無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)二級(jí)試題庫(kù)UT

1、無(wú)損檢測(cè)超聲波檢測(cè)二級(jí)試題庫(kù) （UT）無(wú)損檢測(cè)超聲波試題（ UT）、一、是非題1.1 受迫振動(dòng)的頻率等于策動(dòng)力的頻率。1.2 波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播。1.3 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波動(dòng)頻率等于振動(dòng)頻率。1.4 由于機(jī)械波是由機(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以波長(zhǎng)等于振幅。1.5 傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高。1.6 材料組織不均勻會(huì)影響聲速，所以對(duì)鑄鐵材料超聲波探傷和測(cè)厚必須注意這一問 題。1.7 一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大。1.8 由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K> 1.5的探頭探測(cè)單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢。1.9 超聲波擴(kuò)散衰減

2、的大小與介質(zhì)無(wú)關(guān)。1.10 超聲波的頻率越高，傳播速度越快。1.11 介質(zhì)能傳播橫波和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量。1.12 頻率相同的縱波，在水中的波長(zhǎng)大于在鋼中的波長(zhǎng)。1.13 既然水波能在水面?zhèn)鞑ィ敲闯暠砻娌ㄒ材苎匾后w表面?zhèn)鞑ァ?.14 因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動(dòng)產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的 振動(dòng)速度。1.15 如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒 （ 直徑1.16 在同種固體材料中，縱、橫渡聲速之比為常數(shù)。1.17 水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。1.18 幾乎所有的液體（水除外），其聲速都隨溫度的升高而減小。1.19 波的疊加原理說(shuō)明，幾列波在同一介質(zhì)中傳

3、播并相遇時(shí)，都可以合成一個(gè)波繼 續(xù)傳播。1.20 介質(zhì)中形成駐波時(shí)，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長(zhǎng)。1.21 具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)。1.22 材料中應(yīng)力會(huì)影響超聲波傳播速度，在拉應(yīng)力時(shí)聲速減小，在壓應(yīng)力時(shí)聲速增大， 根據(jù)這一特性，可用超聲波測(cè)量材料的內(nèi)應(yīng)力。1.23 材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時(shí)衰減越大。1.24 平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和。1.25 平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量與反射能量之和。1.26 超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)。1.27 對(duì)同一材料而言，橫波的衰減系數(shù)比縱波大得多。1.

4、28 界面上入射聲束的折射角等于反射角。1.29 當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會(huì)發(fā)生波形轉(zhuǎn)換。1.30 在同一固體材料中，傳播縱、橫波時(shí)聲阻抗不一樣。1.31 聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無(wú)任何影響。1.32 超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1。1.33 超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。1.34 超聲波垂直入射到 Z2>Zl 的界面時(shí)，聲壓透過率大于 1說(shuō)明界面有增強(qiáng)聲壓的作用。 11.35 超聲波垂直入射到異質(zhì)界時(shí)，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)投射率在數(shù)值上相等。1.36 超聲波垂直入射時(shí)，界面兩

5、側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低。1.37 當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。 （01.38 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的反射角等于折射角。1.39 超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí)，同種波型的折射角總大于入射角。1.40 超聲波以 10。角入射至水鋼界面時(shí)，反射角等于 10 。1.41 超聲波入射至鋼水界面時(shí)，第一臨界角約為 14.5 。1.42 第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角。1.43 如果有機(jī)玻璃鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃鋼界面第一臨界角，則前 者的第二臨界角也一定大于后者。1.44 只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，

6、才會(huì)有第三臨界角。1.45 橫波斜入射至鋼，空氣界面時(shí)，入射角在 30* 左右時(shí)，橫聲壓反射率最低。1.46 超聲波入射到 C11.47 超聲波入射到C1>C2的凸曲面時(shí)，其透過波集聚。1.48 以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃水界面為凹曲面。1.49 介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重。1.50 聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小。1.51 超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用。1.52 超聲平面波不存在材質(zhì)衰減。2.1 超聲波頻率越高，近場(chǎng)區(qū)的長(zhǎng)度也就越大。2.2 對(duì)同一個(gè)直探頭來(lái)說(shuō)，在鋼中的近場(chǎng)長(zhǎng)度比在水中的近場(chǎng)長(zhǎng)度大。2.3 聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場(chǎng)

7、長(zhǎng)度。2.4 探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小。2.5 超聲波探傷的實(shí)際聲場(chǎng)中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)。2.6 聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。2.7 超聲波的波長(zhǎng)越長(zhǎng)，聲束擴(kuò)散角就越犬，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)。2.8 因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減，所以檢測(cè)應(yīng)盡可能在其近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行。2.9 因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)內(nèi)有多個(gè)聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時(shí)近場(chǎng)區(qū)缺陷往往會(huì)漏檢。2.10 如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短。12.11 面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣長(zhǎng)。2.12 面積相同，頻率相同的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦相同。2.13 超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束

