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文檔簡介
ICS33.180.10
CCSM33
YD
中華人民共和國通信行業(yè)標準
YD/T979—202X
代替YD/T979-2009
光纖帶技術要求和檢驗方法
Specificationsandtestmethodsforopticalfiberribbon
(報批稿)
202X-XX-XX發(fā)布202X-XX-XX實施
中華人民共和國工業(yè)和信息化部??發(fā)布
YD/T979—202X
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分:標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定
起草。
本文件代替YD/T979-2009《光纖帶技術要求和檢驗方法》。
本文件與YD/T979-2009相比,除結構調整和編輯性修改外,主要技術變化如下:
a)更改了范圍(見第1章,2009年版的第1章);
b)增加了光纖帶分類的規(guī)定,將光纖帶按結構、成帶方式、卷繞性進行了分類(見第4章);
c)增加了部分粘接型光纖帶的要求(見4.1、5.4.1、5.4.3、5.4.4、6.1.3);
d)增加了可卷繞型光纖帶的要求(見6.1.1);
e)更改了光纖帶中光纖類型的要求(見5.1.1,2009年版的4.5.1);
f)更改了由標稱涂覆層直徑250μm光纖組成的光纖帶的尺寸要求(見表1,2009年版的表2);
g)更改了組合型光纖帶中單元光纖帶的芯數(shù)要求(見表1,2009年版的表2);
h)增加了由標稱涂覆層直徑200μm光纖組成的光纖帶的尺寸要求(見表2);
i)更改了光纖帶交付長度的要求(見5.2.2,2009版的4.2.2.2)
j)增加了光纖帶撕裂(可分性)中的單元光纖帶分離要求(見5.4.1,2009年版的4.4.2.1);
k)更改了光纖帶可剝性的要求(見5.4.2,2009年版的4.4.2.2);
l)增加了部分粘結型光纖帶的扭轉性能要求(見5.4.3,2009年版的4.4.2.3);
m)更改了殘余扭轉的要求(見5.4.4,2009年版的4.4.2.4);
n)更改了光纖帶彎曲的要求(見5.4.5,2009年版的4.5.2.1);
o)增加了光纖帶衰減點不連續(xù)性的要求(見5.5.2);
p)增加了限用物質的含量的要求(見5.7);
q)刪除了采用千分表法測量光纖帶尺寸的規(guī)定(2009年版的5.2.3);
r)更改了撕裂(可分性)試驗中樣品數(shù)量的規(guī)定(見6.2.1,2009年版的5.3.1);
s)更改了可剝離性的試驗方法(見6.2.2,2009年版的5.3.2);
t)更改了溫度循環(huán)的試驗方法(見6.4.1,2009年版的5.5);
u)增加了熱老化的試驗方法(見6.4.2);
v)更改了檢驗項目、試驗方法及檢驗規(guī)則(見表8,2009年版的表5);
w)增加了光纖帶的接頭方式(見附錄A)。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。
本文件由中國通信標準化協(xié)會提出并歸口。
本文件起草單位:中國信息通信科技集團有限公司、南京華信藤倉光通信有限公司、江蘇永鼎股份
有限公司、中國信息通信研究院、成都泰瑞通信設備檢測有限公司、北京郵電大學、中捷通信有限公司、
武漢網(wǎng)銳檢測科技有限公司、長飛光纖光纜股份有限公司、江蘇亨通光電股份有限公司、杭州富通通信
技術股份有限公司、江蘇中天科技股份有限公司、中通維易科技服務有限公司。
本文件主要起草人:劉騁、王小泉、賀言、薛夢馳、祁慶慶、劉泰、王冬香、李婧、宮振麗、李春
生、張廣平、史惠萍、謝書鴻、夏坤盛、陳曉紅、李健、陳寧虎、盧衡、司帥、黃俊、呂永波、劉晶琛、
杜坤。
本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為:
——本文件于1998年首次發(fā)布;
——本文件于2009年第一次修訂;
——本次為第二次修訂。
II
YD/T979—202X
光纖帶技術要求和檢驗方法
1范圍
本文件規(guī)定了光纖帶的分類、技術要求、試驗方法和檢驗規(guī)則。
本文件適用于在光纜中作為元構件的光纖帶以及單獨作為產(chǎn)品的光纖帶的設計、開發(fā)、生產(chǎn)和檢驗。
本文件不適用于終端光組件用光纖帶。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T6995.2電線電纜識別標志方法第2部分:標準顏色
