鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷 jb1152-81

1、時(shí)間就是金錢(qián)，效率就是生命！鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷 JB1152-81 本標(biāo)準(zhǔn)使用A型脈沖反射式超聲探傷儀,以單斜探頭接觸法為主進(jìn)行探傷.本標(biāo)準(zhǔn)適用于焊接件對(duì)接處厚度為8120mm的鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫的超聲波探傷,也適用于其他工業(yè)類(lèi)似用的壓力容器對(duì)接焊縫的超聲波探傷.本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼、奧氏體不銹耐酸鋼及允許根部未焊透的單面焊鋼制壓力容器對(duì)焊接縫的超聲波探傷.也不適用于曲面半徑小于125mm和內(nèi)半徑與外半徑之比小于80%的縱縫探傷.本標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)專(zhuān)業(yè)術(shù)語(yǔ)的解釋詳見(jiàn)附錄1.1 操作者1.1 焊縫探傷人有基礎(chǔ)知識(shí)和焊縫探傷經(jīng)驗(yàn)并經(jīng)考試合格的人擔(dān)任.1.2 操作者應(yīng)掌握所探工件的材

2、質(zhì),焊縫坡口形式,焊接工藝,缺陷可能產(chǎn)生的部位等資源,根據(jù)熒光屏上反射波形進(jìn)行綜合判斷.2 探傷儀和探頭2.1 儀器和探頭的組合靈敏度:在達(dá)到所探工件最大聲程處的探傷靈敏度時(shí),有效靈敏度余量至少應(yīng)為10dB.2.2 探傷儀應(yīng)具有衰減量不少于50dB連續(xù)可調(diào)的衰減器,其精度為任意相鄰12dB的誤差小于±1dB,最大累計(jì)誤差不超過(guò)±1dB.2.3 分辯力應(yīng)能將CSK-IA型試塊上50與44兩孔分開(kāi),當(dāng)兩孔反射波的波幅相同時(shí),其波峰與波谷的差不小于6dB.2.4 其他指標(biāo)可參照J(rèn)B1834-76A型脈沖反射式超聲波探傷儀技術(shù)條件中相應(yīng)條款的規(guī)定.2.5 主聲束偏離:a.水平方向:

3、將探頭放在CSK-IA型試塊上,探測(cè)棱角反射,當(dāng)反射波幅最大時(shí),探頭中心線(xiàn)與被測(cè)棱邊的夾角應(yīng)在90°-2°的范圍內(nèi).b.垂直方向:不應(yīng)有明顯的雙峰.2.6 入射角和K值的測(cè)定:在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的試塊上進(jìn)行.K*值的測(cè)定應(yīng)在2N(N為近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度)以外進(jìn)行.* K為斜探頭折射角的正切值,即K=tg.3 試塊3.1 試塊用與被探傷件相同或相近的材料制成,其材料以2平底孔靈敏度探傷,不得有缺陷.3.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊:CSK-IA、CSK-A、CSK-A 試塊應(yīng)符合圖1、圖2、圖3的要求.3.3 在滿(mǎn)足靈敏度要求下,可以采用其他型式的試塊.4 操作4.1 電渣焊縫的探傷應(yīng)在正火后進(jìn)行.4.2

4、 探傷表面:應(yīng)清除探頭移動(dòng)區(qū)的飛濺物、銹蝕、油垢及其他潛心物.探頭移動(dòng)區(qū)的深坑應(yīng)補(bǔ)焊,然后打磨平滑,露出金屬光澤,以保證良好的聲學(xué)接觸.4.3 焊縫外觀(guān)及探傷表面經(jīng)檢查合格后,方可進(jìn)行探傷.4.4 耦合劑:工業(yè)甘油、漿糊、機(jī)油等.4.5 采用的斜探頭K值見(jiàn)表1.在條件允許下,應(yīng)盡量采用大K值探頭.表1 采用的斜探頭K值板厚T(mm)K值8253.02.025462.51.5461202.01.04.6 探測(cè)預(yù)率一般采用2.5MHz,板厚較薄時(shí),可采用5MHz.4.7 探傷面和探頭移動(dòng)區(qū)4.7.1 厚度846mm的焊縫探傷面為筒體外壁焊縫的兩側(cè)(見(jiàn)圖4).探頭移動(dòng)區(qū)為:P12TK+50mm式中

5、P1-探頭移動(dòng)區(qū);T-被探傷件厚度.4.7.2 厚度大于46120mm的焊縫,探傷面為筒體內(nèi)外壁焊縫的兩側(cè)(見(jiàn)圖5),探頭移動(dòng)區(qū)為:P2TK+50mm式中 P2-探頭移動(dòng)區(qū);T-被探傷件厚度.4.7.3 對(duì)于厚板焊縫如因條件限制,只能從一面或一側(cè)探傷時(shí),還應(yīng)增加大K值探頭探測(cè).4.7.4 如需檢驗(yàn)橫向缺陷,應(yīng)將焊縫磨平后探測(cè).4.8 探頭移動(dòng)方式4.8.1 每次前進(jìn)齒距d不得超過(guò)探頭晶片直徑,在保持探頭與焊縫中心線(xiàn)垂直的同時(shí)作大致10°45°的擺動(dòng)(見(jiàn)圖6).4.8.2 為發(fā)現(xiàn)焊縫或熱影響區(qū)的橫向缺陷,對(duì)于磨平的焊縫可將斜探頭直接放在焊縫上作平行移動(dòng),對(duì)于有加強(qiáng)層的焊縫可在

6、焊縫兩側(cè)邊緣,使探頭與焊縫成一定夾角(10°45°)作平行或斜平行移動(dòng)(見(jiàn)圖7).但靈敏度要適當(dāng)提高.4.8.3 為了確定缺陷的位置、方向或區(qū)分缺陷波與假訊號(hào),可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞運(yùn)動(dòng)等四種探頭移動(dòng)方式(如圖8).4.9 距離-波幅曲線(xiàn)距離-波幅曲線(xiàn)以所用探頭和儀器在CSK-A或CSK-A試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成.該曲線(xiàn)簇由定量線(xiàn)、判廢線(xiàn)和測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)組成.定量線(xiàn)與判廢線(xiàn)之間稱(chēng)為區(qū),判廢線(xiàn)以上稱(chēng)為區(qū).如示意圖9所示.不同板厚范圍的距離-波幅曲線(xiàn)的靈敏度見(jiàn)表2.表2 距離-波幅曲線(xiàn)的靈敏度試塊型式板厚(mm)測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)定量線(xiàn)判廢線(xiàn)CSK-A8462×40-18dB2&

7、#215;40-12dB2×40-4dB461202×40-14dB2×40-8dB2×40+2dBCSK-A8151×6-12dB1×6-6dB1×6+2dB15461×6-9dB1×6-3dB1×6+5dB461201×6-6dB1×61×6+10dB4.10 CSK-A和CSK-A試塊的選用,由供需雙方協(xié)商確定,不得混雜使用.4.11 掃描線(xiàn)的調(diào)節(jié)在與被檢焊縫相同或相近聲程的反射體上進(jìn)行,推薦調(diào)節(jié)方法見(jiàn)附錄3.4.12 距離-波幅曲線(xiàn)的校驗(yàn):距離-波幅曲線(xiàn)的校

