《超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)講解》PPT課件.ppt

1 超聲波檢測(cè)培訓(xùn) JB T4730 2005承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 2 JB T4730 1 2005第一部分通用要求 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu) 5章1個(gè)附錄1范圍2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語(yǔ)和定義4使用原則5一般要求附錄A 資料性附錄 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及文件目錄 3 標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容 1 范圍 標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容 規(guī)定RT UT PT MT和ET五種方法的一般要求和使用原則 適用范圍 在制和在用金屬材料制承壓設(shè)備的無(wú)損檢測(cè) 2 規(guī)范性引用文件 略 帶年份的使用指定版本 不帶年份的使用最新版本 4 3 術(shù)語(yǔ)和定義與超聲檢測(cè)有關(guān)的術(shù)語(yǔ)和定義 3 14超聲標(biāo)準(zhǔn)試塊JB T4730 3規(guī)定的用于超聲儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊 3 15超聲對(duì)比試塊用于超聲檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊 3 16密集區(qū)缺陷在熒光屏掃描線相當(dāng)于50mm聲程范圍內(nèi)同時(shí)有個(gè)或5個(gè)以上的缺陷反射信號(hào) 或是在50mm 50mm的檢測(cè)面上發(fā)現(xiàn)在同一深度范圍內(nèi)有5個(gè)或5個(gè)以上的 5 缺陷反射信號(hào) 其反射波幅均大于某一特定當(dāng)量缺陷基準(zhǔn)反射波幅 3 17由缺陷引起的底波降低量BG BF dB 在靠近缺陷處的無(wú)缺陷完好區(qū)域內(nèi)第一次底波幅度BG與缺陷區(qū)域內(nèi)的第一次底波幅度BF之比 用聲壓級(jí) dB 值來(lái)表示 3 18基準(zhǔn)靈敏度和掃查靈敏度基準(zhǔn)靈敏度一般指的是記錄靈敏度 它通常用于缺陷的定量和缺陷的等級(jí)評(píng)定 掃查靈敏度則主要指實(shí)際檢測(cè)靈敏度 6 3 19缺陷自身高度缺陷在壁厚方向的尺寸 3 20聚焦探頭采用透鏡式 反射式和曲面晶片等聚焦方法使超聲波束會(huì)聚以提高檢測(cè)靈敏度的超聲探頭 3 21端點(diǎn)衍射超聲波在傳播過(guò)程中 當(dāng)波陣面通過(guò)缺陷時(shí) 波陣面會(huì)繞缺陷邊緣彎曲 并呈圓心展衍 這種現(xiàn)象稱之為端點(diǎn)衍射 7 3 22端點(diǎn)最大反射波當(dāng)缺陷的端部回波的幅度達(dá)到最大時(shí) 也即缺陷端部回波峰值開(kāi)始降落前瞬時(shí)的幅度位置 該回波稱為缺陷端點(diǎn)最大反射波 3 23回波動(dòng)態(tài)波型動(dòng)態(tài)波型是探頭移動(dòng)距離與相應(yīng)缺陷反射體回波波幅變化的包絡(luò)線 8 4 使用原則 本章主要目的是使承壓設(shè)備設(shè)計(jì)人員和管理人員能快速了解標(biāo)準(zhǔn) 概述 無(wú)損檢測(cè)方法選擇依據(jù) 受檢設(shè)備的材質(zhì) 結(jié)構(gòu) 制造方法 工作介質(zhì) 使用條件和失效模式 預(yù)計(jì)可能產(chǎn)生的缺陷種類 形狀 部位和方向 五種方法的檢測(cè)對(duì)象 射線和超聲 檢測(cè)內(nèi)部缺陷 磁粉 檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷 滲透 檢測(cè)非多孔性金屬材料和非金屬材料表面開(kāi)口缺陷的 渦流 檢測(cè)導(dǎo)電金屬材料表面和近表面缺陷 9 表面檢測(cè)方法選擇原則 鐵磁性材料表面檢測(cè)時(shí) 宜采用磁粉檢測(cè) 檢測(cè)結(jié)果評(píng)定原則 采用兩種或兩種以上的檢測(cè)方法對(duì)同一部位進(jìn)行檢測(cè)時(shí) 應(yīng)按各自的方法評(píng)定級(jí)別 采用同種檢測(cè)方法按不同檢測(cè)工藝進(jìn)行檢測(cè)時(shí) 如果檢測(cè)結(jié)果不一致 應(yīng)以危險(xiǎn)度大的評(píng)定級(jí)別為準(zhǔn) 10 各種方法的適用場(chǎng)合 射線檢測(cè) 射線檢測(cè) 確定缺陷平面投影的位置 大小 可獲得缺陷平面圖像并能據(jù)此判定缺陷的性質(zhì) 射線檢測(cè)適用于金屬材料制承壓設(shè)備熔化焊對(duì)接焊接接頭的檢測(cè) 適用的金屬材料包括碳素鋼 低合金鋼 不銹鋼 銅及銅合金 鋁及鋁合金 鈦及鈦合金 鎳及鎳合金 射線檢測(cè)不適用于鍛件 管材 棒材的檢測(cè) T型焊縫 角焊縫以及堆焊層的檢測(cè)一般也不采用射線檢測(cè) 11 射線檢測(cè)的穿透厚度 主要由射線能量確定 12 射線照相 宜采用高梯度噪聲比 T1或T2 膠片 高能X射線照相 Rm 540MPa的高強(qiáng)度材料對(duì)接焊接接頭射線檢測(cè) 應(yīng)采用高梯度噪聲比的膠片 超聲檢測(cè) 超聲檢測(cè) 確定缺陷的位置和相對(duì)尺寸 超聲檢測(cè) 適用于板材 復(fù)合板材 碳鋼和低合金鋼鍛件 管材 棒材 奧氏體不銹鋼鍛件等承壓設(shè)備原材料和零部件的檢測(cè) 也適用于承壓設(shè)備對(duì)接焊縫 T型焊縫 角焊縫以及堆焊層等的檢測(cè) 采用超聲直 斜 射法檢測(cè)內(nèi)部缺陷 不同檢測(cè)對(duì)象相應(yīng)的超聲厚度檢測(cè)范圍 13 14 磁粉檢測(cè) 磁粉檢測(cè) 確定表面和近表面缺陷的位置 大小和形狀 磁粉檢測(cè) 適用于鐵磁性材料制板材 復(fù)合板材 管材以及鍛件等表面和近表面缺陷的檢測(cè) 也適用于鐵磁性材料對(duì)接焊接接頭 T型焊接接頭以及角焊縫等表面和近表面缺陷的檢測(cè) 磁粉檢測(cè) 不適用非鐵磁性材料的檢測(cè) 滲透檢測(cè) 滲透檢測(cè) 確定表面開(kāi)口缺陷的位置 尺寸和形狀 滲透檢測(cè) 適用于板材 復(fù)合板材 鍛件 管材和焊縫表面開(kāi)口缺陷的檢測(cè) 滲透檢測(cè) 不適用多孔性材料的檢測(cè) 15 渦流檢測(cè) 渦流檢測(cè) 確定表面及近表面缺陷的位置和相對(duì)尺寸 渦流檢測(cè) 適用于金屬材料和焊接接頭表面和近表面缺陷的檢測(cè) 聲發(fā)射檢測(cè) 聲發(fā)射檢測(cè) 確定內(nèi)部或表面存在的活性缺陷的位置 聲發(fā)射檢測(cè) 適用于對(duì)承壓設(shè)備在加載過(guò)程中進(jìn)行局部或整體檢測(cè)與在線監(jiān)測(cè) 16 X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè) X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè) 實(shí)時(shí)確定缺陷平面投影的位置 大小以及缺陷的性質(zhì) X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè) 適用于承壓設(shè)備對(duì)接焊縫的實(shí)時(shí)快速檢測(cè) 5 一般要求 無(wú)損檢測(cè)機(jī)構(gòu) 無(wú)損檢測(cè)的機(jī)構(gòu)應(yīng)按本標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定制定出符合要求的無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程 檢測(cè)記錄和報(bào)告應(yīng)準(zhǔn)確 完整 并經(jīng)相應(yīng)責(zé)任人員簽字認(rèn)可 17 檢測(cè)記錄和報(bào)告等保存期不得少于7年 7年后 若用戶需要可轉(zhuǎn)交用戶保管 檢測(cè)用儀器和設(shè)備的性能應(yīng)進(jìn)行定期檢定 校準(zhǔn) 并有記錄可查 無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程 無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程包括通用工藝規(guī)程和工藝卡 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)根據(jù)相關(guān)法規(guī) 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn) 有關(guān)的技術(shù)文件和本部分的要求 并針對(duì)本機(jī)構(gòu)的特點(diǎn)和檢測(cè)能力進(jìn)行編制 