GB/T7424.22-2021光纜總規(guī)范第22部分:光纜基本試驗方法環(huán)境性能試驗方法(IEC60794-1-22:
2017,MOD)
GB/T7424.23-2021光纜總規(guī)范第23部分:光纜基本試驗方法光纜元構件試驗方法(IEC
60794-1-23:2019,MOD)
GB/T9771.1通信用單模光纖第1部分:非色散位移單模光纖特性
GB/T9771.3通信用單模光纖第3部分:波長段擴展的非色散位移單模光纖特性
GB/T9771.7通信用單模光纖第7部分:彎曲損耗不敏感單模光纖特性
GB/T15972.20光纖試驗方法規(guī)范第20部分:尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序光纖幾何參數(shù)
(GB/T15972.20-2021,IEC60793-1-20:2014,MOD)
GB/T15972.22光纖試驗方法規(guī)范第22部分:尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序長度(GB/T
15972.22-2008,IEC60793-1-22:2001,MOD)
GB/T15972.40光纖試驗方法規(guī)范第40部分:傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序衰減
(GB/T15972.40-2008,IEC60793-1-40:2002,MOD)
GB/T15972.42光纖試驗方法規(guī)范第42部分:傳輸特性的測量方法和試驗程序波長色散(GB/T
15972.42-2021,IEC60793-1-42:2013,MOD)
GB/T15972.44光纖試驗方法規(guī)范第44部分:傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序截止波
長(GB/T15972.44-2017,IEC60793-1-44:2011,MOD)
GB/T15972.45-2021光纖試驗方法規(guī)范第45部分:傳輸特性的測量方法和試驗程序模場直徑
(IEC60793-1-45:2017,MOD)
GB/T15972.47光纖試驗方法規(guī)范第47部分:傳輸特性的測量方法和試驗程序宏彎損耗(GB/T
15972.47-2021,IEC60793-1-47:2017,MOD)
GB/T26572電子電氣產(chǎn)品中限用物質的限量要求
GB/T39560(所有部分)電子電氣產(chǎn)品中某些物質的測定
YD/T4079光纖并帶用涂覆樹脂
3術語和定義
下列術語和定義適用于本文件。
3.1
光纖帶opticalfiberribbon
由粘結材料包覆或粘結形成的平行排列的一組光纖。
4分類
1
YD/T979—202X
4.1按結構分類
根據(jù)粘結材料包覆光纖的形態(tài),光纖帶可分為全粘結型和部分粘結型,全粘結型光纖帶又可分為邊
緣粘結型和整體包覆型。
邊緣粘結型光纖帶是指所有相鄰光纖之間均有連續(xù)涂覆的粘結材料,且粘結材料并未完全包覆全部
光纖的光纖帶。邊緣粘結型光纖帶橫截面示意圖見圖1。
圖1邊緣粘結型光纖帶橫截面示意圖
整體包覆型光纖帶是指所有相鄰光纖之間均有連續(xù)涂覆的粘結材料,且粘結材料完全包覆全部光纖
的光纖帶。整體包覆型光纖帶橫截面示意圖見圖2。
圖2整體包覆型光纖帶橫截面示意圖
部分粘結型光纖帶是指在相鄰光纖之間存在非連續(xù)涂覆粘結材料的光纖帶,其典型結構示意圖見圖
3。
注:部分粘結型光纖帶沿寬度方向向兩側拉開呈網(wǎng)狀。
圖3典型的部分粘結型光纖帶示意圖
4.2按成帶方式分類
根據(jù)光纖帶的成帶方式,光纖帶可分為一次成型光纖帶和組合型光纖帶。
一次成型光纖帶是指一組涂覆光纖一次性成帶的光纖帶。
組合型光纖帶是指將一次成型光纖帶作為單元光纖帶,將兩根或兩根以上的單元光纖帶平行、共面
的排列而成帶的光纖帶。
4.3按卷繞性分類
根據(jù)光纖帶是否可沿寬度方向卷繞成一束,光纖帶可分為可卷繞型光纖帶和不可卷繞型光纖帶。
注1:部分粘結型光纖帶屬于可卷繞型光纖帶,有的邊緣粘結型光纖帶也可制成可卷繞型光纖帶。
注2:光纖帶沿寬度方向的卷繞相關性能要求及試驗方法待研究。
5技術要求
5.1結構和材料
2
YD/T979—202X
5.1.1光纖帶由涂覆光纖和紫外光(UV)固化粘結材料組成,通過粘結材料把光纖集中在一個組合的
線性陣列中。光纖宜為B1.1類、B1.3類和B6類單模光纖,其性能要求應滿足GB/T9771.1、GB/T9771.3
和GB/T9771.7的規(guī)定。用戶與供應商協(xié)商后,也可使用其它類型的光纖。粘結材料應緊密地與各光纖
粘結成一體,其性能要求應滿足YD/T4079的規(guī)定。
