超聲檢測(cè)公式

1、超聲檢測(cè)公式可編輯1.周期和頻率的關(guān)系，二者互為倒數(shù)：T=1/f 2.波速、波長(zhǎng)和頻率的關(guān)系: 3.Cl : Cs - Cr= 1.8： 1 ： 0.94聲壓：P= P1 P0帕斯卡（Pa）微帕斯卡（iPa） 1P吐 1N/m 21Pa 1（f（P6聲阻抗:Z= p/ucu/uc 單位為克/厘米2 秒（g/cm2 s）或千克/米2 秒（kg/m2 s）7聲強(qiáng)；I = !zu222Z8.聲強(qiáng)級(jí)貝爾（BeL)9聲強(qiáng)級(jí)即分貝(dB)單位；瓦/厘米2 （W/cm2 ）或 焦耳/厘米2 秒 = lgl2/I 1(BeL) = 10lgl2/I 1=20lgP2/P i (dB)10.儀器示波屏上的波高與

2、回波聲壓成正比：11聲壓反射率、透射率:r=Pr / P 020lgF2/P1 = 20lgH2/H t =Pt / P01(dB)(J/cm2 s)(1 r)/Z1t/Z2r=PL NZP0 Z2 Z1t=P0乙一第一種介質(zhì)的聲阻抗;乙一第二種介質(zhì)的聲阻抗12聲強(qiáng)反射率：r= IlI 02Z2 Z!Z2 乙聲強(qiáng)透射率：T4Z1Z2Z2 Z1 2T+R=1t r =113.聲壓往復(fù)透射率；T往=4zz忑ZTT2sin L sin LsinSsin Lsin SCl2、C-2第二介質(zhì)中的縱波、橫波波速;14縱波斜入射：-=-= S =-=-Cl1、Cs1第一介質(zhì)中的縱波、橫波波速；cL1cL1c

3、S1cL2cS2a、aL縱波入射角、反射角；3-、他一縱波、橫波折射角；as橫波反射角。cc15縱波入射時(shí)：第一臨界角a : 3=90。時(shí)ai = arcs in 丄第二臨界角a：3=90時(shí)如=arcs in 匕cL2cS216有機(jī)玻璃橫波探頭a l=27.657.7 ,有機(jī)玻璃表面波探頭a l 57.7水鋼界面 橫波a=14.527.2717橫波入射：第三臨界角：當(dāng)aL=90時(shí)如= arcsin 匹=33.2。當(dāng)ask332時(shí)，鋼中橫波全反射。Cl1有機(jī)玻璃橫波入射角a s （等于橫波探頭的折射角3 -） =3555,即K=tg 3=0.71.43時(shí)，檢測(cè)靈敏度最高。20 lg Bm/Bn1

4、8衰減系數(shù)的計(jì)算1.薄板：2( nm ) xo=(Bn-Bm-20lg n/m)/2x(m-n)衰減系數(shù)，dB/m （單程）；(BnBm）兩次底波分貝值之差，dB；S為反射損失，每次反射損失約為（0.51）dB;X為薄板的厚度T :工件檢測(cè)厚度，mm； N :單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度,mm； m、n底波反射次數(shù)20lg B! / B 262、厚板或粗圓柱體：2 xa=(Bn-Bm-6)/2x(B1B2）兩次底波分貝值之差,dB；19.圓盤(pán)波源輻射的縱波聲場(chǎng)聲壓為:P2Po RsPqFsxxD 220近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度：Ns4Rs2Fs21.圓晶片輻射的聲束半擴(kuò)散角為：070 /D22.波束未擴(kuò)散區(qū)：b 1

