NB-T 47013.11-2023 承壓設(shè)備無損檢測 第11部分：射線數(shù)字成像檢測

中華人民共和國能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)承壓設(shè)備無損檢測第11部分：射線數(shù)字成像檢測2023-10-11發(fā)布根據(jù)《中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)化法》《能源標(biāo)準(zhǔn)化管理辦法》,國家能源局批準(zhǔn)《電動(dòng)汽車充放電雙向互動(dòng)第1部分：總則》等261項(xiàng)能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)(附件1)、《Specificationforgeotechnicaltestsofoffshorewindpowerprojects》等42項(xiàng)能源行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)外文版(附件2),現(xiàn)予以發(fā)布。附件：行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)目錄二○二三年十月十一日行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)目錄序號標(biāo)準(zhǔn)編號標(biāo)準(zhǔn)名稱代替標(biāo)準(zhǔn)采標(biāo)號出版機(jī)構(gòu)批準(zhǔn)日期實(shí)施日期(略)NB/T47013.11—2023承壓設(shè)備無損檢測第11部分：射線數(shù)字成像檢測NB/T47013.11—2015北京科學(xué)技術(shù)出版社2023-10-112024-04-11NB/T47013.14—2023承壓設(shè)備無損檢測第14部分：射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測NB/T47013.14—2016北京科學(xué)技術(shù)出版社2023-10-112024-04-11(略)前言 m引言 v 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14一般要求 45檢測方法 86圖像質(zhì)量及評定 7缺陷的識(shí)別與測量 8結(jié)果評定與質(zhì)量分級 9圖像保存與存儲(chǔ) 10檢測記錄和報(bào)告 附錄A(規(guī)范性)系統(tǒng)分辨率核查方法 附錄B(資料性)典型透照方式 附錄D(資料性)環(huán)焊縫最小透照次數(shù)計(jì)算 附錄E(規(guī)范性)雙線型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別 附錄F(規(guī)范性)歸一化信噪比測試方法 參考文獻(xiàn) NB/T47013.11—2023本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的本文件是NB/T47013《承壓設(shè)備無損檢測》的第11部分。NB/T47013已經(jīng)發(fā)布了以下部分： ——第3部分：超聲檢測；——第4部分：磁粉檢測；—第5部分：滲透檢測； 第6部分：渦流檢測；——第7部分：目視檢測； 第9部分：聲發(fā)射檢測； 第10部分：:衍射時(shí)差法超聲檢測； —第12部分：漏磁檢測；——第13部分：.脈沖渦流檢測；—第14部分：射線計(jì)算機(jī)輔助成像檢測；—第15部分：相控陣超聲檢測。本文件代替NB/T47013.11—2015《承壓設(shè)備無損檢測第11部分：X射線數(shù)字成像檢測》,與NB/T47013.11—2015相比，除題目和結(jié)構(gòu)調(diào)整以及編輯性改動(dòng)之外，主要技術(shù)變化如下：a)增加了引言；b)按照NB/T47013.11—2015第1號修改單內(nèi)容進(jìn)行修改；c)擴(kuò)大了文件使用范圍，增加了Ir192和Se75射線源(見1.4);d)增加了Ir192和Se75射線源應(yīng)用的規(guī)定(見4.2.2、5.7.2.3～5.7.2.5、5.7.3.2、表3、表12、表13);e)增加了與Ir192和Se75射線源相關(guān)引用文件(見第2章);g)增加了與文件相關(guān)的術(shù)語和定義(見3.4、3.9、3.16、3.19～3.35);h)更改了與文件相關(guān)的術(shù)語和定義(見3.7,2015版的3.5、3.33、3.17);i)更改了關(guān)于X射線機(jī)的要求(見4.2.1);j)增加了A級檢測技術(shù)等級的質(zhì)量要求(見4.3.1、表5～表12);k)補(bǔ)充了工藝驗(yàn)證內(nèi)容(見4.4.4、10.1、10.2);1)增加了檢測時(shí)機(jī)和檢測區(qū)的說明(見5.1、5.2);m)補(bǔ)充了工藝規(guī)程的相關(guān)因素(見表1);n)更改了最小焦距公式(見5.4.2):o)增加了關(guān)于成像系統(tǒng)校正的要求(見5.7.1):p)增加了標(biāo)樣的要求(見5.9);q)刪除了最佳放大倍數(shù)推導(dǎo)過程(見2015版的5.2.4);r)更改了圖像灰度范圍的要求(見6.2.3):s)更改了歸一化信噪比的部分要求(見表5、表6):t)更改了圖像分辨率要求的部分內(nèi)容(見表10～表12);u)增加了缺陷識(shí)別對圖像顯示的要求(見7.1.2):v)增加了b值和環(huán)焊縫最小透照次數(shù)的計(jì)算(見附錄C、附錄D)。本文件由全國鍋爐壓力容器標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC262)提出并歸口。