x-系列icp-ms初級操作

1/1x-系列icp-ms初級操作X-系列ICP-MS初級操作在初級操作中,我們首先要了解如何開機(jī)預(yù)熱,啟動真空系統(tǒng),點(diǎn)燃等離子體以及進(jìn)入操作模式等,然后要了解如何編輯基本分析方法,如何準(zhǔn)備樣品和做各種校正,再進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)從開機(jī)到得到分析結(jié)果的整個過程,初步的能夠完成一些日常分析任務(wù)。

一．日常操作1.開機(jī)預(yù)熱2.制定分析方案3.編輯分析方法4.點(diǎn)火進(jìn)入Operate狀態(tài)5.調(diào)節(jié)儀器最佳化6.儀器的Calibration7.樣品分析8.熄火并返回Vacuum狀態(tài)9.完全關(guān)機(jī)二.其他操作CCT模式三.常見故障與排除四.日常維護(hù)一.日常操作1、開機(jī)預(yù)熱1)檢查Ar氣是否足夠（2瓶）2)打開排風(fēng)，檢查風(fēng)量3)打開穩(wěn)壓電源開關(guān)，檢查電源是否穩(wěn)定，觀察約1分鐘4)打開Ar氣鋼瓶的總開關(guān)（開到最大），調(diào)分壓至0.6MPa(不能大于0.7MPa）5)取下儀器左邊的蓋子，從左向右打開左下方的三個電源開關(guān)6)蓋上儀器左邊的蓋子,打開電腦，待自檢完成后，等候約1分鐘,雙擊PlasmaLab圖標(biāo)，進(jìn)入操作軟件主窗口，單擊InstrumentTune,檢查炬箱的三個參數(shù)：

MajorSamplingDepth采樣深度MinorHorizontal水平Vertical垂直不在兩頭，▲不為0或最大如果為0,則在Configuration中選擇標(biāo)準(zhǔn)條件下的一個已經(jīng)存儲的條件,將其調(diào)出,此時以上位置應(yīng)不為0。

7）檢查軟件上方的炬箱調(diào)諧位置,LOAD和TUNE應(yīng)不為0或255,如為0,則進(jìn)入Advanced將其改為100(密碼為iknowwhatiamdoing或vgengineer),如為255則與工程師聯(lián)系。

8）單擊左上角的ON鍵YES，啟動真空系統(tǒng)，等待約0.5―4h不等，待Analysis的真空顯示小于610-7mba時，可進(jìn)行下一步操作。

2、制定分析方案1)確定樣品是否適合用ICP-MS分析(ICP-MS并非萬能,主要以微痕量分析為主)固體樣品0.01%液體樣品1ppm（最好100ppb）2)確定樣品分解方法（溶樣方法）盡量不用H2SO4和H3PO4如果用HF酸的話，一定要趕盡盡可能用HNO3或H2O2分解樣品3)配制工作曲線（混標(biāo)）濃度之間相差510倍一般用23點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)中包含內(nèi)標(biāo).兩個常見錯誤:a).所有分析元素的濃度都一致,這樣省事,但不科學(xué),應(yīng)該根據(jù)不同元素的濃度范圍,制定其相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度。

b).標(biāo)準(zhǔn)曲線點(diǎn)與點(diǎn)之間相隔太近,如2,4,6,8,完全沒有必要。

4)樣品準(zhǔn)備：

稀釋到合適的倍數(shù)(計數(shù)一般小于5,000,000Cps).樣品必須消解徹底，不能有混濁,否則必須先用濾紙過濾,但不要抽濾樣品的固體物含量0.1%樣品當(dāng)中包含內(nèi)標(biāo)3、編輯分析方法1)分析軟件（PlasmaLab）主窗口內(nèi)容簡介：

1儀器的三種狀態(tài)：

Shutdown完全關(guān)機(jī)狀態(tài)（機(jī)械泵、分子泵全關(guān)）OnOffVacuumnReady真空系統(tǒng)啟動OnOffOperate完全操作狀態(tài)（分析狀態(tài)）2儀器軟件上方顯示的重要參數(shù)Neb：