5、.64N23矩形波源輻射的縱波聲場(chǎng)：波束軸線上的聲壓：X 3N時(shí)，PP0F / X24.矩形波源的近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度為：N 25.矩形波源的半擴(kuò)散角0 :X方向的半擴(kuò)散角為:57Y方向的半擴(kuò)散角為:26.近場(chǎng)區(qū)在兩種介質(zhì)中的分布：1基于鋼中的近場(chǎng)區(qū)2aN2 只有介質(zhì)h時(shí),鋼中近場(chǎng)長(zhǎng)度;27.橫波軸線上的聲壓；pKF S coss2 cos28橫波聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度為:Fs cosS2 cosd4 2L0C22、基于水中的近場(chǎng)區(qū)（氏 l）92 介質(zhì)H鋼中波長(zhǎng)4 2c2C1 介質(zhì)I水中波速;c2 介質(zhì)H鋼中波速K 系數(shù)；Fs 波源的面積；s2 第二介質(zhì)中橫波波長(zhǎng);x 軸線上某點(diǎn)至假想波源的距離29.橫波聲場(chǎng)

6、中，第二介質(zhì)中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度 N為：N NL2,tan-L1 -s2xcostanFS cosFS 波源的面積;s2 第二介質(zhì)中橫波波長(zhǎng);L1 入射點(diǎn)至波源的距離L2 入射點(diǎn)至假想波源的距離30.橫波半擴(kuò)散角1.對(duì)于圓片形聲源:arcsin 1.22S2D S27002 2.對(duì)于矩形正方形聲源:Ds. S2arcs in 2a31.規(guī)則反射體的反射波聲壓公式X 3N1.平底孔回波聲壓;PfPxFfPFsFf2 2 任意兩個(gè)距離和直徑不同的平底孔反射波聲壓之比為： xPf112D f 2X12.長(zhǎng)橫孔回波聲壓；Pf2 x 2x任意兩個(gè)距離、直徑不同的長(zhǎng)橫孔回波分貝差為:1220 lgPf1Pf21

7、0D f 1 X2D f 2 X13.短橫孔回波聲壓;PfPoFs If Df2 x x L任意兩個(gè)距離、長(zhǎng)度和直徑不同的短橫孔回波分貝差為:1220 lg 電P f 210 lgD f 2ifjl：24 空4X14.球孔回波聲壓：PfPoFs Df任意兩個(gè)距離度和直徑不同的球孔回波分貝差為：2 x 2x12Pf120咕20lg2X22X1D f15.大平底面或?qū)嵭膱A柱體回波聲壓:Pb fa兩個(gè)不同距離的大平底回波分貝差為:PB112 20lgPB1PB2X220lgX16.空心圓柱體 1.外柱面徑向檢測(cè)空心圓柱體：PB2.內(nèi)孔檢測(cè)圓柱體：Pb2 x、DP0FsD2 x d注意：以上各種規(guī)則反

8、射體的反射波聲壓公式均未考慮介質(zhì)衰減，如果考慮介質(zhì)衰減，則所有公式均應(yīng)增加2axe阪P0 :波源的起始聲壓；FS :探頭波源的面積，F(xiàn)SD.2/4 : X :反射體至波源的距離。Ff :平底孔缺陷的面積，F(xiàn)fD2 /4:波長(zhǎng),橫孔的直徑，Lf:短橫孔長(zhǎng)度D:空心圓柱體外經(jīng)d:空心圓柱體內(nèi)徑:介質(zhì)單程衰減系數(shù)，dB/mm32同距離的大平底與平底孔反射波dB差:33當(dāng)用平底面的和實(shí)心圓柱體曲底面調(diào)節(jié)靈敏度時(shí)，不同距離處的大平底與平底孔回波分貝差為:Bf20g2 x2DfXB2 （XfXb）X f :平底孔缺陷至檢測(cè)面的距離；XB :鍛件底面至檢測(cè)面的距離:材質(zhì)衰減系數(shù);入波長(zhǎng);Df :平底孔缺陷的