8、驗(yàn)在CSK-A或CSK-A試塊上進(jìn)行,校驗(yàn)不少于兩點(diǎn).4.13 探傷時(shí)應(yīng)對(duì)表面聲能損失與材質(zhì)衰減進(jìn)行修正,修正量必須計(jì)入距離-波幅曲線(xiàn).表面聲能損失差推薦修正方法見(jiàn)附錄4.4.14 對(duì)曲面半徑比較小的筒體縱縫用曲面試塊進(jìn)行修正,修正范圍見(jiàn)附錄2.4.15 探傷靈敏度:不低于測(cè)長(zhǎng)線(xiàn).4.16 缺陷的定量:位于定量線(xiàn)和定量線(xiàn)以上的缺陷進(jìn)行幅度和缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定.4.16.1 缺陷的幅度測(cè)定:將探頭置于出現(xiàn)最大缺陷反射波的位置,讀出該波幅所在的區(qū).4.16.2 缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定.4.16.2.1 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí),用半波高度法(6dB法)測(cè)其指示長(zhǎng)度.4.16.2.2 當(dāng)缺陷反射波有多

9、個(gè)高點(diǎn)時(shí),端部反射波高在定量線(xiàn)上及區(qū)時(shí)用端點(diǎn)半波高度法測(cè)其指示長(zhǎng)度,而當(dāng)缺陷端部反射波高位于1區(qū),操作者認(rèn)為有必要記錄時(shí),可將探頭向左右二個(gè)方向移動(dòng),且均移至波幅降到測(cè)長(zhǎng)線(xiàn)指示長(zhǎng)度的一點(diǎn),以此兩點(diǎn)間的距離表示指示長(zhǎng)度.4.17 現(xiàn)場(chǎng)探傷時(shí)允許用攜帶型試塊對(duì)掃描線(xiàn)及靈敏度進(jìn)行校驗(yàn).5 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)5.1 判廢不允許存在下列缺陷5.1.1 當(dāng)缺陷反射波的波高位于判廢線(xiàn)上及區(qū).5.1.2 缺陷波的波高位于定量線(xiàn)上及區(qū)的條狀缺陷,且缺陷指示長(zhǎng)計(jì)超過(guò)表3的數(shù)值時(shí).板厚T不等的焊縫以薄板為準(zhǔn).5.1.3 關(guān)于缺陷的總長(zhǎng)和密集程度的規(guī)定:單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度小于表3者,在任意2T焊縫長(zhǎng)度范圍內(nèi)(但不超過(guò)150mm)

10、缺陷指示長(zhǎng)度總和超過(guò)表3的規(guī)定.在任意測(cè)定的8mm深度范圍內(nèi),缺陷測(cè)定間距8 mm,以缺陷之和作為單個(gè)缺陷計(jì),8 mm,分別計(jì)算;反射波高位于區(qū)的點(diǎn)狀缺陷,其指示長(zhǎng)度小于10 mm,按5 mm計(jì).表3 最大允許的缺陷指示長(zhǎng)度 mm級(jí)別條狀缺陷指示長(zhǎng)度l級(jí)級(jí)5.2 對(duì)于不超過(guò)5.1條規(guī)定的缺陷.但如果探傷人員能斷定為危害性缺陷時(shí),可不受5.1條的限制.5.3 在探傷中,當(dāng)發(fā)現(xiàn)不允準(zhǔn)確判斷的波形時(shí),應(yīng)以其他檢驗(yàn)進(jìn)行綜判斷.5.4 對(duì)于抽查的焊縫,如發(fā)現(xiàn)不允許存在的缺陷時(shí),應(yīng)在缺陷的延伸方向或可部位作補(bǔ)充檢查,增加補(bǔ)充檢驗(yàn)的長(zhǎng)度由檢查部門(mén)決定.如補(bǔ)充檢查仍不合格,則該段焊縫及其他懷疑部位均應(yīng)進(jìn)行檢查

11、.5.5 返修:不允許存在的缺陷均應(yīng)返修,返修的部位及返修時(shí)受影響的部位均應(yīng)復(fù)探,復(fù)探部位的缺陷亦應(yīng)符合5.1和5.2的規(guī)定.5.6 返修后進(jìn)行復(fù)檢時(shí),仍按原探傷條件進(jìn)行.6 記錄和報(bào)告6.1 探傷記錄包括下列內(nèi)容:6.1.1 工件名稱(chēng)、編號(hào)、材質(zhì)、坡口形式、所使用的儀器探頭(頻率、尺寸、K值)、試塊型式、耦合劑、探傷部位、返修部位、返修的長(zhǎng)度、深度和返的次數(shù)、焊工號(hào)、操作者等.6.1.2 反射波高位于區(qū),指示長(zhǎng)度大于10 mm的缺陷應(yīng)予記錄;反射波高位于區(qū),指示長(zhǎng)度較長(zhǎng)時(shí),也應(yīng)加以記錄備案.6.2 探傷報(bào)告主要內(nèi)容:工件名稱(chēng)、厚度、編號(hào)、探傷方法、所使用儀器、探頭、試塊、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、探傷比例、

12、部位示意圖、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、操作者、負(fù)責(zé)人及探傷日期等.附錄1標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)用語(yǔ)解釋1 接觸法-探頭直接與涂有耦合劑的工件接觸進(jìn)行探傷的方法.2 單斜探頭法-用一個(gè)斜探頭發(fā)射和接收超聲波的探傷方法.3 探頭入射點(diǎn)-斜探頭聲束中心與探傷面的交叉點(diǎn).4 探傷靈敏度-在規(guī)定范圍內(nèi)對(duì)最小缺陷的顯示能力.以規(guī)定范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)反射體及衰減余量表示之.5 距離-波幅曲線(xiàn)-表示反射波高度隨距離變化的關(guān)系曲線(xiàn).6 未透聲區(qū)-超聲波未探測(cè)到的區(qū)域.7 表面聲能損失差-聲能在異質(zhì)介面上的能量損失差.以標(biāo)準(zhǔn)試塊與被檢工件表面狀況的不同所引起的dB差與波型轉(zhuǎn)換損失之和表示.8 材料衰減-當(dāng)超聲波通過(guò)被檢材料時(shí),

13、由材料對(duì)聲的散身 吸收所引起的超聲強(qiáng)度的減弱.10 半波高度法-用最大反射波高降低一半(-6B),測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度的方法.11 端點(diǎn)半波高度法-端部最大反射波高降低一半(-6dB),測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度的方法.12 聲程-聲波在介質(zhì)內(nèi)傳播的路程.有關(guān)超聲波探傷儀的用語(yǔ)解釋參閱JB1834-76.附錄2筒體縱縫探傷不適用范圍及修正范圍的確定用斜探頭探測(cè)有曲率的筒體縱縫時(shí),與平板焊縫的情況不同(見(jiàn)圖1),必須考慮如下修正.由圖可知 =+ (1)則 又 BFCAED則 AODBOC則 (2)1 不適用范圍的確定(2)式中,當(dāng)=90°sin=1時(shí),聲束的中心線(xiàn)正好與內(nèi)表面相切,這就是的臨界條件,

