產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS） 坐標測量系統(tǒng)（CMS）的驗收檢測和復(fù)檢檢測 第13部分：光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng) 征求意見稿

6產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)坐標測量系統(tǒng)(CMS)的驗收檢測和復(fù)檢檢測第13部分：光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)本文件規(guī)定了在測量制造商規(guī)定的長度時驗證光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)性能的驗收檢測，還規(guī)定了表面特性的測量儀器（見GB/T33523所有部GB/T16857.1產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)或不一致性的判定規(guī)則（GB/T18779.1-2022，ISO14253-1metrology—BasicandgeneralconceptsandassociateGB/T16857.1、GB/T18779.1和ISO/IECGuide99界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)optical傳感器相對于工件不發(fā)生移動時可達到的、符合制造商規(guī)定的空間測量范圍。7空間拼接測量范圍concatenate傳感器相對于工件移動和配準得到的、符合制造商規(guī)定的空間測量范圍。注2：單視圖測量能包括重復(fù)測量，例如多次曝光，前提是從第一次曝光到最后一次曝光沒有光學(xué)傳感器相對于工探測形狀離散誤差probingformdispersionPForm.Sph.i:j:O3D注1：PForm.Sph.i:j:O3D中的符號“P”表示該誤差與探測系散誤差有關(guān);標識“O3D”表示與光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)相關(guān)。標識“i”表示用于評估的探測點的百分比:內(nèi)進行的。此類符號的示例包括PForm.Sph.D95%:SMV.SV:O3D和PForm.Sph.ALL:SMV.MV:O3D。注3：剔除“All”數(shù)據(jù)集中5%的測量點以確定PForm.Sph.D95%:j:O3D。通過該操作能夠剔除異常值。8pSize.Sph.i:j:O3D對于所有測量數(shù)據(jù)的一定百分比，由未加權(quán)和無約束最小二乘法得到的擬合球與已校準檢測球直注1：pSize.Sph.i:j:O3D中的符號“P”表示該誤差與探測系統(tǒng)性能有關(guān);標識“Size.Sph”表示與球體的探測尺寸誤內(nèi)進行的。此類符號的示例包括pSize.Sph.D95%:SMV.SV:O3D和pSize.Sph.ALL:SMV.MV:O3D。注2：95%和All這兩個百分比，都是根據(jù)額定工作條件所測得的點。當這些條件包括預(yù)濾波或網(wǎng)格化等預(yù)處理時，注3：探測尺寸誤差由傳感器的誤差（由噪聲、數(shù)字化、圖像失真、實物標準器表面的光照影響、校準、不完善算DCC:j:O3D通過單視圖測量操作或多視圖測量操作，在傳感器空間測量范圍內(nèi)測量已校準的中心距的示值誤視圖測量；“SMV.MV”表示多視圖測量。在任何一種情況下，測量都是在傳感器空間測量范圍（“SMV”）內(nèi)進行的。此類符號的示例包括DCC:SMV.SV:O3D和DCC:SMV.MV:O3D。平面形狀畸變誤差flat-formdistoDForm.Pla.i:j:O3D包含檢測平面上測量的所有數(shù)據(jù)一定百分比的兩個平行平面之間的最小表示與光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)相關(guān)。標識“i”表示用于評估的探測點的百分比:“D95%”表示總體的95%；表示多視圖測量。在任何一種情況下，測量都是在傳感器空間測量范圍（“SMV”）示例包括DForm.Pla.D95%:SMV.SV:O3D和DForm.Pla.ALL:SMV.MV:O3D。注2：95%和All這兩個百分比，都是根據(jù)額定工作條件所測得的點。當這些條件包括預(yù)濾波或網(wǎng)格化等預(yù)處理時，空間拼接測量范圍內(nèi)的空間長度測量誤差voconcatenatedmeasurementEVol:CMV.MV:O3D9標識“CMV.MV”表示空間拼接測量范圍內(nèi)的多視圖測量；標識“O3D”表示與光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)相關(guān)。探測形狀離散最大允許誤差maximumpermissibleprobingformdispersionePForm.Sph.i:j:O3D,MPE技術(shù)規(guī)范允許的PForm.Sph.i:j:O3D的極限值作為最大允許誤差。注：標識“i”表示用于評估的探測點的百分探測尺寸最大允許誤差maximumpermissibleprobingsizePSize.Sph.i:j:O3D,MPE技術(shù)規(guī)范允許的PSize.Sph.i:j:O3D的極限值作為最大允許誤差。