RF射頻連接檢驗方法

1、RF射頻連接檢驗方法不論是高頻電連接器，還是低頻電連接器，接觸電阻、絕緣電阻和介質耐壓（又稱抗電強度）都是保證電連接器能正常可靠地工作的最基本的電氣參數(shù)。通常在電連接器產品技術條件的質量一致性檢驗A、B組常規(guī)交收檢驗項目中都列有明確的技術指標要求和試驗方法。這三個檢驗項目也是用戶判別電連接器質量和可靠性優(yōu)劣的重要依據(jù)。 但根據(jù)作者多年來從事電連接器檢驗的實踐發(fā)現(xiàn)；目前各生產廠之間以及生產廠和使用廠之間，在具體執(zhí)行有關技術條件時尚存在許多不一致和差異，往往由于采用的儀器、測試工裝、操作方法、樣品處理和環(huán)境條件等因素的不同，直接影響到檢驗結果的準確性和一致性。為此，作者認為：針對目前這三個常規(guī)電性

2、能檢驗項目在實際操作中存在的問題進行一些專題研討，對提高電連接器檢驗可靠性是十分有益的。另外，隨著電子信息技術的迅猛發(fā)展，新一代的多功能自動檢測儀正在逐步替代原有的單參數(shù)測試儀。這些新型測試儀器的應用必將大大提高電性能的檢測速度、效率和準確可靠性。具體：2 接觸電阻檢驗2.1 作用原理    在顯微鏡下觀察連接器接觸件的表面，盡管鍍金層十分光滑，則仍能觀察到5-10微米的凸起部分。會看到插合的一對接觸件的接觸，并不是整個接觸面的接觸，而是散布在接觸面上一些點的接觸。實際接觸面必然小于理論接觸面。根據(jù)表面光滑程度及接觸壓力大小，兩者差距有的可達幾千倍。實際

3、接觸面可分為兩部分；一是真正金屬與金屬直接接觸部分。即金屬間無過渡電阻的接觸微點，亦稱接觸斑點，它是由接觸壓力或熱作用破壞界面膜后形成的。這部分約占實際接觸面積的5-10%。二是通過接觸界面污染薄膜后相互接觸的部分。因為任何金屬都有返回原氧化物狀態(tài)的傾向。實際上，在大氣中不存在真正潔凈的金屬表面，即使很潔凈的金屬表面，一旦暴露在大氣中，便會很快生成幾微米的初期氧化膜層。例如銅只要2-3分鐘，鎳約30分鐘，鋁僅需2-3秒鐘，其表面便可形成厚度約2微米的氧化膜層。即使特別穩(wěn)定的貴金屬金，由于它的表面能較高，其表面也會形成一層有機氣體吸附膜。此外，大氣中的塵埃等也會在接觸件表面形成沉積膜。因而，從微

4、觀分析任何接觸面都是一個污染面。    綜上所述，真正接觸電阻應由以下幾部分組成；1) 集中電阻    電流通過實際接觸面時，由于電流線收縮（或稱集中）顯示出來的電阻。將其稱為集中電阻或收縮電阻。2) 膜層電阻    由于接觸表面膜層及其他污染物所構成的膜層電阻。從接觸表面狀態(tài)分析；表面污染膜可分為較堅實的薄膜層和較松散的雜質污染層。故確切地說，也可把膜層電阻稱為界面電阻。3) 導體電阻    實際測量電連接器接觸件的接觸電阻時，都是在

5、接點引出端進行的，故實際測得的接觸電阻還包含接觸表面以外接觸件和引出導線本身的導體電阻。導體電阻主要取決于金屬材料本身的導電性能，它與周圍環(huán)境溫度的關系可用溫度系數(shù)來表征。   為便于區(qū)分，將集中電阻加上膜層電阻稱為真實接觸電阻。而將實際測得包含有導體電阻的稱為總接觸電阻。    在實際測量接觸電阻時，常使用按開爾文電橋四端子法原理設計的接觸電阻測試儀（毫歐計），其專用夾具夾在被測接觸件端接部位兩端，故實際測量的總接觸電阻R由以下三部分組成，可由下式表示：R= RC + Rf + Rp,式中：RC集中電阻；Rf膜層電阻；Rp導體電阻。

