工藝技術(shù)_線陣ccd測徑系統(tǒng)電路設(shè)計

線陣CCD測徑系統(tǒng)電路設(shè)計摘要：研究了線陣CCD測徑系統(tǒng)的硬件設(shè)計。從CCD傳感器的電荷產(chǎn)生、轉(zhuǎn)移原理入手，針結(jié)CCD傳感器的信號特點進行系統(tǒng)硬件設(shè)計，完成CCD的驅(qū)動電路、信號放大電路、A/D轉(zhuǎn)換電路、數(shù)據(jù)存儲電路及與計算機的數(shù)據(jù)通信，將CCD表面的亮度變化再現(xiàn)于計算機上。測試結(jié)果表明，該系統(tǒng)成功實現(xiàn)了CCD的光電轉(zhuǎn)換、串行數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)采集與顯示，能夠用于工業(yè)生產(chǎn)中的長度測量。 關(guān)鍵詞：CCD傳感器 相關(guān)雙采樣 像素 勢阱自二十世紀80年代開始，攝影技術(shù)出現(xiàn)了革命性的突破，即電荷耦合器件CCD（Charged Coupled Device）的廣泛應用。目前，CCD技術(shù)已發(fā)展成一項具有廣泛應用前景的新技術(shù)，成為現(xiàn)代光電子與測試技術(shù)中最受關(guān)注的研究熱點之一。例如，在國防軍事領(lǐng)域，CCD成像技術(shù)在微光、夜視、遙感應用中發(fā)揮著巨大的作用，適應了現(xiàn)代高技術(shù)戰(zhàn)爭的需求，成為軍事微電子學的研究熱門；在科研領(lǐng)域，由于其靈敏度高、噪聲低，成為研究宏觀（如天體）和微觀（如生物細胞）現(xiàn)象不可缺少的工具；CCD具有成本低、小而輕的特點，在圖像通信領(lǐng)域也獲得了廣泛的用途；在工程測量領(lǐng)域，CCD在工件尺寸測量、工件表面質(zhì)量檢測、物體熱膨脹系數(shù)測量、光強分布測量等方面都有很好的應用。在生產(chǎn)實際中，許多場合需要對一維尺寸進行測量，例如對帶、管、條等的測。采取傳統(tǒng)的先加工后測量的方法，勞動強度大，信息反饋慢，直接影響了線材的質(zhì)量和生產(chǎn)效益。因此，必須有一套高精度的實時在線檢測系統(tǒng)，一方面可使生產(chǎn)人員及時了解線徑的大小及偏差，一方面給生產(chǎn)機構(gòu)伺服系統(tǒng)提供正比于偏差的反饋量，實現(xiàn)反饋控制。本課題研制了一套用線陣CCD對線材直徑進行非接觸實時測量的系統(tǒng)，可應用于工業(yè)生產(chǎn)中。1 CCD電荷的產(chǎn)生、轉(zhuǎn)移原理CCD是由一系列排得很緊密的MOS電容器組成，每一個光敏像元就是一個MOS電容器。它的突出特點是以電荷用為信號，實現(xiàn)電荷的存儲和電荷的轉(zhuǎn)移。1.1 CCD光電轉(zhuǎn)換當在MOS電容器的柵極上加上一個小的正電壓時，半導體中的自由空穴被排斥到遠離柵極的一邊，在SiO2的表面下形成一層電子的耗盡區(qū)，當柵壓繼續(xù)增加，耗盡層將進一步向半導體內(nèi)延伸，這一耗盡層對于帶負電荷的電子而言是一個勢能特別低的區(qū)域，因此也叫做勢阱1。正柵壓進一步增加，在界面上的電子層形成反型層。當光入射到耗盡區(qū)時，因內(nèi)光電效應將產(chǎn)生電子-空穴對（硅吸能量釋放價電子，形成電子-空穴對），在耗盡區(qū)電場作用下，空穴流入襯底部，電子則積存于半導體表面，這樣勢阱中就積存了一定量的電荷，且勢阱中積存的電荷量入射光強度成正比（CCD飽和的情況除外）。