智能儀器設(shè)計(jì)基礎(chǔ)答案

1、答案： 一、否、是、否、否、否、否、是、否、否、否 二、B 、 B 、 B 、 C 、 D 、 B 、 A 、 D 、 C、 B三、12.4mv 2. 5 3. 1.6mv，9，0.36mv； 4. 2453.888KHz，20.4KHz； 6. 207. 0.98 四、 1傳感器技術(shù)： 信號(hào)檢測是通過傳感器實(shí)現(xiàn)的，為適應(yīng)智能儀器發(fā)展的需要，各種新型傳感器不斷涌現(xiàn)。A/D 等新器件的發(fā)展顯著增強(qiáng)了儀器的功能與測量范圍。DSP 的廣泛應(yīng)用： 由于 DSP 芯片是通過硬件來完成上述乘法和加法運(yùn)算，因此，采用DSP 芯片可大大簡化具有此類數(shù)字信號(hào)處理功能的智能儀器的結(jié)構(gòu)并提高其相應(yīng)的性能，極大地增強(qiáng)

2、了智能儀器的信號(hào)處理能力。ASIC 、FPGA CPLD 技術(shù)在智能儀器中的廣泛使用： 使儀器的可靠性、成本、速度等方面有提高。LabVlEW 等圖形化軟件技術(shù)。網(wǎng)絡(luò)與通信技術(shù)： 智能儀器要上網(wǎng)，完成數(shù)據(jù)傳輸、遠(yuǎn)程控制與故障診斷等；構(gòu)建網(wǎng)絡(luò)化測試系統(tǒng)，將分散的各種不同測試設(shè)備掛接在網(wǎng)絡(luò)上，通過網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)資源、信息共享，協(xié)調(diào)工作，共同完成大型復(fù)雜系統(tǒng)的測試任務(wù)。 2從整體到局部（自頂向下）的設(shè)計(jì)原則：這種設(shè)計(jì)原則的含義是，把復(fù)雜的、難處理的問題分為若干個(gè)較簡單、容易處理的問題，然后在一個(gè)個(gè)地加以解決。 較高的性能價(jià)格比原則：在滿足性能指標(biāo)的前提下，應(yīng)盡可能采用簡單的方案，因?yàn)榉桨负唵我馕吨骷?/p>

3、，開發(fā)、調(diào)試、方便，可靠性高。 組合化與開放式設(shè)計(jì)原則： 開放系統(tǒng)是指向未來的 VLSI 開放，在技術(shù)上兼顧今天和明天，既從當(dāng)前實(shí)際可能出發(fā)，又留下容納未來新技術(shù)機(jī)會(huì)的余地；向系統(tǒng)的不同配套檔次開放，為發(fā)揮各方面廠商的積極性創(chuàng)造條件；向用戶不斷變化的特殊要求開放，在服務(wù)上兼顧通用的基本設(shè)計(jì)和用戶的專用要求等等。 。 3即插即用技術(shù)包含 2 個(gè)技術(shù)層面，既熱插拔和自動(dòng)識(shí)別配置。熱插拔的關(guān)鍵技術(shù)在于電路接插件插、拔期間強(qiáng)電流的處理。USB 在電纜以及接插件的設(shè)計(jì)上充分考慮了這一點(diǎn)，使得這個(gè)瞬時(shí)的強(qiáng)電流被安全地吸收，從而使 USB 設(shè)備實(shí)現(xiàn)了熱插拔。系統(tǒng)設(shè)備的自動(dòng)識(shí)別是通過在 USB 主機(jī)或 Hub

4、 的下行端口信號(hào)線上接有下拉電阻和在設(shè)備端的信號(hào)線上連接上拉電阻來實(shí)現(xiàn)的。既當(dāng) USB 主機(jī)或 Hub 的下行端口處于斷開狀態(tài)時(shí)，信號(hào)線電平將恒為 0 。當(dāng) USB 設(shè)備連接上的瞬間，會(huì)造成 USB 主機(jī)或 Hub 端信號(hào)線的上沖，這樣當(dāng) USB 主機(jī)或 Hub 檢測到這個(gè)上沖過程， USB 主機(jī)可認(rèn)定有一設(shè)備接入。 4提高硬件可靠性：元器件的選擇；篩選；降額使用；可靠電路的設(shè)計(jì)； 冗余設(shè)計(jì)；環(huán)境設(shè)計(jì)；人為因素設(shè)計(jì)；儀器可靠性實(shí)驗(yàn)；提高軟件可靠性：認(rèn)真地進(jìn)行規(guī)范設(shè)計(jì)；可靠的程序設(shè)計(jì)方法；程序驗(yàn)證技術(shù)；提高軟件設(shè)計(jì)人員的素質(zhì)；消除干擾；增加試運(yùn)行時(shí)間。5 可測試性（ Testability ）是指產(chǎn)品能夠及時(shí)準(zhǔn)確地確定其自身狀態(tài)（如可工作，不可工作，性能下降等）和隔離其內(nèi)部故障的設(shè)計(jì)特性。智能儀器設(shè)計(jì)中引入可測試性設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)1提高故障檢測的覆蓋率；2縮短儀器的測試時(shí)間；3可以對(duì)儀器進(jìn)行層次化的逐級(jí)測試：芯片級(jí)、板級(jí)、系統(tǒng)級(jí)；4降低儀器的維護(hù)費(fèi)