8、指向性愈好。2.14 聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)。2.15 聲波輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高。2.16 探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度。2.17 超聲場(chǎng)中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的。2.18 在超聲場(chǎng)的來(lái)擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離 增加而改變。2.19 斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積。2.20 頻率和晶片尺寸相同時(shí)，橫波聲束指向性比縱波好。2.21 圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角。2.22 如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加 而減小。2.23 200m

9、m 處4長(zhǎng)橫孔的回波聲壓比100mn處由2長(zhǎng)橫孔的回波聲壓低。2.24 球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同。2.25 同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小。2.26 軸類工件外圓徑向探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同。2.27 對(duì)空心圓柱體在內(nèi)孔探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低。3.1 超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。13.2 增益 l00dB 就是信號(hào)強(qiáng)度放大 100倍。3.3 與鋯鈦酸鉛相比，石英作為壓電材料有性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓 電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)。3.4 與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高。

10、3.5 使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測(cè)范圍。3.6 點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高。3.7 雙晶探頭只能用于縱波檢測(cè)。3.8 B 型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏深度。3.9 C 型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的長(zhǎng)度和寬度，但不能展現(xiàn)深度。3.10 通用AVG曲線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格 的探頭。3.11 在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。3.12 A 型顯示探傷儀，利用 D.GS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度。3.13 電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高。3.14 多通道探傷儀是由多個(gè)或多對(duì)探頭同時(shí)工作的探傷儀

11、。3.15 探傷儀中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。3.16 探傷儀中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)。03.17 探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路。3.18 探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱。3.19 調(diào)節(jié)探傷儀“深度細(xì)調(diào)”旋鈕時(shí)，可連續(xù)改變掃描線掃描速度。3.20 調(diào)節(jié)探傷儀“抑制”旋鈕時(shí)，抑制越大，儀器動(dòng)態(tài)范圍越大。3.21 調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變。3.22 不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同。3.23 不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭

12、其標(biāo)稱頻率才能相同。3.24 壓電晶片的壓電應(yīng)變常鼓 (d33) 大，則說(shuō)明該晶片接收性能好。3.25 壓電晶片的壓電電壓常敷(g33)大，剛說(shuō)明該晶片接收性能好。3.26 探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm減少機(jī)械能損耗。13.27 工件表面比較租糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。3.28 斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。3.29 由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷。3.30 雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大。3.31 有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大。3.32 利用

13、IIW試塊上50mnfL與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。3.33 當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R5曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的。3.34 中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。3.35 與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭分辨力。3.36 調(diào)節(jié)探傷儀的“水平”旋鈕，將會(huì)改變儀器的水平線性。3.37 測(cè)定儀器的“動(dòng)態(tài)范圈”時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”、“深度補(bǔ)償”旋鈕置于 “關(guān)”的位置。3.38 盲區(qū)與始波寬度是同一概念。3.39 測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平W10%,再進(jìn)行測(cè)試。3.40 測(cè)定“始波寬度”對(duì)

14、,應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大。3.41 為提高分辨力,在滿足探傷靈敏度要求情況下,儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低 一些。3.42 在數(shù)字化智能超聲波探傷儀中,脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率。3.43 雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測(cè)。3.44 溫度對(duì)斜探頭折射角有影響,當(dāng)溫度升高對(duì),折射角將變大。3.45 日前使用最廣泛的測(cè)厚儀是共振式測(cè)厚儀。3.46 在鋼中折射角為 60。的斜探頭,用于探鍘鋁時(shí),其折射角將變大。3.47 “發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間。3.48 軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。3.49 脈沖反射式和穿透式探傷,使用的探頭是同一類型的。3.50 聲束指向角較小且聲柬截

15、面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭。1%。4.1 在液浸式檢測(cè)中,返回探頭的聲能還不到最初值的4.2 垂直探傷時(shí)探傷面的粗糙度對(duì)反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重。4.3 超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低。4.4 串列法探傷適用于檢查垂直于探測(cè)面的平面缺陷。4.5 “靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。4.6 所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的。4.7 當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大干聲束截面的缺陷的尺寸。4.8 半波高度法用來(lái)測(cè)量小于聲束截面的缺陷的尺寸。4.9 串列式雙探頭法探傷即為穿透法4.10 厚焊縫采用串列法掃查時(shí)，如焊縫余高磨平，則不存在死區(qū)。4.11 曲面

16、工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。4.12 實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。4.13 采用當(dāng)最法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸。4.14 只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定 缺陷長(zhǎng)度。4.15 絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí)，測(cè)長(zhǎng)靈敏度高，測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大。4.16 當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化。4.17 超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高。5.1 鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷。5.2 當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時(shí)，由于缺陷多次反射波互相干

17、涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”。5.3 厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說(shuō)明缺陷的尺寸一定較大。5.4 較薄鋼板采用底波多次法探傷時(shí)，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說(shuō)明鋼板中缺陷尺寸一 定很大。5.5 復(fù)合鋼扳探傷時(shí)，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷。5.6 用板波法探測(cè)厚度5mm以下薄鋼板時(shí)，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時(shí)能檢出表面缺5.7 鋼管水浸聚焦法探傷時(shí)，不宜采用線聚焦探頭探測(cè)較短缺陷。5.8 采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時(shí)，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為k2 的整數(shù)倍5.9 鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí)，應(yīng)從順、逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次。5.10 鋼管水浸探傷時(shí)，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，

