FPC測試技術(shù)材料.PPT

FPC測試技術(shù) 第18屆NWING FPC技術(shù)交流研習(xí)會表資料 發(fā)表單位 自動化 前言 電測是檢驗產(chǎn)品電氣特性之唯一方法 也是保證產(chǎn)品最終品質(zhì)最有效的手段 故對電測原理的探討與實施 有助於更多的人了解電測 了解保障產(chǎn)品品質(zhì)的重要途徑 目錄 空板電測 BareBoardTester 成品電測 CableTester ICT電測 InCircuitTester 空板 成品電測BareBoardTesterandCableTester 空板電測 成品電測 測試規(guī)格 絕緣性20M 測試導(dǎo)通性10 測試是客戶的要求更是大勢所趨 測試機以定電壓測試先測導(dǎo)通性再測絕緣性 導(dǎo)通性測試 測試電壓10V 電流20mA測試條件 10 100K 絕緣性測試 測試電壓50V 250V 電流20mA測試條件 100K 20M 測試機測試規(guī)格 測試規(guī)格與測試品質(zhì)之關(guān)係 0 PASS 10 FAIL 導(dǎo)通性測試規(guī)格越趨近0 測試品質(zhì)越嚴格絕緣性測試規(guī)格越趨近 測試品質(zhì)越嚴格 PASS FAIL 導(dǎo)通性測試 絕緣性測試 20 線路為什麼有低阻值 電阻R 截面積A 長度L 線路有低阻值 不等於線路有缺口線寬3mil線路 導(dǎo)通性不良時 阻值會超過10 線路愈細愈長 產(chǎn)生阻值愈高壓合層次愈高 產(chǎn)生阻值愈高孔徑 盲埋孔 愈小 產(chǎn)生阻值愈高 電測原理 測試機有誤測就會有漏測只是誤測的板子可以自己找漏測的板子客戶幫你找 測試點開關(guān) IO 基本組成 A 治具探針 電表 IO IO IN OUT 治具探針 ON OFF PASS 導(dǎo)通性測試流程圖 continuity A ON ON 1 2 3 4 OPEN 導(dǎo)通性測試流程圖 continuity A ON ON 1 2 3 4 PASS IO點損壞就會發(fā)生誤測 A ON OFF 1 2 3 4 OPEN IO損壞 常關(guān) 誤測 IO點損壞更會發(fā)生漏測 A ON ON 1 2 3 4 PASS IO損壞 常開 ON 嚴重漏測 絕緣性測試流程圖 insulation A ON ON 1 2 3 4 PASS ON ON 絕緣性測試流程圖 insulation A ON ON 1 2 3 4 SHORT ON ON IO點損壞就會發(fā)生誤測 A ON ON 1 2 3 4 SHORT ON ON ON IO損壞 常開 誤測 IO點損壞更會發(fā)生漏測 A OFF ON 1 2 3 4 PASS ON ON IO損壞 常關(guān) 嚴重漏測 超智慧軟體 支援多片排片測試及導(dǎo)電膠測試 ACRT 排片測試又稱為排版測試 其主要的用途是讓作業(yè)人員在測試完畢后能以最快的速度判定多片版中某片為不良品 空板電測機優(yōu)點 一 監(jiān)測系統(tǒng) 提高測試可靠度 所謂監(jiān)測系統(tǒng)就是防呆裝置 當(dāng)防呆為ON時 測試完畢為良品者 必須從設(shè)定的方向安放否則機臺不再繼續(xù)測試的動作 此項設(shè)計是為了防止長時間的工作所造成的疲勞 而導(dǎo)致誤動作的發(fā)生 將良品與不良品混在一起 空板電測機優(yōu)點 二 ICT電測 InCircuitTester ICT概論 ICT即在線測試儀 INCIRCUITTEST 是一大堆高級電表的組合 電表能測到 ICT就能測到 電表測不到 ICT也可能測不到 如 R Jumper R無法用電表測 ICT也無法測 測試原理的探討 一般而言 基本上測試方法有兩大方向 一則利用電流源當(dāng)信號源 量測電壓值 以應(yīng)用在電阻量測最普遍 二則以電壓源當(dāng)信號源 量測電流值 以應(yīng)用在電容 電感量測最普遍 隔離效果原理的探討 ICT與電表的差異就是 ICT可對旁路元件進行隔離 Guarding 而電表不可以 在TR 518FR的內(nèi)部電路中 是利用一顆OP當(dāng)做一個隔離點 最多可有五個隔離點 若是 以電流源當(dāng)信號源輸入時 則在相接元件一之另一腳加上一等高電位能 GuardingPoint 以防止電流流放與被測元件相接之旁路元件 確保量測的精確性 開路 短路量測原理探討 一 在開路 短路自我學(xué)習(xí) open shortlearning 時 系統(tǒng)會自動將量測點之間阻抗小于25 的點聚集成不同的短路群 shortgroups 開路 短路量測原理探討 二 於開路測試 opentest 時 在任一短路群 shortgroups 中任何兩點之阻抗不得大於55 反之即是開路測試不良 openfail 短路測試 shorttest 時分成三種情況 若有其中以下的情況發(fā)生 則判定短路測試不良 shorttest 在短路群 shortgroups 中任何一點與非短路群中任一點之阻抗一點阻抗小於5 不同短路群中任兩點之阻抗小於5 非短路群中任兩點之阻抗小於5 開路 短路量測原理探討 三 實例說明 以上為078料號短路群資料 在某次生產(chǎn)中 2與7兩個不同短路群點其外部 conn 排線 阻抗超出系統(tǒng)默認值 5 導(dǎo)致30 短路產(chǎn)品誤判為良品 電容之Debugging 一 在編輯電容測試資料時其高低點通常選定一較少元件相接的腳為低點 以減少幹擾程度 300pF以下之電容 一般使用較高的信號做量測 大於3 3UF之電容一般採用Mode0 電流源測試 方式量測 當(dāng)測量測值與標準值偏差太大時 可適當(dāng)選用不同模式測試 保證產(chǎn)品OK 直到穩(wěn)定為止 電容之Debugging 二 實例說明 175客戶反應(yīng)電容測試出現(xiàn)不穩(wěn)定現(xiàn)象