5.1.2同一光纖帶中的光纖宜為相同類型。
5.1.3光纖帶中的光纖宜為4芯、6芯、8芯、12芯、24芯及36芯。根據(jù)用戶要求,也可選用其它芯
數(shù)。
5.1.4光纖帶中光纖應平行排列不得交叉,用于一整盤成帶的光纖不允許中間有接頭。
5.2尺寸參數(shù)
5.2.1光纖帶尺寸要求
由標稱涂覆層直徑250μm的光纖組成的光纖帶尺寸應符合表1的要求,由標稱涂覆層直徑200μm的
光纖組成的光纖帶尺寸應符合表2的要求。其它芯數(shù)或成帶方式的光纖帶尺寸可由用戶與供應商協(xié)商確
定。表中相關參數(shù)的含義見圖4。
表1由標稱涂覆層直徑250μm的光纖組成的光纖帶最大尺寸參數(shù)
單位為微米
帶中光纖數(shù)(n)寬度(w)厚度(t)相鄰光纖水平間距(d)兩側光纖水平間距(b)平整度(p)
4122036028078635
61648360280131035
82172360280183435
abbb
8(2×4芯單元)2300380每4芯單元值每4芯單元值每4芯單元值
123400360300288250
abbb
24(2×12芯單元)6500380每12芯單元值每12芯單元值每12芯單元值
abbb
36(3×12芯單元)9800380每12芯單元值每12芯單元值每12芯單元值
a針對組合型光纖帶,其寬度w和厚度t由組合型光纖帶測得,其它參數(shù)由組合型光纖帶分離成的若干單元光纖帶測
得。
b組合型光纖帶中單元光纖帶的尺寸規(guī)定值。
表2由標稱涂覆層直徑200μm的光纖組成的光纖帶最大尺寸參數(shù)
單位為微米
帶中光纖數(shù)(n)寬度(w)厚度(t)相鄰光纖水平間距(d)兩側光纖水平間距(b)平整度(p)
4113032524068535
61570325240114235
82010325240159835
122890325240251250
對于由標稱涂覆層直徑200μm的光纖組成的光纖帶,光纖帶的尺寸可使用更大的值,具體由用戶與供應商協(xié)商確定,
但寬度和兩側光纖水平間距的最大值應不超過標稱涂覆層直徑250μm的光纖組成的光纖帶。
圖中:
3
YD/T979—202X
w——寬度;
t——厚度;
d——相鄰光纖中心間距離;
b——兩側光纖水平間距;
p——平整度,指光纖帶中光纖中心到基線的垂直距離的最大正偏差與最大負偏差的絕對值之和。
圖4光纖帶幾何結構的橫截面示意圖
5.2.2光纖帶制造長度
標準制造長度宜為2040m整數(shù)倍,長度偏差應在0m~+20m之間。如有特殊要求,可由用戶與供應
商協(xié)商確定
同一盤光纖帶不允許有接頭。
不同盤的光纖帶之間可用機械接續(xù)或熔接的方式將兩根光纖帶連接起來,光纖帶接頭見附錄A。
5.3標識
5.3.1光纖帶中光纖的標識
光纖帶中每根光纖應能通過全色譜或領示色譜識別識別。
通過全色譜識別時,光纖帶中光纖的序號及對應的全色譜順序應按表3規(guī)定。不足12根光纖,應在
表3中按序號順序選用。超過12根光纖,應按表3中的色譜順序循環(huán)。
表3全色譜光纖標識規(guī)則
序號123456789101112
色譜藍橙綠棕灰白紅黑黃紫粉紅青綠
注:在保證光纖帶性能的前提下,允許以本色光纖代替白色光纖。
全色譜識別光纖著色層顏色應符合GB/T6995.2的規(guī)定。顏色應鮮明、不褪色、不遷移,與涂覆層
及填充復合物相容。光纖帶中光纖數(shù)超過12根后應采用全色譜循環(huán)。
通過領示色譜識別時,根據(jù)領示顏色命名1號光纖,其余光纖根據(jù)其在光纖帶中的位置及顏色確定。
表4為12根12芯光纖帶的疊帶領示色譜。
表4領示色譜光纖標識規(guī)則
光纖帶光纖序號
序號123456789101112
1藍白藍白藍白藍白藍白藍白
2橙白橙白橙白橙白橙白橙白
3綠白綠白綠白綠白綠白綠白
4棕白棕白棕白棕白棕白棕白
5灰白灰白灰白灰白灰白灰白
6白藍白紅白藍白紅白藍白紅
7紅白紅白紅白紅白紅白紅白
8黑白黑白黑白黑白黑白黑白
9黃白黃白黃白黃白黃白黃白
10紫白紫白紫白紫白紫白紫白
11粉紅白粉紅白粉紅白粉紅白粉紅白粉紅白
12青綠白青綠白青綠白青綠白青綠白青綠白
注:在保證光纖帶性能的前提下,允許以本色光纖代替白色光纖。
5.3.2疊帶中光纖帶的標識
疊帶中每一光纖帶可通過印字標識來識別,采用領示色譜識別的光纖帶也可通過帶中領示光纖的顏
色來識別。
采用印字標識識別時,每一光纖帶上印字識別標志的顏色應為白色或黑色,印字間隔宜不大于20cm,
通過數(shù)字或其他符號來識別疊帶中的光纖帶。印字標識可由用戶與供應商協(xié)商確定。
4
YD/T979—202X
5.4機械性能
5.4.1光纖帶撕裂(可分性)
光纖帶應具有可分性。光纖帶結構應能分離成若干根單元光纖帶或光纖,并且滿足如下要求:
a)不使用特殊工具或器械就能夠撕開而不損壞光纖(含涂覆層損壞或光纖斷裂);
b)光纖分開后,著色層上應能有效去除光纖帶粘結材料殘留物(對于邊緣粘結型和部分粘結型
光纖帶不作要求);
c)一次成型光纖帶撕裂時所需的力宜不超過4.4N;組合型光纖帶應可分離成獨立、完整的單元
光纖帶;
d)對光纖帶中的所有著色光纖,在任何25mm段內(nèi)所留的著色層應足以識別各光纖。
5.4.2光纖帶可剝性
光纖帶中的單根光纖涂覆層及光纖帶粘結材料在一定條件下應能容易地被去除,并滿足下面要求:
a)涂覆層剝離時無斷纖;
b)剝離后,經(jīng)酒精擦拭,單根光纖涂覆層及其光纖帶粘結材料都應能容易地被去除。
5.4.3光纖帶扭轉
光纖帶試樣經(jīng)扭轉試驗后,用5倍放大鏡觀察,任一光纖均不應從光纖帶結構中分離出來。
部分粘結型光纖帶的試樣經(jīng)扭轉試驗后,用5倍放大鏡觀察,試驗長度內(nèi)粘結點應不散開。
5.4.4光纖帶殘余扭轉
光纖帶試樣經(jīng)殘余扭轉試驗后,計算出的光纖帶殘余扭轉度應不超過7.2°/cm。
光纖帶殘余扭轉要求不適用于部分粘結型光纖帶。
5.4.5光纖帶彎曲
光纖帶彎曲性能應符合表5的規(guī)定。
表5光纖帶彎曲性能
試驗條件B1.1和B1.3B6
光纖帶松繞成100圈直徑為60mm±2mm
的圓圈,在1550nm波長處,每根光纖的≤0.5dB≤0.25dB
衰減變化。
5.5傳輸性能
5.5.1衰減系數(shù)
光纖帶中光纖的衰減系數(shù)應符合表6的規(guī)定。
表6光纖帶中光纖的衰減系數(shù)要求
光纖帶中光纖的類型波長單位衰減系數(shù)
1310nmdB/km≤0.38
B1.1、B1.3、B61550nmdB/km≤0.24
1625nmdB/km≤0.28
5.5.2衰減點不連續(xù)性
對于B1.1、B1.3和B6類光纖,在1310nm和1550nm波長上,完整的光纖帶中每根光纖連續(xù)長度不應
有超過0.1dB的不連續(xù)點。
5.6環(huán)境性能
5.6.1衰減溫度特性
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在1550nm波長處,光纖帶試樣中每根光纖在(-40℃~+70℃)±3℃溫度時相對于23℃±5℃
的附加衰減應不大于0.05dB/km。
5.6.2熱老化性能
光纖帶試樣在85℃±3℃溫度下,放置30天后,光纖帶試樣中每根光纖在1550nm波長處允許的附
加衰減應不大于0.05dB/km。
5.7限用物質的含量
當客戶要求時,光纜組成材料應根據(jù)GB/T26572的規(guī)定進行分類。檢測單元按照盡可能拆分成均質
的原則,均質材料中限用物質的限量要求應符合表7的規(guī)定。
表7限用物質的含量限值
種類物質名稱含量限值
鉛≤0.1%
鎘≤0.01%
重金屬
汞≤0.1%
六價鉻≤0.1%
多溴聯(lián)苯(PBB)≤0.1%
有機溴代物
多溴聯(lián)苯醚(PBDE)≤0.1%
鄰苯二甲酸二丁酯(DBP)≤0.1%
鄰苯二甲酸丁芐酯(BBP)≤0.1%
鄰苯二甲酸酯
鄰苯二甲酸二(2-乙基己基)酯(DEHP)≤0.1%
鄰苯二甲酸二異丁酯(DIBP)≤0.1%
注:限量要求值是質量分數(shù),即材料中所允許含物質的最大質量占材料總質量的百分比。
6試驗方法
6.1光纖帶幾何尺寸參數(shù)測量
6.1.1概述
光纖帶幾何尺寸參數(shù)的測量分為觀測法和孔規(guī)法。光纖帶的寬度(w)、厚度(t)、相鄰光纖水平
間距(d)、兩側光纖水平間距(b)和平整度(p)應采用觀測法進行測量,孔規(guī)法只用來評估光纖帶
整體尺寸。
注:可卷繞型光纖帶在測量幾何尺寸參數(shù)時先將光纖帶展平,使其中所有光纖沿光纖帶的寬度方向整齊、水平的平
行排列,再測量光纖帶的尺寸。
6.1.2觀測法
試驗按GB/T7424.23-2021中方法G2進行,其中詳細規(guī)定如下:
應從受試光纖帶中取5個代表性試樣,選定的試樣應具備統(tǒng)計獨立性。
6.1.3孔規(guī)法
試驗按GB/T7424.23-2021中方法G3進行,其中詳細規(guī)定如下:
應從受試光纖帶中取5個代表性試樣,每個試樣的最小長度為50mm。
注:孔規(guī)法不適用于部分粘結型光纖帶。
6.2光纖帶機械性能試驗
6.2.1光纖帶撕裂(可分性)試驗
本試驗的目的是驗證光纖帶的光纖有足夠可分性。本試驗的意圖是能夠用手撕開光纖帶且光纖無損
傷。
試驗按GB/T7424.23-2021中方法G5進行,其中詳細規(guī)定如下:
a)試樣:應從受試光纖帶取5個代表性試樣,每個試樣的最小長度應為100mm;
6
YD/T979—202X
