng)計的基本原料是？ 有數(shù)據(jù)就是統(tǒng)計嗎經(jīng)過計算后得什麼統(tǒng)計基礎(chǔ)統(tǒng)計基礎(chǔ)何謂統(tǒng)計？何謂統(tǒng)計？n統(tǒng)計統(tǒng)計n -收集的數(shù)據(jù)經(jīng)過計算從而得到有意義的情報的活動收集的數(shù)據(jù)經(jīng)過計算從而得到有意義的情報的活動 何謂有意義的情報？何謂有意義的情報？ 至少應(yīng)包括：至少應(yīng)包括： 集中趨勢集中趨勢 +

4、離中趨勢離中趨勢 + 含蓋在特定範(fàn)圍內(nèi)的機(jī)率含蓋在特定範(fàn)圍內(nèi)的機(jī)率 集中趨勢 平均值 中位數(shù)平均值概念概念: 表示數(shù)據(jù)集中位置，數(shù)據(jù)算術(shù)平均數(shù)， 常用符號 表示。 N:表示樣本數(shù) 例:有統(tǒng)計數(shù)據(jù)2,3,4,5,6五個數(shù)據(jù)，則其平均數(shù)據(jù)為： 2+3+4+5+6 X = =4_ x5_ X = xN中位數(shù)概念概念: 把收集到的統(tǒng)計資料按大小順序重新排列，排在正中間的那個數(shù)就叫作中位數(shù)，常用符號 表示。 例: 試找出3、5、6、7、11五個樣本數(shù)據(jù)和3、5、6、8、 9、11六個樣本數(shù)據(jù)的中 位數(shù)。 解：3、5、6、7、11的中位數(shù)為6； 3、5、6、8、9、11的中位數(shù)為 x 當(dāng)n爲(wèi)奇數(shù)時-正中間

5、的數(shù)只有一個， 當(dāng)n爲(wèi)偶數(shù)時-正中位置有兩個數(shù)，此時，爲(wèi) 正中間兩個數(shù)的算術(shù)平均值。6+82= 7離中趨勢 全距&極差 R 標(biāo)準(zhǔn)差 全距（極差）概念概念: 將樣本資料按大小順序排列，數(shù)列中最大值Xmax與最小資料Xmin之差 稱爲(wèi)樣本的極差。常用符號 R 表示，其計算公式爲(wèi)：式中 Xmax 一組數(shù)據(jù)中的最大值， Xmin 一組數(shù)據(jù)中的最小值例如：有3，6，7，8，10五個資料組成一組，則極差R=10-3=7 R=Xmax Xmin(7)(1)(3)(5)A槍手b槍手什么是什么是標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差?7531107531C槍手流程之聲飛標(biāo)圖解A 槍手AB 槍手ABC 槍手ABCA 槍手uxLCL

6、UCLB 槍手uxLCLUCLC 槍手uxLCLUCL91110Sigma (標(biāo)準(zhǔn)偏差) 由此可見 Sigma ()即是-變異,學(xué)術(shù)名詞叫標(biāo)準(zhǔn)偏差Sigma ()表示數(shù)據(jù)的離散程度 ( X - X )i-1n1 2n依照射擊擊中環(huán)次的頻率進(jìn)行排列,可得以下的圖表:X母母 體體樣本樣本( X - X ) S= S=樣本標(biāo)準(zhǔn)差樣本標(biāo)準(zhǔn)差S =S =n-11 2ni-1 因為標(biāo)準(zhǔn)差是用數(shù)據(jù)整體計算，所以當(dāng)數(shù)據(jù)量大太時，因為標(biāo)準(zhǔn)差是用數(shù)據(jù)整體計算，所以當(dāng)數(shù)據(jù)量大太時，就不便以操作就不便以操作,而且不符合現(xiàn)場需要。所以一般情況下而且不符合現(xiàn)場需要。所以一般情況下, 會用樣本標(biāo)準(zhǔn)差會用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來代替來

7、代替S 樣本標(biāo)準(zhǔn)差樣本標(biāo)準(zhǔn)差 S樣本樣本: :從總體中隨機(jī)抽取的若干個個體的總和稱爲(wèi)樣本。從總體中隨機(jī)抽取的若干個個體的總和稱爲(wèi)樣本。 組組成樣本的每個個體稱爲(wèi)樣品。成樣本的每個個體稱爲(wèi)樣品。 數(shù)據(jù)分析數(shù)據(jù)分析Cp、 Ca、 CpkA: 每件産品的尺寸與別的都不同 數(shù)據(jù)的分布B:但它們形成一個模型，若穩(wěn)定，可以描述爲(wèi)一個分佈 C:數(shù)據(jù)會有不同的分布型態(tài)，正態(tài)分布為 鐘型鐘型CP Capability of Precision精確度精確度： 是衡量工序能力對産品規(guī)格要求滿足程度的數(shù)量值，是衡量工序能力對産品規(guī)格要求滿足程度的數(shù)量值，記爲(wèi)記爲(wèi)CpCp。通常以規(guī)格範(fàn)圍。通常以規(guī)格範(fàn)圍T T與工序能力