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程應(yīng)涵蓋本單位 制造 安裝或檢測(cè)單位 產(chǎn)品的檢測(cè)范圍 18 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程至少應(yīng)包括的內(nèi)容 無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程的編制 審核及批準(zhǔn)應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定 無(wú)損檢測(cè)工藝卡 實(shí)施無(wú)損檢測(cè)的人員應(yīng)按無(wú)損檢測(cè)工藝卡進(jìn)行操作 無(wú)損檢測(cè)工藝卡應(yīng)根據(jù)無(wú)損檢測(cè)通用工藝規(guī)程 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn) 有關(guān)的技術(shù)文件和本部分的要求編制 工藝卡至少應(yīng)包括的內(nèi)容 無(wú)損檢測(cè)工藝卡的編制 審核應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)或標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定 19 無(wú)損檢測(cè)人員 從事承壓設(shè)備原材料 零部件和焊縫無(wú)損檢測(cè)的人員 應(yīng)按照 特種設(shè)備無(wú)損檢測(cè)人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則 要求取得相應(yīng)無(wú)損檢測(cè)資格 無(wú)損檢測(cè)人員資格分為 高 級(jí) 中 級(jí)和 初 級(jí) 取得不同無(wú)損檢測(cè)方法各資格級(jí)別的人員 只能從事與該方法和該資格級(jí)別相應(yīng)的無(wú)損檢測(cè)工作 并負(fù)相應(yīng)的技術(shù)責(zé)任 未列入標(biāo)準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)方法的應(yīng)用本標(biāo)準(zhǔn)不排斥其他無(wú)損檢測(cè)方法的應(yīng)用 當(dāng)采用未列入本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的無(wú)損檢測(cè)方法時(shí) 使用該技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)的單位應(yīng)向全國(guó)鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提交有關(guān)技術(shù)資料 經(jīng)評(píng)審形成標(biāo)準(zhǔn)案例 20 附錄A 資料性附錄 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及文件目錄 略 21 JB T4730 3 2005超聲檢測(cè) 第一部分前言一 承壓設(shè)備超聲檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)回顧 鋼板用標(biāo)準(zhǔn)1 JB1150 73 壓力容器用鋼板超聲波探傷 2 ZBJ74003 88 壓力容器用鋼板超聲波探傷 3 GB7734 86 復(fù)合鋼板超聲波探傷方法 4 JB4733 96 壓力容器用爆炸不銹鋼復(fù)合鋼板 無(wú)縫鋼管用標(biāo)準(zhǔn)5 JB1151 73 高壓無(wú)縫鋼管超聲波探傷 6 GB5777 86 無(wú)縫鋼管超聲波探傷方法 22 鍛件用標(biāo)準(zhǔn)6 JB3963 85 壓力容器鍛件超聲波探傷 焊縫用標(biāo)準(zhǔn)7 JB1152 73 鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷 8 JB1152 81 鍋爐和鋼制壓力容器對(duì)接焊縫超聲波探傷 9 JB3144 82 鍋爐大口徑管座角焊縫超聲波探傷 10 GB11345 89 鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí) 綜合性標(biāo)準(zhǔn)11 JB4730 94 壓力容器無(wú)損檢測(cè) 12 JB4730 2005 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 23 二 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu) 8章14個(gè)附錄 12個(gè)規(guī)范性 2個(gè)資料性 1范圍2規(guī)范性引用文件3一般要求4承壓設(shè)備用原材料和零部件的超聲檢測(cè)5承壓設(shè)備焊接接頭超聲檢測(cè)6壓力管道對(duì)接環(huán)向焊接接頭超聲檢測(cè)7在用承壓設(shè)備超聲檢測(cè)8超聲檢測(cè)報(bào)告和測(cè)厚報(bào)告 24 附錄A 規(guī)范性附錄 雙晶直探頭性能要求附錄B 規(guī)范性附錄 承壓設(shè)備用鋼板橫波檢測(cè)附錄C 規(guī)范性附錄 承壓設(shè)備用鋼鍛件橫波檢測(cè)附錄D 規(guī)范性附錄 承壓設(shè)備用高壓無(wú)縫鋼管軸向橫波檢測(cè)附錄E 規(guī)范性附錄 承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件斜探頭檢測(cè)附錄F 規(guī)范性附錄 聲能傳輸損耗差的測(cè)定附錄G 規(guī)范性附錄 6mm 8mm鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)附錄H 規(guī)范性附錄 回波動(dòng)態(tài)波形 25 附錄I 規(guī)范性附錄 缺陷測(cè)高方法 一 采用端點(diǎn)衍射波法測(cè)定缺陷自身高度附錄J 規(guī)范性附錄 缺陷測(cè)高方法 二 采用端部最大回波法測(cè)定缺陷自身高度附錄K 規(guī)范性附錄 缺陷測(cè)高方法 三 采用6dB法測(cè)定缺陷自身高度附錄L 規(guī)范性附錄 缺陷類型識(shí)別和性質(zhì)估判附錄M 資料性附錄 鈦及鈦合金制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)附錄N 資料性附錄 奧氏體不銹鋼對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè) 26 三 標(biāo)準(zhǔn)適用的檢測(cè)對(duì)象 27 28 29 第二部分通用要求 1 3 1 范圍 標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容 承壓設(shè)備工件缺陷的超聲檢測(cè)方法和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 適用范圍 金屬材料在制承壓設(shè)備 鍋爐 壓力容器和壓力管道 用原材料 零部件和焊接接頭的超聲檢測(cè) 在用金屬材料制承壓設(shè)備的超聲檢測(cè) 承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的超聲檢測(cè) 30 2 規(guī)范性引用文件 略 帶年份的使用指定版本 不帶年份的使用最新版本 3 一般要求 人員 儀器 探頭 試塊 檢測(cè)方法和復(fù)核要求 3 1 超聲檢測(cè)人員人員應(yīng)符合JB T4730 1的有關(guān)規(guī)定 3 2 檢測(cè)設(shè)備 超聲檢測(cè)設(shè)備均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或合格的證明文件 探傷儀 探頭和系統(tǒng)性能 31 探傷儀 A型脈沖反射式超聲波探傷儀 工作頻率范圍0 5MHz 10MHz 儀器至少在熒光屏滿刻度的80 范圍內(nèi)呈線性顯示 具有80dB以上的連續(xù)可調(diào)衰減器 步進(jìn)級(jí)每檔 2dB 精度為任意相鄰12dB誤差在 1dB以內(nèi) 最大累計(jì)誤差 1dB 水平線性誤差 1 垂直線性誤差 5 探頭 晶片面積 500mm2 且任一邊長(zhǎng)原則上 25mm 單斜探頭聲束軸線水平偏離角 2 主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰 32 儀器和探頭的系統(tǒng)性能 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí) 其有效靈敏度余量 10dB 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于 10 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度 在基準(zhǔn)靈敏度下 對(duì)于頻率為5MHz的探頭 寬度 10mm 對(duì)于頻率為2 5MHz的探頭 寬度 15mm 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng) 30dB 斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng) 6dB 33 3 3 超聲檢測(cè)方法要求 檢測(cè)準(zhǔn)備 檢測(cè)時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī) 產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求和原則進(jìn)行 檢測(cè)面的確定 應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測(cè)合格 所有影響超聲檢測(cè)的銹蝕 飛濺和污物等都應(yīng)予以清除 其表面粗糙度應(yīng)符合檢測(cè)要求 表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測(cè)結(jié)果的正確性和完整性 否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚?34 掃查覆蓋率探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15 探頭移動(dòng)速度探頭的掃查速度 150mm s 采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí) 不受此限 掃查靈敏度掃查靈敏度通常不得低于基準(zhǔn)靈敏度 耦合劑采用透聲性好 且不損傷檢測(cè)表面的耦合劑 如機(jī)油 漿糊 甘油和水等 35 靈敏度補(bǔ)償 耦合補(bǔ)償 檢測(cè)和缺陷定量時(shí) 應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償 衰減補(bǔ)償 檢測(cè)和缺陷定量時(shí) 應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償 曲面補(bǔ)償 探測(cè)面是曲面的工件 應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊 通過(guò)對(duì)比試驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償 36 3 4系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核要求 一般要求校準(zhǔn)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行 校準(zhǔn)中使探頭主聲束垂直對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面 以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號(hào) 儀器校準(zhǔn)水平線性和垂直線性 至少三個(gè)月一次 新購(gòu)探頭測(cè)定新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū) 新探頭使用前應(yīng)測(cè)定前沿距離 K值 主聲束偏離 靈敏度余量和分辨力 37 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定 儀器 斜探頭系統(tǒng) 測(cè)定前沿距離 K值和主聲束偏離 調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度 儀器 直探頭系統(tǒng) 測(cè)定始脈沖寬度 靈敏度余量和分辨力 調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 探頭 耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕改變時(shí) 懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí) 連續(xù)工作4h以上時(shí) 工作結(jié)束時(shí) 38 檢測(cè)結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 每次檢測(cè)結(jié)束前 對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核 如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10 則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整 并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢 每次檢測(cè)結(jié)束前 對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核 對(duì)距離 波幅曲線的校核不少于3點(diǎn) 如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB 則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢 如幅度上升2dB 則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定 校準(zhǔn) 復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)校準(zhǔn) 復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí) 任何影響儀器線性的控制器 如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等 都應(yīng)放在 關(guān) 的位置或處于最低水平上 39 3 5 試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊 標(biāo)準(zhǔn)試塊是用于儀器探頭系統(tǒng)性能校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊 標(biāo)準(zhǔn)中采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有 a 鋼板用 CB CB b 鍛件用 CS CS CS c 焊接接頭用 CSK A CSK A CSK A CSK A 標(biāo)準(zhǔn)試塊材料應(yīng)與被檢工件聲學(xué)性能相同或近似 用直探頭檢測(cè)時(shí) 不得有 2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷 40 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn)化的要求 并應(yīng)經(jīng)計(jì)量部門檢定合格 對(duì)比試塊 對(duì)比試塊是指用于檢測(cè)校準(zhǔn)的試塊 對(duì)比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征 試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng) 如涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測(cè) 試塊的厚度應(yīng)由其最大厚度來(lái)確定 對(duì)比試塊反射體的形狀 尺寸和數(shù)量應(yīng)符合本部分的規(guī)定 41 JB T4730 3 2005標(biāo)準(zhǔn)采用的對(duì)比試塊主要有 鋼板橫波檢測(cè)對(duì)比試塊 鍛件橫波檢測(cè)對(duì)比試塊 無(wú)縫鋼管橫波檢測(cè)用對(duì)比試塊 縱向人工缺陷試塊 橫向人工缺陷試塊 聲能傳輸損耗超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 T型焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 型式I 型式II 型式III 鋁焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 42 鈦焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 鋼制壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 GS1 GS2 GS3 GS4 鋁及鋁合金壓力管道和管子焊接接頭超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 GS3 GS4 堆焊層超聲檢測(cè)對(duì)比試塊 T1 T2 T3型 在用螺栓超聲檢測(cè)用試塊 43 第三部分承壓設(shè)備用原材料超聲檢測(cè) 44 4承壓設(shè)備用原材料 零部件的超聲檢測(cè)4 1承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn)4 1P69 1 適用范圍板厚T 6mm 250mm材質(zhì) 碳素鋼 低合金鋼 奧氏體鋼 鎳及鎳合金 雙相不銹鋼2 探頭選用 45 3 標(biāo)準(zhǔn)試塊 T 6 20CBI型 46 T 20 250CBII型 47 