最新手機(jī) EMC測(cè)試中的問題及注意事項(xiàng)精品課件ppt電子版本

1、手機(jī) EMC測(cè)試中的問題及注意事項(xiàng)o2G終端 EMC測(cè)試存在的主要問題及對(duì)策n電快速瞬變脈沖群抗擾度n靜電放電抗擾度n總輻射功率n樣品及輔助設(shè)備的名稱和標(biāo)牌n其他需要注意的問題o電快速瞬變脈沖群抗擾度的問題和對(duì)策n電快速瞬變脈沖群干擾的特點(diǎn)o干擾的性質(zhì)是共模的n施加在電源線的L1、L2、L3/N/PE與參考地之間2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o電快速瞬變脈沖群抗擾度的問題和對(duì)策n電快速瞬變脈沖群干擾的防護(hù)oPCB的抗電快速瞬變脈沖群設(shè)計(jì)n使用EFT濾波器、抑制器、吸收器盡量采用表面封裝電源線上增加共模電感n減小PCB的地線公共阻抗值nPCB布局盡量使干擾源遠(yuǎn)離敏感電路nPCB的各類走線要盡量短n減少

2、環(huán)路面積n屏蔽敏感IC2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o電快速瞬變脈沖群抗擾度的問題和對(duì)策n電快速瞬變脈沖群干擾的防護(hù)o軟件的防EFT設(shè)計(jì)n正確檢測(cè)和處理告警信息n及時(shí)“刷新”、“檢查”并恢復(fù)產(chǎn)品的狀態(tài)o在充電器線纜上增加磁環(huán)或者EFT濾波器n磁珠的內(nèi)徑越小、外徑越大、長(zhǎng)度越長(zhǎng)越好oTVS管通常對(duì)EFT干擾的作用有限2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o電快速瞬變脈沖群抗擾度的問題和對(duì)策n電快速瞬變脈沖群試驗(yàn)的要點(diǎn)介紹o目的：n自行搭建測(cè)試系統(tǒng)的注意事項(xiàng)n進(jìn)行預(yù)測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)o在手機(jī)能支持的最大功率等級(jí)下測(cè)試o注意使用標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的接地參考平面o試驗(yàn)電壓應(yīng)該同時(shí)施加在接地參考平面與所有的電源接線端子、保護(hù)地之間n

3、GB/T 17626.4-2008的最新規(guī)定o對(duì)電源線不建議用容性耦合夾2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o電快速瞬變脈沖群抗擾度的問題和對(duì)策n電快速瞬變脈沖群試驗(yàn)的要點(diǎn)o測(cè)試環(huán)境要求n接地參考平面o測(cè)試布置nEUT置于接地參考平面上，用10cm的絕緣支座支撐nEUT距離耦合/去耦合網(wǎng)絡(luò)50cmn耦合去耦合網(wǎng)絡(luò)與接地參考平面的連接n超長(zhǎng)的電源線應(yīng)該折疊，避免形成環(huán)線o重復(fù)頻率即將增加100kHz選項(xiàng)n比5kHz更嚴(yán)酷n更接近實(shí)際情況n應(yīng)逐步開始準(zhǔn)備應(yīng)對(duì)這個(gè)測(cè)試等級(jí)2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n移動(dòng)電話機(jī)靜電放電抗擾度的主要問題o問題現(xiàn)象n通話中斷n自動(dòng)關(guān)機(jī)n屏幕顯示異常n樣品

4、損壞o主要原因n器件失效n器件老化n敏感器件受到靜電放電過程中的輻射干擾2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n正確認(rèn)識(shí)靜電放電模型o芯片的ESD模型芯片的生產(chǎn)過程防護(hù)n人體模型（HBM模型）模型參數(shù)：100pF/1500歐姆峰值電流：1.3A(2000V時(shí)）n機(jī)器模型低電壓、高電流模型參數(shù)200pF峰值電流：3.8A（200V時(shí)）n帶電器件模型n場(chǎng)感應(yīng)模型o系統(tǒng)級(jí)別的靜電放電模型IEC模型！nIEC模型時(shí)HBM能量的5.6倍nIEC模型的上升時(shí)間/持續(xù)時(shí)間較短, HBM時(shí)間較長(zhǎng)nIEC模型考慮了更多的放電次數(shù)2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策nIEC靜

5、電放電波形介紹oIEC模型：150pF, 330歐姆o作用時(shí)間短n上升時(shí)間（1ns）n持續(xù)時(shí)間（us級(jí)別）o電壓幅值較高o電荷量較低（nC級(jí)別）o產(chǎn)生的輻射干擾頻段寬n頻率：MHzGHzn波長(zhǎng)：cmmo具有較高的di/dt，容易產(chǎn)生較強(qiáng)的電磁輻射2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n靜電防護(hù)設(shè)計(jì)的原則o消除產(chǎn)生靜電放電的源o隔離導(dǎo)體，抑制靜電放電o為靜電放電電流提供放電回路，保護(hù)重要器件o通過屏蔽的方式保護(hù)重要的器件2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策nPCB的靜電防護(hù)設(shè)計(jì)o盡可能選擇靜電敏感度等級(jí)高的器件o電路環(huán)路面積最小n導(dǎo)線盡可能短n電源線和地線之