霧化氣壓力（工作狀態(tài)時1.52.5bar）Fwd:ICP正向功率（工作時一般為1200-1300W）Ref:反射功率（工作時一般10W）炬箱的調(diào)諧參數(shù)：

Load和Tune:不能是0或255，否則有問題真空：

EXP：

兩個錐之間的真空。

工作狀態(tài)時約為2.00.2mbaAna：

分析完真空，預(yù)熱時610-7mba工作時一般110-6mba分子泵狀態(tài)：

SPEED分子泵轉(zhuǎn)速（一般預(yù)熱后為1000HZ）LOAD分子泵電機(jī)的電流（預(yù)熱時為1A，工作時為2A）3PlasmaLab軟件的三個模塊Instrument儀器控制參數(shù)設(shè)置最佳化調(diào)節(jié)Technician:儀器的后臺監(jiān)視與錯誤報警Experiment:編制分析方法2）編輯分析方法:1單擊ExperimentCreateaNewBlankExperimentContinuousOKDefaultOpen2SetUpConfigurationEditor忽略,在一般操作中,我們不需要選擇。

3SetUpTimings設(shè)置最大樣品提升時間,uptake:MaximumDelay(s)(3050s)4SetUpAnalyte選擇分析元素（包括內(nèi)標(biāo)元素）5SetUpAcquisitionParameters(數(shù)據(jù)采集條件)一般選擇MainPeakJumpChannels=3改變Sweeps使采集時間在合適的范圍內(nèi),一般AcquisitionTime=1060秒6SetUpInternalStandards先定內(nèi)標(biāo)Technique選定內(nèi)標(biāo)元素7SetUpIsitopeRatio忽略8InstrumentCalibrations忽略9CalibrationsMethodMethodFullyQuant10QCSetup忽略,在基本操作中不介紹。

11SamplelistSamplelist增加一個樣品12SamplelistFullyQuantitareConcentrations設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)的濃度13單擊左上角的FilesSaveAs選定文件名和子目錄Save方法編制完畢。

4、點(diǎn)火進(jìn)入Operate狀態(tài)1檢查Ar氣是否足夠，標(biāo)準(zhǔn)和樣品是否備好2打開水循環(huán)開關(guān)，觀察壓力和溫度是否正常3裝好蠕動泵管，壓下泵管夾4確認(rèn)排風(fēng)工作正常5把進(jìn)樣毛細(xì)管插入純水中6單擊ONYES，此時儀器將自動進(jìn)入Operate狀態(tài)5、調(diào)節(jié)儀器最佳化1將進(jìn)樣毛細(xì)管放入1ppbTuneSolution2單擊InstrumentTune檢查炬箱的三個參數(shù)：

MajorSamplingDepth采樣深度MinorHorizontal水平Vertical垂直不在兩頭，▲不為0或最大3檢查Global下面的檢測器電壓AnalogueDetector:1800V-2500VPCDetector:30004500V4調(diào)節(jié)TuneMinor下的炬箱位置，使顯示的信號最大，一般用（Co59、In115和U238來看）5調(diào)節(jié)TuneMinor下的Nebulizer使信號最強(qiáng)，RSD最小6可以檢查其它離子鏡是否在最佳位置，然后Save條件。

6、儀器的Calibration:MassCalibrationDetectorCrossCalibrationDetectorPlea???allCalibration1做MassCalibrationa.將進(jìn)樣毛細(xì)管放入1ppbTuneSolution中，調(diào)節(jié)最佳化。