注：標識“i”表示用于評估的探測點的百分畸變最大允許誤差maximumpermissibledisDCC:j:O3D,MPE技術(shù)規(guī)范允許的DCC:j:O3D的極限值作為最大允許誤差。平面形狀畸變最大允許誤差maximumpermissibleflat-formdistoDForm.Pla.i:j:O3D,MPE技術(shù)規(guī)范允許的DForm.Pla.i:j:O3D的極限值作為最大允許誤差。EVol:CMV.MV:O3D,MPE技術(shù)規(guī)范允許的EVol.CMV.MV:O3D的極限值作為最大允許誤差。concatenatedmeasurementEBi:CMV.MV:O3D注2：符號“E”表示誤差為空間長度；標識“Bi”表示包含了局部探測誤差（雙向探測）；標識“CMV.MV”表雙向長度測量最大允許誤差maximumEBi:CMV.MV:O3D,MPE技術(shù)規(guī)范允許的EBi:CMV.MV:O3D的極限值作為最大允許誤差。PForm.Sph.i:j:O3DPSize.Sph.i:j:O3DDCC:j:O3DDForm.Pla.i:j:O3DEVol:CMV.MV:O3DEBi:CMV.MV:O3DPForm.Sph.i:j:O3D,MPEPSize.Sph.i:j:O3D,MPEDCC:j:O3D,MPEDForm.Pla.i:j:O3D,MPEEVol:CMV.MV:O3D,MPEEBi:CMV.MV:O3D,MPE5.1環(huán)境條件應(yīng)按如下規(guī)定:在這兩種情況下,用戶可以在允許極限值(坐標測量系統(tǒng)技術(shù)文件中提供)的范圍內(nèi)任用戶有責(zé)任為坐標測量系統(tǒng)提供制造商在技術(shù)5.2.1通則對于本文件中描述的所有檢測，光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)應(yīng)根據(jù)制造商規(guī)定的額定操作條件和默認注：坐標測量系統(tǒng)的標定能包括一系列的調(diào)整和參數(shù)設(shè)置，例如與子系統(tǒng)組件中的幾何形5.2.2實物標準器的材料和表面特性用于實物標準器的材料應(yīng)由制造商說明。不同的材料具有不同的光學(xué)特性，如反射系數(shù)、透深度（體積散射）、顏色或散射特性，這些都能影響檢測值。相較于最大允許誤差，實物標準器的實物標準器的材料、表面特性和顏色應(yīng)在向(潛在)用戶提供的儀器技術(shù)文件中予以物標準器的材料和/或表面特性沒有規(guī)定，則用戶可以如果技術(shù)文件中明確規(guī)定了特定的表面處理方法，例如使用粉末噴涂或類似方法，則在使用驗收檢測或復(fù)檢檢測進行合格判定前，每個實物標準器的長度都應(yīng)校準，并應(yīng)根據(jù)GB/T原始測量數(shù)據(jù)的預(yù)處理作為額定工作條件的一部分，應(yīng)在(潛在)用戶可用的儀器技術(shù)文件中予以預(yù)處理的影響能夠通過附錄F中描述的分辨力檢測來觀察。如果執(zhí)行分辨力檢測，則應(yīng)使用相同的注1：由于用戶的關(guān)注或要求，用戶的規(guī)范能與制造商的規(guī)范相同或不同。例如，要驗證的MP多視圖測量在進行多視圖配準時，檢測人員應(yīng)按制造商操作手冊要求，物標準器上的參考特征和/或?qū)儆趯嵨飿藴势鞯谋砻嫣卣?，這些特征被視為額定工作條件的一以驗證探測性能、長度測量性能和平面形狀測量性能。但在空光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的性能容易受到傳感器光學(xué)系統(tǒng)畸此類誤差在探測檢測或長度測量誤差檢測中不太可能被檢測到，但在實際測量中能對形狀的測量該檢測的原理是在傳感器空間測量范圍內(nèi)，確定光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)是否能在規(guī)定的畸變最大允許誤差范圍內(nèi)進行測量。兩種評價特性：DCC:SMV.SV:O3D和DCC:SMV.MV:O3D。應(yīng)使用由兩個球體(例如球棒或球板)組成的實物標準器，對實物標準器的球心到球心距離進行測Lp≥0.3×L00.02×L0≤?p≤0.2×L0L注1：為滿足6.2.2.3.1第一段中所述要求，對于某些位置如果在傳感器空間測量范圍內(nèi)沿被測方向的最長距離與最短距離之比大于3，則傳感器空間測量范圍包括8個相鄰且大小相似的子空間(體素)。圖1表示了傳感器空間測量范圍為的定位方式應(yīng)使兩個球體的每個可測量區(qū)域完全在一個體素——球體上至少25%的探測點，到傳感器空間測量范圍邊緣的距離，不應(yīng)超過傳感器空間測量范圍為實現(xiàn)12種相對組合，可重新定位坐標測量系統(tǒng)和坐標測量系統(tǒng)與實物標準器之間的相對位置需輕微變化。每個球體位置變化的幅度應(yīng)大于2mm和傳感器117246353482524631734868975654536位置-1位置-2位置-3位置-5位置-6位置-7位置-9位置-10位置-11單視圖畸變測量應(yīng)按照制造商規(guī)定的操作程序進行單次測量。單視圖畸變測量應(yīng)在坐標測量系統(tǒng)測量生成三個畸變誤差值DCC:SMV.MV:O3D。