6、間緊靠在一起，減少環(huán)路面積n多條電源線、信號(hào)線及地線應(yīng)連接成網(wǎng)格狀o地平面設(shè)計(jì)n盡量在PCB上使用完整的地平面n地平面越大越好n不要有大的缺口o電源和地之間安裝旁路電容，電源與地之間距離盡量短o各個(gè)組件越近越好2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策o靜電敏感度等級(jí)低的器件注意保護(hù)n布局上盡量遠(yuǎn)離易受干擾區(qū)域n選擇保護(hù)器件壓敏電阻TVS（瞬態(tài)電壓抑制器）n保護(hù)器件的安裝要緊靠被保護(hù)對(duì)象（芯片、接口），低阻抗接地o與LCD接觸部分應(yīng)作接地處理2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n保護(hù)器件的選擇和使用o選擇響應(yīng)速度快的器件o支持的峰值電流要足夠大o考慮到瞬態(tài)電壓

7、可能在正、負(fù)兩個(gè)極性上發(fā)生o考慮到增加的阻抗對(duì)電路的影響o考慮到器件的尺寸，PCB的尺寸等o在成本和器件等級(jí)上找到適合的平衡點(diǎn)2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n靜電放電整改的步驟o1）嘗試直接放電和間接放電、空氣放電和接觸放電，確認(rèn)耦合路徑o2）從不同方向放電，觀察現(xiàn)象有何不同，確定所有的放電點(diǎn)和放電路徑o3）從低到高，在不同電壓下進(jìn)行試驗(yàn)，確定手機(jī)在哪個(gè)電壓范圍內(nèi)出現(xiàn)不合格現(xiàn)象o4）多試驗(yàn)幾臺(tái)樣機(jī)，分析共性，確認(rèn)失效原因o5）根據(jù)耦合路徑、不合格現(xiàn)象、放電路徑，判斷相關(guān)的敏感器件o6）針對(duì)敏感器件制訂解決方案o7）通過試驗(yàn)驗(yàn)證、修正解決方案2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜

8、電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n靜電放電整改的常用措施o機(jī)殼縫隙、按鍵、FPCB等n介質(zhì)隔離o攝像頭、麥克風(fēng)、聽筒n介質(zhì)隔離n接地o具有屏蔽殼的ICn加強(qiáng)屏蔽效果n屏蔽殼注重接地o接口電路n保護(hù)器件o軟件的防靜電設(shè)計(jì)n正確檢測(cè)和處理告警信息2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策n靜電放電試驗(yàn)的幾個(gè)要點(diǎn)o目的：n自行搭建測(cè)試系統(tǒng)的注意事項(xiàng)n進(jìn)行預(yù)測(cè)試時(shí)的注意事項(xiàng)o試驗(yàn)環(huán)境的控制n標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試環(huán)境、布置n濕度的控制o在手機(jī)的支持的最大功率等級(jí)下進(jìn)行n較低的功率等級(jí)下的試驗(yàn)不具代表性n水平耦合板的影響2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o靜電放電抗擾度測(cè)試的問題和對(duì)策o在連接充電器和不連接充電器的

9、兩種情況下都要進(jìn)行n便攜設(shè)備n固定設(shè)備o試驗(yàn)等級(jí)：從低到高，在不同電壓下進(jìn)行試驗(yàn)o放電方式：n直接放電/間接放電n極性的轉(zhuǎn)換n足夠的放電次數(shù)2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o產(chǎn)品名稱、銘牌等與規(guī)范的名稱一致n名稱與電信設(shè)備認(rèn)證中心的目錄一致n銘牌信息與登記表、產(chǎn)品資料一致oGPRS vs. GRSn說明性文字應(yīng)該用中文 o序列號(hào) vs. SN.2G測(cè)試的主要問題及對(duì)策o其他需要注意的問題n選用性能良好的充電器配合測(cè)試o大多數(shù)EMC測(cè)試項(xiàng)目都和充電器的性能緊密關(guān)聯(lián)o對(duì)于傳導(dǎo)連續(xù)騷擾和輻射連續(xù)騷擾來說充電器的性能起決定性作用o建議選擇充電器時(shí)進(jìn)行預(yù)測(cè)試o監(jiān)督充電器供應(yīng)商各個(gè)批次之間充電器的一致性o在相對(duì)較低的頻率，磁環(huán)能夠有效抑制輻射連續(xù)騷擾n音頻突破相關(guān)的問題o音頻性能應(yīng)正常n本底噪聲問題n頻響問題o天線和音頻器件盡量保持距離n影響OTAn抬高了音頻特性的噪聲，導(dǎo)致傳導(dǎo)抗擾度和輻射抗擾度容易不合格2G測(cè)試的主要問題