9、當(dāng)量直徑;Bf :底波與平底孔缺陷的反射波分貝差BfP34.不同平底孔回波分貝差為：12 20|g 40lgPf2DfiX2Df 2X12（X2 為）35.當(dāng)用空心圓柱體內(nèi)孔或外圓曲底面調(diào)節(jié)平底孔靈敏度時(shí)：Bf20Df Xb10IgD 2（XfXB）d 空心圓柱體的內(nèi)徑；D 空心圓柱體的外徑;“+ ”外圓徑向探測(cè),內(nèi)孔凸柱面反射；內(nèi)孔徑向探測(cè)，外圓凹柱面反射;Bf 圓柱曲底面與平底孔缺陷的回波分貝差。36水浸法波型分析，水層厚度 H = n 437.管材周向檢測(cè)純橫波檢測(cè)條件:CL有.sinCLCl有cs鋼38.t純橫波到達(dá)內(nèi)壁條件：vDidC S2）CL2sin39.水浸法： 聲透鏡：rCi

10、1水層厚度:h XS（ XS 管中橫波聲程）240.采用一次反射法檢測(cè)時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于2.橫波檢測(cè)到管材內(nèi)壁偏心距：X 0.251 R焦距：F H1.25P （即 2.5KT）:1）采用直射法時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于或等于0.75P（即1.5KT）。P=2KT式中：P:跨距，mm;T:母材厚度，mm; K :探頭K值;41.為保證直射波與一次反射波能掃查到焊縫整個(gè)截面，K值應(yīng)滿(mǎn)足下式:sin0.458 r0.251R T42按聲程調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)：當(dāng)儀器接聲程1: n調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)采用聲程定位法來(lái)確定缺陷的位置。用直射法（一次波）檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)：x f sin用一次反射法（二次波）檢測(cè)

11、發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)x f sinn f sin2.2rn f sind f x f cosn f cos2T Xf cos 2T n f cosxf:缺陷的橫波聲程;:缺陷波前沿所對(duì)的刻度值;:探頭的折射角;T:板厚；If :缺陷的水平距離;df:缺陷至檢測(cè)面的深度。43.按水平調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)當(dāng)儀器按水平1: n調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)采用水平定位法來(lái)確定缺陷的位置。若儀器按水平1: 1調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，那么顯示屏上缺陷波前沿所對(duì)應(yīng)的水平刻度值f就是缺陷的水平距離|f:用直射法（一次波）檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)：lf n fdffK一次反射法（二次波）檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)：lf n fdf2T匕式中 K:探頭的K值，K= t

12、gK44、按深度調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)：當(dāng)儀器按深度 1: n調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)采用深度定位法來(lái)確定缺陷的位置。若儀器按深度 1: 1調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，那么顯示屏上缺陷 波前沿所對(duì)應(yīng)的水平刻度值f就是缺陷的深度dfIf Khf Kn fIf Kn f用直射法（一次波）檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)：d f n f1、超聲波的特點(diǎn):1方向性好2.能量高3.能在界面上產(chǎn)生反射、折射、衍射和波型轉(zhuǎn)換型轉(zhuǎn)換4.穿透能力強(qiáng)2、超聲波檢測(cè)：使超聲波與工件相互作用，就反射、投射和散射的波進(jìn)行研究，對(duì)工件進(jìn)行宏觀缺陷檢測(cè)、幾何特征測(cè)量、組織結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能變化的檢測(cè)和表征，用一次反射法（二次波）檢測(cè)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)： df 2T - n f并