18、改善透聲性。5.11 鋼管水浸探傷時(shí)，如鋼管中無(wú)缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。5.12 用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大。6.1 對(duì)軸類鍛件探傷，一般來(lái)說(shuō)以縱波直探頭從徑向探測(cè)效果最佳。6.2 使用斜探頭對(duì)軸類鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí)，探頭應(yīng)尉正反兩個(gè)方向掃查。6.3 對(duì)餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測(cè)是最佳的探傷方法。6.4 調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評(píng)定 鍛件質(zhì)量等級(jí)。6.5 鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時(shí)，說(shuō)明鍛件中中存在較嚴(yán)重的缺 陷。6.6 鍛件探傷時(shí)，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)則應(yīng)按密集缺陷評(píng)定鍛件等級(jí)。

19、6.7 鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主。7.1 焊縫橫波探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高。7.2 焊縫橫渡探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射，變型波等干擾同波的影響。7.3 采用雙探頭串列法掃查焊縫時(shí)，位于焊縫深度方向任何部位的缺陷，其反射波均 出現(xiàn)在熒光屏上同一位置。7.4 焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K 值將變小。7.5 焊縫橫波探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說(shuō)明橫渡可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層。7.6 當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時(shí)，探測(cè)頻率較高時(shí)，缺陷回波不易被探頭接 收。7.7 窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于奧氏體鋼焊縫檢測(cè)。 17

20、.8 一股不采用從堆焊層一側(cè)探測(cè)的方法檢測(cè)堆焊層缺陷7.9 鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的橫波專用斜探頭。7.10 裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，波很快消失。二、選擇題1.1 以下關(guān)于諧振動(dòng)的敘述 - 哪一條是錯(cuò)誤的（ ）A 、諧振動(dòng)就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動(dòng)。B 、任何復(fù)雜振動(dòng)都可視為多個(gè)諧振動(dòng)的合成C 、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D 、在諧振動(dòng)中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零。1.2 以下關(guān)于阻尼振動(dòng)的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（ ）A 、阻尼使振動(dòng)物體的能量逐漸減小。B 、阻尼使振動(dòng)物體的振幅逐漸減小。C 、阻尼使振動(dòng)物體的運(yùn)動(dòng)速率逐漸減小。D 、阻尼使振動(dòng)周

21、期逐漸變長(zhǎng)1.3 超聲波是頻率超出入耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為：（ ）A、高于 2 萬(wàn)赫芝 B、1 10MHz C 高于 200Hz D、0.25 15MHz1.4 在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（ ）A、10 25MHz B l 10001KHz C、1 5MHz D大于 20000MHz1.5 機(jī)械波的波速取決于（ ）A 、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的速度 B 、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振幅C 、機(jī)械振動(dòng)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)頻率 D 、彈性介質(zhì)的特性1.6 在同種固體材料中，縱波聲速 CL.橫渡聲速Cs,表面波聲速Cn之間的關(guān)系是:（）A、CR>Cs>CL B Cs>CL&

22、gt;CR C CL>Cs>CR D 以上都不對(duì)1.7 在下列不同類型超聲波中，哪種渡的傳播速度隨頻率的不同而改變？（）A 、表面波 B 、板波 C 、疏密波 D 、剪切波1.8 超聲波入射到異質(zhì)界面時(shí)，可能發(fā)生（ ）A、反射B、折射C、渡型轉(zhuǎn)換D、以上都是1.9 超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（ ）有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部1.10 在同一固體材料中，縱、橫渡聲速之比，與材料的（ ）有芙？A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部1.11 質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向的波是（ ）A、縱波B、橫波C、表面波D、蘭姆波1.12 在流體中可傳插：（ ）A

23、、縱波 B 、橫波C 、縱波、橫波及表面波 D 、切變波1.13 超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：（ ）A 、頻率 B 、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定1.14 板波的速度主要取決于：（ ）A 、頻率 B 、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性和質(zhì)量 D、以上都不全面，須視具體情況定1.15 鋼中超聲波縱波聲速為 590000cm/s，若頻率為10MHz則其波K為：（）A 、 59mm B、 5.9mmC 、 0.59mm D、 2.36mm1.16 下面哪種超聲波的波長(zhǎng)最短（ ）A、水中傳播的2MHz縱波B、鋼中傳播的2.5MHz橫波C

24、、鋼中傳播的5MHz縱波D、鋼中傳播的2MHz表面波1.17 一般認(rèn)為表面波作用于物體的深度大約為（ ）A、半個(gè)波長(zhǎng)B、一個(gè)波長(zhǎng)C、兩個(gè)波長(zhǎng)D、3.7 個(gè)波長(zhǎng)1.18 鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會(huì)降低到原來(lái)的 1/25 。（ ）A 、五個(gè)波長(zhǎng) B 、一個(gè)波長(zhǎng) C、 1/10 波長(zhǎng) D、 0.5 波長(zhǎng)1.19 脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的（ ）A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴(kuò)散特性1.20 超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時(shí)有（）A 、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和質(zhì)點(diǎn)移動(dòng)B 、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和振動(dòng)傳遞C 、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)和能量傳播D 、 B 和 C1.21 超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是（）A 、質(zhì)

25、點(diǎn)振動(dòng)的速度 B、聲能的傳播速度C 、波長(zhǎng)和傳播時(shí)間的乘積D、以上都不是1.22 若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長(zhǎng)最短：（ ）A、剪切波B、壓縮波C、橫渡D、瑞利表面波1.23 材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（ ）A 、在傳播時(shí)的材質(zhì)衰減B 、從一個(gè)介質(zhì)到達(dá)另一個(gè)介質(zhì)時(shí)在界面上的反射和透射C 、在傳播時(shí)的散射 D、擴(kuò)散角大小1.24 聲阻抗是：（ ）A 、超聲振動(dòng)的參數(shù) B、界面的參數(shù)C 、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對(duì)1.25 當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時(shí)，其透射系數(shù)大于1，這意味著：（ ）A 、能量守恒定律在這里不起作用B 、透射能量大于入射能量C、A與B都

26、對(duì)D、以上都不對(duì)1.26 當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時(shí)，其反射系數(shù)小于 0，這意味著：（ ）A 、透射能量大于入射能量B 、反射超聲波振動(dòng)相位與入射聲波互成 180。C 、超聲波無(wú)法透入水中 D 、以上都不對(duì)1.27 垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（ ）A 、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B 、與界面二邊材料的密度有關(guān)C 、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D 、與入射聲波波型有關(guān)1.28 在液浸探傷中，哪種波會(huì)迅速衰減：（ ）A、縱波B、橫波C、表面波D、切變波1.29 超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)恼系K物時(shí)，將發(fā)生（ ）A 、只繞射，無(wú)反射 B 、既反射又繞射C 、只反射無(wú)繞射

27、D、以上都可能1.30 在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、橫波時(shí)，它的聲阻抗將是（ ）A 、一樣 B 、傳播橫波時(shí)大C 、傳播縱波時(shí)大 D、無(wú)法確定1.31 超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，反射波與透過波聲能的分配比例取決于（）A 、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速 B 、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C 、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗 D、以上全部1.32 在同一界面上，聲強(qiáng)透過率 T 與聲壓反射率 r 之間的關(guān)系是（ ）A 、 T=r2 B 、 T=1-r2 C 、 T= 1+r D 、 T=1-r1.33 在同一界面上-聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過率T之間的關(guān)系是（）A、R+T=l B、T=1-R C、R=1-T D、以上全對(duì)1

28、.34 超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時(shí)，其傳播方向的改變主要取決于（）A 、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C 、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部A 、反射波波型 B 、入射角度C 、界面兩側(cè)的聲阻抗 D、以上都是1.37 一般地說(shuō)，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動(dòng)波型為（）A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力1.38 不同振動(dòng)頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（ ）A、0.5MHz的縱波B、2.5MHz的橫波C、10MHz的爬波D、5MHz的表面波1.39 在水鋼界面上，水中入射角為17。，在鋼中傳播的主要振動(dòng)波型為（）A、表面波B、橫波C、縱波D、B和C1.4

29、0 當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15射向鋼界面時(shí)，可能存在（ ）A 、反射縱波 B 、反射橫波C 、折射縱波和折射橫渡 D 、以上都有1.41 如果將用于鋼的 K2 探頭去探測(cè)鋁（CFe=3.23km/s,CAI=3.10km 貝V K 值會(huì)（）。A 、大于 2 B 、小于 2C 、仍等于 2 D 、還需其它參數(shù)才能確定1.42 如果超聲縱波由水以 20 。入射到鋼界面，貝在鋼中橫波折射角為（ ）。A 、約 48。 B 、約 24。 C、 39。 D 以上都不對(duì)1.43 第一臨界角是：（ ）A 、折射縱波等于 90。時(shí)的橫波入射角B 、折射橫渡等于 90。時(shí)的縱波入射角C 、折射縱波等于 90

30、。時(shí)的縱波入射角D 、入射縱波接近口 0。時(shí)的折射角1.44 第二臨界角是：（ ）A 、折射縱波等于 90。時(shí)的橫波入射角B 、折射橫波等于 90。時(shí)的縱波入射角C 、折射縱波等于 90。時(shí)的縱波入射角D 、入射縱波接近 90。 對(duì)的折射角1.45 要在工件中得到純橫波，探頭入射角a必須：（）A 、大于第二臨界角 B、大于第一臨界角C 、在第一、第二臨界角之間 D、小于第二臨界角1.46 一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波有可能：（）A 、在工件中得到純橫波 B 、得到良好的聲束指C 、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦 D、減少近場(chǎng)區(qū)的影響1.47 縱波以 20。入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一

31、個(gè)聲束路徑是正確的？（）1.48 用入射角為 52。的斜探頭探測(cè)方鋼，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（）1.49 直探頭縱波探測(cè)具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個(gè)聲束路徑是正確的？（）1.50 第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃 （CL=2700m/s） ，第二介質(zhì)為銅（CL=4700m/s;Cs=2300m ，則第臨界角為（）1.51 用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對(duì)鋼試件進(jìn)行探測(cè)，若要得到最佳透 聲效果，其耦臺(tái)層厚度為（甘油 CL=1920ms）（ ）A 、 1.45mm B、 0.20mm C、 0.7375mm D、 0.24mm1.52 用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對(duì)接焊縫中得到橫檢測(cè)，此

32、時(shí)探頭聲束軸線相 對(duì)于探測(cè)面的傾角范圍為：（ ）A 、14 7。27 .7。B、62.3。75.3。C、27.2。56.7。D、不受限制1.53 有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1,基體鋼板聲阻抗Z2,今從鋼板一側(cè)以 2.5MHz 直探頭直接接觸法探測(cè)，則界面上聲壓透射率公式為：( )1.54 由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱 db 數(shù)等于：( )A 、衰減系數(shù)與聲程的乘積B 、衰減系數(shù)與深度的乘積C、e- 口 s (口為衰減系數(shù)，s為聲程)D 以上都不對(duì)1.55 超聲波(活塞波)在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：()A 、介質(zhì)對(duì)超聲波的吸收 B 、介質(zhì)對(duì)超聲波的散射C 、聲束擴(kuò)散

33、D 、以上全部1.56 斜探頭直接接觸法探測(cè)鋼板焊縫時(shí)，其橫波：( )A 、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C 、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D 、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.57 制作凹曲面的聚焦透鏡時(shí)，若透鏡材料聲速為C1,第二透聲介質(zhì)聲速為 C2,則兩者材料應(yīng)滿足如下關(guān)系：( )A 、 C1>C2 B、 C11.58 當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時(shí)，透鏡焦距將：( )A、增大B、不變C、減小D以上都不對(duì)1.59 平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：( )1.60 以下關(guān)于板波性質(zhì)的敘述，哪條是錯(cuò)誤的( )A、按振動(dòng)方向分，板波可分為SH波和蘭姆波，探傷常用的是蘭姆波B

34、 、板渡聲速不僅與介質(zhì)特性有關(guān)，而且與板厚、頻率有關(guān)C 、板波聲速包括相速度和群速度兩個(gè)參數(shù)D 、實(shí)際探傷應(yīng)用時(shí)，只考慮相速度無(wú)須考慮群速度1.61 由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于（ ）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.62 與超聲頻率無(wú)關(guān)的衰減方式是 AA、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.63 下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯(cuò)誤的；（ ）A 、橫渡衰減比縱波嚴(yán)重B 、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C 、當(dāng)晶粒度大干波長(zhǎng) 1/10 時(shí)對(duì)探傷有顯著影響D 、提高增益可完全克服衰減對(duì)探傷的影響2.1 波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù)并且隨（ ）

35、A 、頻率增加，晶片直徑減小而減小B 、頻率或晶片直徑減小而增大C 、頻率或晶片直徑減小而減小D 、頻率增加，晶片直徑減小而增大2.2 晶片直徑D=20mr的直探頭，在鋼中測(cè)得其零幅射角為10 。，該探頭探測(cè)頻率約為：（ ）A 、 2.5MHz B、 5MHz C、 4MHz D、 2MHz2.3 直徑中12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：（）A 、 5.6° B、 3.5° C、 6.8° D、 24.6°2.4 14mm 2.5MHz直探頭在鋼中近場(chǎng)區(qū)為：（ ）A、27mm B 21mm C 38mm D 以上都不對(duì)2.5 上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)

36、長(zhǎng)度約為：（ ）A、35mm B 63mm C 45mm D 以上都不對(duì)2.6 在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大 l 倍，其回波減弱（ ）A 、6db B 、12db C、3db D、0db2.7 利用球面波聲壓公式（P= Pon D2/4入）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條 件是：（ ）A、S> 2N近似正確B、S> 3N基本正確C、S> 6N正確D、以上都對(duì)2.8 在超聲探頭遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)中：（ ）A、聲束邊緣聲壓較大 B、聲束中心聲壓最大C 、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣 D 、聲壓與聲束寬度成正比2.9 活塞波聲場(chǎng)，聲束軸線上最后一個(gè)聲壓極大值到聲源的距離稱為（）A、近場(chǎng)長(zhǎng)度B、

37、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場(chǎng)2.10 下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（ ）A 、 2.5P20Z B、 3P14Z C、 4P20Z D、 5P14Z2.11 下面有關(guān)擴(kuò)散角的敘述 - 哪一條是錯(cuò)誤的（ ）A 、用第一零輻射角表示 B 、為指向角的一半C 、與指向角相同 D 、是主聲束輻射錐角之半2.12 超聲場(chǎng)的來(lái)擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度（ ）A、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度B、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度0.6倍C、約為近場(chǎng)長(zhǎng)度1.6倍D、約等于近場(chǎng)長(zhǎng)度3倍2.13 遠(yuǎn)場(chǎng)范圍的超聲波可視為（ ）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對(duì)2.14 在探測(cè)條件相同的情況下面積比為 2的兩個(gè)平底孔，其反射波高相差（ ）A 、 6dB

38、 B、 12dB C、 9dB D、 3dB2.15 在探測(cè)條件相同的情況下，孔徑比為 4兩個(gè)球形人工缺陷，其反射波高相差（ ）A 、6dB B 、l2dB C 、24dB D、8dB2.16 在探測(cè)條件相同的情況下，直徑比為 2 的兩個(gè)實(shí)心圓柱體，其曲底面同波相差 （）A 、12dB B、9dB C、6dB D、3dB ；2.17 夕卜徑為D,內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測(cè)，如忽略 耦合差異，則底波高度比為（ ）2.18 同直徑的平底孔在球面波聲場(chǎng)中距聲源距離增大 1 倍則回波減弱：（ ）A 、6db B、12db C、3db D、9db2.19 同直徑的長(zhǎng)橫孔在球面波

39、聲場(chǎng)中距離聲源距離增大 1 倍回波減弱（ ）A 、6db B、12db C、3db D、9db2.20 在球面波聲場(chǎng)中B平底距聲源距離增大I倍回波減弱：（）A 、6db B、12db C、3db D、9db2.21 對(duì)于柱面波，距聲源距離增大1 倍，聲壓變化是：（）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db2.22 對(duì)于球面波，距聲源距離增大1 倍，聲壓變化是：（）A、增大6db B、減小6db C、增大3db D、減小3db2.23 比3mm平底孔回波小7db的同聲程平底孔直徑是：（）A 、 1mm B 2mm C 4mm D 0.5mm2.24 比3mm長(zhǎng)橫孔反射小7d

40、b的同聲程長(zhǎng)橫孔直徑是（）A 、 0.6mm B、 1mm C 2mm D 0.3mm2.25 以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（ ）A 靈敏度高 B 橫向分辨率高C 縱向分辨高 D 探測(cè)粗晶材料時(shí)信噪比高2.26 以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（ ）A 聲束細(xì)，每次掃查探測(cè)區(qū)域小，效率低B 、每只探頭僅適宜探測(cè)某一深度范圍缺陷，通用性差C 、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D 、以上都是3.1 A 型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（ ）A 、缺陷的性質(zhì)和大小 B 、缺陷的形狀和取向C 、缺陷同波的大小和超聲傳播的時(shí)問 D 、以上都是3.2 A 型掃描

41、顯示，“盲區(qū)”是指：（ ）A 、近場(chǎng)區(qū) B 、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C 、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時(shí)間 D 、以上均是3.3 A 型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（ ）A 、超聲回波的幅度大小 B 、缺陷的位置C 、被探材料的厚度 D 、超聲傳播時(shí)間3.4 A 型掃描顯示中，水平基線代表：（ ）A 、超聲回波的幅度大小 B 、探頭移動(dòng)距離C 、聲波傳播時(shí)間 D 、缺陷尺寸大小3.5 脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（ ）A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路3.6 脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時(shí)基線的電路單元叫做（ ）A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)

42、射電路3.7 發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_(dá)（ ）A 、幾百伏到上千伏 B 、幾十伏 C 、幾伏 D 、 1 伏3.8 發(fā)射脈沖的持續(xù)時(shí)間叫：（ ）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是3.9 探頭上標(biāo)的 2.5MHz 是指：（ ）A、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對(duì)3.10 影響儀器靈敏度的旋紐有：（ ）A 、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐 B 、衰減器和抑制C 、深度補(bǔ)償 D 、以上都是3.11 儀器水平線性的好壞直接影響：（ ）A 、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C 、缺陷的精確定位 D、以上都對(duì)3.12 儀器的垂直線性好壞會(huì)影響：（ ）A 、缺陷的當(dāng)量比較 B、

43、AVG曲線面板的使用C 、缺陷的定位D、以上都對(duì)3.13 接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有（ ）A、幾百伏 B、100V左右C、10V左右D、0.0011V3.14 同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（ ）A、I 2個(gè)B、數(shù)十個(gè)到數(shù)千個(gè)C 、與工作頻率相同 D、以上都不對(duì)3.15 調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會(huì)影響探傷儀的（ ）A、垂直線性B、動(dòng)態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部3.16 放大器的不飽和信號(hào)高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放放大器的（）A 、靈敏度范圍 B 、線性范圍 C 、分辨力范圍 D 、選擇性范圍3.17 單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出