CBII型試塊4 基準(zhǔn)靈敏度T 6 20CBIB150 10dBT 20CBII 5F150 T 3N底波計(jì)算法結(jié)果與試塊法一致 48 5 檢測(cè)方法檢測(cè)面 任一軋制面耦合方式 直接接觸法或液浸法掃查方式 100mm平行線 剖口線50mm 或T 2 掃查 49 6 缺陷判定在檢測(cè)過(guò)程中 發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷 a 缺陷第一次反射波 F1 波高大于或等于滿刻度的50 即F1 50 b 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1 波高未達(dá)到滿刻度 此時(shí) 缺陷第一次反射波 F1 波高與底面第一次反射波 B1 波高之比大于或等于50 即B1 100 而F1 B1 50 c 底面第一次反射波 B1 波高低于滿刻度的50 即B1 50 50 7 缺陷邊界或指示長(zhǎng)度測(cè)定a 檢出缺陷后 在其周圍繼續(xù)檢測(cè) 以確定缺陷的延伸 b 移動(dòng)探頭使缺陷波F1下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25 或使F1 B1 50 探頭移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度 探頭中心即為缺陷邊界點(diǎn) 兩種方法所測(cè)結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn) 雙晶探頭移動(dòng)方向應(yīng)與隔聲層垂直 c 對(duì)B1 50 的缺陷 移動(dòng)探頭 單直探頭或雙直探頭 使B1上升到屏高的50 探頭移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度 探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn) d 板厚較薄 采用F1和B1評(píng)定缺陷時(shí) 基準(zhǔn)靈敏度應(yīng)以相應(yīng)的二次波來(lái)校準(zhǔn) 51 8 缺陷評(píng)定規(guī)則 缺陷指示長(zhǎng)度評(píng)定規(guī)則單個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度 單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于40mm時(shí) 可不作記錄 缺陷指示面積評(píng)定規(guī)則 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度 取其較大值 時(shí) 以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見(jiàn)質(zhì)量分級(jí)表 52 缺陷面積百分比評(píng)定規(guī)則在任一1m 1m檢測(cè)面積內(nèi) 按缺陷面積所占百分比來(lái)確定 鋼板面積小于1m 1m 可按比例折算 9 鋼板質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 53 坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm 板厚大于100mm 以板厚的一半為準(zhǔn) 內(nèi) 缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于50mm時(shí) 應(yīng)評(píng)為 級(jí) 在檢測(cè)過(guò)程中 檢測(cè)人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn) 裂紋等危害性缺陷存在時(shí) 應(yīng)評(píng)為 級(jí) 54 10 鋼板橫波探傷 附錄BP114 目的 檢測(cè)鋼板中非夾層性缺陷探頭 K1斜探頭圓晶片直徑13mm 25mm方晶片面積不小于200mm2頻率2 5MHz對(duì)比試塊60 V形槽槽深3 T長(zhǎng)度25mmT 50 底面加工第二個(gè)槽 55 基準(zhǔn)靈敏度的確定T 50mm把探頭置于試塊有槽的一面 使聲束對(duì)準(zhǔn)槽的寬邊 找出第一個(gè)全跨距最大反射波幅 調(diào)整儀器 使該反射波的最大波幅為滿刻度的80 在熒光屏上記錄下該信號(hào)的位置 移動(dòng)探頭 得到第二個(gè)全跨距信號(hào) 并找出信號(hào)最大反射波幅 記下這一信號(hào)幅值點(diǎn)在熒光屏上的位置 將熒光屏上兩個(gè)反射信號(hào)幅值點(diǎn)連成一直線 此線即為距離 波幅曲線 56 T 50mm 150mm將探頭聲束對(duì)準(zhǔn)試塊背面的槽 并找出第一個(gè)1 2跨距反射的最大波幅 調(diào)節(jié)儀器 使反射波幅為滿刻度的80 在熒光屏上記下這個(gè)信號(hào)的位置 不改變儀器調(diào)整狀態(tài) 在3 2跨距上重復(fù)該項(xiàng)操作 不改變儀器調(diào)整狀態(tài) 把探頭再次置于試塊表面 使波束對(duì)準(zhǔn)試塊表面上的槽 并找出全跨距最大反射波的位置 在熒光屏上記下這一幅值點(diǎn) 在熒光屏上將上述三點(diǎn)相連接 此線即為距離 波幅曲線 57 T 150mm 250mm把探頭置于試塊表面 使聲束對(duì)準(zhǔn)試塊底面上的切槽 并找出第一個(gè)1 2跨距反射的最大幅度位置 調(diào)節(jié)儀器 使這一反射波為熒光屏滿刻度的80 在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn) 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài) 把探頭再次置于試塊表面 以全跨距對(duì)準(zhǔn)切槽獲得最大反射 在熒光屏上記下這個(gè)幅值點(diǎn) 在熒光屏上將上述二點(diǎn)連成一直線 此線即為距離 波幅曲線 58 掃查方法格子線查 格子線中心距為200mm缺陷測(cè)定和記錄波幅等于或超過(guò)距離 波幅曲線的缺陷顯示 應(yīng)記錄其位置 并移動(dòng)探頭使波幅降到滿刻度的25 來(lái)測(cè)量其長(zhǎng)度 波幅低于距離 波幅曲線的缺陷 當(dāng)指示長(zhǎng)度較長(zhǎng)時(shí) 也可記錄備案 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等于或超過(guò)距離 波幅曲線的任何缺陷信號(hào)均應(yīng)認(rèn)為是不合格的 但是以縱波方法作輔助檢測(cè)時(shí) 若發(fā)現(xiàn)缺陷性質(zhì)是分層類的 則應(yīng)按縱波檢測(cè)的規(guī)定處理 59 4 3 鋁及鋁合金和鈦及鈦合金板材超聲檢測(cè) 4 3P78 1 適用范圍板厚 T 6mm材質(zhì) 鋁及鋁合金 鈦及鈦合金2 檢測(cè)方法 探頭 與鋼板相同檢測(cè)面 任一軋制面掃查方式 40mm平行線 剖口兩側(cè)50mm100 基準(zhǔn)靈敏度 板材完好部位 B1 80 屏高耦合方式 直接接觸法或液浸法 60 3 缺陷判定和測(cè)定在檢測(cè)過(guò)程中 發(fā)現(xiàn)下列情況之一者即作為缺陷處理 a 缺陷第一次反射波 F1 波高大于或等于滿刻度的40 即F1 40 b 缺陷第一次反射波 F1 波高低于滿刻度的40 同時(shí) 缺陷第一次反射波 F1 波高與底面第一次反射波 B1 波高之比大于或等于100 F1 B1 100 c 當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1 波高低于滿刻度的5 即B1小于5 61 缺陷邊界或指示長(zhǎng)度測(cè)定a 檢出缺陷后 在它的周圍繼續(xù)進(jìn)行檢測(cè) 以確定缺陷的延伸 b 移動(dòng)探頭使缺陷波F1下降到基準(zhǔn)靈敏度條件下熒光屏滿刻度的20 或使F1 B1 100 探頭移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度 探頭中心即為缺陷邊界點(diǎn) 兩種方法所測(cè)結(jié)果以較嚴(yán)重者為準(zhǔn) 雙晶探頭移動(dòng)方向應(yīng)與隔聲層垂直 c 確定底波降低缺陷的邊界或指示長(zhǎng)度時(shí) 移動(dòng)探頭 單直探頭或雙直探頭 使底面第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的40 此時(shí) 探頭移動(dòng)距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度 探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn) 62 4 缺陷評(píng)定規(guī)則缺陷指示長(zhǎng)度評(píng)定a 一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度 若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于25mm時(shí) 可不作記錄 b 兩個(gè)缺陷相鄰間距小于25mm時(shí) 