13、進(jìn)而對(duì)其特定應(yīng)用性進(jìn)行評(píng)價(jià)的技術(shù)。3、超聲波檢測(cè)的優(yōu)點(diǎn)：1適用于金屬、非金屬和復(fù)合材料等多種制件的無(wú)損檢測(cè)； 2穿透能力強(qiáng)，可對(duì)較大厚度范圍內(nèi)的工件內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測(cè)；3缺陷定位較準(zhǔn)確；4對(duì)面積型缺陷的檢出率較高；5靈敏度高，可檢測(cè)工件內(nèi)部很小的缺陷；6檢測(cè)成本低、速度快，設(shè)備輕便，對(duì)人體及環(huán)境無(wú)害，現(xiàn)場(chǎng)使用方便等 缺點(diǎn)：1） 對(duì)缺陷的定性、定量仍需要作進(jìn)一步研究；2）對(duì)具有復(fù)雜形狀或不規(guī)則外型的工件進(jìn)行超聲波檢測(cè)有困難； 3）缺陷的取向、位置和形狀對(duì)檢測(cè)結(jié)果有影響； 4） 工 件材質(zhì)、晶粒度對(duì)檢測(cè)有較大影響， 5） A型脈沖反射法檢測(cè)結(jié)果是波形顯示，不直觀，檢測(cè)結(jié)果無(wú)直接見(jiàn)證記錄。5機(jī)械波必須

14、具備以下兩個(gè)條件：1、要有作機(jī)械振動(dòng)的波源；2、能傳播機(jī)械振動(dòng)的彈性介質(zhì)。6衰減的原因擴(kuò)散衰減、散射衰減、吸收衰減介質(zhì)衰減通常是指吸收衰減和散射衰減，而不包括擴(kuò)散衰減。7、雙晶探頭具有以下優(yōu)點(diǎn)：（1）靈敏度高（2）雜波少盲區(qū)?。?）工件中近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度小（4）探測(cè)范圍可調(diào)8超聲波探頭對(duì)晶片的要求：（1）機(jī)電耦合系數(shù)K較大，以便獲得較高的轉(zhuǎn)換效率。（2）機(jī)械品質(zhì)因子Om較小，以便獲得較高分辨力和較小的盲區(qū)。（3）壓電應(yīng) 變常數(shù)d33和壓電電壓常數(shù)g33較大，以便獲得較高的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度。 （4）頻率常數(shù)Nt較大，介電常數(shù)較小，以便獲得較高的頻率。（5）居里溫度Tc較 高，聲阻抗Z適當(dāng)。9儀器

15、和探頭的綜合性能：1.靈敏度.2盲區(qū)與始脈沖寬度3.分辨力 4.信噪比5頻率10、 雙探頭法又可根據(jù)兩個(gè)探頭排列方式：并列法、交叉法、V型串列法、K型串列法、前后串列法等。11、 選擇檢測(cè)儀器1、對(duì)于定位要求高的情況，應(yīng)選擇水平線性誤差小的儀器。 2、對(duì)于定量要求高的情況，應(yīng)選擇垂直線性好，衰減器精度高的儀器。3、對(duì)于大型零件的檢測(cè)，應(yīng)選擇靈敏度余量高、信噪比高、功率大的儀器。 4、為了有效的發(fā)現(xiàn)近表面缺陷和區(qū)分相鄰缺陷，應(yīng)選擇盲區(qū)小、分辨率好的儀器。5、對(duì)于室外現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)，應(yīng)選擇重量輕，示波屏亮度好，抗干擾能力強(qiáng) 便攜式儀器。6、對(duì)于重要工件應(yīng)選用可記錄式探傷儀。12、 橫波斜探頭K值（或折射

16、角）的選擇：當(dāng)工件厚度較小時(shí)，應(yīng)選用較大的 K值，以便增加一次波的聲程，避免近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)。當(dāng)工件厚度較大時(shí)，應(yīng)選用較小的K值，以減少聲程過(guò)大引起的衰減，便于發(fā)現(xiàn)深度較大處的缺陷。在焊縫檢測(cè)中，還要保證主聲束能掃查整個(gè)焊縫截面。對(duì)于單面焊根部未焊透，還要考慮端角反射問(wèn)題，應(yīng)使K=0.71.5,因?yàn)镵1.5，端角反射率很低，容易引起漏檢。13、 焊縫檢測(cè)時(shí)探頭K值的選擇應(yīng)遵循以下三方面原則 1.使聲束能掃查到整個(gè)焊縫截面；2使聲束中心線盡量與主要缺陷垂直；3.保證有足夠的靈敏度14、 探頭頻率的選擇的因素：1、提高頻率，有利于發(fā)現(xiàn)更小的缺陷；2頻率高，脈沖寬度小，分辨力高；3頻率高，波長(zhǎng)短，則半擴(kuò)散