14、即=sin,而本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的最小K值為1,=45°,則=sin45°=0.707=70%.隨著接近臨界值,聲程偏差急劇增大,考慮到缺陷定位,定量的準(zhǔn)確性,故把有曲率的筒體縱縫不適用范圍定為內(nèi)半徑之比小于80%.2 不同K值探頭的修正范圍折射角和內(nèi)表面入射角隨的變化可由(2)式計(jì)算作圖表示(見(jiàn)圖2).ABGAFCBF=r-rcos則 設(shè)為聲程校正系數(shù)(3)由(1)式和圖2可確定對(duì)應(yīng)的角,則隨的變化關(guān)系,可由(3)式作圖表示(見(jiàn)圖3).由圖3可知, 增大到一定數(shù)值時(shí),漸漸變小,與平板焊縫差別不大,可不用面試塊修正.本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用聲程校正系數(shù)=1.1時(shí)對(duì)應(yīng)的值作為曲面試塊修正的界線(xiàn).

15、例如K=1 86%時(shí);K=2 96%時(shí);K=2.5 97.5%時(shí)需用面試塊進(jìn)行修正.其他K值探頭修正范圍可按上述方法自行推定.附錄3掃描線(xiàn)的調(diào)節(jié)方法掃描線(xiàn)的調(diào)節(jié)直接關(guān)系到缺陷的判別、定位和定量,中薄板一般采用水平定位,厚板一般采用深度定位,為了保證探測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確,推薦以下三種掃描線(xiàn)調(diào)節(jié)方法.1 CSK-A試塊調(diào)節(jié)法CSK-A試塊調(diào)節(jié)法是用兩種不同距離的短橫孔作反射體調(diào)節(jié)掃描線(xiàn),使探頭水平距離或被探測(cè)深度與熒光屏刻度板上反射波位置的讀數(shù)形成一定的比例的定位方法(見(jiàn)圖1).2 CSK-1A試塊調(diào)節(jié)法CSK-1A試塊調(diào)節(jié)法是用兩個(gè)不同距離的曲面作反射體,兩曲面反射波可同時(shí)在熒光屏上顯示,在定位前把聲

16、程距離換算成水平距離或深度距離,使該水平距離或深度距離與熒光屏刻度板上反射波位置讀數(shù)形成一定比例的定位方法(見(jiàn)圖2).3 薄板試塊調(diào)節(jié)法采用厚度為34mm的鋼制試塊,以核式塊板邊反射體調(diào)節(jié),使探頭的水平距離與熒光屏刻度板上反射波位置的讀數(shù)形成一定比例的水平定位方法(見(jiàn)圖3),這種水平定位方法只能適用于薄板焊縫探傷中.附錄4表面聲能損失差的測(cè)定探傷時(shí),表面聲能損失差的計(jì)入量,直接關(guān)系到被檢焊縫缺陷的檢出和定量.為保障探傷質(zhì)量,推薦用下列方法進(jìn)行測(cè)定:1 薄板焊縫表面聲能損失差的測(cè)定作與被檢工件材質(zhì)相同或相近、厚度相同、上下表面光潔度與CSK-A試塊相同的平面型試塊(見(jiàn)圖1b).用同型號(hào)的兩個(gè)斜探

17、頭沿探傷方向置于工件上(不通過(guò)焊縫),探頭間距為2P,作一發(fā)一收測(cè)試,使其最大穿透波幅為熒光屏上3格高;在同樣條件下,用與上述相同的方法,將兩探頭置于平面型試板近2P處,只調(diào)節(jié)衰減器,使其最大穿透波幅也為3格高,此時(shí)工件與試板的衰減dB差,即為薄板焊縫的表面聲能損失失差,如圖1所示.2 中厚板焊縫表面聲能損失差的測(cè)定2.1 反射法探傷表面聲能損失差的測(cè)定2.1.1 作平面型試板,A面光潔度與被檢工件相同,B面光潔度與CSK-A試塊相同,其他要求同上述薄板型試板(見(jiàn)圖2a下).2.1.2 用同型號(hào)的兩個(gè)斜探頭沿探傷方向置于焊縫兩側(cè)的探傷面上,作一發(fā)一收測(cè)試,使其最大穿透波幅為3格高(見(jiàn)圖2a上)

18、;在同樣條件下,用與上述相同的方法,將探頭置于平面型試板B面上(見(jiàn)圖2a下),只調(diào)節(jié)衰減器,使其最大穿透波幅也為3格高.此時(shí)工件探傷面與試板的衰減dB差,即為上表面聲能損失差.2.1.3 重復(fù)上述步驟,按圖2b測(cè)出被檢工件(不通過(guò)焊縫)與平面型試板A面的衰減dB.在探傷時(shí)聲束兩次觸及下表面,取其dB差的兩倍,即為下表面聲能損失差.2.1.4 上、下表面聲能損失差之和,即為反射法探傷表面聲能損失差.2.2 直射法探傷表面聲能損失差的測(cè)定與2.1.1同,只計(jì)入上表面聲能損失差.注: 中厚板表面聲能損失差測(cè)定中均已包括焊縫及熱影響區(qū)的材料衰減.表面聲能損失差應(yīng)取多次測(cè)試的平均值.:鋼焊縫手工超聲波探

19、傷方法和探傷結(jié)果分級(jí) 11345-89 Method for manual ultrasonic testing and classification of testing results for ferritic steel wdlds 1 主題內(nèi)容與適用范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢驗(yàn)焊縫及熱影響區(qū)缺陷,確定缺陷位置、尺寸和缺陷評(píng)定的一般方法及探傷結(jié)果的分級(jí)方法. 本標(biāo)準(zhǔn)適用于母材厚度不小于8mm的鐵素體類(lèi)鋼全焊透熔化焊對(duì)接焊縫脈沖反射法手工超聲波檢驗(yàn). 本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼及奧氏體不銹鋼焊縫;外徑小于159mm的鋼管對(duì)接焊縫;內(nèi)徑小于等于200mm的管座角焊縫及外徑小于250mm和內(nèi)外徑之比小于80

20、%的縱向焊縫. 2 引用標(biāo)準(zhǔn) ZB Y 344 超聲探傷用探頭型號(hào)命名方法 ZB Y 231 超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法 ZB Y 232 超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件 ZB J 04 001 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法 3 術(shù)語(yǔ) 3.1 簡(jiǎn)化水平距離l' 從探頭前沿到缺陷在探傷面上測(cè)量的水平距離. 3.2 缺陷指示長(zhǎng)度l 焊縫超聲檢驗(yàn)中,按規(guī)定的測(cè)量方法以探頭移動(dòng)距離測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度. 3.3 探頭接觸面寬度W 環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)為探頭寬度,縱縫檢驗(yàn)為探頭長(zhǎng)度,見(jiàn)圖1. 3.4 縱向缺陷 大致上平行于焊縫走向的缺陷. 3.5 橫向缺陷 大致上垂直于焊縫走向的缺陷. 3.6 幾