本文件起草單位：中國特種設(shè)備檢測研究院、南通中集能源裝備有限公司、中國特種設(shè)備檢驗(yàn)協(xié)會(huì)、天津市特種設(shè)備監(jiān)督檢驗(yàn)技術(shù)研究院、北京嘉盛智檢科技有限公司、甘肅省特種設(shè)備檢驗(yàn)檢測研究院、煙臺(tái)華科檢測設(shè)備有限公司、廣東瑁相科技有限責(zé)任公司、東方電氣集團(tuán)東方鍋爐股份有限公司、廊坊北檢無損檢測有限公司、成都中核高通同位素股份有限公司、四川川鍋鍋爐有限責(zé)任公司、廣州聲華科技股份有限公司、萬睿視影像設(shè)備(中國)有限公司、成都華宇檢測科技有限本文件主要起草人：梁麗紅、鄭暉、代淮北、林樹青、熊麗華、侯金剛、劉懌歡、帥家盛、李滄、陳小明、陳興發(fā)、張宏亮、王建華、張利雄、顏春松、夏舞艷、王東、唐良明。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：—2015年首次發(fā)布為NB/T47013.11—2015《承壓設(shè)備無損檢測第11部分：X射線數(shù)字成像檢測》; -本次為第一次修訂。射線數(shù)字成像檢測(DigitalRadiographicTesting,簡稱DR檢測)是一種利用數(shù)字探測器在射關(guān)單位制定了應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)，并列為NB/T47013《承壓設(shè)備無損檢測》的第11部分。本文件嚴(yán)格執(zhí)行特種設(shè)備行業(yè)的規(guī)范應(yīng)用。本次修訂補(bǔ)充了γ射線源的應(yīng)用，完善了其與NB/T47013.2和NB/T47013.14的一致性問題。1承壓設(shè)備無損檢測第11部分：射線數(shù)字成像檢測1范圍1.1本文件規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料受壓元件的熔化焊焊接接頭的射線數(shù)字成像檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。用于制作焊接接頭的金屬材料包括鋼、銅及銅合金鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。1.2本文件適用于承壓設(shè)備受壓元件的制造、安裝、在用檢測中板及管的對接接頭對接焊縫(以下簡稱“對接焊縫”)的射線數(shù)字成像檢測。1.3本文件適用的成像器件為數(shù)字探測器。1.4本文件適用的射線源為X射線源和1192、Se7Sy射線源，其中X射線機(jī)最高管電壓不超過600kV。1.5承壓設(shè)備支承件和結(jié)構(gòu)件的焊接接頭、插人式和安放式接管角接接頭對接焊縫(以下簡稱“管座角焊縫”)的射線數(shù)字成像檢測，可參照使用2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T14058￥射線探傷機(jī)射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：絲型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)值的測定JB/T7902無損檢測線型像質(zhì)計(jì)通用規(guī)范JB/T11608無損檢測儀器業(yè)用X射線探傷裝置NB/T47013.1承壓設(shè)備無損檢測。第1部分：通用要求NB/T47013.2承壓設(shè)備無損檢測第2部分：射線檢測3術(shù)語和定義NB/T47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用手本文件。射線數(shù)字圖像的基本組成單元。射線數(shù)字圖像由點(diǎn)組成，組成圖像的點(diǎn)稱作像素。數(shù)字探測器DDAdigitaldetectorarray射線光子轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的電子裝置，簡稱探測器。2圖像靈敏度imagesensitivity單位長度上分辨兩個(gè)相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的能力，單分辨率和分辨力在數(shù)值上互為2倍倒數(shù)。為線對每毫米(lp/mm)。辨率，單位為線對每毫米(lp/mm)?，F(xiàn)象。NB/T47013.11—2023在暗場圖像中出現(xiàn)比相鄰像素灰度值過高或過低的白點(diǎn)或黑點(diǎn)。亦指校正后的圖像，其輸出值遠(yuǎn)離圖像均值的異常點(diǎn)。壞像素的存在形式有：單點(diǎn)、兩個(gè)相鄰點(diǎn)和多個(gè)相鄰點(diǎn)、成行或成列。檢測系統(tǒng)與被檢工件無相對連續(xù)運(yùn)動(dòng)時(shí)的射線數(shù)字成像，成像結(jié)果為單幅圖像。本文件中描述的除平面工件外的其他工件。射線源-探測器距離Fsource-to-DDAdistance沿射線束中心線方向上測量的射線源至探測器之間的距離，即焦距。射線源-被檢工件距離fsource-to-objectdistance在一次透照區(qū)域內(nèi)測量的射線源至被檢工件表面(射線源側(cè))之間的最小距離。被檢工件-探測器距離bobject-to-DDAdistance在一次透照區(qū)域內(nèi)測量的被檢工件表面(射線源側(cè))至探測器之間的最大距離。射線透照方向上材料的公稱厚度。多層透照時(shí)，透照厚度為通過各層材料公稱厚度之和。一次透照長度范圍內(nèi)，射線束穿過母材的最大厚度和最小厚度之比，也稱為穿透厚度比。4NB/T47013.11—2023灰度值greyvalue表征數(shù)字圖像中像素明暗程度的數(shù)值。檢測不等厚工件，獲得的滿足技術(shù)等級要求的透照厚度范圍。單幀曝光時(shí)間exposuretimeperframe從探測器開始采集到輸出一幀圖像的時(shí)間探測器單位時(shí)間內(nèi)采集圖像的幀數(shù)(幅數(shù)),單位為幀數(shù)每秒(fsA如，1f/s表示1秒采集1幀圖像；10f/s表示1秒采集10.頓圖像。數(shù)值與單幀曝光時(shí)間互為倒數(shù)用于標(biāo)定圖像中特征天小的已知尺寸的試樣。在檢測過程中，對檢測系統(tǒng)和被檢工件實(shí)施支撐，完成相對運(yùn)劫的裝留探測器校正后輸出的圖像N數(shù)字圖像處理digitalimageprocessingN利用計(jì)算機(jī)對數(shù)字圖像進(jìn)行處理的方法和技術(shù)。長寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等體積型缺陷。長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等體積型缺陷4一般要求4.1檢測人員4.1.1從事射線數(shù)字成像檢測人員(以下簡稱“檢測人員”)的一般要求應(yīng)符合NB/T47013.1的有關(guān)規(guī)定。4.1.2檢測人員應(yīng)按相關(guān)法規(guī)的要求，在上崗前接受輻射安全與防護(hù)知識(shí)培訓(xùn)，并取得相應(yīng)射線源的考核合格證書。4.1,3檢測人員應(yīng)了解與射線數(shù)字成像技術(shù)相關(guān)的計(jì)算機(jī)知識(shí)、數(shù)字圖像處理知識(shí)，掌握相應(yīng)的5NB/T47013.11—2023計(jì)算機(jī)及檢測軟件的基本操作方法。4.2檢測系統(tǒng)與器材4.2.1X射線機(jī)4.2.1.1應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)和焦距，選擇X射線機(jī)的能量范圍。4.2.1.2焦點(diǎn)的選擇應(yīng)與所采用的探測器和透照布置相匹配。4.2.1.3采用的X射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)符合JB/T11608的規(guī)定，使用性能測試條件及測試方法4.2.1.4供應(yīng)商應(yīng)提供X射線管的焦點(diǎn)及過和輻射角度4.2.1.5宜選用高頻X射線機(jī)4.2.2γ射線機(jī)4.2.2.1應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)和焦距，選擇γ射線源的種類和活度。4.2.2.2源尺寸的選擇應(yīng)與所采用的探測器和透照布置相匹配。4.2.2.3采用的γ射線機(jī)其性能指標(biāo)應(yīng)符合GB/T14058的規(guī)定4.2.3探測器4.2.3.1應(yīng)根據(jù)被檢工件的現(xiàn)格、檢測技術(shù)等級、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，選擇與射線源焦點(diǎn)(或源)尺寸相匹配的探測器。4.2.3.2包含面陣列探測器」線陣列探測器及其配件剿4.2.3.3動(dòng)態(tài)范圍應(yīng)不小于2000:14.2.3.4A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)應(yīng)不低于12bifa)面陣列探測器中三3風(fēng)3像素區(qū)域電環(huán)像素不得趣過3企；成行跳成列)壞像素不得超過3條，且苯得位于距離中心位置200像素以內(nèi)；成像區(qū)域內(nèi)環(huán)像素不超過總像素的1%。b)線陣列探測器中：和鄰的壞像素不充許超過2全c)探測器供成商應(yīng)提低出店壞像素表和環(huán)像素校正防法。4.2.3.6DR系統(tǒng)供應(yīng)商應(yīng)提供有效的探測器校正方法4.2.3.7DR系統(tǒng)性能指標(biāo)如之壞像素、靈敏度、分辨率、線性范胞形信噪比、厚度寬容度、圖像殘影等，其測試條件及測試方法按相應(yīng)國家或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定執(zhí)行義并給出工作溫度和濕度的要求。4.2.3.8DR系統(tǒng)質(zhì)量證明文件中至少應(yīng)給出操測器類型。因煉體屏參數(shù)(如有)、像素尺寸、成像面積、射線能量適用范圍、量子轉(zhuǎn)換效率、采集幀頻等枝術(shù)參數(shù)。4.2.4計(jì)算機(jī)系統(tǒng)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)的基本配置依據(jù)采用的探測器系統(tǒng)對性能和采集幀頻的要求而確定。宜配備容量不低于512MB的內(nèi)存、不低于40GB的硬盤及高亮度高分辨率顯示器、刻錄機(jī)、網(wǎng)卡等。顯示器應(yīng)滿足如下最低要求：a)亮度不低于250cd/m2;b)灰度等級不小于8bit;c)圖像顯示分辨率不低于1024×768;d)顯示器像素點(diǎn)距小于0.3mm。6NB/T47013.11—20234.2.5系統(tǒng)軟件要求4.2.5.1系統(tǒng)軟件是射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)的核心單元，完成圖像采集、圖像處理、缺陷幾何尺寸測量、缺陷標(biāo)注、圖像存儲(chǔ)、輔助評定等功能。4.2.5.2應(yīng)包含疊加降噪、調(diào)節(jié)對比度及亮度等基本數(shù)字圖像處理功能。4.2.5.3應(yīng)包括信噪比測量、分辨率測量、缺陷標(biāo)記、尺寸測量、尺寸標(biāo)定功能。4.2.5.4應(yīng)具有不小于4倍的圖像放大功能。4.2.5.5應(yīng)具備采集圖像相關(guān)信息的瀏覽和查找功能。4.2.5.6宜具備多種圖像格式的轉(zhuǎn)換功能。4.2.5.7可自動(dòng)生成檢測報(bào)告。4.2.5.8應(yīng)保存原始圖像。4.2.6檢測工裝4.2.6.1應(yīng)根據(jù)被檢工件進(jìn)行設(shè)計(jì)，并滿足檢測要求。4.2.6.2宜有平移、旋轉(zhuǎn)、速度連續(xù)可調(diào)等功能，并保證較高運(yùn)轉(zhuǎn)精度和穩(wěn)定性。4.2.6.3檢測工裝的步進(jìn)運(yùn)動(dòng)應(yīng)與探測器的數(shù)據(jù)采集匹配。4.2.6.4對于在役設(shè)備的檢測，應(yīng)根據(jù)現(xiàn)場的環(huán)境和檢測工況，合理固定檢測儀器和設(shè)備。4.2.7像質(zhì)計(jì)4.2.7.1本文件采用的像質(zhì)計(jì)包括線型像質(zhì)計(jì)和雙線型像質(zhì)計(jì)，像質(zhì)計(jì)供應(yīng)商應(yīng)提供相應(yīng)質(zhì)量證明文件。