其指示長(zhǎng)度為兩單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度再加上間距之和 單個(gè)缺陷指示面積的評(píng)定a 一個(gè)缺陷按其指示的最大面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積 63 b 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長(zhǎng)度 取其較大值 時(shí) 以各缺陷面積之和作為單個(gè)缺陷指示面積 c 指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見(jiàn)質(zhì)量分級(jí)表 5 板材質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 64 在坡口預(yù)定線兩側(cè)各50mm內(nèi) 缺陷的指示長(zhǎng)度大于或等于25mm時(shí) 應(yīng)評(píng)為 級(jí) 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí) 板材的質(zhì)量等級(jí)為 級(jí) 65 4 4 承壓設(shè)備用復(fù)合板超聲檢測(cè) 4 4P80 1 適用范圍基板厚度 6mm母材 低碳鋼 低合金鋼 不銹鋼復(fù)材 不銹鋼 鈦及鈦合金 鋁及鋁合金 鎳及鎳合金 銅及銅合金制造工藝 軋制復(fù)合 爆炸復(fù)合2 探頭選用與鋼板相同3 檢測(cè)方法 66 檢測(cè)面 一般從基板側(cè)表面進(jìn)行檢測(cè) 耦合方式 直接接觸法或液浸法 掃查方式 100 掃查或50mm平行線 剖口線兩側(cè)50mm100 4 基準(zhǔn)靈敏度 復(fù)合鋼板完全結(jié)合部位B1 80 屏高 5 未結(jié)合區(qū)的確定 未結(jié)合區(qū)定義 B1 5 且明顯有未接合缺陷反射波存在時(shí) 5 該部位稱為未結(jié)合區(qū) 未結(jié)合區(qū)的測(cè)定 移動(dòng)探頭 使B1升高到熒光屏滿刻度的40 探頭中心作為未結(jié)合區(qū)邊界點(diǎn) 67 6 未結(jié)合缺陷的評(píng)定方法缺陷指示長(zhǎng)度的評(píng)定一個(gè)缺陷按其指示的最大長(zhǎng)度作為該缺陷的指示長(zhǎng)度 若單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度小于25mm時(shí) 可不作記錄 缺陷面積的評(píng)定多個(gè)相鄰的未結(jié)合區(qū) 當(dāng)其最小間距小于等于20mm時(shí) 應(yīng)作為單個(gè)未結(jié)合區(qū)處理 其面積為各個(gè)未結(jié)合區(qū)面積之和 未結(jié)合率的評(píng)定未結(jié)合區(qū)總面積占復(fù)合板總面積的百分比 68 7 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 在坡口的預(yù)定線兩側(cè)各50mm的范圍內(nèi) 未結(jié)合的指示長(zhǎng)度大于或等于25mm時(shí) 定級(jí)為 級(jí) 69 4 5 承壓設(shè)備用無(wú)縫鋼管超聲波檢測(cè) 4 5P81 1 適用范圍適用無(wú)縫管碳鋼 低合金鋼 t 2mm D0 12 660mm 奧氏體不銹鋼 t 12 35mm D0 12 400mm 不適用 內(nèi) 外徑之比小于80 的鋼管周向直接接觸法橫波檢測(cè) 分層缺陷的檢測(cè) 70 2 試樣的制備和要求 對(duì)比試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同 材質(zhì) 熱處理工藝和表面狀況相同或相似的鋼管制備 對(duì)比試塊不得有大于或等于 2mm當(dāng)量的自然缺陷 對(duì)比試塊的長(zhǎng)度應(yīng)滿足檢測(cè)方法和檢測(cè)設(shè)備要求 鋼管縱向缺陷檢測(cè)試塊的尺寸 V形槽和位置應(yīng)符合圖8和表11的規(guī)定 71 72 3 檢測(cè)方法縱向缺陷 周向橫波法 主要方法 橫向缺陷 軸向橫波法 合同雙方協(xié)商 耦合方式 液浸法或接觸法 73 探頭相對(duì)鋼管螺旋進(jìn)給的螺距應(yīng)保證超聲波束對(duì)鋼管進(jìn)行100 掃查時(shí) 有不小于15 的覆蓋率 自動(dòng)檢測(cè)應(yīng)保證動(dòng)態(tài)時(shí)的檢測(cè)靈敏度 且內(nèi) 外槽的最大反射波幅差不超過(guò)2dB 每根鋼管應(yīng)從管子兩端沿相反方向各檢測(cè)一次 4 檢測(cè)設(shè)備 檢測(cè)設(shè)備由超聲波探傷儀 探頭和其他機(jī)械傳動(dòng)裝置及輔助裝置等組成 檢測(cè)頻率為2 5MHz 5MHz 74 探頭 液浸法檢測(cè)使用線聚焦或點(diǎn)聚焦探頭 接觸法檢測(cè)使用與鋼管表面吻合良好的斜探頭或聚焦斜探頭 單個(gè)探頭壓電晶片長(zhǎng)度或直徑小于或等于25mm 5 基準(zhǔn)靈敏度 接觸法探傷內(nèi)壁人工V形槽的回波高度調(diào)到80 屏高 再移動(dòng)探頭 找出外壁人工V形槽的最大回波 在熒光屏上標(biāo)出 連接兩點(diǎn)即為距離 波幅曲線 作為檢測(cè)時(shí)的基準(zhǔn)靈敏度 75 水浸法探傷對(duì)比試樣管內(nèi) 外表面人工缺陷所產(chǎn)生的回波幅度均達(dá)到50 屏高 以此作為基準(zhǔn)靈敏度 掃查靈敏度 比基準(zhǔn)靈敏度高6dB 6 驗(yàn)收要求 無(wú)縫鋼管的判廢要求按相應(yīng)技術(shù)文件規(guī)定 7 結(jié)果評(píng)定 若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)的對(duì)比試塊人工缺陷回波 則判為不合格 不合格品允許重新處理 處理后仍按本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行超聲檢測(cè)和質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 76 8 承壓設(shè)備用高壓無(wú)縫鋼管軸向橫波檢測(cè) 附錄DP118 D 1范圍適用于承壓設(shè)備用無(wú)縫鋼管的軸向超聲橫波檢測(cè) D 2檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)設(shè)備由超聲波探傷儀 斜探頭等組成 探頭應(yīng)與鋼管表面吻合良好 晶片長(zhǎng)度小于或等于25mm 探頭頻率為2 5MHz 5MHz 77 D 3靈敏度校準(zhǔn)試塊D 3 1靈敏度校準(zhǔn)試塊應(yīng)選取與被檢鋼管規(guī)格相同 材質(zhì) 熱處理工藝相同或相似的鋼管 不得有影響人工缺陷顯示的缺陷 D 3 2鋼管橫向缺陷檢測(cè)試塊的尺寸 V形槽和位置 78 人工缺陷槽一般在外表面加工 當(dāng)外徑大于或等于80mm且壁厚大于或等于10mm時(shí) 應(yīng)同時(shí)在內(nèi) 外表面加工 D 4基準(zhǔn)靈敏度確定D 4 1可直接在對(duì)比試塊上將V形槽的反射回波幅度調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的50 以此作為基準(zhǔn)靈敏度 79 D 4 2對(duì)于內(nèi) 外表面加工槽的對(duì)比試塊 應(yīng)將內(nèi)表面槽的回波幅度調(diào)到滿刻度的80 然后再將外表面槽的反射回波幅度點(diǎn)標(biāo)在熒光屏上 作出距離 波幅曲線 D 5結(jié)果評(píng)定D 5 1若缺陷回波幅度大于或等于人工缺陷的基準(zhǔn)回波幅度或是高于距離 波幅曲線 則該鋼管為不合格 D 5 2合格級(jí)別的確定由合同雙方商定 80 第四部分承壓設(shè)備零部件超聲檢測(cè) 81 4 2 承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 4 2P73 1 適用范圍適用碳鋼和低合金鋼鍛件本條不適用奧氏體鋼等粗晶材料鍛件r R 80 的環(huán)形和筒形鍛件周向橫波檢測(cè) 82 2 探頭T 45mm 雙晶直探頭 5MHz S 150mm2T 45mm 單直探頭 2 5MHz 14 25mm3 試塊T 45mm CSII型標(biāo)準(zhǔn)試塊 雙晶探頭 T 45mm CSI型標(biāo)準(zhǔn)試塊 單直探頭 曲面工件 測(cè)定聲耦合差 CS 型標(biāo)準(zhǔn)試塊 83 CSI型標(biāo)準(zhǔn)試塊 84 CSII型標(biāo)準(zhǔn)試塊 85 CS 型標(biāo)準(zhǔn)試塊 86 4 檢測(cè)時(shí)機(jī)原則上應(yīng)安排在熱處理后 孔 臺(tái)等結(jié)構(gòu)機(jī)加工前進(jìn)行 檢測(cè)面的表面粗糙度Ra 6 3 m 5 檢測(cè)方法鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測(cè) 對(duì)筒形和環(huán)形鍛件還應(yīng)增加橫波檢測(cè) 1 縱波檢測(cè) 檢測(cè)面原則上從相互垂直的方向進(jìn)行檢測(cè)T 