6、    接觸電阻檢驗目的是確定電流流經接觸件的接觸表面的電觸點時產生的電阻。如果有大電流通過高阻觸點時，就可能產生過分的能量消耗，并使觸點產生危險的過熱現(xiàn)象。在很多應用中要求接觸電阻低且穩(wěn)定，以使觸點上的電壓降不致影響電路狀況的精度。    測量接觸電阻除用毫歐計外,也可用伏-安計法,安培-電位計法。    在連接微弱信號電路中，設定的測試參數(shù)條件對接觸電阻檢測結果有一定影響。因為接觸表面會附有氧化層，油污或其他污染物，兩接觸件表面會產生膜層電阻。由于膜層為不良導體，隨膜層厚

7、度增加，接觸電阻會迅速增大。膜層在高的接觸壓力下會機械擊穿，或在高電壓、大電流下會發(fā)生電擊穿。但對某些小型連接器設計的接觸壓力很小，工作電流電壓僅為mA和mV級，膜層電阻不易被擊穿，接觸電阻增大可能影響電信號的傳輸。    在GB5095“電子設備用機電元件基本試驗規(guī)程及測量方法” 中的接觸電阻測試方法之一，“接觸電阻-毫伏法” 規(guī)定，為防止接觸件上膜層被擊穿，測試回路交流或直流的開路峰值電壓應不大于20mV，交流或直流的測試中電流應不大于100mA。    在GJB1217“電連接器試驗方法” 中規(guī)定有“低電平接

8、觸電阻” 和“接觸電阻” 兩種試驗方法。其中低電平接觸電阻試驗方法基本內容與上述GB5095中的接觸電阻-毫伏法相同。目的是評定接觸件在加上不改變物理的接觸表面或不改變可能存在的不導電氧化薄膜的電壓和電流條件下的接觸電阻特性。所加開路試驗電壓不超過20mV，試驗電流應限制在100mA。在這一電平下的性能足以表現(xiàn)在低電平電激勵下的接觸界面的性能。而接觸電阻試驗方法目的是測量通過規(guī)定電流的一對插合接觸件兩端或接觸件與測量規(guī)之間的電阻。通常采用這一試驗方法施加的規(guī)定電流要比前一種試驗方法大得多。如國軍標GJB101“小圓形快速分離耐環(huán)境電連接器總規(guī)范”中規(guī)定；測量時電流為1A，接觸對串聯(lián)后，測量每對

9、接觸對的電壓降，取其平均值換算成接觸電阻值。2.2 影響因素    主要受接觸件材料、正壓力、表面狀態(tài)、使用電壓和電流等因素影響。1) 接觸件材料    電連接器技術條件對不同材質制作的同規(guī)格插配接觸件，規(guī)定了不同的接觸電阻考核指標。如小圓形快速分離耐環(huán)境電連接器總規(guī)范GJB101-86規(guī)定，直徑為1mm的插配接觸件接觸電阻，銅合金5m,鐵合金15m。2) 正壓力    接觸件的正壓力是指彼此接觸的表面產生并垂直于接觸表面的力。隨正壓力增加，接觸微點數(shù)量及面積也逐漸增加，同時

10、接觸微點從彈性變形過渡到塑性變形。由于集中電阻逐漸減小，而使接觸電阻降低。接觸正壓力主要取決于接觸件的幾何形狀和材料性能。3) 表面狀態(tài)    接觸件表面一是由于塵埃、松香、油污等在接點表面機械附著沉積形成的較松散的表膜，這層表膜由于帶有微粒物質極易嵌藏在接觸表面的微觀凹坑處，使接觸面積縮小，接觸電阻增大，且極不穩(wěn)定。二是由于物理吸附及化學吸附所形成的污染膜，對金屬表面主要是化學吸附，它是在物理吸附后伴隨電子遷移而產生的。故對一些高可靠性要求的產品，如航天用電連接器必須要有潔凈的裝配生產環(huán)境條件，完善的清洗工藝及必要的結構密封措施，使用單位必須要有良好的

11、貯存和使用操作環(huán)境條件。4) 使用電壓    使用電壓達到一定閾值，會使接觸件膜層被擊穿，而使接觸電阻迅速下降。但由于熱效應加速了膜層附近區(qū)域的化學反應，對膜層有一定的修復作用。于是阻值呈現(xiàn)非線性。在閾值電壓附近，電壓降的微小波動會引起電流可能二十倍或幾十倍范圍內變化。使接觸電阻發(fā)生很大變化，不了解這種非線*，就會在測試和使用接觸件時產生錯誤。5) 電流    當電流超過一定值時，接觸件界面微小點處通電后產生的焦耳熱（）作用而使金屬軟化或熔化，會對集中電阻產生影響，隨之降低接觸電阻。2.3 問題研討1) 低電平接觸

12、電阻檢驗    考慮到接觸件膜層在高接觸壓力下會發(fā)生機械擊穿或在高電壓、大電流下會發(fā)生電擊穿。對某些小體積的連接器設計的接觸壓力相當小，使用場合僅為mV或mA級，膜層電阻不易被擊穿，可能影響電信號的傳輸。故國軍標GJB1217-91電連接器試驗方法中規(guī)定了兩種試驗方法。即低電平接觸電阻試驗方法和接觸電阻試驗方法。其中低電平接觸電阻試驗目的是評定接觸件在加上不能改變物理的接觸表面或不改變可能存在的不導電氧化簿膜的電壓和電流條件下的接觸電阻特性。所加開路試驗電壓不超過20mV，而試驗電流應限制在100mA，在這一電平下的性能足以滿足以表現(xiàn)在低電平電激勵下的接

13、觸界面的性能。而接觸電阻試驗目的是測量通過規(guī)定電流的一對插合接觸件兩端或接觸件與測量規(guī)之間的電阻,而此規(guī)定電流要比前者大得多，通常規(guī)定為1A。2) 單孔分離力檢驗    為確保接觸件插合接觸可靠，保持穩(wěn)定的正壓力是關鍵。正壓力是接觸壓力的一種直接指標，明顯影響接觸電阻。但鑒于接觸件插合狀態(tài)的正壓力很難測量，故一般用測量插合狀態(tài)的接觸件由靜止變?yōu)檫\動的單孔分離力來表征插針與插孔正在接觸。通常電連接器技術條件規(guī)定的分離力要求是用實驗方法確定的，其理論值可用下式表達。     F=FN·  

14、   式中FN為正壓力， 為摩擦系數(shù)。     由于分離力受正壓力和摩擦系數(shù)兩者制約。故決不能認為分離力大，就正壓力大接觸可靠?，F(xiàn)在隨著接觸件制作精度和表面鍍層質量的提高，將分離力控制在一個恰當?shù)乃缴霞纯杀ＷC接觸可靠。作者在實踐中發(fā)現(xiàn)，單孔分離力過小，在受振動沖擊載荷時有可能造成信號瞬斷。用測單孔分離力評定接觸可靠性比測接觸電阻有效。因為在實際檢驗中接觸電阻件很少出現(xiàn)不合格，單孔分離力偏低超差的插孔，測量接觸電阻往往仍合格。3) 接觸電阻檢驗合格不等于接觸可靠。    在許多實際使用場合，汽車

15、、摩托車、火車、動力機械、自動化儀器以及航空、航天、船舶等軍用連接器，往往都是在動態(tài)振動環(huán)境下使用。實驗證明僅用檢驗靜態(tài)接觸電阻是否合格，并不能保證動態(tài)環(huán)境下使用接觸可靠。往往接觸電阻合格的連接器在進行振動、沖擊、離心等模擬環(huán)境試驗時仍出現(xiàn)瞬間斷電現(xiàn)象。故對一些高可靠性要求的連接器，許多設計人員都提出最好能100%對其進行動態(tài)振動試驗來考核接觸可靠性。最近，日本耐可公司推出了一種與導通儀配套使用的小型臺式電動振動臺，已成功地應用于許多民用線束的接觸可靠性檢驗。3  絕緣電阻檢驗3.1作用原理     絕緣電阻是指在連接器的絕緣部分施加

16、電壓，從而使絕緣部分的表面或內部產生漏電流而呈現(xiàn)出的電阻值。即絕緣電阻（M）=加在絕緣體上的電壓（V）/泄漏電流（A）。通過絕緣電阻檢驗確定連接器的絕緣性能能否符合電路設計的要求或經受高溫、潮濕等環(huán)境應力時，其絕緣電阻是否符合有關技術條件的規(guī)定。    絕緣電阻是設計高阻抗電路的限制因素。絕緣電阻低，意味著漏電流大，這將破壞電路的正常工作。例如形成反饋回路，過大的漏電流所產生的熱和直流電解，將使絕緣破壞或使連接器的電性能變劣。3.2 影響因素     主要受絕緣材料、溫度、濕度、污損、試驗電壓及連續(xù)施加測試電壓的持

17、續(xù)時間等因素影響。1) 絕緣材料     設計電連接器時選用何種絕緣材料非常重要,它往往影響隨后產品的絕緣電阻能否穩(wěn)定合格。如某廠原使用醋醛玻纖塑料和增強尼龍等材料制作絕緣體，這些材料內含極性基因，吸濕性大，在常溫下絕緣性能可滿足產品要求，而在高溫潮濕下絕緣性能不合格。后采用特種工程塑料PES（聚苯醚砜）材料，產品經200  1000h和240h潮濕試驗，絕緣電阻變化較小，仍在105M以上，無異常變化。2) 溫度    高溫會破壞絕緣材料，引起絕緣電阻和耐壓性能降低，對金屬殼體，高溫可使接觸件失

18、去彈性，加速氧化和發(fā)生鍍層變質。如按GJB598生產的耐環(huán)境快速分離電連接器系列2產品，絕緣電阻規(guī)定25時應不小于5000M，而高溫200時，則降低至不小于500 M。3) 濕度    潮濕環(huán)境引起水蒸氣在絕緣體表面的吸收和擴散，容易使絕緣電阻降低到M級以下。長期處于高溫環(huán)境下會引起絕緣體物理變形、分解、逸出生成物，產生呼吸效應及電解腐蝕及裂紋。如按GJB2281生產的帶狀電纜電連接器，標準大氣條件下的絕緣電阻值應不小于5000 M，而經相對濕度為90%95%，溫度為40 ±2 96h溫熱試驗后的絕緣電阻降至不小于1000 M。4) 污損

19、60;   絕緣體內部和表面的潔凈度對絕緣電阻影響很大，由于注塑絕緣體用的粉料或膠接上、下絕緣安裝板的膠料中混有雜質，或由于多次插拔磨損殘留金屬屑及端接錫焊時焊劑殘留滲入絕緣體表面，都會明顯降低絕緣電阻。如某廠生產的圓形電連接器在成品交收試驗時發(fā)現(xiàn)有一個產品接觸件之間的絕緣電阻很低，僅20M不合格，后經解剖分析發(fā)現(xiàn)其原因是由于注塑絕緣體用的粉料中混有雜質，后只得將該批產品全部報廢。5) 試驗電壓    絕緣電阻檢驗時施加的試驗電壓對測試結果有很大關系。因為試驗電壓升高時，漏電流的增加不成線*，電流增加速率大于電壓增加的速率，

20、故試驗電壓升高時測得的絕緣電阻值將會下降。電連接器產品技術條件引用的試驗方法中，對試驗電壓都有明確的規(guī)定，通常規(guī)定為500V，因此不能用一般歐姆表、直流電橋等電阻測量儀器來測量絕緣電阻。6) 持續(xù)時間（讀數(shù)時間）    由于被測電連接器在測量極之間存在著一定的電容，測量初期電源先要對電容充電，因此在測試時往往會出現(xiàn)絕緣電阻測試儀上指示的電阻值有逐漸上升的趨勢，這是正常現(xiàn)象。不少電連接器試驗方法中明確規(guī)定，讀取絕緣電阻測試儀上的讀數(shù)必須在電壓施加一分鐘后進行。3.3問題研討1)檢驗環(huán)境溫濕度的影響    電連接器技術

21、條件通常都規(guī)定了產品使用環(huán)境溫度和溫度，如溫度為-55125、濕度為40±2、95±3%，作者認為；檢驗環(huán)境條件和使用環(huán)境條件是有區(qū)別的。技術條件規(guī)定產品可以在上述溫濕度使用環(huán)境下工作，并不意味著生產廠在長述使用環(huán)境條件下測試絕緣電阻都應滿足正常大氣壓下的考核指標。如在使用溫度上限125和40±2、93±3%溫熱環(huán)境條件下測絕緣電阻，則應按技術條件規(guī)定的高溫和溫熱環(huán)境試驗的考核指標進行考核，而不應按正常大氣壓下的考核指標進行考核。    作者在實際檢驗時多次發(fā)現(xiàn)；同一批產品在北方氣候較干燥的條件下（濕度50%）濕度

22、出廠檢驗絕緣電阻大于1000M是合格的，但產品發(fā)運至南方使用廠在較潮濕的環(huán)境下（濕度80%）復驗,絕緣電阻僅為100200M屬不合格,遇此情況有時用酒精清洗烘干后，剛取出檢驗是合格的，但放置到次日再復測又不合格.為此,建議生產廠在產品交收試驗時,應對絕緣電阻控制在規(guī)定值以上一個恰當?shù)乃缴?保持有一定的裕度。不要將在干燥環(huán)境下勉強達到規(guī)定值的產品判為合格出廠，以免供需雙方由于檢驗氣候環(huán)境條件不同，造成檢驗結果不一致而引起爭議。    為明確檢驗環(huán)境溫濕度要求，現(xiàn)在有部分試驗方法既規(guī)定了測試的環(huán)境溫濕度（相對較寬的范圍），又規(guī)定了出現(xiàn)分岐仲裁時的溫濕度要求

23、（相對取中限較窄的范圍）。如GJB1217-91電連接器試驗方法規(guī)定；試驗的標準大氣條件，溫度1535，濕度20%80%，氣壓73103Kpa。仲裁試驗的標準大氣條件，溫度25±1，濕度50±2%，氣壓86106 Kpa。2) 檢驗工裝的影響    由于電接器技術條件規(guī)定，電連接器所有接觸件之間和所有接觸件與殼體之間的絕緣電阻都應符合規(guī)定值。又規(guī)定其施加電壓的持續(xù)時間要大于1分鐘以上。故許多電連接器生產廠對其所生產的每一型號規(guī)格產品都備有相應的二至三個不同編排連接方式的檢驗工裝（頭孔配座針工裝或頭針配座孔工裝）。通過對其接觸件點與點之

24、間，排與排之間和所有接點與殼體間并聯(lián)施加試驗電壓，檢驗其絕緣電阻是否合格。這種用檢驗工裝并聯(lián)施加電壓比單個接點間施加電壓條件苛刻。故若用檢驗工裝測試發(fā)現(xiàn)絕緣電阻不合格時，允許不用工裝直接用表棒在單點間施加電壓進行復測。但現(xiàn)有部分生產廠和絕大多數(shù)使用單位都不用檢驗工裝，而是直接采用與絕緣電阻測試儀相連的二根測試表棒，在每個接觸件之間或接觸件與殼體之間搭接，檢驗其絕緣電阻是否合格。這種不用檢驗工裝的方法有以下缺點：一是隨機性很大，極有可能產生漏檢，二是每個接點不可能象有檢驗工裝那樣，可以停留1分鐘后再讀數(shù)，故有可能造成誤判，檢驗的可靠性較差。    當然，即

25、使使用檢驗工裝，在檢驗前必須首先保證工裝合格。要保證工裝潔凈和干燥，其本身絕緣電阻必須合格，且留有充分余量。4 介質耐壓檢驗    介質耐壓檢驗又稱抗電強度檢驗。它是在連接器接觸件與接觸件之間、接觸件與殼體之間，在規(guī)定時間內施加規(guī)定的電壓，以此來確定連接器在額定電壓下能否安全工作，能否耐受由于開關浪涌及其它類似現(xiàn)象所導致的過電位的能力，從而評定電連接器絕緣材料或絕緣間隙是否合適。    如果絕緣體內有缺陷，則在施加試驗電壓后，必然產生擊穿放電或損壞。擊穿放電表現(xiàn)為飛?。ū砻娣烹姡?、火花放電（空氣放電）或擊穿（擊穿放