4.2.7.2線型像質(zhì)計(jì)的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.1和JB/T7902的規(guī)定，雙線型像質(zhì)計(jì)的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.5的規(guī)定。4.2.8檢測系統(tǒng)使用性能應(yīng)結(jié)合被檢工件和本文件的要求，根據(jù)檢測系統(tǒng)各部分性能指標(biāo)選擇合適的檢測設(shè)備和器材，并提供滿足上述設(shè)備和器材性能指標(biāo)及系統(tǒng)軟件功能的測試證明文件。檢測系統(tǒng)的使用性能應(yīng)符合本文件規(guī)定的圖像質(zhì)量要求。4.2.9校準(zhǔn)或運(yùn)行核查查并記錄。4.2.9.2至少每年應(yīng)對使用中的曝光曲線進(jìn)行1次核查。當(dāng)射線機(jī)和探測器的重要部件更換或經(jīng)過修理后，應(yīng)重新制作曝光曲線。4.2.9.3每3個(gè)月至少對探測器壞像素進(jìn)行1次核查，并記錄和校正。4.2.9.4存在如下情況應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執(zhí)行。a)檢測系統(tǒng)有改變時(shí)；b)正常使用條件下，每3個(gè)月應(yīng)至少核查1次；c)系統(tǒng)停止使用1個(gè)月后重新使用時(shí)。4.3檢測技術(shù)等級4.3.2檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。4.4檢測工藝文件4.4.1檢測工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書。4.4.2工藝規(guī)程的內(nèi)容除應(yīng)滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定表1中所列相關(guān)因素的具體范圍或要求；如相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時(shí)，應(yīng)重新編制或修訂工藝規(guī)程。序號相關(guān)因素1被檢測工件的結(jié)構(gòu)、類型、規(guī)格(形狀、尺寸、壁厚和材質(zhì))2檢測設(shè)備器材(種類、規(guī)格、主要技術(shù)參數(shù))3檢測技術(shù)等級4檢測工藝(透照方式、透照參數(shù)、幾何參數(shù)、運(yùn)動(dòng)參數(shù)等)5圖像質(zhì)量要求4.4.3應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測要求編制操作指導(dǎo)書，其內(nèi)容除應(yīng)滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)至少包括：a)檢測技術(shù)等級；b)檢測設(shè)備器材[包括射線源(種類和規(guī)格)、探測器(規(guī)格)、濾波板、像質(zhì)計(jì)、標(biāo)記、檢測工裝(如有)、檢測系統(tǒng)軟件名稱等];c)檢測工藝參數(shù)(包括管電壓、曝光量、透照幾何參數(shù)、被檢工件運(yùn)動(dòng)形式和速度、透照方d)檢測標(biāo)識(shí)；e)圖像評定(包括灰度、歸一化信噪比、圖像分辨率、圖像靈敏度、標(biāo)樣等);f)驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)；g)工藝驗(yàn)證圖像編號。4.4.4工藝驗(yàn)證4.4.4.1操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行全部工藝驗(yàn)證。4.4.4.2工藝驗(yàn)證可采用對比試件通過專門的透照試驗(yàn)進(jìn)行，或以每一種工藝的第一批圖像作為驗(yàn)證依據(jù)。在這兩種情況下，作為依據(jù)的驗(yàn)證圖像均應(yīng)做出標(biāo)識(shí)。4.4.4.3應(yīng)保證射線源的擺放與實(shí)際檢測保持一致。4.4.4.4應(yīng)擺放線型和雙線型像質(zhì)計(jì)，線型像質(zhì)計(jì)的放置與實(shí)際檢測一致。4.4.4.5雙線型像質(zhì)計(jì)放置在靠近焊縫的母材上，長度方向與探測器行或列的夾角為2°~5°,且在有效評定區(qū)域中心的上下(垂直焊縫)左右(平行焊縫)放置(如圖1示例),四個(gè)方位的圖像分辨率均應(yīng)符合要求。8NB/T47013.11—2023a)對接焊縫示例b)母材示例4.4.4.6對于小徑管檢測，雙線型像質(zhì)計(jì)(長度方間)應(yīng)沿小徑管軸向放置在焊縫兩側(cè)的母材上，兩個(gè)方位的圖像分辨率均應(yīng)滿足要求4.5安全要求4.5.1檢測環(huán)境應(yīng)滿足檢測素統(tǒng)運(yùn)行對環(huán)境(溫度、濕度、接地人電磁輻射、振動(dòng)等)的要求。4.5.2射線輻射防護(hù)條件應(yīng)符合GB18871、GBZL17的有關(guān)規(guī)定檢測人員應(yīng)佩戴個(gè)人劑量計(jì)，整攜帶劑量報(bào)警儀5檢測方法5.1檢測時(shí)機(jī)5.1.1檢測時(shí)機(jī)應(yīng)滯定相規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。5.1.2除非另有規(guī)定，檢測質(zhì)在焊接完成后進(jìn)行，對有延達(dá)裂紋傾向的材料，至少應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行檢測。5.2檢測區(qū)檢測區(qū)寬度應(yīng)滿足相關(guān)法規(guī)之標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，向應(yīng)滿是合同雙方商定的其他技術(shù)要求，檢測區(qū)包括焊縫及相難王焊縫邊緣至少為5mm的相鄰時(shí)材區(qū)域。5.3透照方式5.3.1應(yīng)根據(jù)被檢工件結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和技采條件的要求選擇適宜的透照方式。