400mm 從相對(duì)兩端面檢測(cè) 87 探測(cè)方向 88 靈敏度確定 基準(zhǔn)靈敏度雙晶直探頭CS 試塊 3平底孔 至少三個(gè) 距離 波幅曲線單直探頭T 3N或不能獲取底波工件CSI試塊T 3N且有平行底面工件底波計(jì)算法 掃查靈敏度最大檢測(cè)距離處的 2mm平底孔當(dāng)量直徑 89 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測(cè)定 測(cè)定方法在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域 選取三處檢測(cè)面與底面平行且有代表性的部位測(cè)量 取平均值 衰減系數(shù)的計(jì)算公式T 3N 且滿足n 3N T m 2n Bn Bm 6 2 m n T式中 衰減系數(shù) dB m 單程 Bn Bm 衰減器的讀數(shù)之差 dB T 工件檢測(cè)厚度 mm N 單直探頭近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度 mm m n 底波反射次數(shù) 90 T 3N B1 B2 6 2T式中 B1 B2 衰減器的讀數(shù)差 dB 缺陷當(dāng)量的確定T 3N探頭距離 波幅曲線或其他等效方法T 3NAVG曲線或計(jì)算法 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí) 若材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB m 應(yīng)考慮修正 91 缺陷記錄記錄當(dāng)量直徑超過(guò) 4mm的單個(gè)缺陷的波幅和位置 密集區(qū)缺陷 記錄密集區(qū)缺陷中最大當(dāng)量缺陷的位置和缺陷分布 餅形鍛件記錄 4mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū) 其他鍛件記錄 3mm當(dāng)量直徑的缺陷密集區(qū) 缺陷密集區(qū)面積以50mm 50mm的方塊作為最小量度單位 其邊界可由6dB法決定 底波降低量應(yīng)按質(zhì)量等級(jí)表的要求記錄 92 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定缺陷密集區(qū)質(zhì)量等級(jí)評(píng)定缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 93 三個(gè)質(zhì)量等級(jí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí) 鍛件的質(zhì)量等級(jí)為 級(jí) 2 橫波檢測(cè) 附錄CP116 適用范圍r R 80 的環(huán)形和筒形鍛件 探頭頻率 2 5MHz 晶片面積 140 400mm2 原則上采用K1探頭 也可用其他K值探頭 94 靈敏度校準(zhǔn)試塊工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分 在工件內(nèi)外表面分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽 V形槽長(zhǎng)25mm 深度1 T 角度60 也可采用其他等效反射體 如邊角反射等 檢測(cè)方法掃查方向見(jiàn)下圖 95 基準(zhǔn)靈敏度的確定從外圓面將探頭對(duì)準(zhǔn)內(nèi)圓面的標(biāo)準(zhǔn)溝槽 調(diào)整增益 使最大反射高度為滿刻度的80 將該值標(biāo)在面板上 不改變儀器的調(diào)整狀態(tài) 移動(dòng)探頭測(cè)定外圓面標(biāo)準(zhǔn)溝槽 將最大的反射高度也標(biāo)在面板上 將上述兩點(diǎn)用直線連接并延長(zhǎng) 繪出距離 波幅曲線 并使之包括全部檢測(cè)范圍 內(nèi)圓面檢測(cè)時(shí)基準(zhǔn)靈敏度也按上述方法確定 缺陷測(cè)定和記錄記錄波幅幅度大于距離 波幅曲線 基準(zhǔn)線 高度50 的缺陷反射波和缺陷位置 96 缺陷指示長(zhǎng)度按6dB法測(cè)定 當(dāng)相鄰兩個(gè)缺陷間距小于或等于25mm時(shí) 按單個(gè)缺陷處理 中間間距不計(jì) 質(zhì)量評(píng)級(jí)缺陷波幅大于距離 波幅曲線 基準(zhǔn)線 的質(zhì)量等級(jí)定為 級(jí) 波幅在距離 波幅曲線 基準(zhǔn)線 50 100 的缺陷按質(zhì)量等級(jí)表分級(jí) 97 4 6承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 4 6P82 1 適用范圍直徑大于M36的鋼螺栓坯件不適用于奧氏體鋼螺栓坯件2 探頭單晶直探頭或雙晶直探頭頻率2 5MHz 5MHz3 試塊CSI CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊4 檢測(cè)方法 98 縱波徑向探測(cè)按螺旋線或沿圓周掃查 掃查面應(yīng)包括整個(gè)圓柱表面 縱波軸向探測(cè)從螺栓坯件的兩端面進(jìn)行掃查 盡可能避免邊緣效應(yīng)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響5 靈敏度的確定基準(zhǔn)靈敏度 3當(dāng)量平底孔直徑掃查靈敏度 一般不低于最大探測(cè)距離處 2mm平底孔當(dāng)量直徑6 缺陷當(dāng)量的確定采用距 波曲線或計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量 99 7 缺陷記錄記錄當(dāng)量直徑 2mm的單個(gè)缺陷波幅和位置 記錄底波降低量 8 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定單個(gè)缺陷的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 100 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 單個(gè)缺陷和底波降低量應(yīng)作為獨(dú)立等級(jí)分別使用 當(dāng)缺陷被檢測(cè)人員判定為危害性缺陷時(shí) 螺栓坯件的質(zhì)量等級(jí)為 級(jí) 101 4 7 承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件的超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 4 7P83 1 探頭頻率 0 5 2MHz 直探頭 晶片直徑14 30mm 斜探頭 K值0 5 2 2 試塊對(duì)比試塊的晶粒大小和聲學(xué)特性應(yīng)與被測(cè)鍛件大致相近 應(yīng)制備幾套不同晶粒度的奧氏體鋼鍛件對(duì)比試塊 以便能將缺陷區(qū)衰減同試塊作合理的比較 102 條件允許時(shí) 可在鍛件有代表性的部位加工一個(gè)或幾個(gè)適當(dāng)大小的對(duì)比孔或槽 代替試塊作為校正和檢測(cè)的基準(zhǔn) 103 104 3 檢測(cè)時(shí)機(jī)和工件要求原則上在最終熱處理后 粗加工前檢測(cè)表面粗糙度Ra 6 3 m檢測(cè)面應(yīng)無(wú)氧化皮 漆皮 污物等鍛件應(yīng)加工成簡(jiǎn)單的形狀 以利于掃查和聲束的覆蓋 4 檢測(cè)方法方法直探頭縱波檢測(cè) 按鋼鍛件規(guī)定進(jìn)行筒形和環(huán)形鍛件必要時(shí)進(jìn)行斜探頭檢測(cè) 105 5 靈敏度的校正基準(zhǔn)靈敏度T 600mm 在適當(dāng)厚度和當(dāng)量的平底孔試塊上校正 并根據(jù)實(shí)測(cè)值做出距離 波幅曲線 定量線 T 600mm 鍛件無(wú)缺陷部位將底波調(diào)至滿刻度的80 以此作為基準(zhǔn)靈敏度 掃查靈敏度應(yīng)至少比距離 波幅曲線 定量線 或基準(zhǔn)靈敏度提高6dB 106 6 缺陷記錄由于缺陷的存在使底波降為滿刻度25 以下的部位 波幅大于基準(zhǔn)線高度50 的缺陷信號(hào)7 質(zhì)量等級(jí)評(píng)定單直探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 107 斜探頭檢測(cè)的質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 108 8 筒形和環(huán)形件斜探頭檢測(cè) 附錄EP120 E 1范圍適用于內(nèi) 外徑之比 80 的環(huán)形和筒形鍛件 E 2對(duì)比試塊利用被檢工件壁厚或長(zhǎng)度上的加工余量部分制作對(duì)比試塊 在鍛件的內(nèi) 外表面 分別沿軸向和周向加工平行的V形槽作為標(biāo)準(zhǔn)溝槽 V形槽長(zhǎng)度為25mm 深度t為鍛件壁厚的3 或5 角度為600也可采用其他等效反射體 如邊角反射等 109 E 3掃查方式掃查方向與鋼鍛件相同 E 4基準(zhǔn)靈敏度確定E 4 1將探頭置于外圓表面上 聲束垂直于刻槽長(zhǎng)度方向 移動(dòng)探頭并調(diào)整儀器靈敏度 使外壁槽第二次反射 W型反射 或內(nèi)壁槽第二次反射 N型反射 回波高度至少為滿刻度的20 連接外壁槽第一 