激光粒度儀獲得顆粒的散射光能譜分布及維護和修理保養(yǎng)

第第頁激光粒度儀獲得顆粒的散射光能譜分布及維護和修理保養(yǎng)激光粒度儀獲得顆粒的散射光能譜分布所謂激光粒度儀是專指通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器。依據(jù)激光散射原理，顆粒大小不同，散射光能量隨散射角度的分布也不同，此種分布稱為散射譜。激光粒度儀就是通過檢測顆粒群的散射譜反演顆粒大小及其分布的。

1、為什麼散射/衍射激光粒度儀必需接受激光作光源

激光粒度儀是通過檢測顆粒的散射譜來分析顆粒大小與分布的，因此能否獲得清楚的散射譜至關(guān)緊要，激光是一種準直性，單色性良好的光源，只有接受激光才能在散射/衍射粒度儀器中得到清楚的散射譜分布。用多種波長混合的光源不可能獲得清楚的散射譜，只能獲得多種散射譜的疊加，因此不能用于粒度儀。

在多種激光器中半導體激光與氣體激光相比，氣體光源波長短，線寬窄，單色性好，穩(wěn)定性遠優(yōu)于半導體光源。因此微納與大多數(shù)專業(yè)公司選用了氣體激光器作為測量光源。

2、激光粒度儀與其他方法相比有什么優(yōu)勢？

激光粒度儀的光路實際是一個二維傅立葉變換器，因此具有傅立葉變換的很多特點：1、全部顆粒的散射信息是以光速并行傳輸?shù)竭_光電探測器的，因此速度快無與倫比；2、探測器可以做的特別窄大約幾個微米，因此辨別率特別高；3、測試過程顆粒散射不會受到人為因素的干擾，因此測試重復性超群；4、依據(jù)傅立葉變換的平移不變性，顆粒在樣品池中的運動速度不會影響頻譜分布，因此適用于動態(tài)顆粒的測試，這是其他粒度測試方法所無法比擬的，這成為了顆粒在線測試理論依據(jù)。

3、激光粒度儀測量下限是多少？

激光粒度儀測量粒度的原理是MIE散射理論。MIE散射理論用數(shù)學語言精準明確描述了折射率為n、吸取率為m的特定物質(zhì)的，粒徑為d球型顆粒，在波長為λ單色光照射下，散射光強度隨散射角θ變化的空間分布函數(shù)，此函數(shù)也稱為散射譜。依據(jù)MIE散射理論可以看出顆粒越大，前向散射越強而后向散射越弱；隨著顆粒粒徑的減小，前向散射快速減弱而后向散射漸漸加強。激光粒度儀正是通過設(shè)置在不同散射角度的光電探測器陣列，測試顆粒的散射譜，由此確定顆粒粒徑的大小。這種散射譜對于特定顆粒在空間具有穩(wěn)定分布的特征，因此稱此種原理的儀器為靜態(tài)激光粒度儀。

但是當顆粒粒徑小到確定的程度dm，與另一種更小顆粒dm—δ相比，假如二種顆粒的散射譜特別相像，以至不能被光電探測器陣列所辨別，就認為達到了激光粒度儀的測量極限，此粒徑dm就是激光粒度儀的測量下限。

此極限還與激光波長有關(guān)，討論表明紅光635nm波長的激光測量極限為50納米，而藍光405nm波長的激光測量理論極限為20nm。

理論上，靜態(tài)激光粒度儀欲辨別納米級的顆粒至少需要二個條件：1、具