21、何臨界角' 筒形工件檢驗(yàn),折射聲束軸線(xiàn)與內(nèi)壁相切時(shí)的折射角. 3.7 平行掃查 在斜角探傷中,將探頭置于焊縫及熱影響區(qū)表面,使聲束指向焊縫方向,并沿焊縫方向移動(dòng)的掃查方法. 3.8 斜平行掃查 在斜角探傷中,使探頭與焊縫中心線(xiàn)成一角度,平等于焊縫方向移動(dòng)的掃查方法. 3.9 探傷截面 串列掃查探傷時(shí),作為探傷對(duì)象的截,一般以焊縫坡口面為探傷截面,見(jiàn)圖2. 3.10 串列基準(zhǔn)線(xiàn) 串列掃查時(shí),作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動(dòng)基準(zhǔn)的線(xiàn).一般設(shè)在離探傷截面距離為0.5跨距的位置,見(jiàn)圖2. 3.11 參考線(xiàn) 探傷截面的位置焊后已被蓋住,所以施焊前應(yīng)予先在探傷面上,離焊縫坡口一定距離畫(huà)出一標(biāo)記線(xiàn),該線(xiàn)

22、即為參考線(xiàn),將作為確定串列基準(zhǔn)線(xiàn)的依據(jù),見(jiàn)圖3. 3.12 橫方形串列掃查 將發(fā)、收一組探頭,使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線(xiàn)經(jīng)常保持等距離平行于焊縫移動(dòng)的掃查方法,見(jiàn)圖4. 3.13 縱方形串列掃查 將發(fā)、收一組探頭使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線(xiàn)經(jīng)常保持等距離,垂直于焊縫移動(dòng)的掃查方法,見(jiàn)圖4. 4 檢驗(yàn)人員 4.1 從事焊縫探傷的檢驗(yàn)人員必須掌握超聲波探傷的基礎(chǔ)技術(shù),具有足夠的焊縫超聲波探傷經(jīng)驗(yàn),并掌握一定的材料、焊接基礎(chǔ)知識(shí). 4.2 焊縫超聲檢驗(yàn)人員應(yīng)按有關(guān)規(guī)程或技術(shù)條件的規(guī)定經(jīng)嚴(yán)格的培訓(xùn)和考核,并持有相 考核組織頒發(fā)的等級(jí)資格證書(shū),從事相對(duì)應(yīng)考核項(xiàng)目的檢驗(yàn)工作. 注:一般焊接檢驗(yàn)專(zhuān)業(yè)考核項(xiàng)目分為板對(duì)接

23、焊縫;管件對(duì)接焊縫;管座角焊縫;節(jié)點(diǎn)焊縫等四種. 4.3 超聲檢驗(yàn)人員的視力應(yīng)每年檢查一次,校正視力不得低于1.0. 5 探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能 5.1 探傷儀 使用A型顯示脈沖反射式探傷儀,其工作頻率范圍至少為1-5MHz,探傷儀應(yīng)配備衰減器或增益控制器,其精度為任意相鄰12dB誤差在±1dB內(nèi).步進(jìn)級(jí)每檔不大于2dB, 總調(diào)節(jié)量應(yīng)大于60dB,水平線(xiàn)性誤差不大于1%,垂直線(xiàn)性誤差不大于5%. 5.2 探頭 5.2.1 探頭應(yīng)按ZB Y344標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定作出標(biāo)志. 5.2.2 晶片的有效面積不應(yīng)超過(guò)500mm2,且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于25mm. 5.2.3 聲束軸線(xiàn)水平偏離角應(yīng)不大于2&

24、#176;. 5.2.4 探頭主聲束垂直方向的偏離,不應(yīng)有明顯的雙峰,其測(cè)試方法見(jiàn)ZB Y231. 5.2.5 斜探頭的公稱(chēng)折射角為45°、60°、70°或K值為1.0、1.5、2.0、2.5,折射角的實(shí)測(cè)值與公稱(chēng)值的偏差應(yīng)不大于2°(K值偏差不應(yīng)超過(guò)±0.1),前沿距離的偏差應(yīng)不大于1mm.如受工件幾何形狀或探傷面曲率等限制也可選用其他小角度的探頭. 5.2.6 當(dāng)證明確能提高探測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,或能夠較好地解決一般檢驗(yàn)時(shí)的困難而又確保結(jié)果的正確,推薦采用聚焦等特種探頭. 5.3 系統(tǒng)性能 5.3.1 靈敏度余量 系統(tǒng)有效靈敏度必須大于

25、評(píng)定靈敏度10dB以上. 5.3.2 遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力 a.直探頭30dB; b.斜探頭:Z6dB. 5.4 探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能和周期檢查 5.4.1 探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能,除靈敏度余量外,均應(yīng)按ZB J04 001的規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試. 5.4.2 探傷儀的水平線(xiàn)性和垂直線(xiàn)性,在設(shè)備首次使用及每隔3個(gè)月應(yīng)檢查一次. 5.4.3 斜探頭及系統(tǒng)性能,在表1規(guī)定的時(shí)間內(nèi)必須檢查一次. 6 試塊 6.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸見(jiàn)附錄A,試塊制造的技術(shù)要求應(yīng)符合ZB Y232的規(guī)定,該試塊主要用于測(cè)定探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能. 6.2 對(duì)比試塊的形狀和尺寸見(jiàn)附錄B. 6.2.1 對(duì)比試塊采用與被檢驗(yàn)材料相同

26、或聲學(xué)性能相近的鋼材制成.試塊的探測(cè)面及側(cè)面,在以2.5MHz以上頻率及高靈敏條件下進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí),不得出現(xiàn)大于距探測(cè)面20mm處的2mm平底孔反射回來(lái)的回波幅度1/4的缺陷回波. 6.2.2 試塊上的標(biāo)準(zhǔn)孔,根據(jù)探傷需要,可以采取其他形式布置或添加標(biāo)準(zhǔn)孔,但應(yīng)注意不應(yīng)與試塊端角和相鄰標(biāo)準(zhǔn)孔的反射發(fā)生混淆. 6.2.3 檢驗(yàn)曲面工件時(shí),如探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí),應(yīng)采用與探傷面曲率相同的對(duì)比試塊.反射體的布置可參照對(duì)比試塊確定,試塊寬度應(yīng)滿(mǎn)足式(1): b2 S/De (1) 式中 b-試塊寬度,mm; -波長(zhǎng),mm; S-聲程,m; De-聲源有效直徑,mm 6.3 現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn),為校驗(yàn)靈

