現(xiàn)代材料分析測試技術(shù)智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下煙臺(tái)南山學(xué)院

現(xiàn)代材料分析測試技術(shù)智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下煙臺(tái)南山學(xué)院煙臺(tái)南山學(xué)院

緒論單元測試

材料是指可以用來制造有用的構(gòu)件、器件或其他物品的物質(zhì)。（）

答案:

對

晶體內(nèi)部原子、分子或離子具有嚴(yán)格的周期性有序排列。（）

答案:

對

材料測試方法的選擇與所研究材料的組成、結(jié)構(gòu)及層次密切相關(guān)。（）

答案:

對

材料的性能只與組成材料的元素成分有關(guān)，與其他因素?zé)o關(guān)。（）

答案:

錯(cuò)

材料的宏觀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、相結(jié)構(gòu)、成分都會(huì)影響材料的性能。（）

答案:

對

單一的分析方法往往不能滿足材料分析的要求，常常需要綜合多種分析手段才能獲得豐富而全面的信息。（）

答案:

對

材料分析測試包括（）。

答案:

材料性能分析;組織形貌分析;材料成分分析;結(jié)構(gòu)分析

材料科學(xué)的主要研究內(nèi)容包括（）

答案:

材料的性能;材料的成分結(jié)構(gòu);材料的制備與加工

以下屬于組織形貌分析的手段有（）。

答案:

金相顯微鏡;光學(xué)顯微鏡;掃描電子顯微鏡

材料科學(xué)與工程學(xué)院的四個(gè)基本要素包括（）。

答案:

結(jié)構(gòu);性能;加工;成分

第一章測試

金相試樣制備就是磨制和拋光過程。此說法（）

答案:

錯(cuò)

金相試樣制備中的劃痕缺陷只在磨制不當(dāng)中產(chǎn)生的，此說法（）。

答案:

錯(cuò)

所有的金相試樣都需要對邊緣進(jìn)行倒角，以免劃傷砂紙和拋光布，此說法（）

答案:

對

金相砂紙的編號(hào)越大則其對應(yīng)的磨料顆粒尺寸越大，如No.1000的砂紙就比No.400的砂紙顆粒粗，此說法（）。

答案:

錯(cuò)

金相顯微鏡的極限有效放大倍數(shù)約為（）

答案:

1500倍

斷口觀察很少用到光學(xué)金相顯微鏡，原因是（）

答案:

景深太小

為真實(shí)地反映金相試樣組織的情況，組織分析時(shí)需要（）

答案:

低倍、高倍觀察之間反復(fù)轉(zhuǎn)換；低倍搜尋視場，高倍仔細(xì)觀察

透鏡的（），球差越嚴(yán)重。

答案:

曲率半徑越小，光通過透鏡的面積越大

試樣拋光時(shí)，正確的拋光方法為（）

答案:

從盤的邊緣到中心間或作徑向往復(fù)運(yùn)動(dòng);拋光壓力均勻;適量、適時(shí)的滴入水浸濕;試樣面與拋光盤面平行

試樣在拋光過程中，下面哪種情況會(huì)會(huì)導(dǎo)致劃痕產(chǎn)生。（）

答案:

拋光壓力過大;加水量少;砂粒帶到拋光布上;拋光布損壞

第二章測試

顯微鏡的分辨率和照明光源的波長沒有關(guān)系。（）

答案:

錯(cuò)

掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡相同。（）

答案:

錯(cuò)

掃描電鏡的分辨率一般是二次電子分辨率。（）

答案:

對

表面形貌分析技術(shù)經(jīng)歷了光學(xué)顯微鏡、電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡三個(gè)階段。（）

答案:

對

掃描電鏡的分辨率是指（）

答案:

二次電子像分辨率

掃描電子顯微鏡的分辨率已經(jīng)達(dá)到了（）

答案:

1.0nm

1924年，（）提出運(yùn)動(dòng)的電子、質(zhì)子、中子等實(shí)物粒子都具有波動(dòng)性質(zhì)。

答案:

德布羅意

電子槍由（）組成

答案:

陰極、陽極、柵極

關(guān)于二次電子的描述，正確的是（）

答案:

二次電子信號(hào)的分辨率高;二次電子信號(hào)反映樣品的表面形貌特征;二次電子是入射電子與原子核外的價(jià)電子發(fā)生非彈性散射時(shí)被激發(fā)的核外電子

背散射電子的性質(zhì)是（）

答案:

可用于樣品的表面成分分析;產(chǎn)額隨原子序數(shù)增加而增加;產(chǎn)生范圍在表層100~1000nm內(nèi);可用于樣品的表面形貌分析

第三章測試

透射電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡相同。（）

答案:

對

非彈性散射電子動(dòng)能和方向都不發(fā)生改變。（）

答案:

錯(cuò)

透射電鏡中的中間鏡是可變倍率透鏡。（）

答案:

對

透射電鏡的工作原理是阿貝成像原理。（）

答案:

對

讓衍射束通過物鏡光闌，用物鏡光闌套住某一衍射斑點(diǎn)，擋住中心透射斑點(diǎn)和其它衍射斑點(diǎn)，選擇衍射束成像，是（）

答案:

暗場成像

將入射電子束轉(zhuǎn)動(dòng)一定角度，使得衍射束沿著光軸傳播，讓衍射束通過物鏡光闌，用物鏡光闌套住某一衍射斑點(diǎn)，擋住透射束和其它衍射斑點(diǎn)擋住，選擇衍射束成像，是（）

答案:

中心暗場成像

透射電子顯微鏡的兩種主要功能是（）

答案:

組織觀察和物相分析

多晶體的電子衍射花樣是（）

答案:

同心圓環(huán)

與掃描電鏡和X射線衍射儀相比，透射電子顯微鏡的優(yōu)勢有（）

答案:

可以實(shí)現(xiàn)微區(qū)物相分析;高的圖像分辨率;獲得立體豐富信息

電子束入射到樣品表面后，會(huì)產(chǎn)生下列哪些信號(hào)（）。

答案:

特征X射線;俄歇電子;二次電子;背散射電子

第四章測試

掃描隧道顯微鏡的分辨率可以到達(dá)原子尺度級別。（）

答案:

對

接觸式原子力顯微鏡可以利用原子之間吸引力的變化來記錄樣品表面的輪廓起伏。（）

答案:

錯(cuò)

掃描探針顯微鏡可以在溶液環(huán)境下工作。（）

答案:

對

造成AFM懸臂偏轉(zhuǎn)的力包括范德瓦爾斯力和毛細(xì)力。（）

答案:

對

利用量子隧穿效應(yīng)進(jìn)行分析的儀器是（）

答案:

掃描隧道顯微鏡

下列關(guān)于掃描探針顯微鏡的描述，錯(cuò)誤的是（）

答案:

分辨率從原子尺度級到毫米量級

掃描隧道顯微鏡是基于哪個(gè)原理進(jìn)行工作的（）

答案:

量子隧穿效應(yīng)

在接觸式原子力顯微鏡中，哪個(gè)描述是錯(cuò)誤的（）

答案:

利用原子之間吸引力的變化來記錄樣品表面輪廓的起伏

下列關(guān)于原子力顯微鏡的描述，正確的是（）

答案:

樣品在針尖下做光柵式運(yùn)動(dòng);位敏光探測器可實(shí)時(shí)監(jiān)測微懸臂的變化;記錄微懸臂對應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，獲得樣品的表面形貌信息

掃描隧道顯微鏡的兩種工作模式是（）

答案:

恒定電流模式;恒定高度模式

第五章測試

粉末衍射卡(pdf卡片)可以查看晶體的晶面間距和對應(yīng)的衍射線相對強(qiáng)度。（）

答案:

對

晶體對X射線的相干散射只占入射能量的極小部分。（）

答案:

對

X射線衍射方法可以進(jìn)行多相體系的綜合分析，也可以實(shí)現(xiàn)對亞微米量級單顆晶體材料的微觀結(jié)構(gòu)分析。（）

答案:

錯(cuò)

對于原子序數(shù)確定的物質(zhì)其特征x射線波長為定值。（）

答案:

對

X射線衍射儀中X射線發(fā)生器固定時(shí)，測角儀中探測器的轉(zhuǎn)速與樣品的轉(zhuǎn)速滿足哪種關(guān)系（）

答案:

2:1

M層電子遷遷移到K層后，多余的能量釋放的特征X射線是（）

答案:

Kβ

X射線照射到晶體上時(shí)，產(chǎn)生衍射的條件是（）

答案:

滿足布拉格條件，同時(shí)衍射強(qiáng)度不為0

短波長的X射線稱（），常用于金屬部件的無損探傷。

答案:

硬X射線

下列關(guān)于X射線的描述，正確的是（）

答案:

X射線是一種電磁波;倫琴發(fā)現(xiàn)X射線;X射線具有波動(dòng)性;勞厄發(fā)現(xiàn)X射線衍射現(xiàn)象

常用的X射線衍射方法是（）

答案:

勞厄法;粉末法;轉(zhuǎn)動(dòng)晶體法

第六章測試

1.利用差熱分析可以研究物質(zhì)的相轉(zhuǎn)變。（）

答案:

對

熱分析可以解釋為以熱進(jìn)行分析的一種方法，其歷史發(fā)展久遠(yuǎn)，應(yīng)用面較寬，涉及多種學(xué)科領(lǐng)域。（）

答案:

對

熱分析技術(shù)的基礎(chǔ)是物質(zhì)在溫度變化過程中發(fā)生各種物理、化學(xué)變化。（）

答案:

對

差熱分析儀一般有溫度程序控制單元、可控硅加熱單元、差熱信號(hào)放大單元、信號(hào)記錄單元(記錄儀或微機(jī))等部分組成。（）

答案:

對

對差熱曲線的分析一般包括對起止溫度與峰面積的確定。（）

答案:

對

影響差熱分析的因素有升溫速率、壓力和氣氛、試樣因素等。（）

答案:

對

差熱分析中參比物在分析過程中會(huì)放熱或吸熱。（）

答案:

錯(cuò)

一般來說，相轉(zhuǎn)變、脫氫還原和一些分解反應(yīng)產(chǎn)生吸熱效應(yīng)；而結(jié)晶、氧化等反應(yīng)產(chǎn)生放熱效應(yīng)。（）

答案:

對

差熱曲線的分析究其根本就是解釋差熱曲線上每一個(gè)峰谷產(chǎn)生的原因，從而分析被測樣是由哪些相組成。（）

答案:

對

物質(zhì)在加熱過程中所產(chǎn)生的相變或多晶轉(zhuǎn)變多變現(xiàn)為（）

答案:

吸熱

第七章測試

特征X射線的頻率或波長只取決于物質(zhì)的原子結(jié)構(gòu)，是物質(zhì)固有特性，與其它外界因素?zé)o關(guān)。（）

答案:

對

電子探針X射線顯微分析儀的入射束是電子束。（）

答案:

對

能譜儀的分辨率比波譜儀低。（）

答案:

對

X射線光譜分析可以對樣品的元素組成進(jìn)行分析。（）

答案:

對

X射線光譜分析的信號(hào)是（）。

答案:

特征X射線

波長色散譜儀(WDS)，簡稱波譜儀，是利用特征X射線的（）不同來展譜。

答案:

波長

能量色散譜儀(EDS)，簡稱能譜儀，是利用特征X射線的（）不同來展譜。

答案:

能量

對鋼進(jìn)行成分分析可以采用以下分析手段。（）

答案:

EDS;WDS

如要分析斷口上某種顆粒相的化學(xué)成分，應(yīng)采用哪種分析方法？（）

答案:

EDS;WDS

X攝像光譜分析的分析模式有（）。

答案:

點(diǎn)掃描;面掃描;線掃描

第八章測試

原子吸收分光光度計(jì)主要由光源、原子化系統(tǒng)、單色器、檢測系統(tǒng)等四個(gè)部分組成。（）

答案:

對

在正常狀態(tài)下，元素處于基態(tài)，元素在受到熱（火焰）或電（電火花）激發(fā)時(shí)，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，返回到基態(tài)時(shí)，發(fā)射出特征光譜。（）

答案:

對

原子光譜分析法是利用特征光譜研究物質(zhì)結(jié)構(gòu)和測定化學(xué)成分的方法。（）

答案:

對

原子的特征光譜是連續(xù)光譜。（）

答案:

錯(cuò)

原子的吸收光譜和特征光譜是不連續(xù)的。（）

答案:

對

原子的吸收光譜條紋和發(fā)射光譜條紋是一一對應(yīng)的。（）

答案:

對

下列各種說法中錯(cuò)誤的是（）

答案:

原子發(fā)射光譜主要依據(jù)元素特征譜線的高度進(jìn)行定量分析

原子發(fā)射光譜中，常用的光源有（）

答案:

電弧、電火花、電感耦合等離子炬等

原子發(fā)射光譜中的自吸產(chǎn)生的原因是（）.

答案:

同種元素基態(tài)原子的吸收

原子發(fā)射光譜儀由（）組成。

答案:

光譜儀;檢測器;光源

第九章測試

拉伸試驗(yàn)時(shí)，試樣的伸長量與拉伸力總成正比。（）

答案:

錯(cuò)

常用的硬度試驗(yàn)方法有布氏硬度、洛氏硬度和維氏硬度。（）

答案:

對

金屬的力學(xué)性能是指在力作用下所顯示的與彈性和非彈性反應(yīng)相關(guān)或涉及應(yīng)力-應(yīng)變關(guān)系的性能。（）

答案:

對

在工程上，在一定的應(yīng)力循環(huán)次數(shù)下不發(fā)生斷裂的最大應(yīng)力稱為疲勞強(qiáng)度