1.2 CCD像素輸出CCD信號電荷的傳輸是通過控制各個像素上的電極電壓，電荷就會從電壓低的電極轉(zhuǎn)移到電壓高的電極下，使信號電荷隨著電極電壓的周期性變化在半導體表面或者體內(nèi)做定向運動。線陣CCD電荷包只單方向傳遞，每一個掃描周期，所有像素都沿著電極相繼傳遞，進行像素的水平移動，直到所有像素全部輸出。2 線陣CCD沒徑系統(tǒng)硬件設(shè)計本測徑系統(tǒng)具有以下特點：（1）采用CCD為EG&G RETICON公司的RL512EC/17線陣傳感器芯片；（2）采用高集成度的XC9572PC44芯片產(chǎn)生系統(tǒng)所需的驅(qū)動和控制時序邏輯；（3）由外部PC機編程實現(xiàn)對CCD積分、時間、大小和數(shù)據(jù)采集工作過程的控制；（4）應用了內(nèi)帶采樣保持的8位高速并行輸出A/D芯片TLC5510進行模數(shù)轉(zhuǎn)換；（5）通過計算機串口實現(xiàn)對數(shù)據(jù)信息的傳輸。系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理框圖如圖1所示。系統(tǒng)具體的工作過程：由CPLD產(chǎn)生CCD傳感器所需的工作時序，再經(jīng)時鐘驅(qū)動電路產(chǎn)生時序和偏置都滿足CCD要求的信號，驅(qū)動CCD輸出模擬視頻信號；該信號經(jīng)放大、A/D轉(zhuǎn)換得到8位數(shù)字信號存儲于CPLD中，再經(jīng)芯片NS216C552和MAX202轉(zhuǎn)換為串行數(shù)據(jù)，輸入計算機進行顯示。CPLD芯片內(nèi)部分為兩部分：一部分是視頻信號處理控制時序發(fā)生器，它提供CCD視頻信號處理（如A/D轉(zhuǎn)換、數(shù)字信號存取等）所需的各種同步控制時序；另一部分是CCD驅(qū)動時序發(fā)生器。2.1時序信號發(fā)生電路本文采用的CCD傳感器為EG&G RETICON公司的RL512EC/17線性傳感器，具有512個有效像素，像素信號輸出方式為串行視頻輸出。該傳感器具有高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低功耗的特點，最大掃描頻率10MHz。RL512EC/17各駁動信號及輸出信號時序如圖2所示。驅(qū)動CCD所需的信號由CPLD編程產(chǎn)生，本系統(tǒng)采用一片XC9572PC44F芯片實現(xiàn)時序發(fā)生器的功能。該系列芯片是Xilinx公司典型的可通過JTAG在線編程的CPLD器件3。首先由CPLD產(chǎn)生符合時序要求的初始驅(qū)動信號TTL clk和TTL start，這兩路信號必須經(jīng)后面的偏置電路處理后才能得到最終的驅(qū)動信號s、1、2。因為TTL clk和TTL start均為TTL電平，低電平0V，高電平+5V，而CCD要求的驅(qū)動信號為低電平-7V，高電平+5V，必須進行電平轉(zhuǎn)換：TTL start信號驅(qū)動三極管，該三極管發(fā)射極和集電極分別接+5V和-8V，得到CCD所需的高電平+5V，低電平-7V的開始信號s；同時TTL clk經(jīng)74LS74觸發(fā)的兩路反相時鐘通過DS0026芯片變換為高電平+5V、低電平-7V的兩路時鐘信號1、2。DS0026專用電平轉(zhuǎn)換芯片，輸出電平與外接電壓電平一致，高低壓差最大20V4。直接驅(qū)動RL512EC/17的信號共有三個：開始信號s，互為反相的兩路時鐘信號1、2。開始信號s為低電平的時間就是傳感器的曝光時間，由軟件編程控制。