二 原子吸收光譜法(共78張PPT)

第一節(jié)概述第二節(jié)基本原理第三節(jié)儀器第四節(jié)干擾及其抑制第五節(jié)定量分析方法原

子

吸

收

光

譜

法AAS原子吸收法的特點1.高選擇性2.檢出限低，可達10-10g,

無火焰法可達10-4g3.準確度高，

一般0.5%～2%測定誤差。4、可測定的元素多，于采用的火焰類型有關(guān)?？諝?

乙炔火焰可測36種元素，

N2O-

乙炔火焰可測33種元

素，間接測定法可測16種元素，除交叉測定外，供

可測70多種元素。5.分析速度快6.

在通常情況下，分析一個元素，就要用該元素的

空心陰極燈作光源。Li

BeNa

MgBAlSiKCaScTiVCrMnFeCoNiCuZnGaGeAsSeRbSrYZrNbMoRuRhPdAgCdInSnSbTeCsBaLaHfTaWReOsIrPtAuHgTlPbBiRecommended

flames

for

atomic

absorption

spectroscopy.[Based

on

data

from

Varian-Techtron.]PrNdSmEuGdTbDyHoErTmYbLuAcetylene/Nitrous

OxideAcetylene/AirHydrogen/AirPropane/AirU原子吸收光譜分析原理原子吸收光譜法是基于基態(tài)原子對特征譜線的吸收而建立起來的一種元素分析方法。原理：從空心陰極燈(光源)輻射出來的特征譜線，通過含有該待測元素的基態(tài)原子蒸氣后，由于該待測元素對特征譜線進行吸收而使特征譜線的強度減弱，

在一定范圍內(nèi)，特征譜線的減弱程度(吸光度)與待

測元素的含量呈正比。SourceChopper(b)

AbsorptionFlame

photometer(a),

and

atomic

absorption

spectrometer

(b).Monochromatoror

FilterBurnerEmission原子吸收光譜儀與火焰光度計AmplifierMeterDetector(a)基態(tài)與激發(fā)態(tài)原子的分配關(guān)系在一定的火焰溫度下，火焰中基態(tài)原子數(shù)N,與激發(fā)態(tài)

原

子

數(shù)

目N

j

的

熱

平

衡

比

值

符

合

波

茨

曼

分

布

(Boltzman)。由上式可見，等號右邊除了火焰溫度T外，其

它均為常數(shù)，據(jù)此便可以計算出：常見元素在不同火焰溫度下的基態(tài)原子與激發(fā)態(tài)原

子數(shù)見下頁：Nj

NoPercent

Ionization

of

Alkali

and

Alkaline

Earth

Metals

in

Various

FlamesIonization

Propane-Acetylene-

Acetylene-potential

air

air

nitrous

oxideMetal

(eV)

(2200°K)

(2450°K)

(3200°K)LithiumSodiumPotassiumRubidium

4.16CesiumMagnesiumCalciumStrontiumBarium5.365.124.329143.877.616.095.675.1920.61.130710.003

0.030.20.357833

98.345

99.099.7.1.09

916333968基態(tài)與激發(fā)態(tài)原子的分配關(guān)系由以上表格中不同火焰溫度下的波茨曼分布

(Boltzman)

可見，原子吸收條件下，火焰中的基態(tài)原子數(shù)目占絕對優(yōu)勢，與激發(fā)態(tài)原子比較，甚至可以火焰中全部是基態(tài)原子，使得原子吸收的基本要求(即基態(tài)原子蒸氣對特征譜線的吸收)能得到

滿足。但對于火焰光度法，激發(fā)態(tài)原子返回基態(tài)產(chǎn)生的發(fā)

射光譜是其分析基礎(chǔ)，而在低溫火焰中，激發(fā)態(tài)原

子所占比例很少，比較原子吸收更容易受火焰溫度

變化的影響，所以測定誤差較大。譜線輪廓原子吸收線和原子發(fā)射線的輪廓是相同的，但在

原子吸收的條件下，吸收線的寬度遠遠高于空心

陰極燈的發(fā)射線。而且引起譜線變寬的主要因素

不同。激發(fā)態(tài)原子的生存壽命不一樣而產(chǎn)生的譜線寬度約為10-?nm,

在實際分析工作中，由于其它影響變

寬的因素很多，而且影響強度較大，因而實際上觀

察不到原子線的自然寬度。譜

線

變

寬自然寬度譜線變寬

熱變寬熱變寬又叫多普勒變寬。原子在熱運動中相對檢測

器位移而產(chǎn)生，離檢測器越近，頻率約高，波長約

短；離檢測器越遠，頻率約低，波長約長。在日常

生活中，我們也可體會到聲波的多普勒效應(yīng)，如在

鐵路旁站著等火車開過時，當火車從遠處向近處開

來，聲音由低沉變?yōu)楦呒?，反映了聲頻由低到高。

在光譜學(xué)中的這一現(xiàn)象相對于電磁波的頻率由低到

高，波長由長變短。由于熱變寬，可使原子線的寬度提高到10-

3nm

數(shù)量

級。壓力變寬(碰撞變寬)原子熱運動時，由于相互碰撞而使能級的不

確定性增加，即引起能級稍有變化。在試樣原子化

過程中，由同類原子碰撞引起的變寬稱為赫茲馬克變寬；非同類原子碰撞引起的變寬稱為勞論茲變寬

它們是原子吸收分析不適宜分析高濃度試液的原因

之一。壓力變寬與熱變寬為同一數(shù)量級，使原子線增

加到10-3nm。譜

線

變

寬壓力變寬譜線變寬

自吸變寬光源周圍同種元素的基態(tài)原子蒸氣吸收同種元素的發(fā)

射線引起的變寬(一般吸收共振線)。自吸嚴重時，

發(fā)生譜線的自蝕，甚至出現(xiàn)譜線分裂。在以上各種影響變寬的因素中：吸收線的寬度主要

受熱變寬和壓力變寬的影響

；發(fā)射線的寬度主要受

自熱變寬和自吸變寬的影響。對于AAS,

一般條件下，發(fā)射線的寬度應(yīng)<吸收線寬

度的五倍。用單色器從連續(xù)光譜中分出

的單色光與原子吸收光譜寬

度的比較。在使用連續(xù)光譜

作光源的情況下，單色光的

帶寬為0.2nm,

原子吸收線

寬度為103nm,

即使100%

被吸收，發(fā)射光的強度也只

下降0

.5%,若只產(chǎn)生10%

吸收，則強度僅下降0.05%

無法檢測。連續(xù)光譜分出的光λ,nm0.2nm,100%積分吸收與峰值吸收原子線寬度

103nm原子吸收I積分吸收與峰值吸收以上分析表明無法用單色器分出的光進行原子吸收測

定，所以盡管原子吸收現(xiàn)象在19世紀初便被人們發(fā)現(xiàn)

但是一直未能在分析中利用。1955年澳大利亞物理學(xué)

瓦爾西

(A.Walsh)

提出了峰值吸收的理論，從而奠

定了原子吸收分析的基礎(chǔ)。峰值吸收理論認為：當銳線光源發(fā)射的譜線，其中心

頻率剛好與原子吸收的中心頻率相同，且能保證銳線

光源的譜線寬度小于原子吸收譜線寬度的1/5時，這樣

銳線光源的光理論上可以100%被原子吸收，從而實現(xiàn)

對峰值吸收的測量。由于只有同種元素的原

子才能發(fā)射相同波長的

光，所以測定某種元素

就要使用該元素的空心

陰極燈。同時要控制空

心陰極燈使其發(fā)射的譜

線寬度比吸收線窄，滿

足測定要求。峰值吸收示意吸收線發(fā)射線sburce調(diào)制解調(diào)(b)

AbsorptionFlame

photometer(a),

and

atomic

absorption

spectrometer

(b).Monochromatoror

FilterBurnerEmission原子吸收光譜儀與火焰光度計AmplifierMeterDetector(a)光源—HCL光

源

—HCL機理：高壓電場(300400V

左右),電離惰

性氣體，正離子向陰極加速轟擊，濺射出金屬原子

金屬原子在陰陽間接受電子和正離子的撞擊而獲得

能量

，從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，在返回基態(tài)時輻射出

該元素的發(fā)射線，在控制條件下，發(fā)射線主要是該

元素的共振線。以上機理可概括為：電離-濺射-撞擊

-激發(fā)-退激發(fā)?？招年帢O燈的壽命一般為5A/

小時，若以5mA

工作可用1000小時。鎳空心陰極燈

的發(fā)射光譜原子吸收測定選擇

譜線：232.0nm火焰原子化裝置有全消耗型和預(yù)混合型，前者一般不用。預(yù)混合型通常

包括四個部分：噴霧器、霧化室、燃燒器和火焰。噴霧器的主要技術(shù)指標是提升率，

一般在3～8m

l/

分之間，高好。霧化室的主要技術(shù)指標是霧化率，

一般為7%～15%之

間，高好。燃燒器一般有兩類，分別適用于空氣-乙炔火焰和氧化亞氮-乙炔火焰，均為長縫型，前者縫長80～120mm,

縫寬

0.4～0.7mm;

后者縫長40～60mm,

縫寬0.4～0.5mm。噴霧器是提升試樣溶

液的關(guān)鍵部件，主要

技術(shù)指標是提升率，

一般以3～8ml/分之

間，高一點較好?；鹧嬖踊b置_

噴霧器火焰原子化裝置火焰原子化裝置火焰燃燒器的缺點1.霧化率低，稀釋倍數(shù)大，原子化效率低一般提升率為3～8ml/

分，霧化率10%左右，最佳

15%。若前者為5ml/

分，則每分鐘只有1/10的試液即0.5ml

可能進入火焰，而在火焰中，燃氣與助燃氣

的流量為10升/分，會進一步稀釋10000/0.5=20000(2

萬

)

倍

。在火焰中氣體受熱大約要膨脹80倍，此外

還有大氣的擴散作用，故實際倍數(shù)稀釋倍數(shù)可達10

萬到20萬倍。這樣一來，火焰原子吸收法的絕對靈

敏度便大大降低了。2.不能分析固體試樣無火焰燃燒器石墨爐原子化器的結(jié)構(gòu)特點：低電壓、大電流、

水冷卻、通氮氣，微量進樣(5～10ml)

或微

量固體樣品。在應(yīng)用上，該原子化法的靈敏度可達10

12g,

比火焰法高3～5個數(shù)量級；精密度低

一般10%,甚至達50%;裝置復(fù)雜、價格

高，主要用于環(huán)境研究中。Metal

JacketH?O

OutMassmann

furnace.

[Courtesy

of

Perkin-Elmer

Corporation.]InsulatorGraphite

TubeElectricalConnectionLight

PathElectricalConnectionH?O

InRemovableWindowGas

In化學(xué)原子化器(氫化物原子化法)原理該方法是基于某些金屬元素在酸性溶液中，能被某種

還原劑還原成該金屬的氫化物，并在室溫的條件下能從溶

液里揮發(fā)出來，然后經(jīng)低溫(900℃以下)即能熱解分離形成金屬的基態(tài)原子，進行吸收測定。例如，砷在酸性溶液中，被KBH,

或NaBH?

還原，反應(yīng)

式如下：AsCl?+4NaBH?+HCl+H?O?AsH?T+NaCl+4HBO?+BH?

個化學(xué)原子化器(氫化物原子化法)碲、錫、硒、銻、鉛、鍺、鉍、汞等元素均能發(fā)生上述

反應(yīng)，分別生成相應(yīng)的氫化物為H?Te

、Sn

H?

、H?Se、SbH?

、PbH?

、GeH?

、BiH?

、Hg被還原后直接形成汞的原子蒸氣，故測汞時吸收池?zé)o需加熱。N?氫化物或汞還原劑出射光入射光氫化法的主要特點氫化物產(chǎn)生的過程本身又是一個分離過程，可以克服樣

品其他組分的干擾，并且靈敏度比火焰原子化法約高3

個數(shù)量級。氫化物法的局限性在于，能夠形成揮發(fā)性氫化物氣體的

元素很少，到目前為止，報道的只有9種，因而，它的

廣泛應(yīng)用受到限制。另外，這種方法的測量精密度不如

火焰原子化法高，分析元素的濃度線性范圍較窄。元素吸收線(nm)氫化物法(μg/ml)火焰法(μg/ml)As193.70.00020.9Bi223.10.00040.32Sb217.60.00020.4Se196.00.00060.8Te214.30.00050.3Pb217.00.00060.15Ge265.10.051.0Sn286.30.00020.4Hg253.70.0013.7氫化法的靈敏度比較干擾及其抑制盡管原子吸收分析是檢測元素的特征譜

線，干擾較少，但仍然存在，

AAS

中的干擾可

分為三類：增強干擾，使測定結(jié)果偏高。減弱干擾，使測定結(jié)果偏低。不定干擾，可高可低。增強干擾增強干擾，使測定結(jié)果偏高，其中包括：光譜干擾，不同元素吸收線因分不開而重疊，

或同元素鄰近譜線分不開引起，但很少見；背景吸收干擾，來自于光散射和分子吸收干擾，分

子吸收干擾是原子吸收分析中最難克服的一類干擾，

多數(shù)情況下，必需靠儀器硬件設(shè)計來克服。減弱干擾不定干擾減弱干擾，包括電離干擾和化學(xué)干擾實質(zhì)是由于火焰中基態(tài)原子數(shù)目因此而減少。不定干擾，主要是由于試液基質(zhì)不同而

導(dǎo)致，又稱為物理干擾，如試液酸度不

同

，

粘度不同會引起提升率、霧化率變化。光譜干擾光譜干擾非測定譜線進入檢測器所引起的干擾，包括同

元素的譜線干擾，如Mn,279.5、279.8、280.1nm;和

不同

元

素

譜

線

，

如Fe

的

2

7

1

.

9

0

2

5

和

Pt

的271.9038nm。消除方法：1.使用較小通帶，分離相鄰譜線；2.使用無干擾線，如Fe

使用248

.

3nm

不

用271.9nm。電離干擾當火焰溫度的能量大于元素的電離能時，元素會被電離

成離子，導(dǎo)致基態(tài)原子數(shù)減少，

一般電離能小于6eV

的元

素易發(fā)生。在使用AIR-C?H?

時

，K、Na

等堿金屬應(yīng)注

意；在使用N?O-C2H?

時

，Ca、Ba、K、Na

等堿土金

屬也應(yīng)注意。乙炔-一氧化二氮火焰中，加鉀對減少

鋇電離的正效應(yīng)。消除方法：1.加入更容易電離的元素提供電子(作為消電

離劑),使火焰中的電離平衡向基態(tài)原子方向移動。

K++e?K;2.

使用較低溫度的火焰氣體，防止電離。電離干擾加銫，852.1nmI加鈉，589.0nm

500

1000

1500

2000

2500

3000

mg/L

POTASSIUM

ADDEDRESONANCEION

LINE553.5nmX電離干擾EFFECT

OF

ADDED

POTASSIUM0.

.30.

.20.1553.5nm

455.3nmABSORBANCEBARIUM455.4nm0.50.4基質(zhì)干擾或物理干擾導(dǎo)致火焰溫度、燃燒速度、試液提升率、霧化率發(fā)生

變化引起。此類變化的直接后果是，進入火焰的原子

數(shù)目不確定性增加，而火焰中基態(tài)原子數(shù)目影響吸光度的大小。消除方法：1.控制試液介質(zhì)或化學(xué)組成盡可能相同。2.

使用標準加入法(測定不同來源或組成復(fù)雜的試樣

時

)3.稀釋待測液(適宜于濃度較高的測定對象)。化學(xué)干擾待測元素與共存元素發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，因而引起原

子化程度改變所造成的影響，稱為化學(xué)干擾。如磷酸

對鈣測定的干擾。影響化學(xué)干擾的因素很多，除與待測元素及共存元素的性質(zhì)有關(guān)外，還與由噴霧器、燃燒器、火焰類型、

溫度以及火焰部位等有關(guān)系。使用高效率噴霧器時，霧

滴細，蒸發(fā)速度快，因而干擾較小?；瘜W(xué)干擾在低溫火焰中可以看到化學(xué)干擾，大多在高溫火

焰中消失。相反，在低溫火焰中看不到的干擾，在高

溫火焰中有時卻呈現(xiàn)出來。例如磷酸在空氣一乙炔火

焰中降低鈣的吸收強度，但在氧化亞氮-乙塊火焰中

卻稍微呈現(xiàn)增感效果?；鹧娌课徊煌?，化學(xué)干擾也不相同。例如在空氣

-乙快火餡中，火焰上部磷對鈣的干擾較小，而在火焰

下部干擾最大?；瘜W(xué)干擾磷酸根對銩測定的影響0.0

0.5

1.0

1.5

2.0mgL

Ca化學(xué)干擾在各種干擾中。化學(xué)干擾是最主要的一種干擾。為了

抑制化學(xué)于擾，除了選擇適當?shù)姆治鰲l件外，

主要還

有下列幾種方法：1.加入抑制劑常見抑制劑包括釋放劑、保護劑和緩沖劑。2.采用標準加入法3.化學(xué)分離方法加入抑制劑

釋放劑當欲測元素和干擾元素在火焰中形成穩(wěn)定的化合物時，

加入另一種物質(zhì)使之與干擾元素化合，生成更穩(wěn)定或更

難揮發(fā)的化合物，從而使待測元素從干擾元素的化合物

中釋放出來，加入的這種物質(zhì)稱為釋放劑。例如，測定

植物中的鈣時，為了消除磷酸鹽和鋁的干擾，在標準和

試樣中加入等量的鎂和硫酸，使鈣從磷酸鹽和鋁的化合

物中釋放出來，因而消除了干擾，鍶和鑭可使鈣和鎂從

磷酸鹽、硫酸鹽、硅酸鹽和鋁的化臺物中釋放出來。加

入

抑

制

劑

保護劑由于保護劑的加入，使待測元素不與干

擾元素起反應(yīng)，從而“保護”了待測元素不受

干擾。加入的保護劑(一般是絡(luò)合劑)或者是

與待測元素起作用，形成穩(wěn)定的絡(luò)合物，

EDTA

抑制磷酸對鈣的干擾時，是由于鈣與

EDTA

絡(luò)合。而不再與磷酸反應(yīng)的結(jié)果；或是

加入的絡(luò)合劑與干擾元素起作用，而把待測元

素釋放出來，如用8-羥基喹啉消除鋁對鋅的干

擾，加氟離子防止鋁對鈹?shù)母蓴_均屬此類。加入抑制劑

緩沖劑在原子收分析中，可用吸收緩沖劑消除干擾元素的影響。假若干擾元素產(chǎn)生正干擾，或當高濃度的干擾物質(zhì)存在時

不會使待測元素的吸收顯著降低，那么，在標準和試樣中

就可以加入過量的干擾物質(zhì)以消除干擾元素的影響。加入

的這種過量的干擾物質(zhì)就稱為吸收緩沖劑。例如，用氧化

亞氮-乙塊火焰測定Ti時

，Al抑制Ti的吸收，當Al濃度大于

200ppmS

時，則干擾趨于穩(wěn)定。因此在試樣和標準中均加

入超過200ppm

的干擾元素Al以消除干擾。采用標準加入法標準加入法也是消除化學(xué)干擾的一種簡單有效的

方法。使用這種方法，能夠自動補償試樣中微量

元素的干擾，準確度良好。同時還可以補償粘度、

表面張力等物理干擾。但是應(yīng)注意，當存在背景吸收時不能使用標準加入

法，否則會造成正誤差。同時，使用標準加入法時，

標準曲線必須是通過原點的直線?；瘜W(xué)分離方法用上述方法消除化學(xué)干擾無效時，可以采用化學(xué)分

離方法，不僅可消除干擾，而且還可以起到富集作

用。但是化學(xué)分離較麻煩費時，有時也會引起沾污

或損失。常用的方法有萃取和離子交換法等，其中

以有機溶劑萃取法應(yīng)用最廣。因為它除了能富集待

測元素和分離干擾元素外，而且直接將有機相噴霧

到火焰中進行測定，對一般金屬說，其測定靈敏度

比在水相時約提高2～8倍。個別元素甚至達20倍以

上。因此，有機溶劑萃取一原子吸收法在痕量元素

分析中得到了廣泛的應(yīng)用。但要注意選擇適宜的有

機溶劑，避免負作用。背景吸收干擾光散射背景吸收包括光散射和分子吸收。它使吸收值增加產(chǎn)生

正誤差。光散射是在原子化過程中產(chǎn)生的固體微粒對入射

光產(chǎn)生散射作用，造成

一種“假吸收”效應(yīng)，便

待測元素的吸光度增加。按照雷利定律，散射光

的強度與波長的四次方成反比(即I=1/λ4)

所以

光散射的影響隨波長的變短而增加。另外基體的濃度

越高，溫度越低，散射影響就越大，因此，當測定短

波區(qū)元素，而基體濃度又較高時，應(yīng)特別注意這種干

擾。背景吸收干擾

分子吸收是指在原子化過程中生成的氣體分子、氧化物、氫

氧化物和鹽類這類分子對輻射的吸收所引起的干擾。

分子吸收是一種寬帶吸收。不同的化合物有不同的

吸收波長。例如，在空氣-乙快焰中Ca

形成Ca0H,

它在約530-560nm

有一個吸收峰，干擾Ba553.5nm和Na589.0nm的

吸收測定；

SrO在約640-690nm有一個吸收峰，干擾Li670.7nm的測定，MgO

在360-390nm

有一個吸收峰，Cr357.9nm在它的邊緣也受到干擾等等。背景吸收干擾

堿金屬鹵化物的分子吸收在原子吸收分析中，常碰到的分子吸收有下面三類：1.堿金屬的鹵化物在大部分紫外區(qū)有很強的分子

吸收。例如。

KBr、KI

在200-400nm

均有分子吸收。下頁

的圖是10%和5%NaC1

溶液的分子吸收曲線。顯然，

它干擾Zn、Cd、Ni、Fe、Hg、Mn、Pb、Mg、Cu

等元素的測定。背景吸收干擾

NaOH的分子吸收光譜如左圖所示

，

在波長250nm

以

下

，H?SO?

和

H?PO?

有很強的分子吸收，而HNO

則吸收很小。所

以在原子吸收分析中，大

多

采

用HNO

、HCl

作

溶

劑

，

盡可能少用或不用H?SO?

、

H?PO?

等。3.6mol

H?SO?4.0mol

H?PO?A1.8mol

HNO?背景吸收干擾

無機酸的分子吸收200

250

300

350

nm背景吸收干擾

干擾元素分子吸收分子吸收與干擾元素的濃度有關(guān)，濃度越高，分子

吸收越強(參見上述的NaOH

分子吸收光譜圖)