除小徑管允許選擇雙壁透照或合同各方商定選擇雙壁透照方式的特殊情況外，具備單壁透照條件時(shí)，宜選擇單壁透照方式。焊接接頭的典型透照方式參見附錄B5.3.2采用步進(jìn)成像方式采集圖像時(shí)，應(yīng)保證被檢工件的運(yùn)動(dòng)速度與圖像采集幀頻相匹配，同時(shí)應(yīng)保證X射線主射束垂直透照(或γ源準(zhǔn)直后對準(zhǔn)子被檢工件并到達(dá)探測器的有效成像區(qū)域。5.3.3圖像采集的重疊區(qū)域長度應(yīng)不小于10mm。5.3.4小徑管環(huán)向焊接接頭采用雙壁雙影透照方式，當(dāng)同時(shí)滿足下列條件時(shí)應(yīng)采用傾斜透照橢圓a)T(壁厚)≤8mm;b)g(焊縫寬度)≤D?/4。應(yīng)控制圖像的開口寬度(上下焊縫投影最大間距)在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時(shí)，可采用垂直透照重疊成像。5.4透照幾何參數(shù)的選擇5.4.1透照幾何參數(shù)參見附錄B。5.4.2所選用的射線源至被檢工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求：b)AB級射線數(shù)字成像檢測技術(shù)：f≥10d·bT1c)B級射線數(shù)字成像檢測技術(shù)，f≤15a·bT其中：d——焦點(diǎn)(或源)盡中5.4.3被檢工件表面(射線源側(cè)上至探測器之間的最大間配多值計(jì)算參考附錄C。5.4.4采用射線源在內(nèi)中心透照方式，當(dāng)圖像質(zhì)量符合6.2.5和62.6的要求時(shí)，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的50%5.4.5采用射線源在內(nèi)偏心透照方式，當(dāng)圖像質(zhì)量符谷62.5和62.6的要求時(shí)，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的20%理論上，對于給定的險(xiǎn)測系統(tǒng)，可由式(1)計(jì)算最佳放大倍數(shù)。 焦點(diǎn)(或源】尺寸u.系統(tǒng)固有不清晰度(約等于探測器像素大小的2倍)5.5透照方向透照時(shí)射線束中心通常垂重指向透照區(qū)中心，需要時(shí)可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。5.6非平面工件最小透照次數(shù)的確定5.6.1小徑管環(huán)向焊接接頭100%m成像的透照次數(shù)5.6.1.1采用傾斜透照橢圓成像時(shí)：5.6.1.2垂直透照重疊成像時(shí)，一般應(yīng)相隔120或60°透照3次。5.6.1.3由于結(jié)構(gòu)原因不能按5.6.1.1或5.6.1.2規(guī)定的間隔角度進(jìn)行多次透照時(shí)，經(jīng)合同雙方商定，可不再強(qiáng)制限制5.6.1.1或5.6.1.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評定范圍內(nèi)灰度、信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測報(bào)告中對有關(guān)情況進(jìn)行說明。5.6.2不要求100%檢測的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定，并保存相關(guān)記錄。5.6.3對于曲面外徑大于100mm的被檢工件，透照厚度比K值應(yīng)滿足表2的規(guī)定。5.6.4對于曲面外徑大于100mm的被檢工件，環(huán)向焊接接頭(環(huán)焊縫)最小透照次數(shù)的計(jì)算見附錄D,實(shí)際檢測時(shí)的透照次數(shù)應(yīng)不小于計(jì)算值檢測技術(shù)等級AB級B級縱向焊接接頭環(huán)向焊接接頭5.7透照參數(shù)的選擇應(yīng)根據(jù)采用的檢測系統(tǒng)、被檢工件的特點(diǎn)和圖像質(zhì)量的要求，選擇適當(dāng)?shù)纳渚€能量、曝光量等參數(shù)。在實(shí)際透照前，應(yīng)按透照選擇的參數(shù)進(jìn)行成像系統(tǒng)校正。5.7.1校正5.7.1.1有以下情況之一，應(yīng)進(jìn)行偏置校正：a)開始檢測前；b)發(fā)現(xiàn)有殘影時(shí)；c)檢測人員認(rèn)為有必要時(shí)。5.7.1.2有以下情況之一，應(yīng)進(jìn)行增益校正：b)檢測人員認(rèn)為有必要時(shí)。5.7.2射線能量5.7.2.1圖2給出了不同材料、不同透照厚度可采用的X射線最高管電壓透照厚度W/mm標(biāo)引序號說明：1——銅及銅合金、鎳及鎳合金；2——鋼；3——鈦及鈦合金；4——5.7.2.2在保證圖像質(zhì)量符合本文件的要求下，管電壓可適當(dāng)提高，宜使用濾波板。5.7.2.3對鋼、銅和鎳基合金材料，采用γ射線源的透照厚度范圍見表3。在保證圖像質(zhì)量滿足要求的前提下，且信噪比應(yīng)高于本文件規(guī)定的相應(yīng)技術(shù)等級的1.4倍，經(jīng)合同雙方商定，γ射線源透b)Se75透照厚度可低于10mm。γ射線源A級AB級Se7510≤W≤4010≤W≤4014≤W≤4020≤W≤10020≤W≤9020≤W≤805.7.2.4采用Se75射線源透照鋁和鈦合金時(shí)，透照厚度范圍：a)A級和AB級，35mm≤W≤120mm;5.7.2.5使用γ射線源進(jìn)行檢測時(shí)，應(yīng)當(dāng)在源輸送到指定位置后開始采集圖像。5.7.3曝光量5.7.3.1X射線檢測的曝光量等于單幀圖像曝光時(shí)間和管電流的乘積，單位為毫安秒(mA·s)。5.7.3.2γ射線檢測的曝光量等于單幀圖像曝光時(shí)間和射線源當(dāng)前活度的乘積，單位為貝可秒5.7.3.3增加曝光量可提高信噪比，提高圖像質(zhì)量。5.7.4采集幀數(shù)增加采集幀數(shù)進(jìn)行多幀圖像疊加平均可提高信噪比，提高圖像質(zhì)量。