26、電）現(xiàn)象。過大漏電流可能引起電參數(shù)或物理性能的改變。由于過電位，即使是在低于擊穿電壓時也可能有損于絕緣或降低其安全系數(shù)。所以應當慎重地進行介質耐壓檢驗。在例行試驗中如果需要連續(xù)施加試驗電壓時，最好在進行隨后的試驗時降低電位。4.2 影響因素    主要受絕緣材料、潔凈度、濕度、大氣壓力、接觸件間距，爬電距離和耐壓持續(xù)時間等因素影響。1) 絕緣材料    設計必須選用恰當?shù)墓こ趟芰现谱鹘^緣體，才能滿足預定的耐壓性能指標要求。如選用擊穿電壓為16KV/mm的PEJ（聚苯醚礬）特種工程塑料，能滿足GJB598耐環(huán)境快速分

27、離圓形電連接器YB系列產品標準大氣壓下耐壓為1500V的要求。氟塑料（F4）具有比其它材料更高的介質耐壓和絕緣電阻，廣泛用于制作同軸射頻電連接器絕緣體。2) 潔凈度    絕緣體內部和表面潔凈度對介質耐壓影響很大。作者在圓形連接器補充篩選時發(fā)現(xiàn)有一產品要求耐壓1500V，實際測試施加電壓至400V，即在二個接觸件之間發(fā)生擊穿現(xiàn)象。經與生產廠共同進行解剖分析后認為；擊穿發(fā)生于絕緣體上、下兩個絕緣安裝板的膠接界面，是由于膠粘劑中混有雜質所致。3) 濕度    增加濕度會降低介質耐壓。如J36A矩形電連接器技術條件規(guī)定；

28、正常條件下耐壓為1000V，而經過40±2、93±3，48h濕熱試驗后耐壓降為500V。4) 低氣壓    空氣稀簿的高空，絕緣體材料會放出氣體污染接觸件，并使電量產生的趨勢增加，耐壓性能下降，使電路產生短路故障。故高空使用的非密封電連接器都必須降額使用。如Y27A圖形電連接器技術條件規(guī)定；正常條件下耐壓為1300V，而1。33Pa低氣壓條件下耐壓降為200V。5) 接觸件間距    連接器的小型化和高密度的發(fā)展，具體體現(xiàn)在矩形電連接器和印制電路電連接器上，要求間距能達到0.635mm，甚至0.

29、3mm，外形尺寸最關鍵的高度尺寸已減小到11.5mm，表面貼裝技術（SMT）與小型化的發(fā)展有著密切的關系。這就要求我們選用耐壓性能更高的絕緣材料，才能滿足設計尺寸小型化的要求。6) 爬電距離    它是指接觸件與接觸件之間，或接觸件與殼體之間沿絕緣體表面量得的最短距離。爬電距離短容易引起表面放電（飛?。?。故有部分連接器的絕緣安裝板表面插針（孔）安裝孔設計成帶凹凸臺階形狀，增加爬電距離，以提高抵抗表面放電的能力。7) 耐壓持續(xù)時間     一般電連接器技術條件均規(guī)定為電壓施加到規(guī)定值后持續(xù)1分鐘應無擊穿、飛弧、放電現(xiàn)

30、象。但許多電連接器生產廠在做成品交收試驗時，為提高檢測速度往往采用提高試驗電壓20%，縮短耐壓持續(xù)時間為5秒或10秒的方法。作者認為，它們之間不存在某種函數(shù)關系。從交流耐壓擊穿機理來分析，擊穿主要泄漏引起擊穿，即泄漏電流大于規(guī)定值就認為擊穿。另一種是熱擊穿，提高試驗電壓強加泄漏，是否易擊穿與時間長短有關。如國軍標GJB1217-91電連接器試驗方法規(guī)定；試驗電壓加至規(guī)定值后應持續(xù)1分種。當有規(guī)定時，廠內質量一致性試驗時的保持時間可降至最少5秒。作者在實踐中發(fā)現(xiàn)按此規(guī)定檢驗合格出廠的產品，用戶在進行100%補充篩選時，仍發(fā)現(xiàn)有個別產品因絕緣體內部存在缺陷而被擊穿。造成上述現(xiàn)象的原因很可能是由于耐