,

同時還與火焰溫度有關(guān)。例如，堿金屬鹵化物在低

溫火焰中(如空氣-煤氣火焰)存在分子吸收。但在

溫度較高的空氣-乙炔火焰中，由于分子離解，因而

觀察不到分子吸收。在氧化亞氮-

乙炔火焰中，

CaOH

對Ba

的分子吸收也消除了。因此，使用高溫

火焰是消除分子吸收干擾的簡單方法。背景吸收干擾

火焰氣體分子吸收火焰氣體的分子吸收。波長越短，火焰氣體吸

收越強。對于空氣。乙塊火焰，在波長小于

250nm

時，就開始有明顯的吸收?；鹧鏆怏w的

分子吸收，

一般可用零點扣除(即調(diào)零)的方

法來消除，但嚴重時影響穩(wěn)定性。為了盡量減

少火焰氣體的吸收。保證有較好的測量精度，

測定象As、Se、Te、Sb、Zn、Cd

等這樣一些

在短波元素時，可使用空氣-氫或氬-氫火焰?？鄢尘暗姆椒ū尘拔寨B加在總的吸收值中，因此只有測得背景吸收

并從待測元素的總吸收中減去背景吸收部分，才能獲得

原子吸收?？鄢尘拔盏姆椒ㄓ校?.1

非吸收線扣除背景3.3背景測定扣除；3.4用連續(xù)光源扣除背景-氘燈背景校正器扣除背景的方法

非吸收線扣除采用的非吸收線，不為待測元素的基態(tài)原子吸收，但能被背景吸收，因此，就可以測得背景吸收部分

，

如，測定Pb217.0nm時，當樣品中確實沒有Sb

時

，則可用Sb217.6nm

測量背景吸收。然后從Pb的總吸

收中扣除背景吸收即為Pb

的原子吸收。但是，非吸收線扣除背景的缺點是難于找到合適的非吸

收線，另外每個樣品要測定2次，實際上使用不多。扣除背景的方法

背景測定扣除配制不含待測元素的基體溶液，在測量試樣的工作條

件下測定背景吸收，然后從待測元素的總吸收中減去

背景吸收。也可以用與試樣溶液有相似成分的標準溶

液繪制標準曲線的辦法來抵消背景吸收的干擾。采用

此法時應(yīng)抓住主要矛盾，全力找出產(chǎn)生背景吸收的主

要成分，然后使標準溶液中主要成分的濃度與試樣中

的濃度一致。例如，測定人體組織灰分中的鋅時，發(fā)

現(xiàn)背景吸收是來源于加入的擇放劑鑭，因此只要使標

準溶液和試液中鑭的濃度抑制就可消除背景吸收?？鄢尘暗姆椒疅舯尘靶Ｕ尘拔罩饕獊碓从诜肿游蘸凸馍⑸?。而分子吸收是寬帶吸收，原子吸收是窄帶-譜線吸收。因此當氘燈輻射光(連續(xù)光譜)通過火焰時，產(chǎn)生的背

景吸收，原子吸收部分可忽略不計(<1%);當空心陰極燈輻射光(窄線光譜)通過火焰時，既產(chǎn)生

原子吸收，又有背景吸收，因此，如果將空心陰極燈和氘燈輻射光以不同的頻率通過火焰，利用電子

線路裝置，將兩者的吸收信號(原子吸收+背景吸收)

與氘燈信號(背景吸收)相減，便可得到扣除背景

吸收后的原子吸收信號。測原子吸收：沒有樣品時，調(diào)節(jié)HCL

228.8nm光強度=100,A=0。

測定樣品

時，A總=A原子+A分子；都是銳線光譜

均不能忽略。測分子吸收：沒有樣品時，調(diào)節(jié)D?