5.8標(biāo)記5.8.1透照部位的標(biāo)記由識(shí)別和定位標(biāo)記組成。5.8.2識(shí)別標(biāo)記一般包括產(chǎn)品編號、焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記，擴(kuò)大檢測比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測標(biāo)記。識(shí)別標(biāo)記可由計(jì)算機(jī)寫入。5.8.3定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記“爭”和搭接標(biāo)記“1”。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向。搭接標(biāo)記是透照分段標(biāo)記，一般由適當(dāng)尺寸的鉛制或其他適宜的重金屬制數(shù)字、拼音字母和符號等構(gòu)成。當(dāng)鉛制搭接標(biāo)記用數(shù)字或字母表示時(shí)，可省去中心標(biāo)記。5.8.4對于一條焊接接頭的連續(xù)檢測，在檢測的起始位置做定位標(biāo)記“肀”,其中“→”指向檢測方向?？衫脭?shù)字或字母表示分段標(biāo)記。對環(huán)向焊接接頭檢測可按順時(shí)針方向用記號筆進(jìn)行標(biāo)識(shí)；對縱向焊接接頭檢測可按左到右方式進(jìn)行標(biāo)識(shí)，同時(shí)應(yīng)與圖像標(biāo)記匹配。5.8.5標(biāo)記應(yīng)符合NB/T47013.2的有關(guān)規(guī)定，且應(yīng)放置在檢測區(qū)以外的部位。所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)在有效評定范圍內(nèi)成像。5.9標(biāo)樣5.9.1標(biāo)樣作為圖像中測量特征時(shí)的尺寸標(biāo)定試樣，尺寸標(biāo)定的詳細(xì)步驟見7.2.1。5.9.2標(biāo)樣應(yīng)放置在探測器側(cè)的工件表面，在有效評定范圍內(nèi)成像，且不干擾有效評定范圍內(nèi)的5.9.3標(biāo)樣長度應(yīng)不低于15mm。應(yīng)采用濾波板、準(zhǔn)直器(光闌)、鉛箔、鉛板等適當(dāng)措施，減少散射線和無用射線。6.1圖像質(zhì)量6.1.1一般要求6.1.1.1應(yīng)同時(shí)保證灰度、圖像靈敏度、圖像分辨率和歸一化信噪比的要求。6.1.1.2測定圖像質(zhì)量的像質(zhì)計(jì)分為線型像質(zhì)計(jì)和雙線型像質(zhì)計(jì)6.1.1.4圖像分辨率采用雙線理像質(zhì)計(jì)測定6.1.2線型像質(zhì)計(jì)6.1.2.1線型像質(zhì)計(jì)放置原則6.1.2.1.1單壁單影或雙壁雙影透照應(yīng)放置在射線源側(cè)被檢工件表面6.1.2.1.2雙壁單影透照應(yīng)放置在探測器側(cè)被檢上件表面。6.1.2.1.3當(dāng)線型像質(zhì)計(jì)放置在探測器側(cè)時(shí)，應(yīng)在適當(dāng)位置放置鉛字一F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的圖像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同現(xiàn)在圖像主[且應(yīng)在檢測報(bào)告中注明上6.1.2.2線型像質(zhì)計(jì)的使用6.1.2.2.1線型像質(zhì)計(jì)的科應(yīng)與被檢王件的材料相同或相近。在滿足圖像靈敏度要求的前提下，低密度線型像質(zhì)計(jì)可用量高密度材料的檢測6.1.2.2.2線型像質(zhì)計(jì)的和、材料代碼和不同材料線型像質(zhì)計(jì)適用的范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。線型像質(zhì)計(jì)材料代號Ni(像于Ti(鐵)AL(鋁)線型像質(zhì)計(jì)材料碳素鋼鎳鉻合金工業(yè)純鐵業(yè)純鋁3號純銅適用的材料范圍鋼鎳、鎳合金鐵合金敏、鋁合金銅、銅合金6.1.2.2.3線型像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在爆縫的一端，在被檢測區(qū)長度約一4位置，金屬線應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)線置于外側(cè)。當(dāng)一張圖像上同時(shí)遇船同規(guī)格，同類型的多條爆縫時(shí)，線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。6.1.2.2.4原則上每張圖像上都應(yīng)有線型像質(zhì)計(jì)的影像。在透照參數(shù)和被檢工件不變的情況下(如一條焊縫的連續(xù)檢測),可只在第一幅圖像單放置線型像質(zhì)計(jì)。6.1.2.2.5小徑管對接焊縫可選用通用線型像質(zhì)計(jì)或?qū)Ｓ镁€型像質(zhì)計(jì)，金屬線應(yīng)垂直或平行焊縫放置。6.1.2.2.6不等厚或不同種類材料之間對接焊縫如果焊縫的幾何形狀允許，厚度不同或材料類型不同的部位應(yīng)分別采用與被檢工件厚度或類型相匹配的線型像質(zhì)計(jì)，并分別放置在與焊縫相對應(yīng)的部位。6.1.2.2.7若線型像質(zhì)計(jì)無法放置在規(guī)定的位置，應(yīng)采用對比試件代替被檢工件，對比試件的厚度應(yīng)為被檢工件的最大厚度。其圖像靈敏度應(yīng)符合6.2.5的要求，并保存相關(guān)說明和記錄。6.1.2.3線型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別6.1.2.3.1在圖像灰度均勻部位(一般是鄰近焊縫的母材區(qū))連續(xù)可見長度不小于10mm的像質(zhì)計(jì)線的影像，則認(rèn)為該線是可識(shí)別的。6.1.2.3.2專用線型像質(zhì)計(jì)至少應(yīng)能識(shí)別2根線。6.1.3雙線型像質(zhì)計(jì)6.1.3.1單壁單影或雙壁雙影透照應(yīng)放置于射線源側(cè)被檢工件表面。