17、角小，聲束指向性好，能量 集中；4、頻率高，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度大，對(duì)檢測(cè)不利。 5頻率增加，衰減越大；6、對(duì)面積狀缺陷，頻率高會(huì)形成反射指向性，檢出率降低。15探頭晶片尺寸的選擇的影響因素：1、晶片尺寸增加，半擴(kuò)散角減少，波束指向性變好，超聲波能量集中，對(duì)檢測(cè)有利。2、晶片尺寸增加，近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度迅速增加，對(duì)檢測(cè)不利。3、晶片尺寸大，輻射的超聲波能量大，探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大，遠(yuǎn)距離掃查范圍相對(duì)變小，發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強(qiáng)。16、影響聲耦合的因素主要有：1.耦合層的厚度，2.偶合劑的聲阻抗，3工件表面粗糙度、4.工件表面形狀。17、 影響缺陷定位的主要因素；1.儀器的影響 2.探頭的影響 3.工件的影響

18、4.操作人員的影響 5、試塊的影響18、 影響缺陷定量的主要因素（1）.儀器及探頭性能的影響1頻率的影響 2.衰減器精度和垂直線性的影響 3晶片尺寸的影響4、探頭K值的影響（2）.耦合與衰減的影響1、耦合的影響2、衰減的影響（3）.工件幾何形狀和尺寸的影響（4）.缺陷的影響1、缺陷形狀的影響2、缺陷方位的影響3、缺陷波的指向性4、缺陷表面粗糙度的影響5、缺陷性質(zhì)的影響6、缺陷位置19、 試塊的作用：1、確定檢測(cè)靈敏度 2、測(cè)試儀器和探頭的性能3、調(diào)整掃描速度4、評(píng)判缺陷的大小20、 鑄件的特點(diǎn)：1、組織不均勻2、組織不致密3、表面粗糙，形狀復(fù)雜4、缺陷的種類(lèi)和形狀復(fù)雜21、 鑄件超聲波檢測(cè)的特

19、點(diǎn)：1超聲波透聲性差2干擾雜波嚴(yán)重3缺陷檢測(cè)要求較低22、檢測(cè)靈敏度：在確定的聲程范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)規(guī)定大小缺陷的能力。23、調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的：在于發(fā)現(xiàn)工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行定位24、檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié)方法：1、試塊調(diào)整法2、工件底波調(diào)整法25、超聲探傷儀的幾個(gè)主要指標(biāo)，1、水平線性2、垂直線性3、動(dòng)態(tài)范圍 4衰減器精度。例1示波屏上一波高為80%,另一波高為20%,問(wèn)前者比后者高多少dB?解：= 20lgH2/H1 = 20lg80/20= 12 (dB)答：前者比后者高 12dB。CS2=3230m/s則第一、二臨界角分別為:a = arcs in s =27.6C L 2a = a

20、rcs in Cli =57.7C S2例2,縱波傾斜入射到有機(jī)玻璃/鋼界面時(shí)，有機(jī)玻璃中：CL1=2730m/s,鋼中CL2=5900m/s,例3:計(jì)算2.5P20縱波直探頭探測(cè)鋼工件時(shí)的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度N、半擴(kuò)散角00和未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度bo解：由題意 f=2.5MHz,Ds=20mm,CL=5900m/s 且啟CL/f近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度：N2 2 2 6D sDs f202.5 1044Cl4 59001034Cl42 .4(mm )半擴(kuò)散角:Cl7070LDsD sf70590010 3202.510 6 8.26未擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度：b1.64 N 1.6442.469.5(mm)例4:用2.5MHz,直徑14

