MS7000常用語句

1、1 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing上海宏測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司上海宏測(cè)半導(dǎo)體科技有限公司MacroTest Semiconductor, Inc.MacroTest Semiconductor, Inc.MS7000 MS7000 常用語句常用語句作者：王 駿2 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice

2、for Your Testingl 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I）l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV）l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 掃描掃描l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流3 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall

3、 FVMI_fun()double adresult10;/定義數(shù)組adresult10OVI.OVISet(Bin,OVI_ForceV,1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/給“Bin”腳施加1V電壓，電壓檔位為2V，電流檔位為5mA，電流范圍限制為-55mAOVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_I,10,10,FALSE);/在“Bin”腳采樣，采樣次數(shù)為10，采樣間隔為10，不開啟Digitizer功能delay(5);/延時(shí)5msOVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureI,adresult,OVI_2V,OVI_5mA);/在“Bin”腳測(cè)

4、量電流，結(jié)果存到adresult數(shù)組中，電壓檔位為2V，電流檔位為5mAOVI.OVISet(Bin,OVI_ForceOff);/關(guān)閉“Bin”腳OVI通道AddTestResult(SITE_1,FVMV,adresult0);/在工位1上將adresult0中的數(shù)值顯示出來，顯示名為FVMI加電壓測(cè)電流（FVMI）4 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I）l 加電流測(cè)電壓（加電流

5、測(cè)電壓（FIMVFIMV）l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 掃描掃描l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流5 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall FIMV_fun()double adresult10;/定義數(shù)組adresult10OVI.OVISe

6、t(Bin,OVI_ForceI,1,OVI_30V,OVI_5mA,-50,50);/給“Bin”腳施加1mA電流，電壓檔位為30V，電流檔位為5mA，電壓范圍限制為-5050VOVI.OVIAdcSet(Bin,OVI_Adc_V,10,10,FALSE);/在“Bin”腳采樣，采樣次數(shù)為10，采樣間隔為10，不開啟Digitizer功能delay(5);/延時(shí)5msOVI.OVIMeasure(Bin,OVI_MeasureV,adresult,OVI_30V,OVI_5mA);/在“Bin”腳測(cè)量電壓，結(jié)果存到adresult數(shù)組中，電壓檔位為30V，電流檔位為5mAOVI.OVISe

7、t(Bin,OVI_ForceOff);/關(guān)閉“Bin”腳OVI通道AddTestResult(SITE_1,FIMV,adresult0);/在工位1上將adresult0中的數(shù)值顯示出來，顯示名為FIMV加電流測(cè)電壓（FIMV）6 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I）l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV）l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc）l AWGAWG的的使

8、用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 掃描掃描l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流7 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall Fosc()TMU.TMU_SET(Bin,TMU_FREQAN,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/設(shè)定TMU測(cè)量模式為測(cè)量頻率、采樣次數(shù)為10、timeout

9、時(shí)間為1ms、測(cè)量檔位為100kHz、不用濾波TMU.TMU_START(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0);/在“Bin”腳測(cè)量波形，下降沿0.5V位置開始觸發(fā)TMU.TMU_STOP(Bin,TMU_SLOP_NEG,0.5,0); /在“Bin”腳測(cè)量波形，下降沿0.5V位置結(jié)束觸發(fā)TMU.TMU_ARM(Bin);/“Bin”腳啟動(dòng)測(cè)量delay(10);/延時(shí)10msTMU.TMU_MTA(Bin,TMU_FREQAN,1);/測(cè)量“Bin”腳測(cè)試頻率數(shù)據(jù)，測(cè)量模式為1AddTestResult(SITE_1,Fosc,TMU.GetPinResult(Bin);/在工位

10、1上將“Bin”腳中的數(shù)值顯示出來，顯示名為Fosc“TMU.TMU_SET(“Bin”,TMU_OFF,10,1,TMU_10V,TMU_100K,TMU_FNONE);/關(guān)閉“Bin”腳TMU通道測(cè)量頻率（Fosc）8 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I）l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV）l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l D

11、CBLDCBL的的使用使用l 掃描掃描l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流9 / 95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingvoid _stdcall UserInit()/在UserInit()中下載波表文件double mcode4096;/定義數(shù)組mcode4096double pi2=8*atan(double)1);AWG.ChnInit(AWG

12、);/在“AWG”腳初始化AWG通道for (int i=0;i=1;i=i-0.02)/從i=1.5開始遞減，每次遞減0.02，直到為i=1OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1腳輸出i的電壓 delay(5);/延時(shí)5ms DVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2腳測(cè)量result1=DVI.GetPinResult(Bin2);/將Bin2腳測(cè)量結(jié)果賦給result1if(result1=1;i1=i1-0.1)/從i1=1.5開始遞減，每次

13、遞減0.02，直到為i1=1OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i1,OVI_2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1腳輸出i1的電壓delay(5);/延時(shí)5msDVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2腳測(cè)量result1=DVI.GetPinResult(Bin2);/將Bin2腳測(cè)量結(jié)果賦給result1if(result1=1;i2=i2-0.02)/從i2=result0+0.1開始遞減，每次遞減0.02，直到為i2=1OVI.OVISet(Bin1,OVI_ForceV,i2,OVI_

14、2V,OVI_5mA,-5,5);/在Bin1腳輸出i2的電壓 delay(5);/延時(shí)5msDVI.DVIMeasureA(Bin2,DVI_MeasureV,DVI_8V,DVI_50mA);/在Bin2腳測(cè)量result3=DVI.GetPinResult(Bin2);/將Bin2腳測(cè)量結(jié)果賦給result1if(result3=10&result0=20&result0=30&result0=40)ICR.SetPassBin(0,3);/result0在30到40范圍內(nèi)分在軟件BIN3/result0在超出范圍不寫，默認(rèn)分在函數(shù)失效設(shè)置的軟件BIN中23 /

15、95MacroTest Semiconductor，Inc.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testingl 加電壓測(cè)加電壓測(cè)電流電流（FVMFVMI I）l 加電流測(cè)電壓（加電流測(cè)電壓（FIMVFIMV）l 測(cè)量頻率（測(cè)量頻率（FoscFosc）l AWGAWG的的使用使用l DCBLDCBL的的使用使用l 掃描掃描l 多級(jí)掃描多級(jí)掃描l 斷電斷電(Poweroff)(Poweroff)l 良品分良品分BINBINl 測(cè)量漏電流測(cè)量漏電流24 / 95MacroTest Semiconductor，In

16、c.The Better Choice for Your TestingThe Better Choice for Your Testing測(cè)量漏電流void Ileak_fun()FHVI.FHVISet(FHVI,FHVI_ForceV,800,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA,-0.003,-0.003);/在FHVI腳輸出800V的電壓FHVI.FHVIAdcSet(FHVI,FHVI_Adc_I,100,10);/在FHVI腳采樣設(shè)置delay(5);/延時(shí)5msFHVI.FHVIMeasure(FHVI,FHVI_MeasureI,adResult,FHVI_1000V,FHVI_3P2uA);/將FHVI腳測(cè)量結(jié)果賦給數(shù)組adResultFHVI.FHVI