《數(shù)控落地銑鏜床　第1部分：精度檢驗》

5JB/T14484.1—2022數(shù)控落地銑鏜床第1部分：精度檢驗本文件規(guī)定了配置移動立柱和固定式工作臺的數(shù)控落地銑鏜床的運動軸和加工操作的定義、專用部件說明、一般要求、幾何精度檢驗、工作精度檢驗及定位精度和重復(fù)定位精度檢驗。本文件適用于一般用途和普通精度的數(shù)控落地銑鏜床（移動立柱和固定式工作臺）的檢驗活動。本文件不適用于機床精度檢驗之前的運行檢驗（如振動、異常噪音、運動組件的爬行等檢驗）以及機床特性檢驗（如轉(zhuǎn)速和進給量等檢驗）。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T1182-2008產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）幾何公差形狀、方向、位置和跳動公差標(biāo)注GB/T17421.1-1998機床檢驗通則第1部分：在無負荷或精加工條件下機床的幾何精度GB/T17421.2-2016機床檢驗通則第2部分：數(shù)控軸線的定位精度和重復(fù)定位精度的確定GB/T17421.7-2016機床檢驗通則第7部分：回轉(zhuǎn)軸線的幾何精度3術(shù)語和定義本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義。4運動軸的定義4.1主運動數(shù)控落地銑鏜床(以下簡稱“機床”)的主運動即切削運動過程中，工件保持不轉(zhuǎn)動,切削刀具旋轉(zhuǎn)，即機床通過主軸和/或平旋盤上的刀具的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生切削能量進行切削。切削運動通常是主軸的旋轉(zhuǎn)，也可能是平旋盤的旋轉(zhuǎn)。4.2進給運動機床的進給運動有以下幾種:a)X軸：立柱在床身上的縱向運動;b)Y軸：主軸箱的垂直運動;c)Z軸：主軸的軸向運動;d)U軸：滑塊在平旋盤上的徑向運動。（可選）e)W軸：立柱平行于主軸軸線的軸向運動。（可選）表1給出了圖1所示機床各結(jié)構(gòu)部件的名稱。圖1給出了機床的典型配置。6JB/T14484.1—2021序號(見圖1)英文1床身bed2立柱column3主軸箱spindlehead4立柱滑座columnsaddle5固定工作臺fixedtable6主軸spindle5機床加工操作定義5.1鏜削保持工件不轉(zhuǎn)動，通過單刃切削刀具的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生切削能量，完成主要切削過程，加工不同尺寸和幾何形狀孔的加工方式。鏜削時，利用鏜刀桿安裝鏜刀頭，并根據(jù)鏜主軸的軸線調(diào)整鏜刀刃到一個確定的位置，從而可以將圓柱形孔、圓錐形孔、盲孔或通孔的直徑加工到所要求的尺寸。5.2銑削保持工件不轉(zhuǎn)動，通過多個切削刃的刀具的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生切削能量，完成主要切削過程，加工各種幾何形狀的非旋轉(zhuǎn)表面的加工方式。銑削，通常包括平面銑削和端面銑削。刀具安裝在鏜軸錐孔中，或者將面銑削刀具安裝在銑軸端部（見圖2）。7JB/T14484.1—20226專用部件6.1主軸箱機床可配置不同類型的主軸箱,例如帶有滑動鏜主軸和銑主軸、帶有滑動鏜主軸和平旋盤、帶有滑枕或銑滑枕的主軸箱。圖2中列舉了3種常見類型的主軸箱作為參考，主軸箱相關(guān)組件的名稱見表2。平旋盤通常分為固定式的或可拆卸的，并帶有一個徑向端面滑塊；可拆卸的平旋盤通常作為附件。固定式平旋盤可以不總安裝在銑軸上，也可能安裝在獨立于主軸軸承的專用軸承上。序號（見圖2）英語1鏜軸boringspindle2銑軸millingspindle3平旋盤facinghead4有平旋盤的主軸頭spindleheadwithfacinghead5滑枕rama)銑鏜軸式主軸箱b)平旋盤式主軸箱c)滑枕式主軸箱6.2后立柱尾架由于減少了長鏜桿的使用，后立柱尾架逐漸作為可選附件或輔助裝備。7一般要求7.1計量單位本文件中所有線性尺寸、尺寸允差均用毫米為單位表示；角度尺寸的單位為度，角度誤差主要用比值表示（例如：0.00x/1000）。在有些情況下為了清晰，可用微弧度或角秒表示。其換算關(guān)系見下式：0.010/1000=10μrad≈2″7.2執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)8JB/T14484.1—2021使用本文件時，按GB/T17421.1的規(guī)定進行，尤其是機床檢驗前的安裝，主軸和其他運動部件的空運轉(zhuǎn)升溫、檢驗方法和檢驗工具的推薦精度。7.3檢驗順序本文件所給出的檢驗項目的順序可根據(jù)裝拆檢驗工具和檢驗方便進行調(diào)整。7.4檢驗項目檢驗機床時，根據(jù)結(jié)構(gòu)特點并不是必須檢驗本文件中的所有項目。為了驗收目的而要求檢驗時，可由用戶取得制造廠同意選擇一些感興趣的檢驗項目，但這些檢驗項目必須在機床訂貨時明確提出。7.5檢驗工具本文件所規(guī)定的檢驗工具僅為例子，可以使用相同指示值和具有至少相同精度的其它檢驗工具。