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對(duì)于2-5軸類零件的測(cè)量,本節(jié)主要介紹:軸徑測(cè)量的四種方法和軸徑測(cè)量的誤差因素分析(原理、測(cè)量特點(diǎn)、應(yīng)用場(chǎng)合、精度、主要測(cè)量誤差以及如何提高測(cè)量精度)要求:通過本節(jié)的研究,可以切實(shí)解決軸類零件的檢測(cè)問題(測(cè)量方法的選擇、具體測(cè)量)。要點(diǎn):通用實(shí)驗(yàn)室各種測(cè)量軸徑方法的軸徑測(cè)量誤差分析,任務(wù):軸類零件的測(cè)量,測(cè)量對(duì)象和測(cè)量問題1:什么是軸類零件?(外觀、特征、分類、用途)問題2:車軸零件的數(shù)量是多少?測(cè)量單位和標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度單位-米高等級(jí)線尺、高等級(jí)量塊、高等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)軸光波波長(zhǎng)、測(cè)量方法相對(duì)于光學(xué)測(cè)量?jī)x、接觸式干涉儀垂直長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x、長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x指示器絕對(duì)測(cè)量通用長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x、長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x、通用圖形尺、千分尺激光掃描直徑測(cè)量?jī)x、測(cè)量準(zhǔn)確度(方法準(zhǔn)確度、 影響因素)10,000個(gè)工作顯示器:=(3 L/200) um光學(xué)計(jì)接觸干涉儀:相同的量塊長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x器:=(1.5 L/100) um長(zhǎng)度測(cè)量機(jī)器:=(2 L/100) um千分尺:=5 um卡尺:=20 um激光掃描卡尺:(5-15)um,1。 概述,軸零件具有外部尺寸??梢允褂萌魏文軌驕y(cè)量外部尺寸的量規(guī)。具體的選擇方法和儀器取決于被測(cè)零件的精度、零件的特性、批量大小等。低精度:一般測(cè)量工具,如三類。高精度:各種光學(xué)儀器。典型的測(cè)量?jī)x器包括垂直光學(xué)測(cè)量?jī)x、超光學(xué)測(cè)量?jī)x、垂直接觸干涉儀、長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x、長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x等。測(cè)量方法與量塊檢定方法相同。測(cè)量位置:上、中、下三段;x和y方向;總共六種尺寸。萬(wàn)能工具顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)原理如圖2-10所示。圖2-10通用工具顯微鏡的光學(xué)系統(tǒng)。這兩個(gè)擋光板的功能是什么?通常有三套物鏡,還有許多套目鏡。這是一個(gè)角度測(cè)量目鏡。根據(jù)不同的瞄準(zhǔn)方法,有不同的測(cè)量方法。圖像法是最常用的非接觸測(cè)量方法。使用儀器目鏡十字線上的十字線瞄準(zhǔn)工件圖像,并讀出相應(yīng)的讀數(shù)。內(nèi)外尺寸都可以測(cè)量。(1)測(cè)量過程:孔徑調(diào)整(影響和物體)、可見度調(diào)整、聚焦、瞄準(zhǔn)和測(cè)量。最佳孔徑:實(shí)際光源不是點(diǎn)光源,使成像光束不平行,給曲面輪廓測(cè)量帶來(lái)誤差??讖奖仨毟鶕?jù)被測(cè)工件的曲率半徑進(jìn)行調(diào)整,以減少成像誤差。最佳孔徑尺寸可在儀器規(guī)格中找到,或通過實(shí)驗(yàn)近似公式計(jì)算。(2)誤差因素及減小方法:瞄準(zhǔn)半寬線,從工件外到內(nèi)聚焦,注意方法步驟,使用聚焦規(guī)誤差作為負(fù)偏差讀數(shù),在中間阿貝誤差盡可能串聯(lián),如果并聯(lián)則盡可能接近刻度。溫度的特點(diǎn)是固定溫度(3)圖像法測(cè)量簡(jiǎn)單、方便,能保證一定的精度,并被廣泛應(yīng)用。2.測(cè)量刀法(1)原理:用直刃測(cè)量測(cè)量軸的直徑,測(cè)量刀上有一條平行于切削刃的細(xì)線,距離切削刃0.3毫米。在工具顯微鏡上測(cè)量時(shí),細(xì)線用于瞄準(zhǔn)讀數(shù),第一條虛線平行于角度測(cè)量目鏡中儀表字符的中心線。(2)目的:提高測(cè)量精度。與半寬壓線瞄準(zhǔn)相比,瞄準(zhǔn)精度提高了一倍。無(wú)孔徑效應(yīng)(3)測(cè)量注意事項(xiàng):測(cè)量時(shí)必須使用3x物鏡和測(cè)角目鏡;正確的工具設(shè)置(用這種方法測(cè)量的一個(gè)關(guān)鍵步驟)應(yīng)糾正測(cè)量工具的磨損。