第二次回波峰值點(diǎn)或內(nèi)壁槽第一 第二次回波的峰值點(diǎn) 以此作為全跨距校正的距離 波幅曲線 110 E 4 2如果采用全跨距校正從內(nèi) 外壁表面的槽上都得不到至少為滿刻度20 的第二次回波 則應(yīng)采用半跨距校正 此時(shí)內(nèi)外壁均應(yīng)各制一槽 并使其互不影響 使來(lái)自外壁槽的第一次回波高度至少為滿刻度的20 連接內(nèi)壁槽第一次回波和外壁槽第一次回波的峰值點(diǎn) 以此作為半跨距校正的距離 波幅曲線 E 4 3內(nèi)徑小于500mm 且長(zhǎng)度超過(guò)900mm的筒形鍛件 通常不從內(nèi)表面進(jìn)行掃查 111 第五部分承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè) 112 5 1 鋼制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) 5 1P85附錄GP123 1 適用范圍適用材料 碳鋼 低合金鋼母材厚度T 6 400mm焊接接頭 熔化焊全焊透對(duì)接接頭有關(guān)支承件 結(jié)構(gòu)件及螺旋焊接接頭不適用鑄鋼焊接接頭 外徑小于159mm的鋼管對(duì)接焊接接頭外徑小于250mm或內(nèi) 外徑之比小于80 的縱向焊接接頭 113 2 超聲檢測(cè)技術(shù)等級(jí) A B C三個(gè)檢測(cè)級(jí)別 114 3 試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊CSK A 115 CSK A T 8 120 116 CSK Am T 6 8 117 CSK A T 8 120 118 CSK A T 120 400 119 4 檢測(cè)準(zhǔn)備 檢測(cè)面 檢測(cè)區(qū)的寬度是焊縫本身 再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30 的一段區(qū)域 這個(gè)區(qū)域最小為5mm 最大為10mm 120 探頭移動(dòng)區(qū)一次反射法L 1 25P 2 5TK直射法L 0 75P 1 5TK式中 P 跨距 mm T 母材厚度 mm K 探頭K值 探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺 鐵屑 油垢及其他雜質(zhì) 檢測(cè)表面應(yīng)平整 便于探頭的掃查 表面粗糙度Ra應(yīng)小于等于6 3 m 一般應(yīng)進(jìn)行打磨 121 探頭 K值 角度 斜探頭的K值 角度 選取參照下表規(guī)定 條件允許時(shí) 應(yīng)盡量采用較大K值探頭 檢測(cè)頻率2MHz 5MHz 122 母材的檢測(cè) 對(duì)于C級(jí)檢測(cè) 斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域 應(yīng)先用直探頭檢測(cè) 以便檢測(cè)是否有影響斜探頭檢測(cè)結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在 該項(xiàng)檢測(cè)僅作記錄 不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢測(cè) 母材檢測(cè)的要點(diǎn)如下 檢測(cè)方法 接觸式脈沖反射法 頻率2MHz 5MHz的直探頭 晶片直徑10mm 25mm 檢測(cè)靈敏度 將無(wú)缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100 凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿刻度20 的部位 應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記 并予以記錄 123 5 距離 波幅曲線的繪制 距離 波幅曲線按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)繪制而成 如果距離 波幅曲線繪制在熒光屏上 則在檢測(cè)范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20 124 距離 波幅曲線的靈敏度選擇 T 6mm 120mm 大于120mm 400mm 125 檢測(cè)橫向缺陷時(shí) 應(yīng)將各線靈敏度均提高6dB 檢測(cè)面曲率半徑R W2 4時(shí) 距離 波幅曲線的繪制應(yīng)在曲率相同的對(duì)比試塊上進(jìn)行 工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同 否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失補(bǔ)償 一跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差小于或等于2dB時(shí)可不進(jìn)行補(bǔ)償 掃查靈敏度 不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度 126 6 檢測(cè)方法 平板對(duì)接焊接接頭的超聲檢測(cè) 縱向缺陷檢測(cè)鋸齒型掃查 斜探頭垂直于焊縫中心線放置在檢測(cè)面上 在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí) 還應(yīng)作10 15 的左右轉(zhuǎn)動(dòng) 前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面 127 橫向缺陷的檢測(cè)在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10 20 作兩個(gè)方向的斜平行掃查 如焊接接頭余高磨平 探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查 對(duì)電渣焊焊接接頭還應(yīng)增加與焊縫中心線成45 的斜向掃查 128 缺陷分析和測(cè)定掃查為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號(hào)或偽缺陷信號(hào) 確定缺陷的位置 方向和形狀 可采用前后 左右 轉(zhuǎn)角 環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式 129 曲面工件 D0 500mm 對(duì)接接頭檢測(cè)a 檢測(cè)面為曲面時(shí) 可盡量按平板對(duì)接焊接接頭的檢測(cè)方法進(jìn)行檢測(cè) 對(duì)于受幾何形狀限制 無(wú)法檢測(cè)的部位應(yīng)予以記錄 b 縱縫檢測(cè)時(shí) 對(duì)比試塊的曲率半徑與檢測(cè)面曲率半徑之差應(yīng)小于10 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值 并考慮幾何臨界角的限制 確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭 130 探頭接觸面修磨后 應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和K值的變化 并用曲率試塊作實(shí)際測(cè)定 應(yīng)注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離弧長(zhǎng)的差異 必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正 c 環(huán)縫檢測(cè)時(shí) 對(duì)比試塊的曲率半徑應(yīng)為檢測(cè)面曲率半徑的0 9倍 1 5倍 131 管座角焊縫的檢測(cè) 5 1 6 3P94 檢測(cè)方式插入式在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè) 位置1 在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè) 位置3 在容器外壁采用斜探頭檢測(cè) 見(jiàn)位置2 132 安放式在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測(cè) 位置1 在接管外壁采用斜探頭檢測(cè) 位置2 在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測(cè) 位置3 133 檢測(cè)條件 探頭 管座角焊縫檢測(cè)以直探頭為主 雙晶直探頭公稱頻率 5MHz晶片面積 150mm2 單晶直探頭公稱頻率 2 5MHz晶片尺寸 14 25mm 距離 波幅曲線靈敏度斜探頭的距離 波幅曲線靈敏度與對(duì)接接頭相同 134 直探頭距離 波幅曲線靈敏度見(jiàn)下表 距離 波幅曲線的制作在CS 試塊上進(jìn)行 135 T型焊接接頭的超聲檢測(cè) 5 1 6 4P94 適用范圍 厚度6mm 50mm 全焊透T型焊接接頭 檢測(cè)方式 T型焊接接頭的檢測(cè)有三種檢測(cè)方式 可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢測(cè) 136 1 斜探頭從翼板外側(cè)用直射法進(jìn)行探測(cè) 