GB∕ T 17626.11-2023 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 第11部分：對每相輸入電流小于或等于16 A設(shè)備的電壓暫降、短時中斷和電壓變化抗擾度試驗（正式版）

第11部分：對每相輸入電流小于或Electromagneticcompatibility—TestingandmeasuremePart11:Voltagedips,shortPart4-11:Testingandmeasurementtechniques—Voltagedips,short國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會I Ⅲ V 1 1 1 3 35.1通則 3 3 4 7 7 9 9 98.1通則 98.2實驗室參考條件 9試驗結(jié)果評價 附錄A(規(guī)范性)試驗電路說明 A.1試驗發(fā)生器峰值沖擊電流驅(qū)動能力 A.2測量峰值沖擊電流能力的電流監(jiān)視器特性 附錄B(資料性)電磁環(huán)境分類 附錄C(資料性)試驗儀器 附錄D(資料性)發(fā)生器的電壓、上升時間和下降時間、沖擊電流容量的基本原理 D.1基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的理念 18D.3快速下降時間需求的基本原理 D.4EUT測試上升時間和下降時間的解釋 D.5主要結(jié)論 D.6沖擊電流容量的原理 20Ⅲ電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論；電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌(沖擊)抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度；電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、間諧波的測——GB/T17626.8—2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗；——GB/T17626.9—2011電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗；——GB/T17626.10—2017電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗；—GB/T17626.11—2023電磁兼容試驗和測量技術(shù)第11部分：對每相輸入電流小于或等—GB/T17626.12—2023電磁兼容試驗和測量技術(shù)振鈴波抗擾度試驗； 電磁兼容試驗和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范；電磁兼容試驗和測量技術(shù)0Hz～150kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗； 電磁兼容試驗和測量技術(shù)橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾電磁兼容試驗和測量技術(shù)混波室試驗方法；電磁兼容試驗和測量技術(shù)全電波暗室中的輻射發(fā)射和抗擾度電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗；電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降、短時中V 電磁兼容試驗和測量技術(shù)電能質(zhì)量測量方法；電磁兼容試驗和測量技術(shù)第31部分：交流電源端口寬帶傳導(dǎo)騷電磁兼容試驗和測量技術(shù)第33部分：高功率瞬態(tài)參數(shù)測量電磁兼容試驗和測量技術(shù)主電源每相電流大于16A的設(shè)備的本文件代替GB/T17626.11—2008《電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化b)增加了電壓暫降和短時中斷產(chǎn)生的原因(見第4章)。本文件修改采用IEC61000-4-11:2020《電磁兼容(EMC)第4-11部分：試驗和測量技術(shù)對每相本文件與IEC61000-4-11:2020的技術(shù)差異及其原因如下：——刪除了表1、表2和表3中有關(guān)60Hz的參數(shù)指標(biāo)，包括表1、表2中電壓暫降、短時中斷的試驗等級和持續(xù)時間的60Hz頻率點，以及表1、表2中2類和3類的持續(xù)時間12周期、30周期和300周期的要求及腳注c,表3中電壓增加所需時間的60Hz頻率點，以及表3中電壓試驗等級為70%時電壓增加所需時間30周期的要求及腳注b,以適用于我國國情(見第5章);——為與我國標(biāo)準(zhǔn)體系一致，將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《電磁兼容試驗和測量技術(shù)第11部分：對每相輸 請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件V 第13部分：交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗。目的在于建立通V -第29部分：直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾建立評價直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用 第32部分：高空核電磁脈沖(HEMP)模擬器概述。目的在于提供國際上現(xiàn)有的系統(tǒng)級M 我國在1999年和2008年先后發(fā)布了2個版本的GB/T17626.11,規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗方法和優(yōu)選的試驗等級范圍。1電磁兼容試驗和測量技術(shù)第11部分：對每相輸入電流小于或本文件規(guī)定了與低壓供電網(wǎng)連接的電氣和電子設(shè)備對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試本文件適用于額定輸入電流每相小于或等于16A且連接到50Hz交流網(wǎng)絡(luò)的電氣和電子設(shè)備。本文件不適用于與400Hz交流網(wǎng)絡(luò)相連接的電氣和電子設(shè)備。這些網(wǎng)絡(luò)的試驗將在以后的標(biāo)準(zhǔn)本文件的目的是建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度GB/T17626的本文件中所規(guī)定的試驗方法為評估設(shè)備或系統(tǒng)對定義的電磁現(xiàn)象的抗擾度表述了下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文IECTR61000-2-8電磁兼容(EMC)第2-8部分：環(huán)及其測量統(tǒng)計結(jié)果[Electromagneticcompatibility(EMC)—Part2-8:Environment—Voltagedipsshortinterruptionsonpublicelectricpowersupply3術(shù)語和定義ISO和IEC在以下網(wǎng)址進行術(shù)語數(shù)據(jù)庫維護以——IECElectropedia:;2電壓暫降voltagedip供電系統(tǒng)某一點上所有相位的電壓突然下降到規(guī)定的中斷閾限以下，隨后經(jīng)歷一段短暫間隔恢復(fù)在電壓暫降或者短時中斷期間記錄的最小電壓均方根值。校準(zhǔn)calibration6章給出的規(guī)范。3電壓暫降和短時中斷是由于(公用或非公用)供電網(wǎng)絡(luò)或設(shè)施中大型負載突然變化引發(fā)故障的。某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的暫降或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負荷連續(xù)變化引所以，本文件中規(guī)定了不同類型的試驗來模擬電壓突變的效應(yīng)。在產(chǎn)品規(guī)有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會的責(zé)任是確定哪些現(xiàn)象是與本文件所考慮的5.1通則——如果額定電壓的范圍不超過其下限電壓值的20%,則在該范圍內(nèi)可確定一個電壓作為試驗等——IECTR61000-2-8給出了試驗等級Ur和變化后的電壓之間的變化是突發(fā)性的。其階躍可以在供電電壓的任意相位角上開始和停止。采用下述電壓試驗等級(以%Ur表示):0%,40%,70%和80%,相對應(yīng)于暫降后剩余電壓為參考電壓的0%,40%,70%和80%。對于電壓暫降，優(yōu)先采用的試驗等級和持續(xù)時間列于表1。示例見圖la)和圖1b)。上升和下降時間如圖3所示。表1和表2中給出的優(yōu)先采用的試驗等級和持續(xù)時間考慮了IECTR61000-2-8給出的信息。意味著對所有的暫降都具有抗擾度。更多更嚴(yán)酷的暫降，例如：0%、持續(xù)1s的暫降和平衡的三相暫表4規(guī)范了發(fā)生器在電壓突變期間的上升時間t,和下降時間t。產(chǎn)品規(guī)范中應(yīng)給出試驗等級和持續(xù)時間，試驗等級為0%相當(dāng)于完全電壓中斷，實際上，從0到20%額定電壓Ur的電壓試驗等級都可以認(rèn)為是完全中斷。宜進行表1中較短的持續(xù)時間，尤其是半個周期的試驗，以確定受試設(shè)備(EUT)能否按其預(yù)定的員會宜特別注意沖擊電流對試驗結(jié)果帶來的影響。對于此類產(chǎn)品，在電壓暫降之后由于電源變壓器鐵4芯的磁通飽和造成的沖擊電流可能會達到額定電流的10倍～40倍。