通過12個單視圖測量的組合每個球體至少一半應(yīng)被采集。下，可以使用附著在實物標準器上的參考特征和/或?qū)儆趯嵨飿藴势鞯谋砻嫣卣?，進行多視圖配準和融制造商應(yīng)向用戶說明多視圖配準和融合的操作細節(jié)并提供最佳實DCC:j:O3D是由球中心距的實測值和校準值之間的差值得到，如附錄B所示。DCC:SMV.SV:O3D為36次單視圖測量中最大的畸變誤差。DCC:SMV.MV:O3D為3次多視圖測量中最大的畸變誤差。該誤差評估方法的原理是在傳感器空間測量范圍內(nèi)，確定光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)是否能夠在規(guī)定的探測最大允許誤差內(nèi)進行測量。四種評價特性，如PForm.Sph.D95%:j:O3D,PForm.Sph.All:j:O3D,PSize.Sph.D95%:j:O3D和PSize.Sph.All:j:O3D。采用用于評估畸變誤差相同的實物標準器，對圖1中球體1的形狀及尺寸進行校準作檢測球的尺寸(直徑)應(yīng)在傳感器空間測量范圍內(nèi)最長距離的2%-20%之間。在最長距離大于等于2.5所有被檢測的系統(tǒng)應(yīng)符合坐標測量系統(tǒng)制造商的操作用于評估6.2.2.3中所述畸變誤差的測量數(shù)據(jù)應(yīng)與用于評估探測誤差的測量只有在傳感器空間測量范圍內(nèi)通過使用圖1中球1的球體進行36次單視圖測量所得到的數(shù)據(jù)才能評價PX:SMV.SV:O3D。在傳感器空間測量范圍內(nèi)通過圖1中球1的多視圖測量采集的數(shù)據(jù)應(yīng)用來注:來自95%和100%的檢測結(jié)果之間的差異能夠表征預(yù)先安裝的平滑濾波確定球殼體的厚度，該球殼體包含傳感器空間測量范圍內(nèi)獲得的所有測量點的指定百分比（95%或PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3D。對應(yīng)于100%的探測形狀離散誤差，單視圖測量為PForm.Sph.All:SMV.SV:O3D，多視圖測量的為PForm.Sph.All:SMV.MV:O3D。檢測球直徑的測量值與校準值之間的差值可得到95%的對應(yīng)誤差，多視圖測量PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D，單視圖測量PSize.Sph.D95%:SMV.SV:O3D（可選）。檢測球直徑的測量值與校準值之間的差值可得到100%對應(yīng)的誤差，多視圖測量PSize.Sph.All:SMV.MV:O3D，單視圖測量PSize.Sph.All:SMV.SV:O3D（可選）。平面形狀畸變誤差檢測的原理是在傳感器空間測量范圍內(nèi)，確定光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)是否能夠在規(guī)定的最大允許誤差內(nèi)進行測量。四個評價特性，如DForm.Pla.D95%:SMV.SV:O3D,DForm.Pla.D95%:SMV.MV:O3D,DForm.Pla.All:SMV.SV:O3D和DForm.Pla.All:SMV.MV:O3D。寸應(yīng)如下:——長邊:至少是傳感器空間測量范圍中最長距合處理，然后進行評價。如果檢測的是單視圖測應(yīng)特別注意由于重力影響或支承設(shè)計限制可能引起的檢測平面撓曲，特別是在要求尺寸較大的檢光學(xué)傳感器的位置和方向能對檢測結(jié)果有很大影響。建議在檢測過程中將光學(xué)傳感器設(shè)置在多個點不應(yīng)剔除。自動或手動數(shù)據(jù)剔除不應(yīng)被誤用來抑制噪聲或異常值，并且在檢測MPE時不必使用全局濾制造商可以自行決定，為特殊操作條件（例如指定的濾波）指定額外的位置-1位置-2位置-3位置-5位圖2每個都顯示在兩個不同的視圖中傳感器空在六個位置得到的95%的對應(yīng)誤差為單視圖測量的平面形狀畸變誤差DForm.Pla.D95%:SMV.SV:O3D。通過六個位置的配準和融合得到的所有測量點95%的對應(yīng)誤差是多視圖測量的平面形狀畸變誤差DForm.Pla.D95%:SMV.MV:O3D。DForm.Pla.All:SMV.SV:O3D。通過六個位置的配準和融合得到的所有測量點計算出的100%的對應(yīng)誤差就是多視圖測量的平面形狀畸變誤差DForm.Pla.All:SMV.MV:O3D。該誤差評估方法的原理是通過比較已校準檢測長度的校準值和示值，確定光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)在空間拼接測量范圍內(nèi)，是否能夠在規(guī)定的空間拼接測量范圍的空間長度測量最大允許誤差EVol:CMV.MV:O3D,MPE范圍內(nèi)進行測量。默認情況下，除非制造商另有說明，空間拼接測量范圍的大小被確定為完全封裝在空間拼接測量范圍內(nèi)的最長直線距離大于完全封裝在傳感器空間測量范圍內(nèi)的最長直線或者使用一個作為依次配準傳感器空間測量范圍的一部分而構(gòu)建的公共坐標系。制造商應(yīng)說明空間拼注：完全封裝在空間拼接測量范圍內(nèi)或傳感器空間測量范圍內(nèi)的最長在空間拼接測量范圍內(nèi)沿著實物標準器的測量線方向，每個位置的最長檢測長度應(yīng)至少為最大可制造商應(yīng)規(guī)定已校準檢測長度的CTE的上限和下限（下限可選）。