S為高電平時進行電荷轉(zhuǎn)移，此時每一個1、2周期CCD就向外電路輸出一個像素，該像素值就是圖2中的VIDEO信號。所有像素移出后，EOS信號輸出一個低脈沖，該信號用于測試。s脈沖用來初始化每一次掃描，兩次s負脈沖之間的間隔就是一次掃描的時間tL，該時間必須滿足（N+2）/?tL40ms，其中?s為掃描頻率，N為像素數(shù)512。不大于40ms是為了保證積累的暗泄漏電荷不超過輸出信號飽和值的1%（CCD輸出電荷 的飽和值為4pC，泄漏電荷在室瀑下為1pA，經(jīng)40ms積累得到0.04pC的泄漏電荷）。本文采用?s=2.5MHz,tL=40s。2.2視頻信號放大、采樣電路CCD輸出的視頻模擬信號比較微弱，必需經(jīng)過放大后才能進行A/D轉(zhuǎn)換。由于CCD輸出的信號電壓為負值，在放大的同時要將其轉(zhuǎn)換為正值，因此筆者將運算放大電路設(shè)計為反相放大的形式。另外，該CCD為電流輸出，運放反相端的接地電阻必須較大，否則CCD輸出的微弱電流將不會引起電壓的明顯變化。本系統(tǒng)采用的CCD要求運算放大器在掃描頻率（本文為2.5MHz）時的閉環(huán)增益至少為40dB。在電路設(shè)計中，選 用了AD8009運算放大器5。放大后的模擬信號必須進行模/數(shù)轉(zhuǎn)換才能進行下一步的存儲、顯示。在該系統(tǒng)的設(shè)計中，選用8位高速并行的A/D芯片TLC5510完成A/D轉(zhuǎn)換工作6，其內(nèi)部自帶采樣保持電路，這在一定程度上簡化了外圍電路的設(shè)計。TLC5510的轉(zhuǎn)換速率（20MHz）完全可以滿足CCD（2.5MHz）的工作要求。A/D轉(zhuǎn)換的時鐘信號和使能信號由CPLD產(chǎn)生。采樣后的數(shù)據(jù)存儲于CPLD中。2.3 I/O電路考慮到本文使用的線陣CCD數(shù)據(jù)量較小、速率較低，采用串口與計算機進行通信能夠滿足CCD與計算機間的數(shù)據(jù)通信需要。NS16C552和MAX202芯片組成的串口電路與CPLD連接，將CPLD送出的并行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為串行輸出，像素住處便可傳送至計算機進行處理、顯示。3 測試結(jié)果在對該系統(tǒng)軟硬件設(shè)計和測試成功后，將采集到的數(shù)據(jù)傳入計算機，根據(jù)這些數(shù)據(jù)恢復出CCD傳感器表面不同位置的亮度。光源分別在CCD遮蓋半邊、遮蓋中間以及從CCD的一側(cè)斜射的情況下照射，將采集的數(shù)據(jù)進行亮度仿真，具體的仿真結(jié)果如圖3所示。仿真結(jié)論：（1）仿真結(jié)果顯示的明暗變化能夠準確反映CCD表面的光照情況。（2）在（a）、(b)兩圖中，部分與光照部分之間存在亮度過渡區(qū)。這是由于CCD本身的感光單元有一定間距，加上照明光源在視場內(nèi)光強分布的不均勻性，CCD本身的光敏不均勻性（PRUN）、轉(zhuǎn)移損失，以及光源在通過待測目標邊緣時的衍射現(xiàn)象等原因，使得CCD輸出包絡的邊緣必然帶有明顯的梯度?；蛘哒f，目標尺寸的兩上邊緣在CCD上成像的具體位置不可能十分確定，導致CCD輸出信號波形在輪廓邊緣處有一漸緩的過渡區(qū)，而且這一過渡區(qū)隨著輪郭的視場中位置的變化而變化。（3）證明了熱噪聲對CCD性能的影響十分明顯。在系統(tǒng)剛通電和長時間通電后分別采集數(shù)據(jù)，發(fā)現(xiàn)長時間通電之后的仿真圖像明顯疊加了大量黑點，圖像較模糊。這是由于CCD的絕大多數(shù)噪聲來源于熱噪聲，隨著通電時間加長，溫度升