21、mm縱波直探頭水浸探傷鋼板，已知水層厚度為 20mm，鋼中縱波聲速5900m/s，水中縱波聲速1480m/s,求鋼中近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度No解：鋼中縱波波長(zhǎng):5.92 .52.36，(mm)鋼中近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度:141442 .36201480590015.7(mm)例5,試計(jì)算2.5MHZ、10X 12mm方晶片K2.0橫波探頭,有機(jī)玻璃中入射點(diǎn)至晶片的距離為12mm，求此探頭在鋼中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度。(鋼中CS2=3230m/s)解:s2C s2f3230102.5 01 .29 (mmab coss2 cosL1S10120.68120.583.141 .2913( mm)例6:用單斜探頭直接接觸法檢測(cè)325

22、X 40mm無(wú)縫鋼管，求探頭的最大 K值?已知：D0=325mmT=40mm求：最大K值?162 .5R T r 162 .540sin122 .5滿(mǎn)足檢測(cè)鋼管內(nèi)壁的最大折射角:arcs in122 .5 arcsin162 .5arcs in0.7548.92答:探頭的最大K值為1.15例7,用2.5P20Z探頭徑向檢測(cè)500mm的實(shí)心圓柱體鍛件,CL=5900m/s,問(wèn)如何利用底波調(diào)節(jié)500/2靈敏度?解：由題意得:計(jì)算：500mm處底波與2平底孔反射波分貝差為:2 x20lg 亍 2022 .36lg3.1450045 . 5(dB )2 22調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)工件完好區(qū)圓柱底面，找出反射最

23、高回波，調(diào)“增益或衰減器”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)80%高，然后用“衰減器”增益46dB,這時(shí)2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。例8,用2.5P20Z探頭徑向檢測(cè)外徑為1000mm,內(nèi)徑為100mm的空心圓柱體鍛件,CL=5900m/s問(wèn)如何利用內(nèi)孔回波調(diào)節(jié) 450/2靈敏度?解：由題意得:5 .910 67510 62 .36 ( mm )D 1000 mm , d 1001000 1002450 mmC5.9 10 6f2.5 10 62.36(mm)計(jì)算：450mm處內(nèi)孔反射波與2平底孔反射波分貝差為2 xd20 lg 7 10 lg -D fD20 lg22.364503.142210 lg 衛(wèi)010003

24、4.5(dB)2調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)完好的內(nèi)孔表面，找出最高反射波，調(diào)“增益”使底波B1達(dá)基準(zhǔn)50%高，然后用“衰減器”增益 35dB作為檢測(cè)靈敏度，此時(shí)，450/2的檢測(cè)靈敏度的調(diào)節(jié)就完成了。必要時(shí)再增益 6dB作為掃查靈敏度。例9,用2.5P20Z探頭檢測(cè)厚度為50mm的小鍛件，采用CSI系列試塊調(diào)節(jié)50/2靈敏度，試塊與鍛件表面耦合差 3dB,問(wèn)如何調(diào)節(jié)靈敏度？解：利用CSI系列試塊調(diào)節(jié)靈敏度的方法如下：將探頭對(duì)準(zhǔn)CSI-1試塊2平底孔距離為50mm，調(diào)“增益”使2回波達(dá)50%高，然后再用“衰減器”增益 3dB,這時(shí)50/2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。 例10,用2.5P20Z探頭檢測(cè)底面粗糙，厚度為4