制造商可以校準已校準檢測長度如果已校準檢測長度不是由常規(guī)的CTE材料制成的，則相應(yīng)的E值需用星號(*)標明，并應(yīng)給出校準例如：EVol:CMV.MV:O3D,MPE**殷鋼材料的實物標準器的CTE不大于0.5×10-6K-1,CTE的擴展不確定度(k=2)不大于0.3×10-6K-1。如果制造商對EVol:CMV。MV:O3D,MPE規(guī)范要求的CTE不大于2×10-6K-1，則應(yīng)增加測量常規(guī)CTE材料制成的已校準檢測長度。常規(guī)CTE材料檢測長度應(yīng)大這種額外的檢測應(yīng)在空間測量范圍的中心進行，并重復(fù)三次。制造商可以校準這個檢測長度的通過算術(shù)調(diào)整低CTE檢測長度，從而能夠得出符合GB/T16857.2-2017中附錄D要求的常規(guī)CTE材料檢測長度的行為。但認為該已校準檢測長度仍然被認為具有較低的CTE，且符合此條款的按照制造商規(guī)定的操作程序設(shè)置和標定光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)。這包括使用標定標準器對光學(xué)三件功能，可以自動剔除;如果這是額定工作條件中規(guī)定的操作程序，則可以手動剔除。所有其他測量點注1:數(shù)據(jù)剔除可能需要特定的知識，例如光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的特性制造商可自行決定，為特殊操作條件（例如指定的濾波）指定額外對于使用已校準檢測長度執(zhí)行的每個測量，獲得3個測量結(jié)果。關(guān)于特定類型檢測長度的組合程序空間拼接測量范圍內(nèi)的空間長度測量應(yīng)由制造商配置的單視圖測量組合進行，并在操作手冊或用能在檢測之前或與檢測時在空間拼接測量范圍內(nèi)進行配準，配準方式可能與6.2.2.3.3中使用的不同。允許使用1)或2)中描述的任何一種或兩種參考特征，但用戶復(fù)現(xiàn)檢測所需的信息需在操作手冊或同等可訪問的文檔中說明:1)制造商推薦的在實物標準器上或其附近粘貼具有特定形狀的標記或2)制造商推薦的屬于實物標準器或位于實物標準制造商應(yīng)向用戶披露拼接配準的操作細節(jié)并提供最佳實如果檢測的是無全局坐標系的光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)，能夠采用附錄C規(guī)定的繞行拼接路徑來評估圖3-實物標準器在評估中的位置示例:必需的4個對角線位置1234567注：對于本表中的規(guī)格，坐標系(X,Y,Z)中空間測量范圍的對角假設(shè)為(0,0,0)和(1,1,1)。通過所有105次測量可獲得空間拼接測量范圍內(nèi)的空間長度誤差EVol:CMV.MV:O3D。EVol:CMV.MV:O3D為中心到中心距離的測量值與校準值之差，如B.2所述。如果坐標測量系統(tǒng)有附加裝置（包括第三方軟件），已校準檢測長度的示值可使用系統(tǒng)或熱誤差），——100%總體（用“All”表示）的探測形狀離散誤差pForm.Sph.All:j:O3D不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差pForm.Sph.All:j:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度，其中“j”表示“SMV.SV”——95%總體的探測形狀離散誤差pForm.Sph.D95%:j:O3D不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差——如適用，100%總體（用“All”表示）的探測尺寸誤差pSize.Sph.All:SMV.SV:O3D的絕對值不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差pSize.Sph.All:SMV.SV:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度?！?00%總體（用“All”表示）的探測尺寸誤差pSize.Sph.All:SMV.MV:O3D的絕對值不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差pSize.Sph.All:SMV.MV:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度?！邕m用，95%總體的探測尺寸誤差pSize.Sph.D95%:SMV.SV:O3D的絕對值不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差pSize.Sph.D95%:SMV.SV:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度?！?5%總體的探測尺寸誤差pSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D的絕對值不大于由制造商規(guī)定并的最大允許誤差pSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度。——畸變誤差DCC:j:O3D的絕對值不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差DCC:j:O3D,MPE，按GB/T18779.1——100%總體（用“All”表示）的平面形狀畸變誤差DForm.P許誤差DForm.Pla.All:j:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度，其中“j”表示“SMV.SV”和“SMV.MV”?！?5%總體的平面形狀畸變誤差DForm.Pla.D95%:j:O3D不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差DForm.Pla.D95%:j:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度，其中“j”表示“SMV.SV”和“SMV.MV”?！臻g拼接測量范圍內(nèi)的空間長度測量誤差EVol:CMV.MV:O3D不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差EVol:CMV.MV:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度?！邕m用，空間拼接測量范圍內(nèi)的雙向長度測量誤差EBi:CMV.MV:O3D不大于由制造商規(guī)定的最大允許誤差EBi:CMV.MV:O3D,MPE，按GB/T18779.1的規(guī)定考慮其測量不確定度。..................PForm.Sph.All:SMV.SV:O3DPFormSphAll:SMVMV:O3DPForm.Sph.D95%:SMV.SV:O3PFormSphD95%:SMVMV:OPSize.Sph.All:SMV.SV:O3DPSizeSphAll:SMVMV:O3DPSize.Sph.D95%:SMV.SV:O3DPSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3DForm.Pla.All:SMV.SV:O3DDForm.Pla.All:SMV.MV:O3DDForm.Pla.95%:SMV.SV:O3DDForm.Pla.95%:SMV.MV:O3DEVol:CMVSV:O3DEBi:CMV.MV:O3D7.1.1.5空間拼接測量范圍內(nèi)的空間長按照6.4要求的35組長度測量誤差中，最多5組，3次重復(fù)中可最多1次（且不超過1次）超出合格范圍。每個超出合格范圍的測量應(yīng)在相應(yīng)方位重14253-1的規(guī)定考慮測量不確定度，還不大于相應(yīng)的最大允許誤差，則認為光學(xué)三維坐標測量測，可用于驗證光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的探測和長度測量性能是否符合由制造商和用戶一致同意的最在組織內(nèi)部的質(zhì)量保證體系中，本文件所給出的復(fù)檢檢測能用于驗證光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的探在組織內(nèi)部的質(zhì)量保證體系中，能定期使用簡化的復(fù)檢檢測來驗證坐標測量系統(tǒng)是否滿足最大允許誤差的要求。根據(jù)評估中的實際測量的數(shù)據(jù)，本文件所規(guī)定的光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的期間核范圍可以減少。建議對坐標測量系統(tǒng)進行檢測，以及在發(fā)生本文件中使用的符號不適合用于產(chǎn)品文件、圖紙、數(shù)據(jù)頁等。表3給出了對應(yīng)...,.,...,.,PForm.Sph.i:j:O3DPSize.Sph.i:j:O3DDCC:j:O3DPForm.Pla.i:j:O3DEVol:CMV.MV:O3DEBi:CMVMV:O3DPFormSphi:j:O3DMPEPSize.Sph.i:j:O3D,MPEDCC:j:O3D,MPEDForm.Pla.i:j:O3D,MPEEVol:CMVMV:O3DMPEEBi:CMV.MV:O3D,MPE本附錄描述了雙向長度測量誤差的處理程序，對光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的雙向長度測量性能進行本附錄中描述的雙向長度測量誤差是為了與GB/T16857系列其他部分的性能進行比較評估。由于A.2雙向長度測量檢測結(jié)果處理時，則不應(yīng)根據(jù)溫度或其他補償來手動修改計算機輸出的檢測在圖表中繪制所有的誤差(EBi:CMV.MV:O3D的值)，與EBi:CMV.MV:O3D,MPE的圖表（見GB/T16857.1-2002A2.2基于點云的雙向長度測量誤差綜合分析EBi:CMV.MV:O3D是根據(jù)拼接測量范圍的空間長度測量誤差EVol:CMV.MV:O3D，再加上基于點云的探測形狀離散誤差PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3D和探測尺寸誤差PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D計算得出的，計算公式如下:EVol:CMV.MV:O3D+PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D>0則EBi:CMV.MV:O3D具有一個上限，能用于合格判定。