b)合格判據(jù):5個光纖帶試樣的測試結果均應符合5.4.1的要求。
6.2.2光纖帶可剝性試驗
試驗按GB/T7424.23-2021中方法G10B進行,其中詳細規(guī)定如下:
a)剝離工具:一臺光纖帶剝離設備和處理設備(當需要時)。剝離工具的加熱時間和保溫時間
應遵從工具制造商的建議;工具加熱溫度的設定應遵從光纖帶制造商的建議;
b)試樣:應從受試光纖帶取5個代表性試樣,每個試樣的最小長度應為100mm;
c)剝離長度:大于30mm;
d)合格判據(jù):5個光纖帶試樣的測試結果均應符合5.4.2的要求。
6.2.3光纖帶扭轉試驗
試驗按GB/T7424.23-2021中方法G6進行,其中詳細規(guī)定如下:
a)試樣:從受試光纖帶取5個代表性試樣,每個試樣長度約340mm;
b)夾具間距:將制備好的試樣牢固地夾持在兩個夾具之間,兩夾具之間距離約為300mm;
c)循環(huán)次數(shù):不少于20個;
d)扭轉張力:不小于1N;
e)合格判據(jù):5個光纖帶試樣經(jīng)扭轉試驗后,均應符合5.4.3的要求。
6.2.4光纖帶殘余扭轉試驗
本試驗的目的是保證光纖帶不會產(chǎn)生影響接續(xù)或影響接續(xù)保護套管使用的一種扭轉。試驗方法詳細
規(guī)定如下:
a)試樣制備:從被試光纖帶中選取5個有代表性的試樣,每個試樣長度不應小于50cm。將試樣
置于85℃的溫度下老化30天;
b)試驗裝置:典型的試驗裝置如圖5所示。
c)試驗程序:用夾具固定標距長度為50cm的光纖帶頂部,并在底端加1N的負荷,使帶無扭,
記錄此時光纖帶的位置;然后,卸除負荷,光纖帶發(fā)生扭轉,測量扭轉角度θ;用扭轉角度
θ除以光纖帶試樣的標距長度計算出殘余扭轉度。
d)合格判據(jù):5個試樣的測試結果均應符合5.4.4的要求。
圖5殘余扭轉試驗裝置
6.2.5光纖帶彎曲試驗
在23℃±5℃的環(huán)境溫度下,光纖帶試樣松繞成100圈直徑為60mm±2mm的圓圈,按照GB/T
7424.23-2021中G1的規(guī)定方法進行,監(jiān)控每根光纖1550nm波長處的附加衰減。
7
YD/T979—202X
6.3光纖帶傳輸特性測試
6.3.1衰減系數(shù)測量
將光纖從光纖帶中分離出來,按GB/T15972.40規(guī)定方法進行。
6.3.2衰減點不連續(xù)性測量
將光纖從光纖帶中分離出來,按GB/T15972.40規(guī)定方法進行。
6.4光纖帶環(huán)境性能試驗
6.4.1溫度循環(huán)
光纖帶衰減溫度特性的測試按GB/T7424.22-2021中F1的規(guī)定方法進行,其中詳細規(guī)定如下:
a)試樣:光纖帶試樣長度應不少于1km,以不影響測量的方式放入溫箱中。其方法可以是繞成
直徑不小于60mm的松弛的圈,并將其穿過掛架懸掛在溫箱中,掛架與試樣接觸的部分應為
一直徑不小于30mm的圓柱體,并保證光纖帶較寬的面與該圓柱體接觸。懸掛狀態(tài)的試樣應
保持松散狀態(tài),相互接觸的光纖帶之間應無明顯的粘連。
b)溫度范圍:(-40℃~+70℃)±3℃。
c)溫度保持時間:不少于2h。
d)循環(huán)次數(shù):2次。
e)合格判據(jù):測試結果應符合5.6.1的要求。
6.4.2熱老化
按GB/T7424.22-2021中F9的規(guī)定方法進行。
6.5限用物質含量
按照GB/T39560(所有部分)的規(guī)定方法進行試驗。
7檢驗規(guī)則
7.1總則
制造廠應建立質量保證體系,使光纖帶質量符合本文件要求。光纖成帶后,應經(jīng)質量檢驗部門進行
檢驗,檢驗合格者方可進入成纜工序或出廠。每盤出廠的光纖帶應附有制造廠的產(chǎn)品質量合格證。
光纖帶的檢驗分出廠檢驗和型式檢驗。檢驗項目、試驗方法和檢驗規(guī)則應符合表8規(guī)定。
除非訂貨合同中另有規(guī)定,檢驗規(guī)則應按照本章規(guī)定,同時應按照GB/T8170-2008采取先修約后比
較的方法進行測量值對標準值的比較。
注:纖帶中的光纖尺寸參數(shù)、模場直徑、截止波長、色散、波長附加衰減和宏彎損耗允許用光纖成帶前可追溯的實
測值作為檢驗值。
表8檢驗項目、試驗方法及檢驗規(guī)則
檢驗類別
序號檢驗項目條文號試驗方法
出廠型式
1光纖帶中光纖的特性
1.1尺寸參數(shù)5.1.1GB/T15972.20—
1.2模場直徑5.1.1GB/T15972.45—
1.3宏彎損耗5.1.1GB/T15972.47—
1.4截止波長5.1.1GB/T15972.44—
1.5波長附加衰減5.1.1GB/T15972.40—7.4
1.6色散5.1.1GB/T15972.42—
2光纖帶尺寸要求5.2.16.13%