指示器應(yīng)具有0.001mm或更高的分辨力。7.6工作精度檢驗工作精度檢驗應(yīng)在試件精加工后進行。7.7軟件補償如果使用嵌入式軟件對幾何誤差，位置誤差，形狀誤差和溫度誤差進行補償，它們在檢驗中的使用需要基于用戶和供應(yīng)商/廠商的協(xié)議。當(dāng)使用了軟件補償時，需要在檢驗報告中說明。7.8最小公差當(dāng)實測長度與本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的長度不同時，公差應(yīng)根據(jù)GB/T17421.1-1998中2.3.1.1的規(guī)定進行折算，公差最小折算值為0.005mm。9JB/T14484.1—20228幾何精度檢驗8.1線性軸線的直線度和角度誤差8.1.1檢驗項目G18.1.1.1立柱移動（W軸）的直線度：a)在YZ垂直平面內(nèi)（EYW）；b)ZX水平平面內(nèi)(EXW)。8.1.1.2簡圖見圖3。8.1.1.3公差：a）和b）測量長度在1000以內(nèi)為0.020；測量長度超過1000時為0.030；局部公差：任意300測量長度上為0.006。8.1.1.4檢驗工具。平尺、指示器、調(diào)整塊或光學(xué)方法。8.1.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.2.3.2.1.1和5.2.3.2.1.3的規(guī)定）。在工作臺臺面上平行a于立柱的移動方向（W軸按a）和b）所定位置放置平尺。如果主軸能鎖緊，指示器可固定在主軸上，否則將指示器固定在主軸箱上。沿W軸方向移動立柱，并記錄讀數(shù)。a)、b)誤差分別計算，誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.1.2檢驗項目8.1.2.1立柱移動（W軸）的角度誤差：a)在YZ平面內(nèi)（EAW:俯仰）；b)在XY平面內(nèi)（ECW:傾斜）；c)在ZX平面內(nèi)（EBW:偏擺）。G28.1.2.2簡圖見圖4。1——精密水平儀；2——自準(zhǔn)直儀；3——反射鏡。8.1.2.3公差：a）、b）和c)0.040/1000；局部公差：任意300測量長度上為0.020/1000。8.1.2.4檢驗工具：a)精密水平儀、激光干涉儀或其它光學(xué)角度測量工具；b)精密水平儀；c)自準(zhǔn)直儀或其他光學(xué)角度測量工具。8.1.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.2.3.1.3和5.2.3.2.2的規(guī)定）。水平儀應(yīng)置于主軸箱上或其他儀器應(yīng)放在主軸上。a)（EAW:俯仰）沿Z軸方向（自準(zhǔn)直儀為垂直方向）；b)（ECW:傾斜）沿X軸方向；c)（EBW:偏擺）沿Z軸方向（自準(zhǔn)直儀為水平方向）?；鶞?zhǔn)水平儀固定在工作臺上，主軸箱位于行程的中間位置。當(dāng)W軸運動引起主軸箱和工作臺同時產(chǎn)生角位移時，這兩種角位移應(yīng)分別測量并給予標(biāo)明。檢驗應(yīng)在運動的兩個方向上沿行程均布的至少5個位置上進行。a)、b)、c)誤差分別計算，誤差以讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.1.3檢驗項目G38.1.3.1立柱滑座移動（X軸）的直線度：a)在XY垂直平面內(nèi)(EYX)；b)在ZX水平平面內(nèi)(EZX)。G38.1.3.2簡圖見圖5。a)和b）只有b）標(biāo)引序號說明：1——標(biāo)靶鏡；2——鋼絲；3——準(zhǔn)直望遠鏡；4——顯微鏡。8.1.3.2公差：a）和b）測量長度在1000以內(nèi)為0.020；測量長度15000以內(nèi)，每增加1000，公差增加0.005，最大公差為0.080；測量長度超過15000，每增加1000，公差增加0.005，最大公差為0.120；局部公差：任意500測量長度上為0.010。8.1.3.3檢驗工具：a)光學(xué)儀器；b)顯微鏡和鋼絲。8.1.3.4檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.2.3.2.1.2和5.2.3.2.1.3的規(guī)定）：a)準(zhǔn)直望遠鏡可垂直固定在工作臺上，使光束平行a于立柱滑座運動的X軸方向。如果主軸能鎖緊，則標(biāo)靶鏡可裝在主軸上，否則應(yīng)裝在主軸箱上。沿X軸方向移動立柱，并記錄下讀數(shù)。由于鋼絲下垂，所以不推薦使用鋼絲。b)當(dāng)使用鋼絲時，顯微鏡應(yīng)安裝在主軸或主軸箱上。當(dāng)使用光學(xué)方法時，望遠鏡應(yīng)水平放置。a)、b)誤差分別計算，誤差以讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.1.4檢驗項目G48.1.4.1立柱滑座移動（X軸）的角度誤差：a）在XY平面內(nèi)（ECX:俯仰）；b）在YZ平面內(nèi)（EAX:傾斜）；c）在ZX平面內(nèi)（EBX:偏擺）。G48.1.4.2簡圖見圖6。標(biāo)引序號說明：1——精密水平儀；2——自準(zhