某公司LED可靠性試驗(yàn)規(guī)范

1、LED可靠性試驗(yàn)規(guī)范1目的對(duì)本公司LED產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行評(píng)估，確保產(chǎn)品質(zhì)量滿足客戶需求。2適用范圍適用于量產(chǎn)產(chǎn)品、材料或工藝試驗(yàn)產(chǎn)品。3職責(zé)工程技術(shù)部負(fù)責(zé)產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的組織管理工作，并負(fù)責(zé)試驗(yàn)樣品的挑選和測(cè)試。4設(shè)備淋雨試驗(yàn)箱 XB-ME-OTS ；冷熱沖擊試驗(yàn)箱XB-OTS-500-A;恒溫恒濕試驗(yàn)箱XB-OTS-320A-B精密型鹽霧試驗(yàn)機(jī)XB-120 ；LED專用精密光電烤箱5.1環(huán)境試驗(yàn)條件及失效判試驗(yàn)項(xiàng)目試驗(yàn)條件失效判定標(biāo)準(zhǔn)淋雨試驗(yàn)一、樣品架轉(zhuǎn)速：15 1r /min可調(diào)二、擺管擺幅：士 45、士 60、士 901、金屬表面鍍層起泡變色；塑膠一、鹽溶液部分有腐蝕現(xiàn)象。b)用分析純的

2、氯化鈉加純水調(diào)制。2、LEDc)濃度 5% PH值 6.5-7.2測(cè)試后不能點(diǎn)d)若濃度符合了二PH值不對(duì)，可用亮出光。分析純的鹽酸試劑或分析純的氫氧化鈉試劑來校正PH值。e)PH值要在鹽溶液達(dá)到 35 C后再測(cè)。、試驗(yàn)時(shí)間鹽水噴霧試驗(yàn)a)連續(xù)不斷噴24h （國際要求）。b)噴8h，停16h，做3個(gè)循環(huán)。三、試驗(yàn)箱內(nèi)溫度應(yīng)保持在352C；飽和桶內(nèi)溫度應(yīng)保持在47士 2C四、落霧量應(yīng)保持在每小時(shí)1-2ml。五、噴霧壓力為1.0 O.lkgf cm 2。六、試驗(yàn)兀成后應(yīng)用自來水沖洗器件5分鐘，再用純水漂洗，然后用手搖動(dòng)去掉水滴，并在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下放置1h以上或2h以下。、溫度范圍-40 C-100

3、 C1、正向電壓偏移冷熱沖擊、持續(xù)時(shí)間15min,轉(zhuǎn)換時(shí)間w 20s 200mV三、周期50循環(huán)2、光誦量衰減四、試驗(yàn)完成后需在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下恢 復(fù)2h再進(jìn)行測(cè)試。15%3、反向漏電流10 a A高低溫循環(huán)一、溫度范圍-40 C 150C -40 C二、持續(xù)時(shí)間30min,轉(zhuǎn)換時(shí)間w 20s三、周期100循環(huán)高/低溫儲(chǔ)存一、高溫溫度為 85 C，低溫溫度為-40 C二、時(shí)間 168( + 16 或-10 )h/1000 ( +36 或-30) h三、若無具他規(guī)定試驗(yàn)完成后要在標(biāo) 準(zhǔn)大氣條件下恢復(fù)2h。1、正向電壓偏移 200mV2、光誦量衰減15%3、反向漏電流10 a A高溫高濕儲(chǔ)存Ta=85

4、C, RH=85%,168/1000h注：1、試驗(yàn)完成后，需待產(chǎn)品在室溫下達(dá)到熱平衡再進(jìn)行光電測(cè)試(測(cè)試前點(diǎn)亮30min)。2、高壓蒸汽試驗(yàn)完成后，樣品應(yīng)在正常氣候條件下恢復(fù)16h5.2壽命試驗(yàn)條件及失效判定試驗(yàn)項(xiàng)目試驗(yàn)條件失效判定標(biāo)準(zhǔn)常溫壽命試驗(yàn)Ta=25 C , IF二 Istd ,時(shí)間168/1000h1、正向電壓偏移200mV2、光誦量衰減15%3、反向漏電流10a A高/低溫壽命試驗(yàn)Ta=85C /-40 C, IF= Istd，時(shí)間168/1000h高溫高濕壽命Ta=85C ,RH=85%, IF= Istd，時(shí)試驗(yàn)間 168/1000h5.3試驗(yàn)環(huán)境條件5.5.1 溫度：-5 C

5、40C,且24h內(nèi)的平均溫度不超過35C;5.5.2 相對(duì)濕度:最高溫度為40C，空氣的相對(duì)濕度不超過 50%在較低溫度 下允許有較高的相對(duì)濕度，在20 C時(shí)可達(dá)90%或按被試驗(yàn)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)條 件規(guī)定的使用環(huán)境條件下進(jìn)行。6工作程序6.1試驗(yàn)樣品根據(jù)要求對(duì)接收的若干實(shí)驗(yàn)樣品進(jìn)行實(shí)驗(yàn).6.2 試驗(yàn)樣品的檢測(cè)6.2.1 試驗(yàn)前檢測(cè)：試驗(yàn)前先對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行檢測(cè)，檢查試驗(yàn)樣品的零部件有 無損壞、變形、斷裂等，剔除零部件損壞、變形、斷裂等。6.2.2 試驗(yàn)中檢測(cè)：6.2.2.1 按照需要對(duì)試驗(yàn)中的試驗(yàn)樣品的光電參數(shù)進(jìn)行測(cè)試。6.2.2.2 試驗(yàn)中不允許對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行清理和調(diào)整。6.2.2.3 試驗(yàn)中當(dāng)

6、某試驗(yàn)樣品出現(xiàn)下列任一種情況時(shí)，即認(rèn)為該試驗(yàn)樣品失 效。a）部件有破壞性損壞，如燒焦，斷裂等現(xiàn)象；b）光通量衰減值超過初始光通量的 70%c）試驗(yàn)樣品正向壓降的變化值超過初始?jí)航档?0%d）通電時(shí)，試驗(yàn)樣品不正常工作，如非正常閃爍。6.2.3 試驗(yàn)后檢測(cè):a) 部件有無破損、斷裂；b) 正向壓降；c) 波長；d) 光通量。試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)后檢測(cè)中， 任一項(xiàng)目的檢測(cè)結(jié)果不符合產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定， 即 認(rèn)為該試驗(yàn)樣品失效。 其失效時(shí)間按試驗(yàn)結(jié)束時(shí)的循環(huán)次數(shù)計(jì)算， 失效數(shù)為 1。6.3 試驗(yàn)結(jié)束后，卸除散熱裝置，整理回收其他電器設(shè)備等。6.4 統(tǒng)計(jì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，并記入LED可靠性試驗(yàn)報(bào)告中，試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)寫明試驗(yàn)

7、 的依據(jù)和要求、 失效試驗(yàn)樣品編號(hào)、 失效時(shí)間及失效原因， 作出試驗(yàn)是否 合格的判定。7 相關(guān)文件GB-T 1772-1979 電子元器件失效率試驗(yàn)方法GB 4590-84 半導(dǎo)體集成電路機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法MIL-STD-883E 美國國防部微電子試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)8 相關(guān)記錄Y R-8.2.4-65LED可靠性試驗(yàn)報(bào)告9 試驗(yàn)流程1、可靠性試驗(yàn)需求的提出。按要求填寫LED可靠性試驗(yàn)申請(qǐng)并經(jīng)領(lǐng)導(dǎo)批準(zhǔn)。2、記錄 實(shí)驗(yàn)員對(duì)試驗(yàn)樣品的品種、批號(hào)、數(shù)量、日期、試驗(yàn)名稱、條件、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?等信息的記錄并制成EXCEL表格存檔。七、 試驗(yàn)前測(cè)試對(duì)試驗(yàn)樣品光電參數(shù)等信息進(jìn)行測(cè)試并保存數(shù)據(jù)八、 試驗(yàn)前準(zhǔn)備根據(jù)試驗(yàn)要求和條件， 對(duì)試驗(yàn)設(shè)備進(jìn)行檢查和調(diào)試， 提供散熱器的裝配 （鋁 基板、熱沉等）和電路搭配的器件。5、試驗(yàn)日常追蹤和測(cè)試試驗(yàn)過程中對(duì)試驗(yàn)追蹤與測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄并保存6、