44、， 這是因?yàn)椋海?）A、近場(chǎng)干擾B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū)D、折射3.18 同步電路的同步脈沖控制是指：（ ）A 、發(fā)射電路在單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B 、掃描電站每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C 、探頭晶片在單位時(shí)間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D 、以上全部都是3.19 表示探傷儀與探頭組合性能的指標(biāo)有：（ ）A 、水平線性、垂直線性、衰減器精度B 、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力C 、動(dòng)態(tài)范阻。題堂皇！奠搽測(cè)瀑度D 、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率3.20 使儀器得到滿幅顯示時(shí) Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V,現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號(hào)電壓為40mv,若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量？（）A

45、 、74dB B、66dB C、60dB D、80dB3.21 脈沖反射式超聲波探傷僅同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（）A 、掃描長(zhǎng)度 B 、掃描速度C 、單位時(shí)間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù) D 、鋸齒波電壓幅度3.22 壓電晶片的基頻是：（ ）A 、晶片厚度的函數(shù) B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C 、放大器放大特性的函數(shù)D 、以上都不對(duì)3.23探頭的分辨力：（）A 、與探頭晶片直徑成正比B 、與頻率寬度成正比C 、與脈沖重復(fù)頻率成正比D 、以上都不對(duì)3.24 當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)：（ ）A、儀器分辨力提高B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C 、聲波穿透力降低 D 對(duì)試驗(yàn)無(wú)影響3.25 探頭晶片背面加上阻尼塊

46、會(huì)導(dǎo)致：（ ）A、Qm值降低靈敏度提高 B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大 D、Qm值降低，分辨力提高3.26 為了從換能器獲得最高靈敏度：（）A 、應(yīng)減小阻尼塊 B 、應(yīng)使用大直徑晶片C 、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵(lì)D 、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大3.27 超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：（ ）A 、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B 、取決于同步脈沖發(fā)生器C 、取決于換能器機(jī)械阻尼D 、隨分辨力提高而提高3.28 換能器尺寸不變而頻率提高時(shí)：（ ）A 、橫向分辨力降低 B 、聲束擴(kuò)散角增大C 、近場(chǎng)長(zhǎng)度增大 D 、指向性變鈍3.29 一般探傷時(shí)不使用深度補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤?huì)：（ ）A

47、、影響缺陷的精確定位B 、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C 、導(dǎo)致小缺陷漏撿D 、以上都不對(duì)3.30 晶片共振波長(zhǎng)是晶片厚度的（ ）A 、 2倍 B、 1/2倍 C、 l 倍 D、 4倍3.31 已知PZT-4的頻率常數(shù)是 2000m/s, 2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為：（）A 、 0.8mm B、 l.25mm C、 1.6mm D、 0.4mm3.32 在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時(shí)，應(yīng)使用：（ ）A 、硬保護(hù)膜直探頭 B 、軟保護(hù)膜直探頭C 、大尺寸直探頭 D 、高頻直探頭3.33 目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（ ）A 、石英 B 鈦酸鋇 C 、鋯鈦酸鉛 D 硫酸

48、鋰3.34 聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（ ）A 、探測(cè)近表面缺陷 B 、精確測(cè)定缺陷長(zhǎng)度C 、精確測(cè)定缺陷高度 D、用于表面缺陷探傷3.35 超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（ ）A 、導(dǎo)電材料 B 磁致伸縮材料 C 、壓電材料 D 磁性材料3.36 下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（ ）A、石英B、硫酸鋰C 、鍺鈦酸鉛 D 、鈮酸鋰3.37 下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（ ）A、石英B鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇3.38 下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（ ）A、鈦酸鋇（CL=5470m/s） B、鈮酸鋰（CL=7400m/s）C、PZT（ CL=4400m/s

49、） D、鈦酸鉛（CL=4200m/S）3.39 表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（ ）A、壓電電壓常數(shù)g33 B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù) d33 D、以上全部3.40 以下關(guān)于爬波探頭的敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（ ）A 、爬波探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫渡斜探頭類似B 、當(dāng)縱波入射角大于或等于第二臨界角時(shí)，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬波C 、爬波用于探測(cè)表層缺陷D、 爬波探測(cè)的深度范圍與頻率 f和晶片直徑D有關(guān)。3.41 窄脈沖探頭和普通探頭相比（ ）A、Q值較小B、靈敏度較低C、頻帶較寬D、以上全部3.42 采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時(shí)，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì) 2中聚焦，選用平凹透鏡的條件是（ ）

50、A 、Zl>Z2 B 、C1 C2 D、Z13.43 探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（ ）A 、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部3.44 以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波探傷儀的優(yōu)點(diǎn)（ ）A 、檢測(cè)精度高，定位定量準(zhǔn)確 B 、頻帶寬，脈沖窄C 、可記錄存貯信號(hào) D、儀器有計(jì)算和自檢功能3.45 以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（ ）A 、探測(cè)范圍大 B 、盲區(qū)小C 、工件中近場(chǎng)長(zhǎng)度小 D 、雜波少3.46 以下哪一條，不屬于雙品探頭的性能指標(biāo)（ ）A、工作頻率B、晶片尺寸C、探測(cè)深度D、近場(chǎng)長(zhǎng)度3.47 斜探頭前沿長(zhǎng)度和 K 值測(cè)定的兒種方法中，哪種方法

