《硅光電倍增管可靠性評(píng)估方法》征求意見(jiàn)稿

1硅光電倍增管可靠性評(píng)估方法本文件適用于硅光電倍增管的可靠性評(píng)估，其他類(lèi)型的雪崩器件可參GB/T4937.4-2012半導(dǎo)體器件.機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法.GB/T21194-2007通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性GB/T33768-2017通信用光電子器件可IDDCR2對(duì)試樣進(jìn)行可靠性調(diào)查、分析和評(píng)價(jià)的一種手段，為故障分析、判斷產(chǎn)品是否達(dá)到指標(biāo)要求等提供依據(jù)。試樣在規(guī)定條件下、規(guī)定的時(shí)間內(nèi)喪失規(guī)定功能的能力時(shí)，稱(chēng)為失效。失效判據(jù)failurecriteria判定試樣失效的依據(jù)。4一般要求4.1試驗(yàn)類(lèi)型試驗(yàn)類(lèi)型包括：光電特性試驗(yàn)、機(jī)械試驗(yàn)、環(huán)境試驗(yàn)。4.2試驗(yàn)設(shè)備試驗(yàn)設(shè)備的維護(hù)、校準(zhǔn)和調(diào)控應(yīng)符合GB/T19001的相關(guān)規(guī)定。4.3試驗(yàn)環(huán)境除非另有規(guī)定，所有試驗(yàn)應(yīng)在下列標(biāo)準(zhǔn)大氣條件的環(huán)境中進(jìn)行：a)溫度：15℃~35℃;b)相對(duì)濕度：45%～75%;c)大氣壓力：86kPa～106kPa。注：若另有規(guī)定，可在試驗(yàn)報(bào)告上注明試驗(yàn)環(huán)境條件。5光電性能測(cè)試方法5.1暗電流測(cè)試原理圖見(jiàn)圖1。圖1暗電流測(cè)試原理圖5.1.1測(cè)試步驟測(cè)試步驟如下：a)按圖1連接測(cè)試系統(tǒng)；b)設(shè)置施加在試樣兩端的反向偏置電壓掃描范圍，并記錄電流值，即為暗電流。5.1.2規(guī)定條件：相關(guān)文件至少應(yīng)規(guī)定如下條件：a)環(huán)境測(cè)試溫度；b)反向偏置電壓。5.2暗計(jì)數(shù)率測(cè)試原理圖見(jiàn)圖2。圖2暗計(jì)數(shù)率測(cè)試原理圖5.2.1測(cè)試步驟3a)按圖2連接測(cè)試系統(tǒng)；b)調(diào)節(jié)穩(wěn)壓源，在試樣兩端施加規(guī)定反向偏置電壓；c)測(cè)試時(shí)間T?內(nèi)高于規(guī)定閾值的脈沖計(jì)數(shù)Na;d)按公式(1)得到試樣在規(guī)定反向偏置電壓下的暗計(jì)數(shù)率DCR。c)規(guī)定閾值一般為0.5pe(photonequivalent),即1個(gè)光子引發(fā)雪崩脈沖幅度的0.5倍。b)試驗(yàn)條件下能夠監(jiān)視試驗(yàn)溫度、電壓a)環(huán)境溫度：15℃~35℃;d)測(cè)試環(huán)境應(yīng)無(wú)影響測(cè)量準(zhǔn)確度的機(jī)械振動(dòng)、靜電、電磁等干擾；g)測(cè)試室應(yīng)具有光屏蔽條件，以避免環(huán)境光對(duì)試樣性能的影響。檢測(cè)b)暗計(jì)數(shù)率增加量大于1個(gè)數(shù)量級(jí)；4T/XXXXXXX—XXXXa)器件表面：采用1.5倍～10倍顯微鏡；b)器件密封處：采用10倍～1000倍顯微鏡；c)其他：采用5倍～1000倍顯微鏡。在1.5倍～10倍的顯微鏡下對(duì)試樣表面進(jìn)行檢查，器件密封處應(yīng)在10倍～1000倍的顯微鏡下檢查，其他外部檢查應(yīng)在5倍～1000倍的顯微鏡下進(jìn)行。a)試驗(yàn)結(jié)束后，按照本文件6.2完成目檢；b)按照本文件5.1-5.2規(guī)定的條件和要求完成光電性能測(cè)試。當(dāng)出現(xiàn)本文件和6.2.5和中的任意情況時(shí)視為失效。a)試驗(yàn)結(jié)束后，按照本文件6.2完成目檢；b)按照本文件5.1-5.2規(guī)定的條件和要求完成光電性能測(cè)試。當(dāng)出現(xiàn)本文件和6.2.5中的任意情況時(shí)視為失效。試驗(yàn)?zāi)康?試驗(yàn)設(shè)備的信息見(jiàn)GB/T33768-2017其中的GB/T33768-2017為規(guī)試驗(yàn)步驟的信息見(jiàn)GB/T33768-20b)按照本文件5.1-5.2規(guī)定的條件試驗(yàn)條件的信息見(jiàn)GB/T4937.4-20a)試驗(yàn)前在規(guī)定的溫度下完成試樣光電特性測(cè)試；b)其余試驗(yàn)步驟的信息見(jiàn)GB/T4937.4-201256b)其余試驗(yàn)步驟的信息見(jiàn)GB/T4937.13-2012b)電壓電流表、光源、衰減器、示波器、光功率計(jì)、讀出電路等；c)試驗(yàn)條件下能夠監(jiān)視試驗(yàn)溫度、電壓、電流、輸出波形的裝置；d)能使試樣引出端有可靠的光電連接的光電插座和其他安裝形式。試驗(yàn)條件的信息見(jiàn)GB/T33768-20175試驗(yàn)步驟的信息見(jiàn)GB/T33768-20175檢測(cè)要求的信息見(jiàn)GB/T33768-20177[1]Jackson,C.,O’Nei