燈

光強度=100,A=0;

測定樣品時，

AD?=A原子+A分子。分子為寬帶吸收，

原子銳線吸收所占比例可以忽略，Ap?=A分子?？鄢尘暗姆椒?/p>

氖燈背景校正下面是NaCl

和Cd

共存時背景校正的

例

子

：200

250

300

nm

A

原子=

A

總-AD?Cd

228.8nmD2

寬帶扣

除

背

景

的

方

法

氘燈背景校正氘燈背景校正是一種快速、簡便扣除背景的方法，然而

受氘燈發(fā)射光譜的限制，只能在400nm

以下進行背景校

正(參見教材P.319)。

不過，能適應(yīng)多數(shù)元素測定。氘燈背景校正是一種儀器扣除法，參見教材P320

頁。

如果沒有購買帶氘燈背景校正的儀器，也可以用氫燈

作背景校正，不過要測定2次，而且測定前必須調(diào)整

氘燈象與元素?zé)粝笤谌紵魃戏街睾媳憧蓾M足?？?/p>

除

背

景

的

方

法

S-H法扣除背景該系統(tǒng)以雙脈沖供電給空心陰極燈的方式運行。開始，

低電流脈沖使空心陰極燈產(chǎn)生發(fā)射線，與通常用于原

子吸收光譜分析的譜線類似，測定的原子吸收和背景

吸收的信號之和。接著，高電流脈沖使空心陰極燈產(chǎn)

生稍有自吸的變寬譜線，測得的吸光度主要是背景吸

收，再用電子學(xué)線路將兩種信號進行比較，得到的兩

者的差值，就是被測元素原子的吸光度

，背景吸收被

扣除。目前我國沈陽分析儀器廠已經(jīng)研制成功，

WY

X—403

型原

子吸收分光光度計就屬于這種類型的儀器。小電流測定時，測得吸光度包括

原子吸收和分子吸收，均為銳線

光譜，不能忽略。大電流測定時，譜線由于自吸變

寬，相當于D?

測定，雖然測得吸

光度包括原子吸收和分子吸收，

小電流所占比例很小可以忽略?？?/p>

除

背

景

的

方

法

S-H法扣除背景228.8nm,小電大電流ACd流S-H

法扣除背景示意A

原子=

A

小電流-A

大電流300

nm200250扣除背景的方法

塞曼效應(yīng)扣除背景原理：利用強磁鐵產(chǎn)生磁場，使原子線分裂。不加磁場測定原子吸收和分子吸收，加上磁場后原

子線分裂，偏離不加磁場時的原子線，可以測定分

子吸收(背景吸收),相減得到原子吸收。磁場磁場扣除背景的方法

塞曼效應(yīng)扣除背景靈敏度與檢出限相對靈敏度與絕對靈敏度分別適用于液體和固體試樣。

相對靈敏度指吸光度為0.0044A時所對應(yīng)的待測元素水溶液的濃度，濃度單位是μg/ml,

之所以采用相對靈

敏度，是因為進入光路的待測原子數(shù)無法準確得知，

而且它受提升率、霧化率等因素得影響，故測定要在最佳工作條件下進行，相對靈敏度的單位是μg/ml

·

1%。對于固體試樣，可以通過稱樣直接獲得進入光路

的待測物質(zhì)的絕對重量，因而可用絕對靈敏度來表示。定義為，能產(chǎn)生0.0044A(1%

吸收)所對

應(yīng)的待測元素的重量，單位是g/1%。檢

出

限也有絕對和相對檢出限之分，指相當于兩倍噪聲信號

所對應(yīng)的元素濃度或質(zhì)量。注意靈敏度與檢出限兩者之間的關(guān)系。儀器A的靈敏度能保證測

量精度。儀器B的靈敏度不能保證

測量精度。儀器的檢出限更重要。t儀器A儀器B0.0044測定條件及其選擇原子吸收的工作條件受多種因素的影響

，

常見的工作條件包括：1.燈電流

信噪比，保證靈敏度越小越好2.分析線

排除如譜線干擾、短波長吸收干擾3.火焰類型

燃氣與助燃氣比例4.狹縫寬度

可靠分離吸收線前提下越大越好5.其它

如燃燒頭角度和高度、火焰高度、提升率和霧化率等。1.RecommendedFlame:

Air-acetylene,

oxidizing(lean,

blue)2.

Sensitivity

with

a

flow

spofler

&

N20-C2H2

flame

at

213.9

nm:3.

Table

contains

HCL

data.

EDL

sensitivity

values

approximat