不銹鋼中鋁、鈷、銅、錳、鉬、鎳、磷、硫、硅、鈦的測定 波長色散X射線熒光光譜法_第1頁
不銹鋼中鋁、鈷、銅、錳、鉬、鎳、磷、硫、硅、鈦的測定 波長色散X射線熒光光譜法_第2頁
不銹鋼中鋁、鈷、銅、錳、鉬、鎳、磷、硫、硅、鈦的測定 波長色散X射線熒光光譜法_第3頁
不銹鋼中鋁、鈷、銅、錳、鉬、鎳、磷、硫、硅、鈦的測定 波長色散X射線熒光光譜法_第4頁
不銹鋼中鋁、鈷、銅、錳、鉬、鎳、磷、硫、硅、鈦的測定 波長色散X射線熒光光譜法_第5頁
已閱讀5頁，還剩8頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內容提供方，若內容存在侵權，請進行舉報或認領

文檔簡介

鈦的測定波長色散X射線熒光光譜法4.2有證標準物質；用于分析繪制校準曲線，所選有證標準物質各分析元素含量應覆蓋分析范圍且有適當的梯度；用于進行漂移校正的有證標準物質應有良好的均勻性?？刹捎玫挠凶C標準物質參見附4.3無水乙醇；分析純。波長色散X射線熒光光譜儀，應滿足GB/T16597要求。僅器工作條件參見附錄B。6試樣制備6.1根據GB/T20066將樣品制備成塊狀。6.2通過車、銑、創(chuàng)或金相砂紙研磨等方法，將樣品表面研磨成平整，光潔的分析面。試樣的大小取決于試樣盒的兒何尺寸，分析面應能全部遮蓋試樣盒面罩。6.3用乙醇(4.3)清潔試樣表面，然后置于干燥器中備用，并且應盡快測定。6.4采用與試樣相同的方法處理有證標準物質。7分析步驟7.1標準曲線的制定選用至少6個有證標準物質，每個元素都應具有足夠的含量、范圍又有一定梯度。根據設定好的儀器工作條件(參見附錄B)測定各待測元素的X射線熒光強度。以待測元素的濃度為橫坐標，X射線熒光強度為縱坐標，分別繪制各待測元素的標準曲線。可根據實際情況選擇合適的校正方程，如理論a影響系數法、基本參數法、經驗a影響系數法等。但須注意校正方程參數的個數。校正方固參數是指曲線的截距、斜率、經驗a影響系數和譜線重疊系數等。每增加一個參數，須增加3個校正樣品以痛保該參數的可靠性。推薦采用理論a影響系數法，其校正方程參見附錄C。7.2漂移校正采用單點校正或兩點校正法，選擇合適的有證標準物質校正僅器滾移。校正的間隔時間可根據儀器的穩(wěn)定性決定。當儀器長時間關機或者更換流氣計數器的氣體后，應進行露移校正。7.3樣品的測定在儀器最佳測量條件下測量試樣中待測元素的X射線熒光強度。8結果計算根據試樣中待測元素的X射線熒光強度，從校準曲線上計算得到試樣中各元素含量，結果以質量分數表示。所得結果含量大于0.10%時，保留至小數點后兩位；含量小于0,10%時，保留至小數點后3位。由8個實驗室對6個水平的試樣進行方法精密度試驗，結果見表2。NPS注：式中m是分析元素的含量。用質量分數計，以%表示。在重復性條件下，獲得的兩次獨立測試結值不大干重復性限(r),大于重復性限(r)的情況以不超過5%為前提；在再現性條件下，獲得的試結果的絕對差值不大于再現性限(R),大干再現性限(R)的情況以不超過有證標準物質中各成分含量見表A.1。表A.1有證標準物質中各成分含量PSTTTTT0,3930.4610.7716,0303.1206,4100.0506.9307,8203.8700.010注：“T”表示為癌量(Trace)“a“表示P$GCSC?=s×1+Zay×C?)(1+EB×IC,——測量元素的

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯系上傳者。文件的所有權益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網頁內容里面會有圖紙預覽，若沒有圖紙預覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經權益所有人同意不得將文件中的內容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內容的表現方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內容負責。
  • 6. 下載文件中如有侵權或不適當內容，請與我們聯系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準確性、安全性和完整性, 同時也不承擔用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論