b.單擊ExperimentOpenAnExitingExperimentOK選擇InstrumentCalibration子目錄選擇MassCalibrationOpenc.單擊SampleListSampleListd.增加一個樣品（注意樣品類型為InstrumentSetup）e.單擊樣品最左邊方框使其變黑單擊樣品表上方的ShowAdvanced單擊樣品表下方的InstrumentCalibration在MassCalibration前的方框內(nèi)打一般選擇UpdateMassCalibrationf.單擊Queue鍵AppendOK開始進(jìn)行質(zhì)量校準(zhǔn)g.待其完成后，單擊OK，如果樣品變?yōu)辄S色，則成功.2做DetectorCrossCalibrationa.確認(rèn)儀器已處于最佳化b.將進(jìn)樣毛細(xì)管放入2030ppbTuneSolution中c.單擊ExperimentOpenanExitingExperimentOKInstrumentCalibration子目錄MassCalibrationOpend.單擊SampleListSampleliste.增加一個樣品，單擊左邊使其變黑f.ShowAdvancedInstrumentCalibrationDetectorCalibrationg.單擊QueueAppendOK即開始進(jìn)行7、樣品分析1打開已經(jīng)準(zhǔn)備好的分析的方法2單擊QueueAppendOK然后按照提示將進(jìn)樣毛細(xì)管放入相應(yīng)瓶中，單擊Continue進(jìn)行測定8、熄火并返回Vacuum狀態(tài)1確認(rèn)所有樣品已分析完成2單擊OffYES3松開蠕動泵管夾4冷卻約5min后，關(guān)閉循環(huán)水5關(guān)閉電腦9、完全關(guān)機(jī)1確認(rèn)短時間內(nèi)沒有樣品,一般每周測定一次以上請不要關(guān)機(jī)。

2單擊OffYES,此時儀器會關(guān)閉機(jī)械泵和分子泵,等侯30分鐘以上.3關(guān)閉電腦.4取下儀器主機(jī)的蓋子,從右向左依此關(guān)閉儀器左下方的三個電源開關(guān).5關(guān)閉排風(fēng)開關(guān).6關(guān)閉穩(wěn)壓電源開關(guān).7關(guān)閉配電盤開關(guān).二.其他操作儀器的其他操作主要包括:碰撞室技術(shù),XI接口,冷等離子體屏蔽技術(shù),熱等離子體屏蔽技術(shù),有機(jī)進(jìn)樣技術(shù),色譜聯(lián)用技術(shù),激光進(jìn)樣,膜去溶進(jìn)樣等.這些技術(shù)的逐漸使用,極大的拓寬了ICP-MS的應(yīng)用范圍,這些使用都要以日常操作部分為基礎(chǔ),最大的不同只是在調(diào)節(jié)儀器最佳化上,編輯分析方法,分析樣品和各種校正都是基本相同的,由于時間原因,本次我們只介紹CCT的操作步驟.1.碰撞室技術(shù)(CCT)CCT技術(shù)的主要作用是減少多原子離子的干擾,其原理在儀器結(jié)構(gòu)部分已經(jīng)介紹,通過不同種類氣體的引入,能夠使質(zhì)量數(shù)80以下(包括80)的多原子離子的干擾程度得到極大的降低,從而提高靈敏度和準(zhǔn)確性,具體的操作步驟如下(以7%氫+93%氦混合氣為例).1打開He氣鋼瓶（要求純度99.999%的）調(diào)氣壓至0.1MPa.2在InstrumentConfigurations中選擇標(biāo)準(zhǔn)模式，調(diào)出一組參數(shù).3按正常模式點(diǎn)燃等離子體，進(jìn)入Operate狀態(tài).4將進(jìn)樣毛細(xì)管插入1ppb調(diào)節(jié)液中,檢查標(biāo)準(zhǔn)條件下的信號情況,如靈敏度,RSD等.5在InstrumentTuneAddGas中打開CCT1的氣體，調(diào)流量至7ml/min，等待約10min.6將進(jìn)樣毛細(xì)管插入1ppbIn溶液中.7在InstrumentConfigurations選擇CCTCh1,然后在下面的選框內(nèi)打的位置重新打.8調(diào)節(jié)碰撞氣流量和儀器參數(shù)，使在純水中Ar（80）的計數(shù)小于200，同時In的靈敏度大于20000/ppb.9編輯分析方法，選擇數(shù)據(jù)庫為DefaultCCT.10分析樣品.11在Tune中取消80和56等嚴(yán)重干擾的質(zhì)量數(shù).12返回標(biāo)準(zhǔn)模式.13熄火三.常見故障與排除問題一：

點(diǎn)火時顯示RF錯誤原因1：

點(diǎn)火時氬氣壓力降低，檢查氬氣氣路，在打開冷卻氣時壓力是否下降，將鋼瓶閥門開到最大。

原因2：

炬箱位置處于0位，往往在完全關(guān)機(jī)又重新開機(jī)時出現(xiàn)，此時調(diào)一組以前存儲的參數(shù)即可。

問題二：

點(diǎn)火時顯示水流太低原因1：

水循環(huán)未打開（檢查壓力，溫度）。

原因2：

等離子體門沒關(guān)好。

原因3：

電源中J19接觸不良。

問題三：

不點(diǎn)火原因1：

匹配箱調(diào)諧位置（Load和Tune）在0和255。

原因2：

分析室真空為1E10-8。

問題四：

無信號原因1：

檢測器高壓為0（往往在完全關(guān)機(jī)又重新開機(jī)時出現(xiàn)），設(shè)置高壓后即可正常。

原因2：

分析室真空為不夠。

問題五：

在空調(diào)壓縮機(jī)啟動關(guān)閉時，重質(zhì)量RSD較差，輕質(zhì)量正常原因1：

儀器室濕度不穩(wěn)定，用大于50L/天的除濕機(jī)可以解決。

問題六：

突然停電后重新開機(jī)，真空系統(tǒng)直接啟動，但無真空顯示原因1：

儀器自動記錄關(guān)機(jī)時的狀態(tài)，此時需要先用OFF關(guān)掉真空，過20分鐘后重新點(diǎn)擊ON即可。

四.日常維護(hù)1.每次點(diǎn)火前檢查蠕動泵泵管,看是否有損傷和過度磨損。

2.定期檢查錐,看是否需要清洗。

3.檢查霧化器,看是否被堵。

4.定期檢查炬管,主要是中心管,以確保無損壞。

5.每半年檢查更換一次機(jī)械泵泵油。

6.定期清洗兩個空氣過濾網(wǎng)。

7.定期檢查排風(fēng)風(fēng)量,以確保風(fēng)力充足。

8.定期檢查地線,以確保小于4歐母。

9.定期檢測零線與火線之間的電壓,確定在點(diǎn)火狀態(tài)下小于交流5伏。

X-系列ICP-MS中級操作在了解初級操作的前提下,通過完成中級操作中的各個試驗(yàn),進(jìn)一步了解儀器的軟件功能,熟悉常用的各類干擾校正方法的原理和應(yīng)用。

實(shí)驗(yàn)A:在沒有干擾校準(zhǔn)下測得分析數(shù)據(jù)實(shí)驗(yàn)B:用理論方法手動進(jìn)行校準(zhǔn)計算實(shí)驗(yàn)C:通過PLASMALAB用理論方法進(jìn)行校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)D:通過PLASMALAB用間接經(jīng)驗(yàn)公式進(jìn)行校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)E:通過PLASMALAB用直接經(jīng)驗(yàn)公式進(jìn)行校準(zhǔn)在這些實(shí)驗(yàn)里,我們將使用不同的方式來進(jìn)行干擾校正,在實(shí)驗(yàn)A,我們將使用理論方法進(jìn)行校準(zhǔn),但是我們?nèi)匀灰O(jiān)視Cl和ClO的信號,以便后來的實(shí)驗(yàn)?zāi)軌蜻M(jìn)行經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn),所有測定的數(shù)據(jù)都是采用Xi接口。

實(shí)驗(yàn)A:在沒有干擾校準(zhǔn)下測得分析數(shù)據(jù)步驟1:編輯分析數(shù)據(jù)庫(AnalyteDatabase)步驟2:內(nèi)標(biāo)元素步驟3:選擇分析元素和數(shù)據(jù)采集條件(Acq.Parameters)步驟4:設(shè)置校準(zhǔn)方法步驟5:建立樣品清單步驟6:輸入標(biāo)準(zhǔn)溶液濃度步驟7:采集實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)并觀察結(jié)果步驟8:內(nèi)標(biāo)元素校準(zhǔn)需要準(zhǔn)備的溶液:1.內(nèi)標(biāo)元素:50ppb的Sc或20ppb的In。

