IC制造虛擬課件:硅各向異性刻蝕原理與虛擬實(shí)驗(yàn)_第1頁(yè)
IC制造虛擬課件:硅各向異性刻蝕原理與虛擬實(shí)驗(yàn)_第2頁(yè)
IC制造虛擬課件:硅各向異性刻蝕原理與虛擬實(shí)驗(yàn)_第3頁(yè)
IC制造虛擬課件:硅各向異性刻蝕原理與虛擬實(shí)驗(yàn)_第4頁(yè)
IC制造虛擬課件:硅各向異性刻蝕原理與虛擬實(shí)驗(yàn)_第5頁(yè)
已閱讀5頁(yè),還剩18頁(yè)未讀 繼續(xù)免費(fèi)閱讀

下載本文檔

版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶(hù)提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

單晶硅各向異性刻蝕

與虛擬仿真實(shí)驗(yàn)學(xué)習(xí)目標(biāo)熟悉單晶硅各向異性刻蝕原理熟悉單晶硅各向異性刻蝕液成分熟悉虛擬仿真實(shí)驗(yàn)操作單晶硅單晶硅由金剛石結(jié)構(gòu)的立方晶胞有序重復(fù)組成,硅常用晶面上原子分布Si面密度:(100)2/a2(110)2.83/a2(111)2.3/a2晶面原子密度關(guān)系為(111)>(110)>(100)各向異性刻蝕原理在特定溶液中,晶面原子密度越大,刻蝕速率越低,形成各向異性刻蝕。logo材料表面(100)晶面,傾斜的側(cè)面(111)晶面,與水平面夾角54.7°晶面刻蝕速率約為(111)晶面刻蝕速率的100倍單晶硅各向異性刻蝕液添加標(biāo)題EDP(乙二胺+對(duì)苯二酚+水)添加標(biāo)題TMAH(四甲基氫氧化銨)添加標(biāo)題聯(lián)胺添加標(biāo)題氫氧化鈉添加標(biāo)題氫氧化鋰添加標(biāo)題氨水單晶硅各向異性刻蝕液氫氧化鉀????+????_x001A_??_x001B_?_x001B_+??_x001A_??_x001B_??_x001B_??→????(_x001A__x001A_????_x001B__x001B_??_x001B_+氧化硅掩模單晶硅(100)(100)晶面(111)晶面單晶硅各向異性刻蝕虛擬仿真實(shí)驗(yàn)雙擊選擇氫氧化鉀刻蝕液將刻蝕液倒入刻蝕槽中雙擊打開(kāi)刻蝕槽蓋子。將腐蝕槽放入刻蝕槽中蓋好刻蝕槽蓋子,調(diào)節(jié)刻蝕溫度并加熱加熱完成后,雙擊打開(kāi)刻蝕槽蓋子雙擊硅片花籃,將硅片花籃放入刻蝕槽中設(shè)置刻蝕時(shí)間并開(kāi)始計(jì)時(shí)刻蝕計(jì)時(shí)完成后,雙擊硅片花籃,將硅片花籃放入溢流沖水槽中進(jìn)行沖洗。

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶(hù)所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫(kù)網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶(hù)上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶(hù)上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶(hù)因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論