3光纖帶制造長度5.2.2GB/T15972.22100%
4光纖帶中光纖的標識5.3.1目力檢查100%
5疊帶中光纖帶的標識5.3.2目力檢查100%
8
YD/T979—202X
表8(續(xù))
檢驗類別
序號檢驗項目條文號試驗方法
出廠型式
6光纖帶機械性能
6.1光纖帶撕裂(可分性)5.4.16.2.1—
6.2光纖帶可剝性5.4.26.2.2—
6.3光纖帶扭轉5.4.36.2.3—
6.4光纖帶殘余扭轉5.4.46.2.4—
6.5光纖帶彎曲5.4.56.2.5—
7光纖帶傳輸性能7.4
7.1衰減系數(shù)5.5.16.3.1100%
7.2衰減點不連續(xù)性5.5.26.3.2100%
8光纖帶環(huán)境性能
8.1衰減溫度特性5.6.16.4.1—
8.2熱老化性能5.6.26.4.2—
9限用物質含量5.76.5—
7.2術語限定
7.2.1單位產(chǎn)品
一個單位產(chǎn)品應是一盤允許交貨長度的光纖帶。
7.2.2檢驗批
出廠檢驗批應由同時提交檢驗的若干相同型號的單位產(chǎn)品組成,這些單位產(chǎn)品應是在同一連續(xù)生產(chǎn)
期內(nèi)采用相同的材料和工藝制造出來的產(chǎn)品。
7.2.3樣本單位
一個樣本單位是從檢驗批中隨機抽取的一個單位產(chǎn)品。
7.2.4試樣
一個試樣可以是樣本單位的全段光纖帶,也可以是從其上取的一小段光纖帶。對于小段光纖帶,該
小段可在試驗前截取成獨立段,也可試驗后再從全段上截除。每個試樣的長度應符合6.1~6.5的規(guī)定。
7.3出廠檢驗
7.3.1檢驗項目
出廠檢驗項目應符合表8規(guī)定,它們是光纖帶交貨時應進行的試驗。
7.3.2抽樣方案
根據(jù)檢驗批的大小,按照表8規(guī)定的比例,進行隨機抽樣檢驗,每批至少抽一個樣本單位。
7.3.3判定規(guī)則
被試樣本如有不合格項目時,應重新抽取雙倍數(shù)量的樣本就不合格項目進行檢驗。如果是光纖特性
不合格,應重測雙倍數(shù)量樣本中的全部光纖。如仍有不合格時,則應對該批全部產(chǎn)品的這一項目進行檢
驗。
任何樣本在檢驗中有任一個項目不合格,則該樣本單位應判為不合格產(chǎn)品。在剔除不合格產(chǎn)品后判
該檢驗批為合格。
7.3.4不合格樣本單位處理
不合格品如有可能修復或去除缺陷部分后,仍然符合制造長度要求時,可重新單獨提交檢驗。重新
檢驗時應和新的檢驗批分開,并作上標記。重新檢驗項目應包括不合格項目和其它有關項目。
7.4型式檢驗
9
YD/T979—202X
7.4.1檢驗項目
型式檢驗是對產(chǎn)品質量進行全面考核,其檢驗項目應包括表8中所有項目,并且應在抽取的樣本單
位的出廠檢驗項目合格后,再進行其它項目的檢驗。
7.4.2檢驗周期
光纖帶產(chǎn)品在下列情況之一時,應進行型式檢驗:
a)光纖帶產(chǎn)品試制定型鑒定時;
b)正式生產(chǎn)后,如結構、材料、工藝有較大改變,可能影響產(chǎn)品性能時;
c)正常生產(chǎn)時,每年應進行一次;
d)停產(chǎn)半年以上,恢復生產(chǎn)時;
e)出廠檢驗結果與上次型式檢驗有較大差異時。
7.4.3抽樣方案
一般情況下,每次檢驗應從檢驗批中隨機抽取每種型式1個樣本單位進行檢驗,其規(guī)格應有代表性。
但是,在定型鑒定和主管質量監(jiān)督機構要求進行型式檢驗時,抽樣方案可由主管部門決定。
7.4.4判定規(guī)則
如果被抽取檢驗的樣本單位有出廠檢驗項目不合格時,允許重新抽取新的樣本單位重新檢驗。如果
一個樣本單位未能通過其它檢驗項的任一項試驗,則應判定為不合格。但是,允許重新抽取兩倍樣本單
位就不合格項目進行試驗,如果都通過試驗,則可判定為合格;如果仍有任一個不能通過試驗,則應判
定不合格。
7.4.5重新試驗
如果型式檢驗不合格,制造廠應根據(jù)不合格原因,對全部產(chǎn)品進行改正處理。在采取可接受的改進
措施以前,應停止產(chǎn)品鑒定或驗收。在采取改進措施之后,應重新抽樣進行型式檢驗,對新的樣本單位
重新全部試驗;但是,經(jīng)主管部門決定或經(jīng)交收雙方商定,可酌情減少部分已合格的試驗項目。
7.4.6樣本單位處理
已通過型式檢驗的樣本單位,只要符合5.2.2規(guī)定交貨長度,可作為成品交貨。
10
YD/T979—202X
附錄A
(資料性)
光纖帶接頭
A.1光纖帶的接頭方式
光纖帶的接頭有熔接和機械接頭兩種方式。
采用熔接方式時,一般有以下要求:
——光纖帶可以使用專用的熔接機進行一次性熔接(也可以將光纖帶中的光纖分離出來,使用光纖
熔接機逐一單根熔接)。
——光纖帶進行一次性熔接時,需要從光纖帶上去除所有的保護涂層,然后將兩根光纖帶中的裸光