2.準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)溶液:a).2%硝酸的空白b).250ppb的V標(biāo)準(zhǔn)(2%硝酸介質(zhì))3.準(zhǔn)備三個樣品溶液:a).空白溶液包含1000ppm的Clb).樣品溶液包含1000ppm的Cl和20ppb的Vc).樣品溶液包含1000ppm的Na和25ppb的V步驟1:編輯分析數(shù)據(jù)庫(AnalyteDatabase)在第一次做環(huán)境實(shí)驗(yàn)研究時,我們需要編輯分析數(shù)據(jù)庫(AnalyteDatabase)1.在軟件主窗口下,單擊File,Open然后選擇AnalyteDatabase,選擇DefaultDatabase.2.我們需要定義一些新的多原子成分,以便在這個實(shí)驗(yàn)中能夠觀察到ClO,單擊左邊的Polyatomics然后在元素周期表中單擊Cl和O,再單擊OK.選擇質(zhì)量數(shù)53作為Cl的缺省設(shè)定。

保存并關(guān)閉AnalyteDatabase3.另外一個需要改變的是在周期表的上方的掃描和跳過區(qū)間,通過改變每一段跳過的范圍使Cl35和37包含在掃描區(qū)間內(nèi).紅色的區(qū)域是跳過的部分,綠色部分是掃描部分.步驟2:加入內(nèi)標(biāo)元素(InternalStandard)內(nèi)標(biāo)元素的加入有兩種方式:a):在線加入法,通過一個微型三通和兩根泵管,在進(jìn)樣的同時與內(nèi)標(biāo)溶液混合.b):在配制樣品和標(biāo)準(zhǔn)的同時把內(nèi)標(biāo)加入到相應(yīng)的容量瓶中,注意空白也要加內(nèi)標(biāo)。

本次實(shí)驗(yàn)選擇Sc為內(nèi)標(biāo)。

步驟3:選擇分析元素和數(shù)據(jù)采集條件(AcquisitionParameters)1.建立一個新的空白的分析方法(Experiment),注意使用我們新建立的分析數(shù)據(jù)庫,在Setup頁面下選擇Analytes和AcquisitionParameters,如下圖所示,我們選擇Cr52來測定Cr,然后在多組分清單(PolyatomicsList)中選擇質(zhì)量數(shù)53來觀察ClO的干擾,選擇V,Cr,和Cl為分析元素,Sc為內(nèi)標(biāo)。

2.選擇數(shù)據(jù)采集條件(AcquisitionParameters),如下圖所示,由于我們已經(jīng)編輯過掃描和跳過的區(qū)間,因而我們可以在Surveyscan中觀察到ClO在質(zhì)量數(shù)53處的干擾。

步驟4:設(shè)置校準(zhǔn)方法(CalibrationMethod)1.在CalibrationMethod中,我們只定義V為全定量校準(zhǔn)(FullyQuantCalibration),后面我們將定義Sc作為內(nèi)標(biāo)元素,分析元素Cr和Cl的測定只是用來確定干擾的計算。

步驟5:建立樣品清單(SampleList)在這個實(shí)驗(yàn)中,我們要用一個空白和一個250ppb的標(biāo)液來建立一個V的兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法,然后分析1000ppmCl但不包含其他元素的溶液,這將顯示ClO的干擾程度,然后分析一個含有25ppbV和1000ppmCl的樣品和一個25ppbV和1000ppmNa的樣品,用以觀察ClO的干擾和物理干擾。

步驟6:輸入全定量濃度設(shè)置V的標(biāo)準(zhǔn)濃度為250ppb。

步驟7:測試樣品并觀察結(jié)果1.按正常順序點(diǎn)火,調(diào)節(jié)儀器最佳化,然后測定此方法中的所有樣品和標(biāo)準(zhǔn),然后我們可以觀察譜圖和數(shù)字結(jié)果,為了確定1000ppmCl中的ClO干擾,我們在譜圖結(jié)果中打開硝酸空白和1000ppm的Cl空白,并把兩個樣品的譜圖疊在一起,此時我們可以觀察到在51和53處的ClO干擾。

可以看到,黑色的是2%HNO3,紅色的是1000ppmCl,可以看到在51處,ClO干擾V的測定,在53處干擾Cr的測定,但是Cr還有一個52的同位素可以用來分析。