類別電壓暫降的試驗等級和持續(xù)時間(t,)1類持續(xù)時間0.5周期持續(xù)時間1周期持續(xù)時間25周期持續(xù)時間0.5周期持續(xù)時間1周期持續(xù)時間10周期持續(xù)時間25周期持續(xù)時間250周期××XXX“×類”由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會進行定義，對于直接或者間接連接到公用電網(wǎng)的設(shè)備，嚴(yán)酷等級不應(yīng)低類別短時中斷的試驗等級和持續(xù)時間(t.)1類持續(xù)時間250周期持續(xù)時間250周期ד×類”由有關(guān)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會進行定義，對于直接或者間接連接到公用電網(wǎng)的設(shè)備，嚴(yán)酷等級不應(yīng)低本試驗考慮在額定電壓Ur和變化后的電壓之間規(guī)定一個過渡過程。表3給出了優(yōu)先采用的電壓變化所需時間和電壓降低后持續(xù)時間。電壓變化率宜為常數(shù)，但電壓可以是步進變化的。步進宜定位在電壓過零附近，且不宜大于10%Ur。當(dāng)步進在1%Ur以下，則可認(rèn)5表3短期供電電壓變化的時間設(shè)定電壓試驗等級電壓降低所需時間(ta)電壓降低后維持時間(t,)電壓增加所需時間(t?)突變1周期25周期這一形態(tài)是電動機啟動時的典型波形。/?——電壓下降時間：圖1電壓暫降示例6tt,——電壓降低后持續(xù)時間。t下沖<5%過沖<5%準(zhǔn)化技術(shù)委員會加以規(guī)定。76試驗設(shè)備表4發(fā)生器技術(shù)要求空載時輸出電壓100%輸出，0A～16A8表4發(fā)生器技術(shù)要求(續(xù))輸出電流能力額定電壓下每相電流的均方根值為16A。發(fā)生器壓的80%下輸出20A,持續(xù)時間達到5s。在額定電壓的70%下輸出23A,持續(xù)時間達到3s。在額定電壓的40%下輸出到3s(根據(jù)EUT的額定穩(wěn)態(tài)電流情況，這一要求可以降低，見A.3)峰值沖擊電流驅(qū)動能力(對電壓變化試驗不作要求)不應(yīng)受發(fā)生器的限制，但發(fā)生器的最大峰值驅(qū)動能(相對250V～600V電源),500A(相對220V～240V電源),250A(相對100V～120V電源)瞬間峰值過沖/欠沖電壓上升時間t,和下降時間t,見圖1b)、圖2和圖3相位變化(如果必要)0°~360°電壓暫降和中斷與電源頻率的相位關(guān)系<士10°發(fā)生器的過零控制——發(fā)生器100%,80%,70%和40%的輸出電壓均方根值應(yīng)與所選擇工作電壓(如220V、120V——發(fā)生器100%,80%,70%和40%的輸出電壓均方根值應(yīng)在空載時測量，且保持在Ur的規(guī)定——負載調(diào)整應(yīng)在每個輸出電壓的標(biāo)稱負載電流下驗證。在標(biāo)稱電壓的100%,80%,70%和40%9若EUT產(chǎn)生的峰值沖擊電流小于標(biāo)準(zhǔn)發(fā)生器規(guī)定的峰值沖擊電流(例如對220V～240V電值沖擊電流應(yīng)小于發(fā)生器峰值驅(qū)動能力的70%。實際EUT沖擊電流應(yīng)在冷啟動和關(guān)閉5s后兩種狀到70%、100%到40%和100%到0%進行切換驗證。切換檢驗。且應(yīng)在相位角90°和180°處，從100%到80%和80%到100%,100%到70%和70%到100%,以及100%到40%和40%到100%進行切換驗證。 試驗結(jié)果應(yīng)依據(jù)受試設(shè)備的功能喪失或性能降低現(xiàn)象來分類，相關(guān)的性能等級由受試設(shè)備制造商 最小為1000A士10%(3ms脈寬)500ns或更小10Hz或更小沖擊電流驅(qū)動能力的70%。圖A.1確定短時中斷發(fā)生器沖擊電流驅(qū)動能力的電路TG圖A.2確定EUT的峰值沖擊電流要求的電路第1類第2類第3類(資料性)圖C.1a)和C.1b)為兩種可能的電源模擬器的試驗原理圖。為了顯示在特定條件下EUT的動作情電壓的下降、上升和中斷可以通過交替閉合開關(guān)1和開關(guān)2來模擬。這兩個開關(guān)絕不能同時閉這兩個開關(guān)。采用功率半導(dǎo)體MOSFET和IGBT構(gòu)成的半導(dǎo)體開關(guān)可以滿足這一要求，而可控硅和波形發(fā)生器和功率放大器可用來代替調(diào)壓變壓器和開關(guān)(見圖C.1b)],這一結(jié)構(gòu)也可用于EUT的單相試驗發(fā)生器(見圖C.1a)、圖C.1b)和圖C.1c)]也能用在三相試驗中(見圖C.2)]。波形相線o-中線(或者是相c)采用抽頭變壓器和開關(guān)進行電壓暫降、短時中斷和電壓變化的試驗儀器原理圖相線相線o-中線o-b)關(guān)于表1和表2,IEC61000-4 [1]IEC60050-161:1990InternationalElectrotechnicamagneticcompatibility(可在獲得)[2]IECTR60725Considerationofreferenceimpedancesandpublicsancesforuseindeterminin[3]IEC61000-2(all