《集成電路測(cè)試技術(shù)項(xiàng)目教程（活頁式）》課件 2-6.創(chuàng)建測(cè)試程序

創(chuàng)建測(cè)試程序創(chuàng)建測(cè)試程序在創(chuàng)建第一個(gè)集成電路測(cè)試程序之前，我們需要先打開測(cè)試平臺(tái)，其步驟如下：第一步：打開LK8820前面板，打開專用電源開關(guān)，如圖所示。創(chuàng)建測(cè)試程序第二步：打開工控機(jī)電源開關(guān)創(chuàng)建測(cè)試程序1.創(chuàng)建XX芯片測(cè)試程序在<芯片測(cè)試>界面點(diǎn)擊<創(chuàng)建程序>按鈕，進(jìn)入新建程序窗口，如圖所示，點(diǎn)擊程序路徑選擇按鈕，彈出右側(cè)文件對(duì)話框，選擇一個(gè)目錄作為新建程序的保存路徑。點(diǎn)擊<確定>完成自己工程的創(chuàng)建，<取消>則取消本次創(chuàng)建。創(chuàng)建測(cè)試程序2.配置工程屬性。在創(chuàng)建工程后，通常需要配置工程屬性。雙擊后綴名為XX芯片.sln的文件，打開創(chuàng)建的XX芯片測(cè)試程序。先右鍵單擊“解決方案資源管理器”的“XX芯片”工程名，然后在彈出菜單中，單擊最后一行的“屬性”選項(xiàng)，如圖所示。創(chuàng)建測(cè)試程序打開的XX芯片屬性頁后，在屬性頁的“配置（C）：”中選擇“Debug”，在“平臺(tái)（P）：”中選擇“x64”，如圖所示。另外，還可以進(jìn)入下圖中的“配置管理器”，進(jìn)行屬性配置。在紅框中選擇x64后，返回上一級(jí)的屬性頁中，先點(diǎn)擊<應(yīng)用>，再點(diǎn)擊<確定>，(注意順序，否則可能配置未應(yīng)用)，完成以上的配置后，就可以編寫代碼了。創(chuàng)建測(cè)試程序3.編寫測(cè)試程序在“解決方案資源管理器”中，打開“J8820_luntek.cpp”。J8820_luntek.cpp主要包含頭文件包含、測(cè)試程序信息函數(shù)以及主測(cè)試程序函數(shù)，其中主測(cè)試程序函數(shù)，是需要我們編寫測(cè)試程序代碼的。（1）PASCALJ8820_luntek_inf（）函數(shù)PASCALJ8820_luntek_inf（）是測(cè)試程序信息的函數(shù)，是一個(gè)自動(dòng)生成的代碼，不需要我們編寫或修改的。創(chuàng)建測(cè)試程序（2）PASCALJ8820_luntek（）函數(shù)PASCALJ8820_luntek（）是一個(gè)主測(cè)試程序函數(shù)，主要包括測(cè)試程序初始化、直流參數(shù)測(cè)試、功能測(cè)試以及輸出測(cè)試結(jié)果等，這些代碼都需要我們編寫。自動(dòng)生成的主測(cè)試函數(shù)inlinevoidPASCALJ8820_luntek（），代碼如下：1.inlinevoidPASCALJ8820_luntek(

)2{3.//空函數(shù)體，可添加測(cè)試芯片代碼4.}這時(shí)，還需要在這個(gè)空函數(shù)中編寫測(cè)試XX芯片的代碼，具體代碼在后面的項(xiàng)目中介紹。編寫完測(cè)試程序后進(jìn)行編譯，若編譯發(fā)生錯(cuò)誤，要進(jìn)行分析檢查，直至編譯成功為止。創(chuàng)建測(cè)試程序4.修改def文件在創(chuàng)建工程時(shí),會(huì)自動(dòng)生成一個(gè)det文件模板,在"解決方案資源管理器"中,打開"XX芯片.det"。在def文件模板上，根據(jù)XX芯片的測(cè)試條件要求，修改def文件模板的每行每列內(nèi)容。創(chuàng)建測(cè)試程序5.XX芯片測(cè)試程序載入運(yùn)行先將搭建好的XX芯片測(cè)試電路，插接到LK8820外掛盒的芯片測(cè)試接口上，然后進(jìn)行XX芯片測(cè)試程序載入運(yùn)行操作。操作步驟如下：（1）運(yùn)行LK8820測(cè)試軟件，通過LK8820測(cè)試系統(tǒng)登錄等操作，進(jìn)入芯片測(cè)試界面；（2）單擊“載入程序”，彈出“程序選擇”界面，然后通過XX芯片測(cè)試程序的文件夾、經(jīng)x64文件夾、定位到Debug文件夾，獲取XX芯片的動(dòng)態(tài)鏈接庫文件、并完成芯片測(cè)試程序的載入，如下圖所示；創(chuàng)建測(cè)試程序（3）測(cè)試設(shè)置完成程序載入后，在<芯片測(cè)試>功能欄中選擇測(cè)試方式。<手動(dòng)測(cè)試>按鈕每次只測(cè)試一遍。<手動(dòng)連續(xù)>按鈕按下后就能連續(xù)測(cè)試，點(diǎn)擊<暫停測(cè)試>就會(huì)停止測(cè)試。每一次測(cè)試完成后，會(huì)將打印屏幕刷新，顯示出當(dāng)前新一輪的測(cè)試結(jié)果。右側(cè)測(cè)試信息欄會(huì)相應(yīng)的刷新數(shù)據(jù)。完成一輪芯片測(cè)試后，若有保存此輪數(shù)據(jù)的需求，點(diǎn)擊<數(shù)據(jù)打印>按鈕，自動(dòng)生成數(shù)據(jù)模板保存于本地。<實(shí)驗(yàn)配置>提供了測(cè)試程序中所要測(cè)試參數(shù)的基本信息。創(chuàng)建測(cè)試程序（4）程序測(cè)試選擇好測(cè)試方式后，點(diǎn)擊<開始測(cè)試>按鈕進(jìn)行測(cè)試，結(jié)束此次測(cè)試后會(huì)將結(jié)果輸出到屏幕中。觀察XX芯片