2.觀察數(shù)據(jù)結(jié)果中的濃度,前兩個樣品是空白和V標(biāo)準(zhǔn),他們的回讀結(jié)果是準(zhǔn)確的,因?yàn)槲覀冎挥昧藘蓚€點(diǎn)來校準(zhǔn)。

含有1000ppm的Cl的樣品給出了正的V的結(jié)果,那是由于ClO在51處的干擾造成的,在這個例子里我們先不采用任何干擾校正方法。

可以看到,250ppb的V的回讀濃度是250ppb,1000ppmCl的空白的讀數(shù)是15ppb,很顯然這由于ClO的干擾造成的,20ppb加1000ppmCl的讀數(shù)是36ppb,誤差非常大,在含有1000ppmNa的V標(biāo)準(zhǔn)溶液里,25ppb所測得的結(jié)果是21ppb,這并不是Na的干擾造成的,而是由于大量的Na存在對V產(chǎn)生了抑制效應(yīng),因而使結(jié)果偏低,這種影響可以通過內(nèi)標(biāo)來進(jìn)行校準(zhǔn)。

步驟8:使用內(nèi)標(biāo)校準(zhǔn)(InternalStandardCorrection)1.回到方法的Setup頁面,在InternalStandard頁面下選擇Sc為內(nèi)標(biāo)元素。

2.在Results頁面,選擇NumericalResults,然后刷新結(jié)果(Refresh),此時看到的結(jié)果是用內(nèi)標(biāo)進(jìn)行漂移和抑制校正以后的結(jié)果。

內(nèi)標(biāo)元素的結(jié)果顯示為黃色,從結(jié)果可以看到,1000ppm的Cl不會產(chǎn)生抑制,因?yàn)閮?nèi)標(biāo)元素的回收接近100%(相對于第一個測定的溶液),然而,1000ppm的Na確產(chǎn)生了抑制效益,內(nèi)標(biāo)的回收只有74%。

實(shí)驗(yàn)B:用理論方法手動進(jìn)行校準(zhǔn)計算步驟1:將結(jié)果轉(zhuǎn)入到Excel中步驟2:校準(zhǔn)基體抑制效應(yīng)(SuppressionEffects)步驟3:校準(zhǔn)多原子離子干擾(PolyatomicInterference)步驟4:計算出濃度步驟5:計算結(jié)果這個實(shí)驗(yàn)主要是在紙上進(jìn)行練習(xí),學(xué)習(xí)怎樣用手工計算的方法進(jìn)行多原子離子和基體抑制效應(yīng)的校準(zhǔn),以了解他們的原理。

步驟1:將結(jié)果轉(zhuǎn)入到Excel中1.下面這個表中的數(shù)據(jù)是從實(shí)驗(yàn)A得到的,凈的分析計數(shù),沒有進(jìn)行任何計算,在Results中選擇NumericalResults,然后再選擇MassUncorrectedICPS(未計算的計數(shù)),工作曲線包括空白和250ppb的V。

2.只保留每個樣品的平均值,并把他們從PlasmaLab中導(dǎo)出到Excel中,結(jié)果將顯示如下表:表2顯示的是我們在試驗(yàn)A中得到的,未經(jīng)任何干擾校準(zhǔn)的濃度結(jié)果。

3.下面我們簡要做一個紙上練習(xí),用手工來計算如何校正干擾,注意:黑色:測試結(jié)果綠色:計算的舉例藍(lán)色:需要填寫的表格紅色:正確答案在表2的濃度結(jié)果的不同明顯的,在兩個含有Cl的溶液中可以看出ClO干擾了V51的測定。

同時也可以看出在含有高濃度Na的溶液中得出了偏低的結(jié)果,這是由于基體的抑制效應(yīng)造成的。

步驟2:校準(zhǔn)基體抑制效應(yīng)(SuppressionEffects)1.第一步是使用在分析時包含的內(nèi)標(biāo)元素來計算基體抑制,我們用實(shí)驗(yàn)A中選用的Sc45,由于我們在每個樣品中都包含有同樣濃度的Sc,因而我們可以用SC為參照,用第一個樣品(多數(shù)是空白)中的Sc的強(qiáng)度與每個樣品中的Sc的強(qiáng)度進(jìn)行相除,得到的一個比值(ISR),請在下面的藍(lán)色表格內(nèi)填上你計算的結(jié)果,注意如果是抑制效應(yīng),則比值1,如果是增感效應(yīng),則比值1。

