光電耦合器進(jìn)貨檢驗標(biāo)準(zhǔn)

常州XX電子有限公司產(chǎn)品檢驗規(guī)范器件名稱光電耦合器工序名稱進(jìn)貨檢驗編號QC/XX-E0-8.2.4-01進(jìn)貨-39序號檢測內(nèi)容、檢驗方法及技術(shù)要求檢測工具儀器及設(shè)備檢查水平AQL備注1外觀檢驗：目測Ⅰ1.5①外包裝應(yīng)牢固.無破損.變形.要具有良好的防潮.防壓及防腐蝕等措施。②包裝標(biāo)示明確（包括供應(yīng)商名稱.產(chǎn)品名稱.規(guī)格型號.數(shù)量.生產(chǎn)日期）。③光耦本體無明顯可見損傷，引腳無銹跡，無氧化，無折斷。④器件表面有明顯的極性標(biāo)志及規(guī)格標(biāo)識清晰可辨，用沾水濕布擦拭15s后仍清晰完整。⑤封裝類型正確，封體光潔，無毛刺及缺損；元器件上絲印應(yīng)與樣品一致。⑥附有供應(yīng)商的出廠檢驗報告，報告內(nèi)容必須與實物一致。⑦要求用防靜電包裝，|靜電電壓|≤0.2KV。外包裝及最小包裝要求貼有RoHS標(biāo)記。2外形尺寸：①測量長、寬、厚度，引腳長度、間距，等各部分尺寸符合技術(shù)承認(rèn)資料規(guī)定。游標(biāo)卡尺Ⅰ1.0②試裝：用相應(yīng)的PCB試裝，實際裝配良好。PCBⅠ1.03電氣性能：※測試原理圖：電流傳輸比（CTR）時間測試※測試原理圖：電流傳輸比（CTR）時間測試設(shè)計審核更改標(biāo)記數(shù)量更改單號簽名日期更改標(biāo)記數(shù)量更改單號簽名日期批準(zhǔn)常州XX電子有限公司產(chǎn)品檢驗規(guī)范器件名稱光電耦合器工序名稱進(jìn)貨檢驗編號QC/XX-E0-8.2.4-01進(jìn)貨-39序號檢測內(nèi)容、檢驗方法及技術(shù)要求檢測工具儀器及設(shè)備檢查水平AQL備注①電流傳輸比（CTR）:輸入端發(fā)光二極管通過規(guī)定的正向輸入直流電流，（有基極引線光耦：輸出E1、E2：直流電源Ⅰ0.65端光敏晶體管基極開路），且光敏晶體管集電極－發(fā)射極施加規(guī)定的正向直流電壓，串聯(lián)萬用表測量A：電流表光敏晶體管集電極電流，計算CTR等于光敏晶體管集電極電流與發(fā)光二極管正向輸入直流電流之比。V：電壓表②時間測試：將光耦接入規(guī)定的試驗電路，規(guī)定電路電源電壓或光敏晶體管集電極－發(fā)射極電壓、任意波形發(fā)生器Ⅰ0.65★集電極電流、負(fù)載電阻，測量光耦上升時間（tr），開通時間（ton）。直流電源、示波器③性能檢測：將待測光電耦合器安裝在配套的測試板上,測試板上電能正常工作,且無通訊故障出現(xiàn)。測試板Ⅰ0.65如：T817C光耦，裝配到新科電控板上，按應(yīng)急開關(guān)開機后內(nèi)風(fēng)機應(yīng)運轉(zhuǎn)，且用風(fēng)速測試儀測試裝配整機風(fēng)速符合選擇板要求。4機械強度：①引腳強度—拉力：任取一根引腳，使樣品處于正常安裝位置，沿引腳軸線方向施加10N的拉力拉力計Ⅰ0.65時間為10±1S，引腳應(yīng)無斷裂（除彎月形斷裂）、松動，引腳和本體應(yīng)無移位。②引腳強度—彎曲：將元器件引腳按相反方向連續(xù)彎曲兩次（共四次）后。引腳無斷裂、引腳和尖嘴鉗Ⅰ0.65本體無松動或脫落。5可焊性：將光耦引腳浸入250℃±5℃的無鉛錫爐中2~3秒,沾錫面積應(yīng)大于總沾錫面積的90%。小錫爐/放大鏡Ⅰ0.65設(shè)計審核更改標(biāo)記數(shù)量更改單號簽名日期更改標(biāo)記數(shù)量更改單號簽名日期批準(zhǔn)常州XX電子有限公司產(chǎn)品檢驗規(guī)范器件名稱光電耦合器工序名稱進(jìn)貨檢驗編號QC/XX-E0-8.2.4-01進(jìn)貨-39序號檢測內(nèi)容、檢驗方法及技術(shù)要求檢測工具儀器及設(shè)備檢查水平AQL備注取出后其電性能不變。注：物料在入庫時此項目必檢。6耐焊性：將光耦引腳浸入260℃±5℃的無鉛錫爐中(錫面距基體1~2mm),10±1s,光耦基體應(yīng)無變化,小錫爐Ⅰ0.65★引腳與本體處無滓錫現(xiàn)象，且取出后其電性能不變。7環(huán)境試驗:①穩(wěn)態(tài)濕熱：將元器件放在溫度40±2℃，相對濕度90%～95%的環(huán)境中放置8h，取出充分除去高低溫濕熱試驗箱Ⅰ1.0★表面水滴并在常態(tài)（溫度25±3℃濕度40－80%）下恢復(fù)2h后。外觀無可見損傷，電性能測試符合技術(shù)要求。②高溫貯存：將元器件規(guī)定的高溫環(huán)境下，放置8h后，取出在常態(tài)（溫度25±3℃濕高低溫濕熱試驗箱Ⅰ1.0★度40－80%）下恢復(fù)2h后。外觀無可見損傷，電性能測試符合要求。③低溫貯存：將元器件規(guī)定的低溫環(huán)境下，放置8h后，取出在常態(tài)（溫度25±3℃濕高低溫濕熱試驗箱Ⅰ1.0★度40－80%）下恢復(fù)2h后。外觀無可見損傷，電性能測試符合要求。8有害物質(zhì):①符合《有害物質(zhì)管理標(biāo)準(zhǔn)》；RoHS測試儀每批每種型號一次并且提交有效產(chǎn)品SGS或RoHS報告存檔備案（在有效期范圍內(nèi)）。9檢驗要求及注