27、敏度和時(shí)基線(xiàn),可以采用其他型式的等效試塊. 7 檢驗(yàn)等級(jí) 7.1 檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí) 根據(jù)質(zhì)量要求檢驗(yàn)等級(jí)分為A、B、C三級(jí),檢驗(yàn)的完善程度A級(jí)最低,B級(jí)一般,C級(jí)最高,檢驗(yàn)工作的難度系數(shù)按A、B、C順序逐級(jí)增高.應(yīng)按照工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法、使用條件及承受載荷的不同,合理的選用檢驗(yàn)級(jí)別.檢驗(yàn)等級(jí)應(yīng)接產(chǎn)品技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選擇或經(jīng)合同雙方協(xié)商選定. 注:A級(jí)難度系數(shù)為1;B級(jí)為5-6;C級(jí)為10-12. 本標(biāo)準(zhǔn)給出了三個(gè)檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)條件,為避免焊件的幾何形狀限制相應(yīng)等級(jí)檢驗(yàn)的有效性,設(shè)計(jì)、工藝人員應(yīng)考慮超聲檢驗(yàn)可行性的基礎(chǔ)上進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和工藝安排. 7.2 檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)范圍 7.2.1 A

28、級(jí)檢驗(yàn)采用一種角度的探頭在焊縫的單面單側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn),只對(duì)允許掃查到的焊縫截面進(jìn)行探測(cè).一般不要求作橫向缺陷的檢驗(yàn).母材厚度大于50Mm時(shí),不得采用A級(jí)檢驗(yàn). 7.2.2 B級(jí)檢驗(yàn)原則上采用一種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn),對(duì)整個(gè)焊縫截面進(jìn)行探測(cè).母材厚度大于100mm時(shí),采用雙面雙側(cè)檢驗(yàn).受幾何條件的限制,可在焊縫的雙面半日側(cè)采用兩種角度探頭進(jìn)行探傷.條件允許時(shí)應(yīng)作橫向缺陷的檢驗(yàn). 7.2.3 C級(jí)檢驗(yàn)至少要采用兩種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn).同時(shí)要作兩個(gè)掃查方向和兩種探頭角度的橫向缺陷檢驗(yàn).母材厚度大于100mm時(shí),采用雙面?zhèn)葯z驗(yàn).其他附加要求是: a.對(duì)接焊縫余高要磨平,以便探頭在

29、焊縫上作平行掃查; b.焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材部分要用直探頭作檢查; c.焊縫母材厚度大于等于100mm,窄間隙焊縫母材厚度大于等于40mm時(shí),一般要增加串列式掃查,掃查方法見(jiàn)附錄C. 8 檢驗(yàn)準(zhǔn)備 8.1 探傷面 8.1.1 按不同檢驗(yàn)等級(jí)要求選擇探傷面.推薦的探傷面如圖5和表2所示. 8.1.2 檢驗(yàn)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域,這個(gè)區(qū)域最小10mm,最大20mm,見(jiàn)圖6. 8.1.3 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他外部雜技.探傷表面應(yīng)平整光滑,便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)6.3m,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行打磨: a.采用一次反射法

30、或串列式掃查探傷時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于1.25P: P=2tg (2) 或P=2K (3) 式中 P-跨距,mm; -母材厚度,mm b.采用直射法探傷時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于0.75P. 8.1.4 去除余高的焊縫,應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊.保留余高的焊縫,如焊縫表面有咬邊,較大的隆起凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?并作圓滑過(guò)渡以影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定. 8.1.5 焊縫檢驗(yàn)前,應(yīng)劃好檢驗(yàn)區(qū)段,標(biāo)記出檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào). 8.2 檢驗(yàn)頻率 檢驗(yàn)頻率f一般在2-5MHz范圍內(nèi)選擇,推薦選用2-2.5MHz公稱(chēng)頻率檢驗(yàn).特殊情況下,可選用低于2MHz或高于2.5MHz的檢驗(yàn)頻率,但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求. 8.

31、3 探頭角度 8.3.1 斜探頭的折射角或K值應(yīng)依據(jù)材料厚度,焊縫坡口型式及預(yù)期探測(cè)的主要缺陷來(lái)選擇.對(duì)不同板厚推薦的探頭角度和探頭數(shù)量見(jiàn)表2. 8.3.2 串列式掃查,推薦選用公稱(chēng)折射角為45°的兩個(gè)探頭,兩個(gè)探頭實(shí)際折射角相差不應(yīng)超過(guò)2°,探頭前洞長(zhǎng)度相差應(yīng)小于2mm.為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣未熔合缺陷,亦可選用兩個(gè)不同角度的探頭,但兩個(gè)探頭角度均應(yīng)在35°-55°范圍內(nèi). 8.4 耦合劑 8.4.1 應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或糊狀物作為耦合劑,耦合劑應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動(dòng)性,不應(yīng)對(duì)材料和人體有作用,同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理. 8.4.2 典型的耦合劑為水、

32、機(jī)油、甘油和漿糊,耦合劑中可加入適量的"潤(rùn)濕劑"或活性劑以便改善耦合性能. 8.4.3 在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn)應(yīng)采用相同的耦合劑. 8.5 母材的檢查 采用C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭作檢查,以便探測(cè)是否有有探傷結(jié)果解釋的分層性或其他缺陷存在.該項(xiàng)檢查僅作記錄,不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢驗(yàn).母材檢查的規(guī)程要點(diǎn)如下: a.方法:接觸式脈沖反射法,采用頻率2-5MHz的直探頭,晶片直徑10-25mm; b.靈敏度:將無(wú)缺陷處二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿(mǎn)幅的100%; c.記錄:凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿(mǎn)幅20%的部位,應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記,并予以記錄. 9 儀器調(diào)

33、整和校驗(yàn) 9.1 時(shí)基線(xiàn)掃描的調(diào)節(jié) 熒光屏?xí)r基線(xiàn)刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離l(簡(jiǎn)化水平距離l');深度h;或聲程S,見(jiàn)圖7. 9.1.1 探傷面為平面時(shí),可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線(xiàn)掃描調(diào)節(jié),掃描比例依據(jù)工件工和選用的探頭角度來(lái)確定,最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)至熒光屏?xí)r基線(xiàn)滿(mǎn)刻度的2/3以上. 9.1.2 探傷面曲率半徑R大于W2/4時(shí),可在平面對(duì)比試塊上或與探傷面曲率相近的曲面對(duì)比試塊上,進(jìn)行時(shí)基線(xiàn)掃描調(diào)節(jié). 9.1.3 探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí),探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合,在6.2.3條規(guī)定的對(duì)比試塊上作時(shí)基線(xiàn)掃描調(diào)節(jié). 9.2 距離-波幅(DAC)曲線(xiàn)的繪制 9.2.1