31、壓持續(xù)時間縮短為5秒，在極短時間內對絕緣體電容充電，還不足以使泄漏電流大于規(guī)定值而引起擊穿。4.3問題研討1) 測量方法的研究     為保證能在接觸件之間或接觸件與殼體間施加高電壓保持1分種，故和測量絕緣電阻一樣，必須采用相應的測試工裝（頭孔配座針或頭針配座孔），測試工裝可以和測量絕緣電阻的工裝通用。對一般接點點距較大的電連接器可采用兩步測量法，即第一步將偶數(shù)排所有接點并聯(lián)，將奇數(shù)排所有接點并聯(lián)，然后測量兩并聯(lián)接點組之間的介質耐壓。第二步將全部接點并聯(lián)后測量并聯(lián)點與“地”之間的介質耐壓。如某矩形電連接器接點按正等邊三角形排列，同排點距為2.8mm，排距

32、為2.5mm，鄰排點距為2.87mm。雖然兩步測量法沒有測量最小點距2.8mm，而是測量的2.87mm，但由于介質耐壓很高為1000V左右，且裕度大，0.07mm的壁厚所增加的介質耐壓微不足道。但兩步測量法雖經濟仍有不可靠的因素，它無法剔除同排接點間由于存在內部缺陷所引起的擊穿隱患。故對于高密度、超小型電連接器而言，由于介質耐壓規(guī)定值小，裕度也小，盡管接點是按正等邊三角形排列，但由于其接點間距小，相鄰兩點之間的絕緣體壁厚很小，只要存在很微小的氣泡、疏松、雜質等缺陷都將嚴重影響介質耐壓，因此，必須采用三步測量法；即在前述二步測量法基礎上再增加一步，將所有排的偶數(shù)點并聯(lián)，然后測量兩并聯(lián)接點組之間的

33、介質耐壓。對于可靠性要求高，特別是接點間距1.5mm，接點間絕緣體壁厚0.4mm的電連接器應采用三步測量法，全部測量出每個接點與其所有相鄰接點之間的介質耐壓，才能確保安全可靠。    近年來，便攜式的電子設備，如手機、筆記本電腦、電子記事本、數(shù)碼相機及攝像機的日益普及。為適應這些電子設備小型化的趨勢，連接器、線束及電路板等作為配套器材也必須朝小型化方向發(fā)展，新產品中將出現(xiàn)窄間距軟質扁帶電纜、柔性印刷電纜連接器等，電連接器間距降至0.3mm，甚至更小，最低高度將降至1.5mm以下。而且生產是高度自動化的生產流水線。上述這些傳統(tǒng)的手工檢測絕緣和耐壓方法，無論

34、是檢測速度與效率，還是測試精度和可靠性等方面都根本無法滿足這些器件的在線檢測要求。于是一種新型的專用于在線檢測的高效率、智能化儀器誕生了， 現(xiàn)在，美國CIRRIS公司T0UCH1系列儀器、日本Nac公司30X系列儀器等已在我國某些生產連接器、線束及電路板的專業(yè)廠或個別重點軍工企業(yè)獲得了成功應用。這類儀器的特點是：快速、準確，一次插合即可完成導通、耐壓、絕緣等常規(guī)電性能參數(shù)的自動檢測。徹底改變了如上所述采用單參數(shù)測試儀（耐壓測試儀、絕緣電阻測試儀和接觸電阻測試儀等），需多次插拔變換儀器和需多次變換二至三副測試工裝的傳統(tǒng)操作方法。大大提高了工作效率，特別適用于在線檢測。  &#

