JBT 11780-2014 無損檢測儀器 陣列渦流檢測儀性能和檢驗(yàn)

I前言 Ⅱ 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14功能參數(shù) 25檢驗(yàn)方法 4附錄A(規(guī)范性附錄)A型標(biāo)準(zhǔn)試塊 8附錄B(規(guī)范性附錄)B型標(biāo)準(zhǔn)試管 9 附錄D(規(guī)范性附錄)靈敏度檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊 附錄E(規(guī)范性附錄)頻差法原理 2圖2陣列渦流檢測顯示方式示意 3圖3渦流信號的混頻處理示意 5 8 9圖C.1分辨力檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊示意 圖D.1靈敏度檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊示意圖 圖E.1解調(diào)電路 6表2相位角度值與理論值對比 6Ⅱ1GB/T12604.6無損檢測術(shù)語渦流檢測2為±1%。儀器應(yīng)至少具有8個物理通道。儀器應(yīng)具有360°相位旋轉(zhuǎn)功能，且具有手動或自動相位測量功能。相位應(yīng)連續(xù)可調(diào)，步進(jìn)不大于1°4.6增益34.7混頻4.8顯示方式如圖2的a)、b)、c)所示。推薦儀器具有三維信號圖顯示和帶刻度標(biāo)識的檢波前基頻信號波形顯示功能，如圖2的d)和e)所示。相位最大線性偏差應(yīng)不大于1°。增益標(biāo)稱值與測量值間的最大偏差應(yīng)不大于1dB。最大激勵電壓應(yīng)不小于5V。4b)相對濕度45%～75%;c)交流供電電壓為220V,誤差為±2%;b)信號發(fā)生器：幅度誤差不大于2%,頻率誤差不大于0.1%;g)阻值為502、功率為3W的無感電阻；5Ch.“A”Ch.“A”Ch.“B”的誤差△f由公式(1)計算：b)兩個頻率的激勵信號同時作用于同一探頭，然后從這不小于5mm的45鋼圓環(huán)，使內(nèi)穿式探頭掃標(biāo)準(zhǔn)試管上人工通孔和外面的鋼環(huán)，在兩個檢測通e)對兩個通道的渦流響應(yīng)信號進(jìn)行混頻處理，得到削弱了支撐管號，如圖3所示；ChCh.“A”Ch.“B”表1列出了一個周期輸出信號的設(shè)置數(shù)據(jù)。6123456XY將用列于表1中的X和Y的分量減去它們的連續(xù)分量獲取的值Xrec和Ytec,再列入表2中。連續(xù)分第i次采樣的相位角按公式(2)和公式(3)計算： (2) (3)i123456相位角線性的最大偏差值按公式(4)計算，單位為度(°)。 (4)增益偏差按公式(5)和公式(6)計算，單位為分貝：最大增益偏差應(yīng)滿足4.10要求。儀器輸出端連接50Q無感電阻，利用示波器或電壓表測量最大激勵電壓。測量儀器應(yīng)具有高的輸入阻抗(大于1MQ),并且上限截止頻率應(yīng)包含儀器的頻率范圍。5.3.6不同檢測通道的一致性檢測7在相同參數(shù)條件下，使用同一探頭逐通道地(或者推薦將同一探頭信號同時接入各通道)針對同一 (7)j=1,2,…,n。當(dāng)這個信號反饋到第i個通道時，該通道的串?dāng)_因子t,按公式(8)計算： (8)儀器的串?dāng)_因子為t=max(t),應(yīng)滿足4.13的要求。5.3.8分辨力檢測在進(jìn)行平衡和提離效應(yīng)補(bǔ)償后，在附錄C的分辨力檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊上，以均勻的速度沿著切槽中在進(jìn)行平衡和提離效應(yīng)補(bǔ)償后，在附錄D的靈敏度檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊上，以均勻的速度沿著切槽中8(規(guī)范性附錄)A.1材料與規(guī)格A.1.1材料：20鋼或45鋼。A.1.2規(guī)格：如圖A.1所示。A.2.1人工缺陷為線切割切槽。A.2.2人工缺陷的尺寸、位置如圖A.1所示。試塊寬度根據(jù)選用的陣列渦流探頭掃查面積確定。圖A.1A型標(biāo)準(zhǔn)試塊示意(規(guī)范性附錄)B型標(biāo)準(zhǔn)試管B.1材料與規(guī)格B.2人工缺陷 (規(guī)范性附錄)C.1.1材料牌號：2系鋁合金(淬火+固溶時效)。C.2.2人工缺陷的尺寸、位置如圖C.1所示。試塊寬度根據(jù)選用的陣列渦流探頭掃查面積確定。(規(guī)范性附錄)靈敏度檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊D.1材料與規(guī)格D.1.1專用試塊材料：2系鋁合金(淬火+固溶時效)。D.1.2規(guī)格如圖D.1所示。D.2人工缺陷D.2.1人工缺陷為線切割刻槽。D.2.2人工缺陷的尺寸、位置如圖D.1所示。試塊寬度根據(jù)選用的陣列渦流探頭掃查面積確定。0圖D.1靈敏度檢測用標(biāo)準(zhǔn)試塊示意圖(規(guī)