34、 距離-波幅曲線(xiàn)由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對(duì)比試塊上的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制見(jiàn)圖8,其繪制方法見(jiàn)附錄D,曲線(xiàn)由判廢線(xiàn)RL,定量線(xiàn)SL和評(píng)定線(xiàn)EL組成,不同驗(yàn)收級(jí)別的各線(xiàn)靈敏度見(jiàn)表3.表中的DAC是以3mm標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制的距離-波幅曲線(xiàn)-即DAC基準(zhǔn)線(xiàn).評(píng)定線(xiàn)以上至定量線(xiàn)以下為1區(qū)(弱信號(hào)評(píng)定區(qū));定量線(xiàn)至判廢線(xiàn)以下為區(qū)(長(zhǎng)度評(píng)定區(qū));判廢線(xiàn)及以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)(判廢區(qū)). 9.2.2 探測(cè)橫向缺陷時(shí),應(yīng)將各線(xiàn)靈敏度均提高6dB. 9.2.3 探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí),距離-波幅曲線(xiàn)的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行. 9.2.4 受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同,否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整見(jiàn)附錄E,

35、在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差在2dB以?xún)?nèi)可不進(jìn)行修整. 9.2.5 距離-波幅曲線(xiàn)可繪制在坐標(biāo)紙上也可直接繪制在熒光屏刻度板上,但在整個(gè)檢驗(yàn)范圍內(nèi),曲線(xiàn)應(yīng)處于熒光屏滿(mǎn)幅度的20%以上,見(jiàn)圖9,如果作不到,可采用分段繪制的方法見(jiàn)圖10. 9.3 儀器調(diào)整的校驗(yàn) 9.3.1 每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上,對(duì)時(shí)基線(xiàn)掃描比例和距離-波幅曲線(xiàn)(靈敏度)進(jìn)行調(diào)節(jié)或校驗(yàn).校驗(yàn)點(diǎn)沙于兩點(diǎn). 9.3.2 檢驗(yàn)過(guò)程中每4h之內(nèi)或檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線(xiàn)掃描和靈敏度進(jìn)行校驗(yàn),校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他兒試塊上進(jìn)行. 9.3.3 掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí),如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線(xiàn)上偏移超過(guò)原校驗(yàn)點(diǎn)刻度讀數(shù)的10%或滿(mǎn)刻度的5%(兩者

36、取較小值),則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整,前次校驗(yàn)后已經(jīng)記錄的缺陷,位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定,并予以更正. 9.3.4 靈敏度校驗(yàn)時(shí),如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離-波幅曲線(xiàn)降低20%或2dB以上,則儀靈敏度應(yīng)重新調(diào)整,并對(duì)前次校驗(yàn)后檢查的全部焊縫應(yīng)重新檢驗(yàn).如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離-波幅曲線(xiàn)增加20%或2dB以上,儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整,而前次校驗(yàn)后,已經(jīng)記錄的缺陷,應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重新測(cè)定并予以評(píng)定. 10 初始檢驗(yàn) 10.1 一般要求 10.1.1 超聲檢驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀(guān)檢查合格并滿(mǎn)足8.1.3條的要求后進(jìn)行. 10.1.2 檢驗(yàn)前,探傷人員應(yīng)了解受驗(yàn)工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲率、厚度、焊接方法、焊縫種類(lèi)

37、、坡口形式、焊縫余高及背面襯墊、溝槽等情況. 10.1.3 探傷靈敏度應(yīng)不低于評(píng)定線(xiàn)靈敏度. 10.1.4 掃查速度不應(yīng)大于150mm/s,相鄰兩次探頭移動(dòng)間隔保證至少有探頭寬度10%的重疊. 10.1.5 對(duì)波幅超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的反射波,應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及10.1.2條了解的焊縫情況,判斷其是否為缺陷.判斷為缺陷的部位應(yīng)在焊縫表面作出標(biāo)記. 10.2 平板對(duì)接焊縫的檢驗(yàn) 10.2.1 為探測(cè)縱向缺陷,斜探頭垂直于焊縫中心線(xiàn)在探傷面上,作鋸齒型掃查見(jiàn)圖11.探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū).在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí),還應(yīng)作10°-15

38、6;的左右轉(zhuǎn)動(dòng). 10.2.2 為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查. a. B級(jí)檢驗(yàn)時(shí),可寅 邊緣使探頭與焊縫中心線(xiàn)成10°-20°作斜平行的掃查(圖12); b. C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查(圖13),焊縫母材厚度超過(guò)100mm時(shí),應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種角度探頭(45°和60°或45°和70°并用)作單面兩個(gè)方向的平行掃查;亦可用兩個(gè)45°探頭作串列式平行掃查; c. 對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線(xiàn)成45°的斜向掃查. 10.2.3 為確定缺陷的位

39、置、方向、形狀、觀(guān)察缺陷動(dòng)態(tài)波 形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào),可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式(圖14). 10.3 曲面工件對(duì)接焊縫的檢驗(yàn) 10.3.1 探傷面為曲面時(shí),應(yīng)按6.2.3和9.1.3條的規(guī)定選用對(duì)比試塊,并采用10.2條的方法進(jìn)行檢驗(yàn),C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),受工件幾何形狀限制,橫向缺陷探測(cè)無(wú)法實(shí)施時(shí),應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明. 10.3.2 環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率半徑0.9-1.5倍的對(duì)比試塊均可采用.探測(cè)橫向缺陷時(shí)按10.3.3條的方法進(jìn)行. 10.3.3 縱縫檢驗(yàn)時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差應(yīng)小于10%. 10.3.3.1 根據(jù)工件的曲率

40、和材料厚度選擇探頭角度,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫厚度.條件允許時(shí),聲束在曲底面的入射角度不應(yīng)超過(guò)70°. 10.3.3.2 探頭接觸面修磨后,應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射角或K值的變化,并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定. 10.3.3.3 當(dāng)R大于W2/4采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí),檢驗(yàn)中應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離孤長(zhǎng)的差異,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正. 10.4 其他結(jié)構(gòu)焊縫的檢驗(yàn) 10.4.1 一般原則 a.盡可能采用平板焊縫檢驗(yàn)中已經(jīng)行之有效的各種方法; b.在選擇探傷面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各種類(lèi)型缺陷的可能性,并使聲束盡可能垂直于該

41、結(jié)構(gòu)焊縫中的主要缺陷. 10.4.2 T型接頭 10.4.2.1 腹板厚度不同時(shí),選用的折射角見(jiàn)表4,斜探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探傷見(jiàn)圖15位置2. 10.4.2.2 采用折射角45°(K1)探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探測(cè)焊縫及腹板側(cè)熱影響區(qū)的裂紋(圖16). 10.4.2.3 為探側(cè)腹板和翼板間未焊透或翼板側(cè)焊縫下層狀撕裂等缺陷,可采用直探頭(圖15位置1)或斜探頭(圖16位置3)在翼板外側(cè)探傷或采用折射角45°(K1)探頭在翼板內(nèi)側(cè)作一次反射法探傷(圖15位置3). 10.4.3 角接接頭 角接接頭探傷面及折射角一般按圖17和表4選擇. 10.4.4