2.在上面的表中我們已經(jīng)計算了內(nèi)標(biāo)元素比值(ISR),然后用這個比值(ISR)去乘以所有測定出的強(qiáng)度,結(jié)果如表4-a,計算結(jié)果并填入表4-b中。

步驟3:計算多原子離子干擾(PolyatomicInterference)1.我們已經(jīng)知道如何用內(nèi)標(biāo)來校準(zhǔn)漂移和抑制所造成的影響,下一步是如何校正多原子離子的干擾。

我們知道,35Cl16O會干擾51V,這可以通過監(jiān)視37Cl16O的辦法進(jìn)行計算,總的在m/z51處的信號如下:51M=51V+51ClO,因而:51V=51M-51ClO因?yàn)槲覀円呀?jīng)測定了53ClO,因而我們需要計算一個51ClO和53ClO之間的系數(shù),35Cl和37Cl在自然界的豐度(Abundance)為:35Cl:75.2%37Cl:24.7%因而它們理論上的系數(shù)為:35Cl/37Cl=75.4/24.6=3.0460因而前面的等式可寫為:51V=51M-53ClO*3.04602.由此看出,只要我們知道了53ClO的結(jié)果,就可以計算出51ClO和51V的結(jié)果,可是m/z53也不是唯一的,它是由53ClO和53Cr組成的:53M=53ClO+53Cr,因而:53ClO=53M-53Cr由于我們已經(jīng)在m/z52處測量了Cr,因而我們知道在m/z53處有多少信號是由于CR產(chǎn)生的,我們需要一個系數(shù)來計算Cr53和52,53Cr和52CR在自然界的豐度(Abundance)為:52Cr:83.76%53Cr:9.55%因而理論計算系數(shù)為:53Cr/52Cr=9.55/83.76=0.1140因而上面的等式可以寫為:53ClO=53M-0.1140*52Cr3.我們現(xiàn)在可以應(yīng)用等式:53ClO=53M-0.1140*52Cr來計算我們的數(shù)據(jù),表5a和5b分別是計算的公式例子和表格,請在表格5b中填上計算出的53Cr的值,下面一步我們將用這個計算出的結(jié)果去校正51V的干擾。

4.由于我們已經(jīng)得出了真正的53CLO的強(qiáng)度,用前面得出的等式:51V=51M-3.0460*53CLO就可以計算出真正的51V的強(qiáng)度,請?zhí)顚懕?B:現(xiàn)在我們已經(jīng)用內(nèi)標(biāo)校正了Counts/Sec(CPS)的漂移和基體抑制效應(yīng),用監(jiān)視53ClO和52Cr的方法校正了51V的多原子離子干擾。

步驟4:計算V的濃度(Concentration)1.我們需要用這些已經(jīng)校準(zhǔn)后的結(jié)果來進(jìn)行計算,由于有公式:S=MX+C,其中,X為未知濃度,M為斜率或靈敏度,S是校正過的強(qiáng)度,C是空白的強(qiáng)度,因而我們可以通過空白和250PPB的結(jié)果來計算其他樣品的濃度:2.按上面公式的計算,請?zhí)顚懕?:現(xiàn)在我們得到了經(jīng)過內(nèi)標(biāo)和干擾校正后的濃度結(jié)果,并且了解了校正的過程和原理。

步驟5:計算結(jié)果下面的表中的結(jié)果是你應(yīng)該計算出的中間和最終結(jié)果。

實(shí)驗(yàn)C:通過PlasmaLab用理論方法進(jìn)行校準(zhǔn)步驟1:編輯51V處ClO的校準(zhǔn)公式步驟2:編輯在53ClO處扣除53Cr步驟3:用理論公式計算出結(jié)果步驟1:編輯51V處ClO的校準(zhǔn)公式1.在實(shí)驗(yàn)A編輯的分析方法中,在Setup,Analytes下,在周期表中選擇元素V,在51V那一行中的Equation的空格中單擊鼠標(biāo)右鍵,選擇EditInterferenceEquation。