51、精度最高：（）A 、半圓試塊和橫孔法 B 、雙孔法C 、直角邊法 D 、不一定，須視具體情況而定3.48 超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為（ ）A、檢測(cè)靈敏度B、時(shí)基線性C、垂直線性D、分辨力3.49 用以標(biāo)定或測(cè)試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫（）A、晶體準(zhǔn)直器B、測(cè)角器C、參考試塊D、工件3.50 對(duì)超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（ ）A 、其聲速與被探工件聲速基本一致B 、材料中沒有超過2mm平底孔當(dāng)量的缺陷C 、材料衰減不太大且均勻D 、以上都是3.51 CSK-IIA試塊上的I X6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場(chǎng)其反射波高隨聲程的變化規(guī)律與）相同A、k值孔B、平底孔C、球孔

52、D、以上B和C4.1 采用什么超聲探傷技術(shù)不能測(cè)出缺陷深度？（）A 、直探頭探傷法B 、脈沖反射法C 、斜探頭探傷法D、穿透法4.2 超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時(shí)，宜選用（）A 、較低頻探頭 B 、較粘的耦合劑C 、軟保護(hù)膜探頭D、以上都對(duì)4.3 超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（ ）A 、曲面探傷時(shí)可減少耦合損失 B 、可減少材質(zhì)衰減損失C 、輻射聲能大且能量集中D、以上全部4.4 探傷時(shí)采用較高的探測(cè)頻率，可有利于（ ）A 、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷 B 、區(qū)分開相鄰的缺陷C 、改善聲束指向性 D、以上全部4.5 工件表面形狀不同時(shí)耦合效果不一樣，下面的說(shuō)法中，哪點(diǎn)是正確的（）A 、平面效

53、果最好 B、凹曲面居中C 、凸曲面效果最差 D、以上全部4.6 缺陷反射聲能的大小，取決于（ ）A 、缺陷的尺寸 B 、缺陷的類型C 、缺陷的形狀和取向D、以上全部4.7 聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時(shí)，缺陷表面粗糙度對(duì)缺陷反射波高的影響是： （）A 、反射波高隨粗糙度的增大而增加B 、無(wú)影響C 、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能4.8 如果聲波在耦合介質(zhì)中波長(zhǎng)為 入，為使透聲效果好，耦合層厚度為（）A 、入/4的奇數(shù)倍B、入12整數(shù)倍C、小于入/4且很薄D、以上B和C4.9 表面波探傷時(shí)，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（）A 、缺陷深度 B 、缺陷至探頭前沿距離C

54、 、缺陷聲程 D 、以上都可以4.10 探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測(cè)時(shí)，如儀器用平試塊按深度1：1 調(diào)掃描，下面哪種說(shuō)法正確？（ ）A 、缺陷實(shí)際徑向深度總是小于顯示值B 、顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長(zhǎng)C 、顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D 、以上都正確4.11 采用底波高度法（ F/B 百分比法）對(duì)缺陷定量時(shí)，下面哪種說(shuō)法正確（ ） ?A 、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C 、適于對(duì)尺寸較小的缺陷定量 D、適于對(duì)密集性缺陷的定量4.12 在頻率一定和材料相同情況下，橫渡對(duì)小缺陷探測(cè)靈敏度高于縱波的原因是：（）A 、橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫渡探傷雜

55、波少C 、橫波波長(zhǎng)短D、橫波指向性好4.13 采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時(shí)，可獲得較好的穿透能力：（）A 、 1.25MHz B、 2.5MHz C、 5MHz D、 l0MHz4.14 在用5MH或10晶片的直探頭作水浸探傷時(shí)，水層厚度為20mm此時(shí)在鋼工件中的近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度還有：（ ）A 、10.7mm B、1.4mm C、16.3mm D 以上都不對(duì)4.15 使用半波高度法測(cè)定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測(cè)的結(jié)果：（A 、小于實(shí)際尺寸 B 、接近聲束寬度C 、稍大于實(shí)際尺寸 D、等于晶片尺寸4.16 棱邊再生波主要被用于測(cè)定：（ ）A 、缺陷的長(zhǎng)度B、缺陷的性質(zhì)C 、缺陷的位置D、缺陷的高度4.17 從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對(duì)缺陷的定性是通 過下列方法來(lái)進(jìn)行：（ ）A 、精確對(duì)缺陷定位 B、精確測(cè)定缺陷形狀C 、測(cè)定缺陷的動(dòng)態(tài)波形 D 、以上方法須同時(shí)使用4.18 單斜探頭探傷時(shí)，在近區(qū)有幅度波動(dòng)較快，探頭移動(dòng)時(shí)水平位置不變的回波， 它們可能是：（ ）A 、來(lái)自工件