42、管座角焊縫 10.4.4.1 根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式,管座角焊縫的檢驗(yàn)有如下五種探側(cè)方法,可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢驗(yàn).探測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定,并重點(diǎn)考慮主要探測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制(圖18、19). a.在接管內(nèi)壁表面采用直探頭探傷(圖18位置1); b.在容器內(nèi)表面用直探頭探傷(圖19位置1); c.在接管外表面采用斜探頭探傷(圖19位置2); d.在接管內(nèi)表面采用斜探頭探傷(圖18位置3,圖19位置3); e.在容器外表面采用斜探頭探傷(圖18位置2). 10.4.4.2 管座角焊縫以直探頭檢驗(yàn)為主,對(duì)直探頭掃查不到的區(qū)域或結(jié)構(gòu),缺陷向性不適于采用直探頭檢驗(yàn)時(shí),可采用斜探頭檢驗(yàn)

43、,斜探頭檢驗(yàn)應(yīng)符合10.4.1條的規(guī)定. 10.4.5 直探頭檢驗(yàn)的規(guī)程 a.推薦采用頻率2.5Mhz直探頭或雙晶直探頭,探頭與工件接觸面的尺寸W應(yīng)小于2R; b.靈敏度可在與工件同曲率的試塊上調(diào)節(jié),也可采用計(jì)算法或DGS曲線(xiàn)法,以工件底面回波調(diào)節(jié).其檢驗(yàn)等級(jí)評(píng)定見(jiàn)表5. 11 規(guī)定檢驗(yàn) 11.1 一般要求 11.1.1 規(guī)定檢驗(yàn)只對(duì)初始檢驗(yàn)中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗(yàn). 11.1.2 探傷靈敏度應(yīng)調(diào)節(jié)到評(píng)定靈敏度. 11.1.3 對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線(xiàn)的缺陷,均應(yīng)確定其位置,最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度. 11.2 最大反射波幅的測(cè)定 11.2.1 對(duì)判定為缺陷的部位,采取10.2.3條的

44、探頭掃查方式、增加探傷面、改變探頭折射角度進(jìn)行探測(cè),測(cè)出最大反射波幅并與距離-波幅曲線(xiàn)作比較,確定波幅所在區(qū)域.波幅測(cè)定的允許誤差為2DB. 11.3 位置參數(shù)的測(cè)定 11.3.1 缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來(lái)表示,根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置來(lái)確定如下全部或部分參數(shù). a.縱坐標(biāo)L代表缺陷沿焊縫方向的位置.以檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)為標(biāo)記基準(zhǔn)點(diǎn)(即原點(diǎn))建立坐標(biāo).坐標(biāo)正方向距離L表示缺陷到原點(diǎn)之間的距離見(jiàn)圖20; b.深度坐標(biāo)h代表缺陷位置到探傷面的垂直距離(mm).以缺陷最大反射波位置的深度值表示; c.橫坐標(biāo)q代表缺陷位置離開(kāi)焊縫中心線(xiàn)的垂直距離,可由缺陷最大反射波位置的水平距

45、離或簡(jiǎn)化水平距離求得. 11.3.2 缺陷的深度和水平距離(或簡(jiǎn)化水平距離)兩數(shù)值中的一個(gè)可由缺陷最大反射波在熒光屏上的位置直接讀出,另一數(shù)值可采用計(jì)算法、曲線(xiàn)法、作圖法或缺陷定位尺求出. 11.4 尺寸參數(shù)的測(cè)定 應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量值或測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度l. 11.4.1 缺陷當(dāng)量,用當(dāng)量平底孔直徑表示,主要用于直探頭檢驗(yàn),可采用公式計(jì)算,DGS曲線(xiàn),試塊對(duì)比或當(dāng)量計(jì)算尺確定缺陷當(dāng)量尺寸. 11.4.2 缺陷指示長(zhǎng)度l的測(cè)定推薦采用如下二種方法. a.當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí),用降低6dB相對(duì)靈敏度法測(cè)長(zhǎng)見(jiàn)圖21; b.在測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中,如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高

46、點(diǎn),則以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度確定為缺陷指示長(zhǎng)度,即端點(diǎn)峰值法見(jiàn)圖22. 12 缺陷評(píng)定 12.1 超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征,如有懷疑時(shí) 采取改變探頭角度,增加探傷面、觀(guān)察動(dòng)態(tài)波型、結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定,如對(duì)波型不能準(zhǔn)確判斷時(shí),應(yīng)輔以其他檢驗(yàn)作綜合判定. 12.2 最大反射波幅位于區(qū)的缺陷,其指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí)按5mm計(jì). 12.3 相鄰兩缺陷各向間距小于8mm時(shí),兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度. 13 檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)分類(lèi) 13.1 最大反射波幅位于區(qū)的缺陷,根據(jù)缺陷指示長(zhǎng)度按表6的規(guī)定予以評(píng)級(jí). 13.2 最大反射波幅不超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的

47、缺陷,均應(yīng)為級(jí). 13.3 最大反射波幅超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的缺陷,檢驗(yàn)者判定為裂紋等危害性缺陷時(shí),無(wú)論其波幅和尺寸如何,均評(píng)定為級(jí). 13.4 反射波幅位于區(qū)的非裂紋性缺陷,均評(píng)為級(jí). 13.5 反射波幅位于區(qū)的缺陷,無(wú)論其指示長(zhǎng)度如何,均評(píng)定為級(jí). 13.6 不合格的缺陷,應(yīng)予返修,返修區(qū)域修后,返修部位及補(bǔ)焊受影響的區(qū)域,應(yīng)按原探傷條件進(jìn)行復(fù)驗(yàn),復(fù)探部位的缺陷亦應(yīng)按12章評(píng)定. 14 記錄與報(bào)告 14.1 檢驗(yàn)記錄主要內(nèi)容:工件名稱(chēng)、編號(hào)、焊縫編號(hào)、坡口形式、焊縫種類(lèi)、母材材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、檢驗(yàn)規(guī)程、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、所使用的儀器、探頭、耦合劑、試塊、掃描比例、探傷靈敏度.所發(fā)現(xiàn)的超標(biāo)缺陷及

48、評(píng)定記錄,檢驗(yàn)人員及檢驗(yàn)日期等.反射波幅位于區(qū),其指示長(zhǎng)度小于表6的缺陷也應(yīng)予記錄. 14.2 檢驗(yàn)報(bào)告主要內(nèi)容:工件名稱(chēng)、合同號(hào)、編號(hào)、探傷方法、探傷部位示意圖、檢驗(yàn)范圍、探傷比例收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗(yàn)人員及審核人員簽字等. 14.3 檢驗(yàn)記錄和報(bào)告應(yīng)至少保存7年. 14.4 檢驗(yàn)記錄和報(bào)告的推薦格式見(jiàn)附錄F. 附錄A 標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸 (補(bǔ)充件) 注:尺寸公差±0.1;各邊垂直度不大于0.05;C面尺寸基準(zhǔn)面,上部各折射角刻度尺寸值見(jiàn)表A1,下部見(jiàn)表A2. 附錄B 對(duì)比試塊的形狀和尺寸 (補(bǔ)充件) B1 對(duì)比試塊的形狀和尺寸見(jiàn)表B1. 注:尺寸公差