2.此時將顯示一個對話框,其中Symbol和Multiplier部分是空的,這說明在初始的數(shù)據(jù)庫中沒有51V的校準(zhǔn)公式,單擊Symbol區(qū)域,將顯示一個新窗口,即元素周期表。

3.從左面的一列中選擇ClO,注意選擇質(zhì)量數(shù)為53,然后兩次單擊OK。

4.此時在Equation中將自動顯示理論計算公式:步驟2:編輯在53ClO處扣除53Cr1.在Analyte頁面,在周期表中選擇53ClO作為分析項(xiàng)目,在53ClO的Equation處單擊鼠標(biāo)右鍵,然后選擇EditInterferenceEquationFor53ClO。

2.此時將顯示另外一個對話框,單擊Symbol空白處然后點(diǎn)擊箭頭,打開元素周期表,選擇干擾元素為Cr,質(zhì)量數(shù)為52。

3.此時儀器將自動計算出53Cr和52Cr的比值,在mass53處總的計數(shù)減去由52Cr計算出的53Cr的計數(shù),確剩下的就是53ClO的計數(shù),單擊OK,顯示下面的窗口:4.再次單擊OK,此時兩級校正公式就編輯完成了。

步驟3:用理論公式計算出結(jié)果現(xiàn)在通過前兩步我們已經(jīng)建立了兩級的干擾校正公式,下一步我們可以對分析的結(jié)果進(jìn)行重新計算,在Results中的NumericalResults下,單擊Refresh重新對結(jié)果進(jìn)行計算,計算后的結(jié)果明顯的準(zhǔn)確了很多。

實(shí)驗(yàn)D:通過PlasmaLab用間接經(jīng)驗(yàn)公式進(jìn)行校準(zhǔn)步驟1:編輯一個新的分析方法步驟2:計算經(jīng)驗(yàn)校正系數(shù)步驟3:將經(jīng)驗(yàn)系數(shù)用到數(shù)據(jù)計算中需要準(zhǔn)備一個Cl的標(biāo)準(zhǔn)系列如下(2%HNO3介質(zhì)):1.空白2.250ppmCl3.500ppmCl4.750ppmCl5.1000ppmCl步驟1:編輯一個新的分析方法1.建立一個新的分析方法,選擇元素清單如下圖所示,Sc仍然用來做內(nèi)標(biāo),在樣品中沒有V和Cr,測定51V的唯一目的是為了測定35Cl16O的干擾,同樣測Cr的目的是為了測定37Cl16O的干擾。

2.定義Cl和V為全定量校準(zhǔn)(FullyQuant)。

3.建立樣品清單(SampleList),我們將分析一系列含有不同濃度Cl的樣品。

4.輸入標(biāo)準(zhǔn)曲線中各溶液的濃度,注意,我們的溶液中沒有V,但是我們?nèi)匀幌胫?1ClO的工作曲線,因而我們也輸入V的濃度(與Cl一樣)。

5.按正常操作點(diǎn)火,分析所有樣品(QUEUETHEEXPERIMENT)。

6.觀察35Cl處的工作曲線和51ClO處的工作曲線,它們都是線性的。

51V的工作曲線實(shí)際上是51ClO的曲線,它也跟Cl的濃度成線性關(guān)系。

7.觀察數(shù)據(jù)結(jié)果中的計數(shù)如下:步驟2:計算校正系數(shù)第一個方法我們可以間接的觀察到干擾程度的大小,通過觀察35Cl和51V(實(shí)際上沒有V,而是51ClO)的關(guān)系,我們發(fā)現(xiàn)51ClO的量與Cl的量是成線性關(guān)系的,也就是說51ClO的大小取決于Cl的含量,因而我們可以通過Cl的濃度計算出51ClO的強(qiáng)度,在這個實(shí)驗(yàn)中,我們可以用51V(實(shí)際是51ClO)的靈敏度除以Cl的靈敏度,從上面的兩個工作曲線我們看到,他們分別是,0.078和10.15,相除以后等于0.0077,再把這個經(jīng)驗(yàn)的系數(shù)輸入軟件,就可以進(jìn)行干擾校正計算