25、00mm的鍛件，問(wèn)如何利用100/4平底孔試塊調(diào)節(jié)400/2靈敏度？試塊與工件表面耦合差 6dB。解：計(jì)算：100/4與400/2回波分貝差:Pf 1X4 40020 lg 匕 40 lg 1 140 lg36 (dB )Pf 22x 22 100 調(diào)節(jié)：探頭對(duì)準(zhǔn)100/4平底孔，找到最高回波后，然后用“衰減器”增益42dB,這時(shí)400/2靈敏度就調(diào)節(jié)好了。這時(shí)工件上 400/2平底孔缺陷反射波正好達(dá)基準(zhǔn)高50%。例11，用2.5P20Z探頭檢測(cè)600的實(shí)心圓柱體鍛件，CL=5900m/s,a0.005dB/mm。利用鍛件底波調(diào)節(jié)600/梓靈敏度，底波達(dá)基準(zhǔn)高時(shí)衰減讀數(shù)為50dB,檢測(cè)中在40

26、0mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷，缺陷波達(dá)基準(zhǔn)高時(shí)衰減器讀數(shù)為30dB,求此缺陷的當(dāng)量平底孔直徑為多少？解：由題意得:5 .910 62 .52.36 (mm )N=D 2/4 ?=202/4 x 2.36=42.37(mm)3N = 3x 2.37=127(mm戶(hù) 400(mm，可進(jìn)行計(jì)算;Bf2 x220 lg lD f XB(X f Xb)x B 600 mm , x f400 mm ,Bf503020 dB ,0.005dB / mm，代入公式得:20 lg2 x：D；XbBf(XfXb )2020.00520022lg2Xf22DfD f Xb20=1.1；2x f2=10 D f Xb1o12

27、x2xb 10 1.1o22.36400 23.1460010 1.15.6(mm )答：此缺陷的當(dāng)量平底孔直徑為 5.6mm。例12,用2.5P20Z探頭沿外圓徑向檢測(cè)外徑為 1000mm,內(nèi)徑為100mm的空心圓柱體鍛件，G=5900m/s， a=0.005dB/mm，檢測(cè)中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷，其反射波比內(nèi)孔反射波低12dB,求此缺陷的當(dāng)量大??？解：由題意得:C 5.910 6f T5102.36 (mm )=D2/4 ?=202/4 x 2.36=42.37(mm)=3 x 42.37=127(mm) 200(mm),可進(jìn)行計(jì)算;Bf220 g -D2x f2f X B10D 10

28、00 mm , d100 mm,Xb100450 mm , x f 200 mm，20.005 dB / mm , Bf12 dB ；代入公式得:20 lg2 x2fD；Xb10(xbxf )Bf 10 lg 100乞2 0.00525012Bf 10024.52X f = 24.5 =1.225;2Xb 207 21.225Xf =10D九2 xfXb 10 1.22522.36200 22.8( mm )3.1445010答：此缺陷的當(dāng)量平底孔直徑為 2.8mm。例 13,用2.5P20Z探頭檢測(cè)400mm厚的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s,衰減系數(shù)a=0.005dB/mm ,檢測(cè)靈敏度

29、為400mm處4為0dB。檢測(cè)中在250mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷,其波高比基準(zhǔn)波高20dB,求250mm處柳當(dāng)量的dB值并試根據(jù)JB/T4730.3 2005標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定該鍛件的質(zhì)量級(jí)別。解：條件判別C_f5.91062.510 62 .36 (mm )3N 342.4127 250 mmN D / 420 2 /( 42 .36 )42 .4 ；二符合當(dāng)量計(jì)算的條件。 求250mm處柳 當(dāng)量的dB值1220 lgPf1Pf2X 240 lg 一2a (x2x1 )XI40 Ig 420.005(400250 )9.5(dB )250 求該缺陷的當(dāng)量并評(píng)級(jí)缺陷當(dāng)量：4+ (20-9.5)dB = H+10.5dB缺陷評(píng)級(jí)：該鍛件評(píng)為皿級(jí)。例 14:用=40o的探頭檢測(cè)T=30mm的對(duì)接焊縫，儀器接聲程1: 1調(diào)節(jié)掃描速度，檢測(cè)中在示波屏水平刻度60處出現(xiàn)一缺陷波，求此缺陷在焊縫中的位置?解：由已知得一、二次波的聲程為：X1=T/ COS =30/ C