SPC質(zhì)量管理(一)解析.ppt

1,SPC,質(zhì)量管理（一）,STATISTICALPROCESSCONTROL,2,過程控制的需要檢測-容忍浪費(fèi)預(yù)防-避免浪費(fèi),SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,3,SPC的產(chǎn)生本世紀(jì)40年代，由于第二次世界大戰(zhàn)爆發(fā)，美國生產(chǎn)民用產(chǎn)品的大批公司轉(zhuǎn)為生產(chǎn)各種軍需品。當(dāng)時面臨的嚴(yán)重問題是事先無法控制不合格品而不能滿足交貨期要求；由于軍需品大多屬于破壞性檢驗，事后全檢既不可能，也不許可。美國國防部為了解決這一難題，特邀哈特、道奇、羅米格、華爾特等專家以及美國材料與試驗協(xié)會、美國標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會等有關(guān)人員研究，并于1941-1942年制訂和公布了統(tǒng)計控制的管理方法，并在全國各地推行。實踐證明，統(tǒng)計的質(zhì)量管理方法是保證質(zhì)量、預(yù)防不合格品的一種有效手段。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,4,SPC的發(fā)展由于統(tǒng)計的質(zhì)量管理方法給公司帶來巨額利潤，所以戰(zhàn)后，統(tǒng)計方法被延用并得以發(fā)展。1950年，美國發(fā)動了侵朝戰(zhàn)爭，在日本大量訂購軍事物資，因為質(zhì)量不好，美國對此意見很大。為此，日本科學(xué)與工程聯(lián)合會邀請戴明來到日本，系統(tǒng)的講授了統(tǒng)計質(zhì)量控制。自50年代以來，日本以統(tǒng)計技術(shù)為基礎(chǔ)，進(jìn)一步將質(zhì)量管理發(fā)展到全面質(zhì)量管理階段，鼓勵全員參加質(zhì)量管理活動。在QC小組中普遍應(yīng)用統(tǒng)計技術(shù)，提高產(chǎn)品質(zhì)量，對日本的經(jīng)濟(jì)崛起起到了巨大作用。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,5,數(shù)據(jù)的種類計量型數(shù)據(jù)：可用計量器具測量出來的質(zhì)量特性值數(shù)據(jù)。如：尺寸、重量、電阻值等。計數(shù)型數(shù)據(jù)：用個數(shù)為單位來表示的質(zhì)量特性值數(shù)據(jù)。如：廢品的件數(shù)、出勤的人數(shù)、塞規(guī)檢查的合格數(shù)等。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,6,控制圖的分類按用途分為：分析用控制用按數(shù)據(jù)類型分為：計數(shù)型計量型,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,7,控制圖的益處合理使用控制圖能:供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)地,可預(yù)測地保持下去是過程達(dá)到:-更高的質(zhì)量-更低的單件成本-更高的有效能力為討論過程的性能提供共同的語言區(qū)分變差的特殊原因和普通原因,作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,8,變差的概念“沒有兩件產(chǎn)品或特性是完全相同的”產(chǎn)品間的差異或大或小，但這些差距總是存在。這種差異被稱為變差。變差的產(chǎn)生原因可歸納為兩種：1、變差的普通原因2、變差的特殊原因,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,9,1、變差的普通原因造成隨著時間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因。表現(xiàn)為：一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。2、變差的特殊原因造成不是始終作用于過程的變差的原因。表現(xiàn)為：以不可預(yù)測的方式來影響過程的輸出。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,10,變差的普通原因通常是對工序質(zhì)量產(chǎn)生微小變化，難以查明或難以消除。它不能被由操作工人控制，只能由技術(shù)、管理人員控制解決。（隨機(jī)因素，采取系統(tǒng)措施）變差的特殊原因通常是產(chǎn)生的波動較大，容易發(fā)現(xiàn)并消除。一般由操作工自行解決，管理人員適當(dāng)介入。（系統(tǒng)因素，采取局部措施）,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,11,概率的應(yīng)用工序的波動如同自然界、經(jīng)濟(jì)管理和科學(xué)試驗中許多反復(fù)、大量出現(xiàn)的帶數(shù)量性的事物一樣，作為一個整體，它們并不是毫無規(guī)律的發(fā)生或偶然性的堆積，而往往符合一定的統(tǒng)計規(guī)律。有許多客觀事物，盡管他們的性質(zhì)有所不同，但出現(xiàn)的規(guī)律卻有很大的相似性。例如：在正常條件下，機(jī)床上加工的一批零件的尺寸；連續(xù)射擊時的射點離靶心的距離；某一城市成年男子的身高等。