6.1.3.2雙壁單影透照應(yīng)放置于探測器側(cè)被檢工件表面。6.1.3.3雙線型像質(zhì)計(jì)的使用6.1.3.3.1實(shí)際檢測時(shí)，應(yīng)依據(jù)4.4.4.5或44.4.6-的工藝驗(yàn)證結(jié)果，放置于圖像分辨率最差的方位，且雙線型像質(zhì)計(jì)長度方向與探測器行或列的夾角為20~5°6.1.3.3.2原則上每張圖像王都應(yīng)有雙線型像質(zhì)計(jì)的影像。在透照參數(shù)和檢測對象不變的情況下(如一條焊縫的連續(xù)檢測),可只在第二幅圖像中放置雙線型像質(zhì)計(jì)6.1.3.3.3若雙線型像質(zhì)計(jì)無法放督在規(guī)定的位置，應(yīng)采用對比試件代替被檢工件，對比試件的厚度應(yīng)為被檢工件的最小厚度。其圖像分辨率應(yīng)符合6.2.6的要求6.1.3.4雙線型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別雙線型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別方法見附錄E6.2圖像評定6.2.1一般要求6.2.1.1圖像質(zhì)量評定應(yīng)在原始圖像中進(jìn)行，不得采用改變灰度值的圖像處理方法(如濾波技術(shù))。6.2.1.2可通過正像(至)或負(fù)像(片)的方式顯示6.2.1.3應(yīng)在光線柔和的不境下觀察圖像，顯示器屏幕應(yīng)清潔，無明顯的光線反射。6.2.1.4圖像有效評定區(qū)或內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷圖像識(shí)別的影像6.2.1.5圖像質(zhì)量滿是規(guī)應(yīng)的要求后，方可進(jìn)行被檢工件質(zhì)量的等級評定6.2.2系統(tǒng)軟件要求系統(tǒng)軟件應(yīng)滿足4.2.5的要求6.2.3圖像灰度范圍要求圖像有效評定區(qū)域內(nèi)的灰度危圍應(yīng)控制在滿量程的1006580。(正片)。6.2.4信噪比要求6.2.4.1應(yīng)符合表5和表6對四一化信噪比的最低要求6.2.4.2歸一化信噪比測試方法見附錄F表5歸一化信噪比最低要求(鋼、銅、鎳、鈦及其合金)射線能量透照厚度W/mm歸一化信噪比A級AB級管電壓≤50kV50kV<管電壓≤150kV150kV<管電壓≤250kV表5歸一化信噪比最低要求(鋼、銅、鎳、鈦及其合金)(續(xù)射線能量透照厚度W/mm歸一化信噪比A級AB級B級250kV<管電壓≤350kV350kV<管電壓≤600kV—表6歸一化信噪比最低要求(鋁及其合金)射線能量歸一化信噪比A級AB級管電壓<150kV管電壓≥150kV6.2.5圖像靈敏度要求6.2.5.1按檢測技術(shù)等級的要求及采用的透照方式，圖像靈敏度應(yīng)分別符合表7～表9的規(guī)定。6.2.5.2對于雙壁單影和雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取2倍公稱厚度。6.2.5.3對于帶墊板的焊縫，透照厚度可包括墊板厚度。表7圖像靈敏度值——單壁透照、線型像質(zhì)計(jì)置于射線源側(cè)應(yīng)識(shí)別線號(線徑/mm)透照厚度W/mmA級B級W19(0.050)—W18(0.063)1.5<W≤2.5W17(0.080)1.2<W≤2.02.5<W≤4.0W16(0.100)1.2<W≤2.02.0<W≤3.54.0<W≤6.0W15(0.125)2.0<W≤3.53.5<W≤5.06.0<W≤8.0W14(0.160)3.5<W≤5.05.0<W≤7.08.0<W≤12W13(0.20)5.0<W≤7.07.0<W≤1012<W≤20W12(0.25)7.0<W≤1010<W≤1520<W≤30W11(0.32)10<W≤1515<W≤2530<W≤35NB/T47013.11—2023表7圖像靈敏度值——單壁透照、線型像質(zhì)計(jì)置于射線源側(cè)(續(xù)應(yīng)識(shí)別線號(線徑/mm)AB級W10(0.40)W9(0.50)W8(0.63)W7(0.80)W6(1.00)W5(1.25)W4(1.60)W3(2.00)——W2(2.50)應(yīng)識(shí)別線號(線徑/mm)AB級B級W19(0.050)W18(0.063)W17(0.080)W16(0.100)W15(0.125)W14(0.160)W13(0.20)W12(0.25)W11(0.32)W10(0.40)W9(0.50)W8(0.63)W7(0.80)W6(1.00)W5(1.25)W4(1.60)—W3(2.00)——W2(2.50)NB/T47013.11—2023表9圖像靈敏度值雙辟單影或雙壁雙影透照、線型像質(zhì)計(jì)置于探測器促應(yīng)識(shí)別線號(線徑/mm)W19(0.050)W18(0.063)W17(0.080W16(0.100)W15(0.125)2.0<W≤3.535<W≤5.0W14(0.160)3.5<W≤5.05.0<W≤10W13(0.20)5.Q<W≤10W12(0.25)W11(0.32)22wksW10(0.40)))W9(0.50)48<濃≤60W8(0.63)W7(0.80)W6(1.00)85<W≤125W5(1.25)5W4(1.60)6.2.6圖像分辨率要求6.2.6.1按檢測技術(shù)等級的要求。圖像分辨率分別符合表10/人2的規(guī)定。6.2.6.2對于單壁單影或雙學(xué)單能透照方式，透照厚度應(yīng)取公所評度，對于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑。6.2.6.3對于帶墊板的焊縫，適照鳴度可包括墊板厚度。6.2.7補(bǔ)償原則如果圖像分辨率達(dá)不到表10一表12的規(guī)定，可通過提離信噪比來提高圖像靈敏度以補(bǔ)償圖像分辨率的不足。例如：對于某一檢測系統(tǒng)，檢測厚度為10-mm的工件，要求達(dá)到B級圖像質(zhì)量，如果圖像靈敏度和圖像分辨率不能同時(shí)達(dá)到W14和DII,則應(yīng)達(dá)到W15和D10滿足圖像質(zhì)量要求。