纖在熔接機中對齊。熔接機的電弧將裸光纖加熱到熔點或軟化點,并將兩根光纖帶中的裸光纖縱向
一一對接,從而獲得幾何上的連續(xù)性。最后在熔接區(qū)域做適當保護,使得在儲存和使用過程中接頭
的物理完整性不被破壞。
——熔接機切割裸光纖的質量、電弧強度和持續(xù)時間,以及待熔接光纖之間的差異(折射率分布、
模場直徑(MFD)、纖包層同心度、包層直徑)決定了熔接損耗。
機械接頭可以有不同的結構和物理設計,通常包括以下基本組件:
a)用于匹配光纖端面的表面;
b)保持光纖對齊的固定器;
c)涂覆在光纖端面的折射率匹配材料(凝膠、油脂、粘合劑等)。
機械接頭可用于單根光纖或光纖帶。
光纖端面之間的光學匹配材料可用于減少菲涅爾反射,選擇與光纖光學特性相匹配的材料。常見
的折射率匹配材料包括硅膠、紫外光固化粘合劑、環(huán)氧樹脂和光學油脂等。
A.2工程中常用光纖的接頭損耗推薦值
接頭損耗推薦值見YD/T1588.2-2020附錄A。
11
YD/T979—202X
參考文獻
[1]YD/T1588.2-2020光纜線路測量方法第2部分:光纖接頭損耗
[2]ITU-TL.400(02/2022)Opticalfibresplices
12
YD/T979—202X
目次
前言............................................................................II
1范圍.................................................................................1
2規(guī)范性引用文件.......................................................................1
3術語和定義...........................................................................1
4分類.................................................................................1
5技術要求.............................................................................2
5.1結構和材料.......................................................................2
5.2尺寸參數(shù).........................................................................3
5.3標識.............................................................................4
5.4機械性能.........................................................................5
5.5傳輸性能.........................................................................5
5.6環(huán)境性能.........................................................................5
5.7限用物質的含量...................................................................6
6試驗方法.............................................................................6
6.1光纖帶幾何尺寸參數(shù)測量...........................................................6
6.2光纖帶機械性能試驗...............................................................6
6.3光纖帶傳輸特性測試...............................................................8
6.4光纖帶環(huán)境性能試驗...............................................................8