即EBi:CMV.MV:O3D<EVol:CMV.MV:O3D+PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D+PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3DEVol:CMV.MV:O3D+PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D=0則EBi:CMV.MV:O3D具有上限和下限，能用于合格判定。即EBi:CMV.MV:O3D<PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3D和EBi:CMV.MV:O3D>-PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3DEVol:CMV.MV:O3D+PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D<0則EBi:CMV.MV:O3D具有一個下限，能用于合格判定。即EBi:CMV.MV:O3D>EVol:CMV.MV:O3D+PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D-PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3D針對105個待檢測長度采集PForm.Sph.D95%:SMV.MV:O3D和PSize.Sph.D95%:SMV.MV:O3D并計算一次。A.3在產(chǎn)品文件和數(shù)據(jù)頁中注明它們被適當?shù)卣{(diào)整(見本附錄描述)，得到本文件中所述的測量程序獲得的已校準檢測長度被設(shè)計用來探測三種類型的坐標測量系統(tǒng)誤差:1)與坐標測量系統(tǒng)長度測量相關(guān)的幾何誤差和熱誤差;2)如果進行了涉及表面測定的雙向測量，由坐標測量系統(tǒng)固有系統(tǒng)誤差和用于改變光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)位置的功能(如果適用)引起的尺寸誤差;在坐標測量系統(tǒng)的額定工作條件下，在測量面上測得的如，適用端到端交疊)而形成一個長標準器，或其它基于激光長度類型的標準器。在后一種情況下，沒激光干涉儀所指示的距離相比對，應(yīng)確保用步距規(guī)可以測量長度“A”到“B”和“A”到“C”，干涉儀可以測量從初始位置到一系列后續(xù)位置(每對激光干涉儀來說，用于提供已校準檢測長度的每個位移的初始位置都應(yīng)重新測量。B.2.2球板或球棒通過點云用于球心到經(jīng)校準的激光干涉儀和測量面能實現(xiàn)中心到中心測量結(jié)果;測量面可能是平測量包括用激光干涉儀測量坐標測量系統(tǒng)所測量的測量面的位移。測量面與激光干涉儀的反射鏡對于每個長度(每條測量線)，測量已校準檢測長度三次，并記錄通過獲得步距規(guī)的測量線與各自測量平面的高斯擬合平面之間的交點，可使用已校準的步距規(guī)進對于每個長度(每條測量線)，測量已校準檢測長度三次，并記錄中心到中心的測量能使用經(jīng)校準的坐標測量機(通常是經(jīng)校準的笛卡爾式坐標測量機)和附在坐標應(yīng)詳細說明用于組成已校準檢測長度的坐標測量機的可溯源性，如依據(jù)GB/T246注1:對于依據(jù)GB/T16857.2校準的坐標測量機作為本標準規(guī)定的已校準檢測長度的使本附錄中描述的程序僅適用于未使用全局坐標系的坐標考慮一個三角形式且每邊有六個等距球體的檢測標準器用于長度拼接測量，其頂點分別標記為A,則能由于路徑的不同而導(dǎo)致示值誤差的明顯不同。本附錄中描述注1:全局坐標系能夠通過多種技術(shù)建立，例如:注2:如果檢測人員或檢測委托方?jīng)]有關(guān)于待測坐標測量系統(tǒng)是否使用于驗證光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)長度測量性能的典型已校準檢測長度，能由六個或更多等距球面六個或更多的線性等距排列的球面要素、以及在已校準檢測長度之外用于創(chuàng)建部分繞行路徑的未校準圖C.1所示為由六個線性等距排列的球形要素組成的標準器圖C.1常規(guī)拼接路徑示例：由六個線性等距排列的球形A，DCV-B，DCV-C1和DCV-C2來實現(xiàn)繞行拼接路徑。在繞行拼接路徑上建議配置一個未校準的要素UCF-X，以便在繞行拼接路徑上進行與常規(guī)拼接路徑相似的要素測量。在未校準要素上獲得的測量結(jié)果不用注：除已校準要素和未校準要素外，還能使用參考特征進行單個視圖間配圖C.2繞行拼接路徑示例：由六個線性等距排列的球形要素和繞行拼接路徑上未校準的要素組成測頭多點探測量規(guī)一個測量面建立一個基準面(最小二乘擬合)。垂直于這個面的方向是基準方向?qū)τ行╅L度遠遠大于測量面尺寸的量規(guī)(例如已校準檢測長度大于測量面尺寸的10倍)，基準方向L——非由于光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的測量原理是基于接收來自被掃描物體的光，因此檢測到的光信號質(zhì)本附錄介紹了光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)在測量表面特性合作性較差的對象時可能存在的限制。