35、160; 儀器能在測試前進行自檢和環(huán)境檢測，判斷儀器和環(huán)境條件是否正常。儀器用于器件品質檢驗的可靠性高。    能將被檢的連接器、線束及電路板等互連器件與儀器的記憶內存（樣線）信息進行比較后自動作出合格與否的判斷。便于操作人員掌握，不易出現(xiàn)差錯。    儀器有內置電腦，能自動將檢測結果打印輸出，以便查詢記錄，使用十分方便。儀器的液晶顯示屏能直觀顯示各種設置參數(shù)條件和檢測結果。美國CIRRIS公司的TOUCHI儀器用圖形觸摸顯示屏作為操作面板，簡單的菜單提示操作者進行各項設置。從電阻到電壓的設置，到文件的命

36、名，只需用手指輕輕一觸。    儀器備有聲光報警，用顯示屏上出現(xiàn)醒目的綠色或紅色符號，配上相應的聲音提示合格與否。為方便操作，有的儀器后面有外接端子，可接腳踏控制開關。儀器可通過微帶（排線）與探針檢測臺配套使用。如日本JSP彈簧探針株式會社生產各種形狀探頭的彈簧探針，其最小直徑達0.2mm，最小間距達0.3mm,用其制作探針檢測臺與儀器配套使用，可十分有效地解決小型化、高密度的互連器件在線檢測問題。有部分型號儀器不但能測絕緣高電阻，還能測低的導通阻抗，用四線模式可以把轉接線的電阻歸零，檢查導通回路中有否工藝不良等因素引起的高電阻接點，電阻測量精度可達0.

37、001。2) 漏電流的設定    在使用耐壓測試儀進行介質耐壓檢驗時，漏電流的設定很重要，應嚴格按產品技術條件所引用的試驗方法設定漏電流閾值。如某矩形電連接器技術條件規(guī)定，耐壓試驗時漏電流不應超過1mA，而作者在實際儀器操作時將漏電流設定得太低為0.5 mA,結果造成儀器報警的“假擊穿”現(xiàn)象。由于極大的泄漏電流對連接器或同軸接觸件的電參數(shù)或物理特性會產生有害的影響，故試驗時泄漏電流的最大值應限制在5 mA以內。通常產品技術條件規(guī)定耐壓試驗時的漏電流不應超過1 mA，也有部分連接器技術條件，如GB101-86小圓形快速分離耐環(huán)境電連接器總規(guī)范規(guī)定，耐壓試驗

38、的最大漏電流不應超過2 mA。3) 檢驗工裝的影響    介質耐壓檢驗工裝和絕緣電阻檢驗工裝是通用的，以保證在所有接觸件之間和接觸件與殼體間施加規(guī)定電壓持續(xù)1分鐘，檢測有否放電、飛弧和擊穿等現(xiàn)象。但目前有相當多的電連接器生產廠沒有采用上述檢驗工裝，而是用連接儀器的兩根表棒隨機進行點與點、點與殼體間的耐壓檢驗，這種檢驗方法可靠性較差，極易產生錯、漏檢。4)絕緣電阻檢驗不能替代介質耐壓檢驗    有些人認為，絕緣電阻足夠高的連接器再進行耐壓檢驗是多此一舉。而且耐壓檢驗時電壓很高，操作人員也較危險，對被檢連接器也沒好處。

39、因此，有不少人不太愿意進行耐壓試驗。事實上，測量絕緣電阻與耐壓檢驗之間的區(qū)別在于，測量絕緣電阻的電壓是直流，而耐壓檢驗是用交流電壓。另外，測量絕緣電阻用的電源功率大大低于交流耐壓檢驗的電源功率。因此，絕緣電阻高的連接器，不一定能承受較高的交流電壓。因為目前測量絕緣電阻用的兆歐表，雖然測量電壓很高，有的達幾仟伏，但輸出功率不大，即使測量端短路，也僅僅是10mA左右，不可能因使用兆歐表不當而引起觸電死亡事故。而交流耐壓檢驗功率往往高得多，必須重視人身及設備的安全，連接器絕緣體內部缺陷，只有在大功率、高電壓情況下才能發(fā)現(xiàn)。絕緣和耐壓是不能等同的。清潔干燥的絕緣體盡管有高的絕緣電阻，但能發(fā)生不能經受介質耐壓檢驗的故障。反之，一個臟的損傷的絕緣體其絕緣電阻雖然低，但在高電壓下也可能不會被擊穿