因?yàn)檫@種方法操作起來(lái)很麻煩,所以很少使用。干涉儀的目的第一干涉條紋和輪廓之間的距離b與待測(cè)工件的曲率半徑有關(guān)。應(yīng)事先通過實(shí)驗(yàn)獲得b-r對(duì)照表,用于測(cè)量。這影響了該方法的推廣應(yīng)用。小照明孔徑如圖2-14所示。用這種方法,b值是一個(gè)固定值,可以有效地解決方法(1)的不足,對(duì)相對(duì)測(cè)量更為實(shí)用。(2)傾斜照明干涉法的干涉原理如圖2-15所示。光束以一個(gè)角度入射,其值為tan=a/FB,其值為b=/2s in-光源的波長(zhǎng)。為了在測(cè)量軸直徑時(shí)使相對(duì)側(cè)能夠接收傾斜照明,利用上述原理設(shè)計(jì)的實(shí)用方案是雙光束傾斜照明裝置(如圖2-16所示)。(2)水平(通用)長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x測(cè)量外部尺寸水平長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x是根據(jù)阿貝原理設(shè)計(jì)和制造的。讀數(shù)裝置的原理與垂直長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x的原理相同,但水平長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x可以測(cè)量?jī)?nèi)外尺寸,不僅可以測(cè)量光滑的孔、軸,甚至可以測(cè)量?jī)?nèi)外螺紋,所以它也被稱為通用長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x。1。主要技術(shù)參數(shù)2。儀器結(jié)構(gòu)底座:儀器底座配有安裝測(cè)量底座(阿貝頭)和尾座的導(dǎo)軌。測(cè)量座:測(cè)量軸1(內(nèi)裝分度值為1毫米、長(zhǎng)度為100毫米的玻璃標(biāo)尺);千分尺讀數(shù)顯微鏡,分度值為1um;重錘懸掛機(jī)構(gòu):產(chǎn)生內(nèi)外力測(cè)量;測(cè)量桿:可安裝不同的測(cè)量帽;微動(dòng)裝置、照明裝置等。尾座:尾座和尾管(帶微動(dòng)手輪和測(cè)量桿,可安裝不同形狀的測(cè)量頭)。萬(wàn)能工作臺(tái):有5個(gè)運(yùn)動(dòng)自由度,即升降、水平和垂直運(yùn)動(dòng)、繞垂直軸旋轉(zhuǎn)和繞水平軸擺動(dòng)。3.主要誤差因素4。測(cè)量時(shí)的注意事項(xiàng):測(cè)量力方向的調(diào)整(不同的內(nèi)外尺寸);探針的選擇和調(diào)整(點(diǎn)接觸,尋找轉(zhuǎn)折點(diǎn));工件的定位調(diào)整(穩(wěn)定可靠,阿貝原則)。(3)V型塊軸徑測(cè)量設(shè)備:V型鐵,千分尺法:三點(diǎn)測(cè)量法原理:如圖2-18所示,角越大越好,還是角越小越好?則:其中:K=(1 sin)/(2sin),當(dāng)v形鐵半角=30時(shí),k=1.5當(dāng)=45時(shí),k=1.2當(dāng)=90且K=1時(shí),三點(diǎn)測(cè)量變成兩點(diǎn)測(cè)量。使用帶有奇數(shù)槽的:(1)工具,如絲錐、銑刀等。(2)測(cè)量奇數(shù)邊光滑圓柱形工件的形狀誤差,(4)用激光掃描法測(cè)量直徑,原理:如圖2-19所示。D=t*Vs,如果物體移動(dòng),會(huì)影響測(cè)量結(jié)果嗎?特征:非接觸可測(cè)量的柔軟、熱、透明、移動(dòng)的物體;同時(shí)測(cè)量多個(gè)被測(cè)物體;掃描光束的直徑不影響測(cè)量。(為什么?)應(yīng)用:外部尺寸的測(cè)量。大直徑測(cè)量:圖2-19的測(cè)量范圍受到透鏡尺寸的限制。因此,圖2-20的結(jié)構(gòu)被設(shè)計(jì)成適于大尺寸的測(cè)量。誤差因素:對(duì)準(zhǔn)誤差、運(yùn)動(dòng)誤差、大氣干擾、溫度、表面粗糙度等。3.軸徑測(cè)量中的誤差分析影響軸徑測(cè)量誤差的因素很多(如儀器、標(biāo)準(zhǔn)具、溫度、測(cè)量力等)。)。這里只討論定位和接觸測(cè)量中不同探頭形式引起的測(cè)量誤差。1.兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)之間的連接線不穿過待測(cè)軸的直徑。要測(cè)量的軸的直徑,例如卡尺、千分尺和各種指示器,是兩點(diǎn)接觸的。如果兩個(gè)測(cè)量點(diǎn)之間的連線沒有穿過被測(cè)軸的直徑,則被測(cè)直徑小于實(shí)際軸直徑,如圖2-21A所示。從上面可以看出,由測(cè)量線相對(duì)于直徑線的偏移c引起的測(cè)量誤差與偏移的平方成正比(當(dāng)r為常數(shù)時(shí)),與測(cè)量軸的半徑r成反比(當(dāng)c為常數(shù)時(shí))。為了提高從圖4-21
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