文中提供E.2可能影響光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)測量性能的實物實物標準器的表面顏色與坐標測量系統(tǒng)發(fā)出用于坐標測量的光波長相結(jié)合，能改變坐標測量系統(tǒng)許多國家的、國際的標準和指南都對表面顏色進行了不同的還有許多其他影響因素，例如坐標測量系統(tǒng)的測量原理以及坐標測量系統(tǒng)的制造商或用戶所采典型的光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)可感知被測表面反射的光強。坐標測量系統(tǒng)捕獲的光強不僅取決于實物標準器的表面光澤度，還取決于局部入射角和局部反射角的組合，而局部入射角和局部反射角是用于測量的光在實物標準器表面的反射也能導(dǎo)致極性變化或相移，這些影響因素在某些情況下能固體的表面可能會有一個亞表面層，當光線從外部射入固體并——透明或部分透明亞層，導(dǎo)致亞表面反射、吸收或散射;——熒光能將短波長的光轉(zhuǎn)化為長波長的光，從而使特定波長范圍內(nèi)的光譜反射率增加，有時甚評價這些表面特性的另一種方法是將待測表面與標準試樣表面進行目測比較。具有表面特性校準本文檔中描述的檢測能通過使用表面特性與坐標測這意味著，除了實物標準器的表面特性應(yīng)代表用戶特定工業(yè)部件的表面特性外，坐標測量系檢測結(jié)果可以代表包含坐標測量系統(tǒng)大部分額定工作條件范圍內(nèi)的測量如果坐標測量系統(tǒng)的用戶希望了解坐標測量系統(tǒng)在操作條件涵蓋更廣泛待測表面特性下E.4受實物標準器表面特性影響的光學(xué)三維坐標測量E.4.1使用彩色濾光片的光譜透射率來E.4.1.1光學(xué)彩色濾光片和光學(xué)像準備一種光學(xué)彩色濾光片，其光譜透射率與光譜反射率所代表的預(yù)期表面顏色相似。每個為進行系統(tǒng)標定，需要準備一個光學(xué)像差補償器，該補償器具有足夠高的光學(xué)透射率和透射波長范圍，以及標稱相同光程和在預(yù)期波長附近的已知折射E.4.1.2安裝光學(xué)像差補償器的光學(xué)三維坐單色光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的標定，是根據(jù)制造商的操作手冊和用于件是光學(xué)像差補償器安裝在投影儀光圈和檢測器光圈之在安裝光學(xué)像差補償器的情況下，使用6.2中所述的實物標準器進行性能評估，檢測結(jié)果將E.4.1.3安裝光學(xué)彩色濾色片的光學(xué)三維坐標測量系安裝光學(xué)彩色濾色片與安裝了光學(xué)像差補償器所獲得的檢測結(jié)果之間的差異，能表明標測量系統(tǒng)的測量性能上的差異，這取決于被掃描物體的表E.4.1.4光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)所拍攝的光學(xué)圖像的如果用戶可以對光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)進行調(diào)整，則可能需要根據(jù)安裝的光學(xué)彩色濾光三維坐標測量系統(tǒng)的光學(xué)亮度進行調(diào)整。光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)拍攝的光學(xué)圖像的光學(xué)亮度調(diào)整宜按注：光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)亮度的調(diào)節(jié)能通過改變光學(xué)探測器的曝光時間、改變光源的照明亮E.4.2.1在單色光學(xué)三維坐標測如果坐標測量系統(tǒng)采用單色光源和/或光學(xué)濾波手段，將敏感的光學(xué)顏色限制在預(yù)光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng))，則光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)對如果要進行E.4.2.2和E.4.2.3所述的檢測，則制造商宜向坐標測量系統(tǒng)用戶通常采用例如鹵素?zé)艋螂瘹鉄舻亩嗌鈱W(xué)坐標測量系統(tǒng)，如果未配備任何光學(xué)濾波裝置將敏感的光學(xué)顏色限制在預(yù)期范圍內(nèi)，則不能用E4.2在單色光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的情況下，待掃描物體反射的光強度主要由物體在坐標測量系統(tǒng)敏感顏色范圍內(nèi)的光譜反射率決定。單色光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的表面顏色差異看起來就好像是當表面顏色從合作顏色替換成單色光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)時，光量系統(tǒng)敏感顏色范圍內(nèi)的光譜反射率的差異來進E.4.2.3通過降低光強度評估單色光學(xué)三維坐標根據(jù)E.4.2.2中等效光衰減的計算結(jié)果，通過降低三維光學(xué)坐標測量系統(tǒng)的光強設(shè)置，對單坐標測量系統(tǒng)進行性能評估。