8、與工序能力 6 6* * 的比的比值來值來表示。即：表示。即： 不精密不精密精密精密精密度表示什麼 1. 製程精密度，其值越高表示製程實際值間的離散程度越小，亦即表示製程穩(wěn)定而變異?。x中趨勢，與有關(guān)）。 2. 當(dāng)公差範(fàn)圍內(nèi)能納入愈多的個數(shù)，則此製程表現(xiàn)愈好，其本身是一種製程固有的（已決定的）特性值，代表一種潛在的能力 Cp=T/6=規(guī)格公差規(guī)格公差/6*標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差規(guī)格公差規(guī)格公差=UCL-LCL=規(guī)格上線規(guī)格上線-規(guī)格下線規(guī)格下線精密度評價計計 算算 得得 到到 的的 Cp 值值製程等級製程等級說說 明明Cp 1.67較佳較佳表示表示:工序能力過分充裕，有很大的貯備工序能力過分充裕，有很大

9、的貯備不合格品率不合格品率p0.00006%1.67 Cp 1.33A(合格合格) 對精密加工而言，工序能力適宜；對對精密加工而言，工序能力適宜；對一般加來說工序能力仍比較充裕，有一一般加來說工序能力仍比較充裕，有一定貯備定貯備 不合格品率不合格品率0.00006%p0.006% 1.33 Cp 1.00B(警告警告)對一般加工而言，工序能力適宜對一般加工而言，工序能力適宜不合格品率不合格品率0.006%p0.27% 1.00 Cp 0.67C(不足不足)工序能力不足，不合格品率較高工序能力不足，不合格品率較高不合格品率不合格品率0.27%p4.55%CaCapability of Accur

10、acy準(zhǔn)確度準(zhǔn)確度: : 代表製程平均值偏離規(guī)格中心值之程度。若其值越小，表示製程平均值越接近規(guī)格中心值，亦即品質(zhì)越接近規(guī)格要求之水準(zhǔn)（集中趨勢，與有關(guān)），值越大，表示製程平均值愈偏離規(guī)格中心值，所造成的不良率將愈大） _ x準(zhǔn)確度好準(zhǔn)確度差SL SuSL SuSu= 規(guī)格上限規(guī)格上限 SL= 規(guī)格下限規(guī)格下限 = 規(guī)格中心規(guī)格中心CaCapability of Accuracy準(zhǔn)確度Su= 規(guī)格上限規(guī)格上限 SL= 規(guī)格下限規(guī)格下限 T= 規(guī)格允差規(guī)格允差. ，T =Su - Sl 制程平均值制程平均值-規(guī)格中心值規(guī)格中心值規(guī)格允差之半規(guī)格允差之半=X - X - T/2Ca =* 100%

11、* 100%Ca 等級評定后處理原則等級評定后處理原則:A: 作業(yè)員依作業(yè)標(biāo)準(zhǔn).繼續(xù)維持.B: 有必要時.盡可能改為A級C: 作業(yè)員可能看錯規(guī)格或未照作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作,應(yīng)加強(qiáng)訓(xùn)練, 檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn).D: 應(yīng)采取緊急措施.全面檢討可能影響因素.必要時停產(chǎn).（實績）（實績）（實績）XXXA級B級C級D級規(guī)格中心值規(guī)格上限（下限）12.5%25%50%100%等級之解說讓我們回憶下讓我們回憶下 Cp與與 Ca 的關(guān)係的關(guān)係不精密 精密準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 CPKCPK製程能力指數(shù)製程能力指數(shù) 一種用以量度某一特性的變化一種用以量度某一特性的變化趨勢及概率的統(tǒng)計指標(biāo)趨勢及概率的統(tǒng)計指標(biāo). . CPK=CP*(

12、1- Ca ) =T/6 * *【1- 2(u-X)/T 】: : 標(biāo)準(zhǔn)差標(biāo)準(zhǔn)差 u : : 規(guī)格中心規(guī)格中心公式一 公式二 Cpk=min( ， )3)(XUSLCpu3)(LSLXCpL即取兩者最小值，但不管采用那種方式，結(jié)果都是一樣的。僅給出規(guī)格上限僅給出規(guī)格上限Su 各種規(guī)格型態(tài)下的各種規(guī)格型態(tài)下的Cpkf（x）SLx- SLf（x）SUx3)(XUSLCpuCPK僅給出規(guī)格下限僅給出規(guī)格下限SL 3)(LSLXCpLCpkSu -單邊公差時：由於沒有規(guī)格中心值，故Ca =N/A，故定義Cpk=Cp Cpk制程能力指數(shù)制程能力指數(shù)等級評定后處置原則（Cpk等級之處置）級：制程能力足夠級：制程能力尚可，應(yīng)再努力級：制程應(yīng)加以改善等級Cpk值1.33 Cpk1.00 Cpk 1.33Cpk 1.00Cp與Cpk所代表的合格品率 Cp0.330.671.001.331.672.000.3366.368%84.000%84.134%84.134%84.13447%84.13447%0.6795.450%97.722%97.725%97.72499%97.72499%1.0