補(bǔ)償最大表10A級檢測技術(shù)應(yīng)達(dá)到的分辨率(力透照厚度W/mm線對號分辨率/(lp/mm)分辨力/mmD12D11D1025<W≤5555<W≤150透照厚度W/mm線對分辨率/()p)分辨力/mmD125<W≤10D10(25<W≤5555<W≤×502.0(表12B級檢測技術(shù)應(yīng)達(dá)到的分辨率(力透照厚度W/mm線對號解率(1p/mm分辨力/mmD14D134<W≤88<W≤12DITD1040<W≤120NB/T47013.11—20237.1缺陷的識(shí)別7.1.1缺陷的識(shí)別可采用人工識(shí)別或計(jì)算機(jī)輔助識(shí)別方法。7.1.2缺陷人工識(shí)別時(shí)，圖像的顯示比例應(yīng)不低于100%。7.1.3人工識(shí)別采用圖像處理技術(shù)，調(diào)節(jié)圖像的顯示效果，以提高人眼對缺陷的識(shí)別能力。7.2缺陷的測量7.2.1缺陷幾何尺寸的測量應(yīng)通過系統(tǒng)軟件對檢測缺陷的幾何尺寸進(jìn)行測量，測量結(jié)果可參考式(2)計(jì)算： 式中：S——幾何尺寸；k——標(biāo)定因子，單位為毫米每像素(mm/像素):N?——由計(jì)算機(jī)測量得到的缺陷所占的像素個(gè)數(shù)。在缺陷測量前應(yīng)按實(shí)際檢測工藝，采集含標(biāo)樣的檢測圖像，并進(jìn)行幾何尺寸標(biāo)定，標(biāo)定因子k的計(jì)算參見式(3):L——標(biāo)樣的實(shí)際尺寸，單位為毫米(mm):N?——由計(jì)算機(jī)測量得到的標(biāo)樣尺寸所占的像素個(gè)數(shù)。7.2.2缺陷深度的測量缺陷深度的測量可采用模擬試件，得到不同深度(厚度)與圖像灰度的變化規(guī)律，由系統(tǒng)軟件計(jì)算實(shí)現(xiàn)。8結(jié)果評定與質(zhì)量分級8.1缺陷的評定可采用人工評定或計(jì)算機(jī)輔助評定方法。8.2在缺陷評定時(shí)，若對原始圖像采用濾波等圖像處理技術(shù)，應(yīng)經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，并有相關(guān)文檔記錄。8.3承壓設(shè)備焊接接頭射線數(shù)字成像檢測的質(zhì)量分級按NB/T47013.2的規(guī)定執(zhí)行。9圖像保存與存儲(chǔ)9.1圖像存儲(chǔ)9.1.1存儲(chǔ)格式宜按DICONDE格式執(zhí)行。9,1.2單位代碼、工件編號、焊縫編號、透照參數(shù)、檢測人員代碼、識(shí)別標(biāo)記等信息可寫入圖像文件的描述字段中，上述信息應(yīng)具備不可更改性。9.1.3圖像編號應(yīng)與焊縫編號相對應(yīng)。9.2圖像保存9.2.1圖像應(yīng)存儲(chǔ)在數(shù)字存儲(chǔ)介質(zhì)中并存檔。9.2.2圖像應(yīng)備份不少于2份，相應(yīng)的原始記錄和檢測報(bào)告也應(yīng)同期保存。9.2.3圖像的保存期限應(yīng)按照相關(guān)的法規(guī)和規(guī)范執(zhí)行。在有效保存期內(nèi)，圖像數(shù)據(jù)不得丟失和更改。10檢測記錄和報(bào)告10.1應(yīng)按現(xiàn)場操作的實(shí)際情況詳細(xì)記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。射線數(shù)字成像檢測記錄除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：a)制造單位、檢測單位或委托單位。b)被檢工件：名稱、檢測部位、坡口型式、焊接方法。c)檢測設(shè)備器材：射線源種類、焦點(diǎn)(或源)尺寸、探測器像素尺寸、像質(zhì)計(jì)(類型和規(guī)格)、濾波板(類型、數(shù)量和厚度)、標(biāo)識(shí)、標(biāo)樣(若有)。d)工藝驗(yàn)證結(jié)果(需要時(shí))。注：此項(xiàng)針對無法放置像質(zhì)計(jì)采用對比試件的檢測，應(yīng)說明對比試件的工藝驗(yàn)證情況并作為檢測記錄的附件。e)檢測工藝參數(shù)：檢測技術(shù)等級、透照方式、透照幾何參數(shù)、射線能量、曝光量、采集幀數(shù)、軟件處理方式和條件等。f)圖像評定：灰度范圍、歸一化信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨率。g)缺陷位置、缺陷性質(zhì)和大小。h)其他需要說明或記錄的事項(xiàng)。10.2應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報(bào)告。檢測報(bào)告除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：a)制造單位、檢測單位或委托單位。b)被檢工件：名稱、檢測部位、坡口型式、焊接方法。c)檢測設(shè)備器材：射線源種類、焦點(diǎn)(或源)尺寸、探測器型號、濾波板、像質(zhì)計(jì)。d)檢測工藝參數(shù)：檢測技術(shù)等級、透照方式、透照幾何參數(shù)、射線能量、曝光量、采集幀數(shù)、軟件處理方式和條件等。e)圖像評定：灰度范圍、歸一化信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨率。f)檢測工藝驗(yàn)證情況(需要時(shí))。注：此項(xiàng)針對無法放置像質(zhì)計(jì)采用對比試件的檢測，應(yīng)說明對比試件的工藝驗(yàn)證情況。g)缺陷位置、性質(zhì)和等級。NB/T47013.11—2023(規(guī)范性)系統(tǒng)分辨率核查方法A.3核查方法角為2°~5°,按如下工藝條件進(jìn)行透照成像：a)射線源至探測器表面的距離壓不小于1000mm。在條件受限情況的可適當(dāng)減小iF,但應(yīng)保證檢測系統(tǒng)的幾何在清晰度不大于探測器像素尺甘的5%b)使用X射線源時(shí)，不回材料的曝光參數(shù)。1)對于輕含金材料管電壓90kV,1mM鋁濾波板。3)對于鋼賬銅、鎳及其合金材料：厚度>20mm時(shí)，管電壓220kV2mm銅濾波板。2)對于Ir192:4mm銅或8mm鋼濾波