有意降低光強時，坐標測量系統(tǒng)的光學(xué)圖像亮度會明顯低于制造商的亮度。特意選擇深色設(shè)置是為了模擬在合作性較差表面顏色上降低光強的具體調(diào)整程序宜遵循制造商向用戶提供的注：光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的亮度調(diào)節(jié)能通過改變光學(xué)探測器的曝光時間、改變光源的照明亮光強降低前后檢測結(jié)果的差異能夠表明單色光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)的測量性能取決于被掃E.4.3使用標稱幾何形狀相同但預(yù)期表面特性不的實物標準器能通過將多個表面特性各不相同的平面試樣放在一個標稱平面上來實現(xiàn)，通過光學(xué)三維坐標測量系統(tǒng)掃描的每個試樣表面的差異能夠表明表面特性對坐標測量系統(tǒng)的影結(jié)構(gòu)分辨力Rs宜與儀器的(計量)分辨力明確區(qū)分，即:輸出數(shù)據(jù)的最小增結(jié)構(gòu)分辨力的影響量：很多影響量表明常用的計算公式“像元=分辨力”并不成立。實際的結(jié)構(gòu)分辨力很低。因此，說考慮到需在相關(guān)位置進行附加移動以實現(xiàn)一維和二維傳感器的三維功能。這些運動的速度會影響校準深度之比應(yīng)至超過0.63(=1?e?的信息。棱邊的質(zhì)量（棱邊的圓整、相互垂直）應(yīng)顯著優(yōu)于要驗證的分辨力。如圖F.2所示，使用傳感波幅和波長應(yīng)校準。如使用旋轉(zhuǎn)對稱結(jié)構(gòu)，則能獲得平面中任何方向使用傳感器測量波形標準器的表面，測量結(jié)果用于確定標準器的波長，如圖F.3所示，該波長通過a)實際波形然）。作為分辨力極限模型，應(yīng)使用一階低通(在控制工程中稱為具有一階延遲的比例），從計量角度來看，階躍是最重要的特征，它以理想形狀的階躍濾波器特性的常數(shù)X1是過零點的切線與距離切線足夠長的階躍高度之間的交點。該常數(shù)能轉(zhuǎn)換為對于空間域的階躍響應(yīng),如公式（F.1）所示:空間截止頻率vg（單位：每毫米線對數(shù)）是傳遞系數(shù)G(jω)的絕對值下降到1?√2時的頻率(極限為λg——截止波長。λg=2π.X1（F.5）嚴格而言，此考慮僅適用于正弦輪廓（波形標準器）。然而，矩形輪廓能用于充分逼近（相半周期寬度的正階躍和負階躍的周期性延伸）。該矩形輪廓由眾多疊加的正弦波（傅里葉級數(shù)）組成。由于高次諧波在很大程度上將因低通濾波而消失，僅考慮基波（正弦波）即可。使用具有生產(chǎn)或獲得多波形標準器不僅要求高，且價格昂貴。因此，在階躍(見圖F.圖F.5—具有指定截止波長周期的正弦波和矩形本附錄使用GB/T18779.5中定義的特定術(shù)語。有關(guān)這些術(shù)語的詳細信息和完G.3探測形狀離散誤差u(PForm)和平面形狀畸變誤差u(DForm.pla)的檢測值不確定度F——標準器的形狀偏差；u(F)——形狀偏差的標準不確定度。G.3.2檢測標準器的形狀偏差，F(xiàn)G.3.3標準器形狀偏差的標準不確定度，u(F)U(F)——校準證書中給出標準器的擴展校準不確定度;k——U(F)的包含因子，也在校準證書中給出。G.4探測尺寸誤差u(psize)、畸變誤差u(Dcc)和長度測量誤差u(Evol)的檢測不確定度u(psize)=√ual+uTE+u+uorm(G.4)al+uTE+uixt+u(G.5)al+uTE+ulign+u(G.6)ucal——標準器尺寸的校準不確定度；ut——由標準器的溫度輸入值引入的不確定度；uAlign——由標準器未找正引入的不確定度；uFixt——由固定標準器引入的不確定度；uForm——由標準器的形狀偏差引入的不確定度。盡管ucal中可能已經(jīng)包含了檢測球形狀的影響，但這里仍包含了檢測球形狀引入的不確定度。因為檢測期間對檢測球的采樣被認為與校準期間可能發(fā)生的采樣無關(guān)。如果已知其它信息表明采樣策略相同，則可以降低uForm的值，但應(yīng)注意，本文件中未包含此操作的詳細說明。G.4.2標準器校準引入的不確定度，ucalucal=(G.7)ucal——校準證書中給出的標準器的擴展校準不確定度；k——ucal的包含因子，也在校準證書中給出。G.4.3標準器校準造成的不確定度，ucTEt——標準器溫度；20℃——標準參考溫度(見GB/T19765)；u(α)——標準器CTE的標準不確定度。L對于不同的檢測有不同的含義，u(psize)（公式G.4u(Evol)（公式G.6）中表示中心距?！绻麡藴势鞯腃TE已校準，定度U(α)宜通過除以包含因子k轉(zhuǎn)換為標準不確定度u(α),u=U/k,k的值也在證書中G.4.4標準器校準輸入溫度引入的不確定度，ut該不確定度分量僅宜考慮用于熱補償坐標測量系統(tǒng)，并且僅當補償依賴于檢測人員通過自己的溫行熱補償時，此不確定度分量宜予以舍棄，即公式G.4至G.6中宜使用ut=0。α——標準器的CTE；u(t)——標準器溫度測量的標準不確定度。L對于不同的檢測有不同的含義，u(psize)（公式G.4u(Evol)（公式G.6）中表示中心距。輸入不確定度u(t)的評估建議考慮以下部分?！脺囟扔嫷男什淮_定度在溫度計的校準證書中給出。證書中給出的擴展不確定度U宜除議取vt?√3的近似值，其中vt是在實物標準器尺寸上的