見(jiàn)位置1 2 斜探頭在腹板一側(cè)用直射法或一次反射法進(jìn)行探測(cè) 位置2 位置4 3 直探頭或雙晶直探頭在翼板外側(cè)探測(cè) 或者斜探頭 K1探頭 在翼板外側(cè)探測(cè) 見(jiàn)位置3 位置3包括直探頭和斜探頭兩種掃查 137 138 139 140 探測(cè)條件 斜探頭K值的確定 翼板外側(cè)探測(cè) 使用K1探頭 腹板一側(cè)探測(cè) 探頭K值根據(jù)腹板厚度按對(duì)接接頭要求選擇 距離 波幅曲線靈敏度 斜探頭探測(cè) 距離 波幅曲線靈敏度與對(duì)接接頭相同 以腹板厚度為準(zhǔn) 直探頭探測(cè) 距離 波幅曲線靈敏度應(yīng)以翼板厚度按下表確定 對(duì)缺陷進(jìn)行等級(jí)評(píng)定時(shí) 均以腹板厚度為準(zhǔn) 141 7 缺陷定量檢測(cè) 靈敏度 定量線靈敏度 對(duì)波幅達(dá)到或超過(guò)定量線的缺陷 均應(yīng)確定其位置 最大反射波幅和缺陷當(dāng)量 缺陷位置測(cè)定 缺陷位置測(cè)定應(yīng)以獲得缺陷最大反射波的位置為準(zhǔn) 包括缺陷深度和到焊縫中心線距離 142 缺陷最大反射波幅的測(cè)定將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波位置 測(cè)定波幅大小 并確定它在距離 波幅曲線圖中區(qū)域 缺陷定量 缺陷當(dāng)量直徑 以當(dāng)量平底孔直徑表示 用于直探頭檢測(cè) 可采用公式計(jì)算 距離波幅曲線和試塊比較法確定 缺陷指示長(zhǎng)度 L 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn) 且位于 區(qū)或 區(qū)以上時(shí) 使波幅降到熒光屏滿刻度的80 后 用6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度 143 當(dāng)缺陷反射波峰值起伏變化 有多個(gè)高點(diǎn) 且位于 區(qū)或 區(qū)以上時(shí) 使波幅降到熒光屏滿刻度的80 后 以端點(diǎn)6dB法測(cè)其指示長(zhǎng)度 當(dāng)缺陷反射波峰位于 區(qū) 如認(rèn)為有必要記錄時(shí) 將探頭左右移動(dòng) 使波幅降到評(píng)定線 以此測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度 8 缺陷評(píng)定 超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意是否具有裂紋等危害性缺陷特征 如有懷疑 應(yīng)采取改變探頭K值 增加檢測(cè)面 觀察動(dòng)態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定 如對(duì)波型不能判斷時(shí) 應(yīng)輔以其他檢測(cè)方法作綜合判定 144 缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí) 按5mm計(jì) 相鄰兩缺陷在一直線上 其間距小于其中較小的缺陷長(zhǎng)度時(shí) 應(yīng)作為一條缺陷處理 以兩缺陷長(zhǎng)度之和作為其指示長(zhǎng)度 間距不計(jì)入缺陷長(zhǎng)度 9 焊縫質(zhì)量等級(jí)評(píng)定 按波幅所在區(qū) 單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度 多個(gè)缺陷累計(jì)長(zhǎng)度 將焊接接頭質(zhì)量分為 三個(gè)等級(jí) 級(jí)最高 級(jí)最低 145 146 5 3 鋁及鋁合金制承壓設(shè)備 P100 對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)1 適用范圍 適用 材料 鋁及鋁合金 厚度 T 8mm 不適用 D0 159mm的承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)焊縫 Di 200mm的管座角焊縫 D0 250mm或r R 80 的縱焊縫 147 2 對(duì)比試塊材質(zhì)與被檢鋁板聲學(xué)性能相同或相近 不得有 2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷 148 3 檢測(cè)準(zhǔn)備 檢測(cè)面檢測(cè)前 應(yīng)清除探頭移動(dòng)區(qū)域飛濺 銹蝕 油垢等 焊接接頭外觀及檢測(cè)表面經(jīng)檢查合格后 方可進(jìn)行檢測(cè) 探頭的選擇一般使用頻率為2 5MHz K2的斜探頭 如有必要 也可選用其他參數(shù)的探頭 149 距離 波幅曲線的制作距離 波幅曲線應(yīng)在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)繪制 距離 波幅曲線的靈敏度 掃查靈敏度掃查靈敏度不低于最大聲程處的評(píng)定線靈敏度 150 4 掃查方法 與鋼對(duì)接焊接接頭相同 5 缺陷定量檢測(cè)與鋼對(duì)接焊接接頭相同6 缺陷評(píng)定與鋼對(duì)接焊接接頭相同7 質(zhì)量分級(jí) 按波幅所在區(qū)和單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度分為三級(jí) 151 152 附錄M 鈦制承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) P142 1 適用范圍 適用 T 8mm的鈦對(duì)接焊接接頭 不適用 D0 159mm的鈦管對(duì)接焊接接頭 Di 200mm的管座角焊縫隙 D0 250mm或r R 80 的縱焊縫 2 對(duì)比試塊對(duì)比試塊材質(zhì)應(yīng)與被檢鈦板性能相同或相近 不得有不得有 2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷 153 3 檢測(cè)準(zhǔn)備 檢測(cè)面檢測(cè)前 應(yīng)清除探頭移動(dòng)區(qū)域飛濺 銹蝕 油垢等 表面粗糙時(shí)應(yīng)打磨平滑 焊接接頭外觀及檢測(cè)表面經(jīng)檢查合格后 方可進(jìn)行檢測(cè) 探頭的選擇一般使用頻率為2 5MHz K2的斜探頭 如有必要 也可選用其他參數(shù)的探頭 154 距離 波幅曲線的制作距離 波幅曲線應(yīng)在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)繪制 距離 波幅曲線的靈敏度 掃查靈敏度掃查靈敏度不低于評(píng)定線 155 4 掃查方法 與鋼對(duì)接焊接接頭相同 5 缺陷定量 位于定量線或定量線以上的缺陷應(yīng)進(jìn)行幅度和指示長(zhǎng)度的測(cè)定 當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí) 用6dB法測(cè)定其指示長(zhǎng)度 當(dāng)缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)時(shí) 用端點(diǎn)6dB法測(cè)定其指示長(zhǎng)度 缺陷指示長(zhǎng)度小于10mm時(shí) 按5mm計(jì) 對(duì)缺陷回波高度介于評(píng)定線和定量線之間的缺陷 如認(rèn)為有必要記錄時(shí) 也可上述方法測(cè)定 156 6 質(zhì)量分級(jí) 按波幅所在區(qū)和單個(gè)缺陷指示長(zhǎng)度分為四級(jí) 157 附錄N奧氏體不銹鋼對(duì)接焊接接頭超聲波檢測(cè)和質(zhì)量分級(jí) P145 1 適用范圍 適用材質(zhì)和接頭 奧氏體不銹鋼對(duì)接接頭厚度 T 10 50mm 不適用鑄鋼焊接接頭 其形式焊接接頭 D0 159mm的鋼管對(duì)接焊接接頭 Di 200mm的管座角接接頭D0 500mm或r R 80 的縱向焊接接頭 158 2 檢測(cè)人員 經(jīng)奧氏體不銹鋼對(duì)接焊接接頭超聲檢測(cè)培訓(xùn) 3 探頭 儀器及組合性能 探頭高阻尼窄脈沖縱波單斜探頭 在滿足靈敏度和信噪比要求時(shí) 也可選用雙晶片縱波斜探頭或聚焦縱波斜探頭等 探頭頻率 2 5MHz 探頭K值 一般選K1探頭 如需要也可選用其他K值的探頭 159 組合性能 探傷儀應(yīng)與選用的探頭相匹配 以便獲得最佳靈敏度和信噪比 聲束通過(guò)母材和通過(guò)焊接接頭分別測(cè)繪的兩條距離 波幅曲線間距應(yīng)小于10dB 3 試塊 對(duì)比試塊材質(zhì)應(yīng)與被檢材料相同 不得有不得有 2平底孔當(dāng)量直徑的缺陷 試塊的中部設(shè)置一對(duì)接焊接接頭 該焊接接頭應(yīng)與被檢焊接接頭相似 并采用同樣的焊接工藝制成 160 161 5 儀器調(diào)節(jié) 按深度或水平1 1調(diào)節(jié)探傷儀時(shí)基線 距離 波幅曲線距離 波幅曲線由選定的探頭 儀器組合在對(duì)比試塊上實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制 測(cè)定橫孔的回波高度時(shí) 聲束應(yīng)通過(guò)焊接接頭金