它們出現(xiàn)的頻率，通常都符合正態(tài)分布。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,12,正態(tài)分布自然界中，很多可以連續(xù)取值的計量型分布，都符合正態(tài)分布。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,正態(tài)分布示意圖,13,正態(tài)分布、控制圖與控制限,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,14,使用控制圖的準(zhǔn)備建立適用于實施的環(huán)境定義過程確定待管理的特性考慮到:-顧客的需求-當(dāng)前及潛在的問題區(qū)域-特性間的相互關(guān)系確定測量系統(tǒng)使不必要的變差最小,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,15,計量型控制圖X-R圖（平均值-極差圖）目前通用的質(zhì)量控制圖表，廣泛用于生產(chǎn)中的工序質(zhì)量控制。該控制圖既可用于初始能力研究，也可用于工序質(zhì)量控制，監(jiān)控工序的穩(wěn)定性。QS9000要求作平均值-極差圖必須滿足：25組及100個數(shù)據(jù)(min)的基本條件。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,16,X-R圖（平均值-極差圖）的作法,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,17,計算出的數(shù)據(jù)分別畫入圖中,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,X-圖,R-圖,18,平均值圖的計算上限（UCLX）、中心（CLX）、下限（LCLX）；CLX=X=X/kk為取值的組數(shù)UCLX=X+A2RA2為系數(shù)LCLX=X-A2R,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,19,極差值圖的計算上限（UCLR）、中心（CLR）、下限（LCLR）；CLR=R=R/kk為取值的組數(shù)UCLR=D4RD3、D4為系數(shù)LCLR=D3R,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,20,系數(shù)表,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,21,控制圖分析工序處于穩(wěn)定狀態(tài)的標(biāo)志是：大多數(shù)點子靠近控制中心線；極少數(shù)點子接近上、下控制限；沒有點子超出控制限。如果工序中產(chǎn)生異常，在控制圖上就會出現(xiàn)異常波動。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,22,控制圖的異常波動,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,點超出控制限,連續(xù)7點在中心線同側(cè),23,控制圖的異常波動,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,連續(xù)7點上升或下降,波動過大,24,控制圖的異常波動,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,層狀,連續(xù)14點中12點在中心線同側(cè),25,控制圖的異常波動,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,層狀,連續(xù)11點中10點在中心線同側(cè),26,工序能力分析Cpk=(T-2|X-M|)/6T：公差范圍M：特性中心值6=UCL-LCL,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,Cpk必須滿足1.33min,27,機(jī)器能力分析在研究機(jī)器能力時，必須保證除機(jī)器外的其他因素穩(wěn)定的條件下連續(xù)采樣。Cmk=(T-2|X-M|)/6T：公差范圍M：特性中心值6=UCL-LCL,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,Cmk必須滿足1.67min,28,排列圖排列圖又稱帕累托圖或主次因素分析圖。它是根據(jù)因果圖表明眾多因數(shù)中分析出最重要或最主要的因素。雖然它不能解決問題，但它能為解決問題提供重要的資料和信息，所以它是分析影響質(zhì)量問題主次因素的有力的統(tǒng)計工具。排列圖是應(yīng)用了“關(guān)鍵的少數(shù)，次要的多數(shù)”的原理，尋找出產(chǎn)品的主要問題或影響產(chǎn)品質(zhì)量主要因素的一種有效的統(tǒng)計方法。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,29,排列圖的制作過程1、收集數(shù)據(jù)2、作缺陷分類統(tǒng)計表按缺陷頻次大小，將缺陷名稱及頻次依次填入表中，并按表要求計算。,SPC,STATISTICALPROCESSCONTROL,30,排列圖的制作過程3、繪制排列圖A、左縱坐標(biāo)為頻次，右縱坐標(biāo)為百分?jǐn)?shù)。橫坐標(biāo)標(biāo)明缺陷項目。B、按缺陷頻次畫出直方柱