6.5限用物質含量.....................................................................8
7檢驗規(guī)則.............................................................................8
7.1總則.............................................................................8
7.2術語限定.........................................................................9
7.3出廠檢驗.........................................................................9
7.4型式檢驗.........................................................................9
附錄A(資料性)光纖帶接頭..................................................11
I
YD/T979—202X
光纖帶技術要求和檢驗方法
1范圍
本文件規(guī)定了光纖帶的分類、技術要求、試驗方法和檢驗規(guī)則。
本文件適用于在光纜中作為元構件的光纖帶以及單獨作為產(chǎn)品的光纖帶的設計、開發(fā)、生產(chǎn)和檢驗。
本文件不適用于終端光組件用光纖帶。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T6995.2電線電纜識別標志方法第2部分:標準顏色
GB/T7424.22-2021光纜總規(guī)范第22部分:光纜基本試驗方法環(huán)境性能試驗方法(IEC60794-1-22:
2017,MOD)
GB/T7424.23-2021光纜總規(guī)范第23部分:光纜基本試驗方法光纜元構件試驗方法(IEC
60794-1-23:2019,MOD)
GB/T9771.1通信用單模光纖第1部分:非色散位移單模光纖特性
GB/T9771.3通信用單模光纖第3部分:波長段擴展的非色散位移單模光纖特性
GB/T9771.7通信用單模光纖第7部分:彎曲損耗不敏感單模光纖特性
GB/T15972.20光纖試驗方法規(guī)范第20部分:尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序光纖幾何參數(shù)
(GB/T15972.20-2021,IEC60793-1-20:2014,MOD)
GB/T15972.22光纖試驗方法規(guī)范第22部分:尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序長度(GB/T
15972.22-2008,IEC60793-1-22:2001,MOD)
GB/T15972.40光纖試驗方法規(guī)范第40部分:傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序衰減
(GB/T15972.40-2008,IEC60793-1-40:2002,MOD)
GB/T15972.42光纖試驗方法規(guī)范第42部分:傳輸特性的測量方法和試驗程序波長色散(GB/T
15972.42-2021,IEC60793-1-42:2013,MOD)
GB/T15972.44光纖試驗方法規(guī)范第44部分:傳輸特性和光學特性的測量方法和試驗程序截止波
長(GB/T15972.44-2017,IEC60793-1-44:2011,MOD)
GB/T15972.45-2021光纖試驗方法規(guī)范第45部分:傳輸特性的測量方法和試驗程序模場直徑
(IEC60793-1-45:2017,MOD)
GB/T15972.47光纖試驗方法規(guī)范第47部分:傳輸特性的測量方法和試驗程序宏彎損耗(GB/T
15972.47-2021,IEC60793-1-47:2017,MOD)
GB/T26572電子電氣產(chǎn)品中限用物質的限量要求
GB/T39560(所有部分)電子電氣產(chǎn)品中某些物質的測定
YD/T4079光纖并帶用涂覆樹脂
3術語和定義
下列術語和定義適用于本文件。
3.1
光纖帶opticalfiberribbon
由粘結材料包覆或粘結形成的平行排列的一組光纖。
4分類
1
YD/T979—202X
4.1按結構分類
根據(jù)粘結材料包覆光纖的形
溫馨提示
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