49、7;0.1mm; 各邊垂直度不大于0.1; 表面粗糙度不大于6.3m; 標(biāo)準(zhǔn)孔與加工面的平行度不大于0.05. 附錄C 串列掃查探傷方法 (補(bǔ)充件) C1 探傷設(shè)備 C1.1 超聲波探傷儀的工作方式必須具備一發(fā)一收工作狀態(tài). C1.2 為保證一發(fā)一收探頭相對(duì)于串列基準(zhǔn)線(xiàn)經(jīng)常保持等距離移動(dòng),應(yīng)配備適宜的探頭夾具,并適用于橫方型及縱方型兩種掃查方式. C1.3 推薦采用,頻率2-2.5Mhz,公稱(chēng)折射角45°探頭,兩探頭入射點(diǎn)間最短間距應(yīng)小于20mm. C2 儀器調(diào)整 C2.1 時(shí)基線(xiàn)掃描的調(diào)節(jié)采用單探頭按標(biāo)準(zhǔn)正文9.1 的方法調(diào)節(jié),最大探測(cè)范圍應(yīng)大于1跨距聲程. C2.2 靈敏度調(diào)整

50、在工件無(wú)缺陷部位,將發(fā)、收兩探頭對(duì)向放置,間距為1跨距,找到底面最大反射波見(jiàn)圖C1及式C1,調(diào)節(jié)增益使反射波幅為熒光屏滿(mǎn)幅高度的40%,并以此為基準(zhǔn)波高.靈敏度分別提高8dB、14dB和20dB代表判廢靈敏度、定量靈敏度和評(píng)定靈敏度. C3 檢驗(yàn)程序 C3.1 檢驗(yàn)準(zhǔn)備 a.探傷面對(duì)接焊縫的單面雙側(cè); b.串列基準(zhǔn)線(xiàn)如發(fā)、收兩探頭實(shí)測(cè)折射角的平均值為或K值平均為K.在離參考線(xiàn)(參考線(xiàn)至探傷截面的距離L'-0.5P)的位置標(biāo)記串列基準(zhǔn)線(xiàn),見(jiàn)圖C2及式C2. 0.5P=tg (C1) 或0.5P=K (C2) C3.2 初始探傷 C3.2.1 探傷靈敏度不低于評(píng)定靈敏度. C3.2.2 掃

51、查方式采用橫方形或縱方形串列掃查,掃查范圍以串列基準(zhǔn)線(xiàn)為中心盡可能掃查到整個(gè)探傷截面,每個(gè)探傷截面應(yīng)掃查一遍. C3.2.3 標(biāo)記超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的反射波,被判定為缺陷時(shí),應(yīng)在焊縫的相應(yīng)位置作出標(biāo)記. C3.3 規(guī)定探傷 C3.3.1 對(duì)象只對(duì)初始檢驗(yàn)標(biāo)記部位進(jìn)行探傷. C3.3.2 探傷靈敏度為評(píng)定靈敏度. C3.3.3 缺陷位置不同深度的缺陷,其反射波均出現(xiàn)在相當(dāng)于半跨距聲程位置見(jiàn)圖C3.缺陷的水平距離和深度分別為: (C3) (C4) C3.3.4 缺陷以射波幅在最大反射波探頭位置,以40%線(xiàn)為基準(zhǔn)波高測(cè)出缺陷反射波的dB數(shù)作為缺陷的相對(duì)波幅,記為SL±-dB. C3.3.5 缺陷指

52、示長(zhǎng)度的測(cè)定 采用以評(píng)定靈敏度為測(cè)長(zhǎng)靈敏度的絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度.即進(jìn)行左右掃查(橫方形串列掃查),以波幅超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的探頭移動(dòng)范圍作為缺陷指示長(zhǎng)度. C4 缺陷評(píng)定 所有反射波幅度超過(guò)評(píng)定線(xiàn)的缺陷均應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)正文第12章的規(guī)定予以評(píng)定,并按第13章的規(guī)定對(duì)探傷結(jié)果作等級(jí)分類(lèi). 附錄D 距離-波幅(DAC)曲線(xiàn)的制作 (補(bǔ)充件) D1 試件 D1.1 采用標(biāo)準(zhǔn)附錄B對(duì)比試塊或其他等效形式試塊繪制DAC曲線(xiàn). D1.2 R小于等于W2/4時(shí),應(yīng)采用探傷面曲率與工件探傷面曲率相同或相近的對(duì)比試塊. D2 繪制步驟 DAC曲線(xiàn)可繪制在坐標(biāo)紙上(稱(chēng)DAC曲線(xiàn)),亦可直接繪制在熒光屏前透明的刻度板上

53、(稱(chēng)DAC曲線(xiàn)板). D2.1 DAC曲線(xiàn)的繪制步驟如下: a.將測(cè)試范圍調(diào)整到探傷使用的最大探測(cè)范圍,并按深度、水平或聲程法調(diào)整時(shí)基線(xiàn)掃描比例; b.根據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊,選取試塊上民探傷深度相同或接近的橫孔為第一基準(zhǔn)孔,將探頭置于試塊探傷面聲束指向該孔,調(diào)節(jié)探頭位置找到橫孔的最高反射波; c.調(diào)節(jié)"增益"或"衰減器"使該反射幅為熒光屏上某一高度(例如滿(mǎn)幅的40%)該波高即為"基準(zhǔn)波高",此時(shí),探傷系統(tǒng)的有效靈敏度應(yīng)比評(píng)定靈敏度高10dB; d.調(diào)節(jié)衰減器,依次探測(cè)其他橫孔,并找到最大反射波高,分別記錄各反射波的相對(duì)波幅值(d; e.以波幅(d為縱坐標(biāo),以探沿距離(聲程、深度或水平距離)為橫坐標(biāo),將c、d記錄數(shù)值描繪在坐標(biāo)紙上; f.將標(biāo)記各點(diǎn)連成圓滑曲線(xiàn),并延長(zhǎng)到整個(gè)探測(cè)范圍,最近探測(cè)點(diǎn)到探距離O點(diǎn)間畫(huà)水平線(xiàn),該曲線(xiàn)即為3mm橫孔DAC曲線(xiàn)的基準(zhǔn)線(xiàn); g.依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)正文表3規(guī)定的各線(xiàn)靈敏度,在基準(zhǔn)線(xiàn)下分別繪出判廢線(xiàn)、定量線(xiàn)、評(píng)定線(xiàn),并標(biāo)記波幅的分區(qū); h.為便于現(xiàn)場(chǎng)探傷校驗(yàn)靈敏度,在測(cè)試上述數(shù)據(jù)的同時(shí),可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜試塊上的某一參考反射體進(jìn)行同樣測(cè)量,記錄其反射波位置和反射波幅(d并標(biāo)記在DAC曲線(xiàn)圖上. D2.2 DAC曲線(xiàn)的繪制步驟如下: a.同D2.1a; b.依據(jù)工件厚度和曲率選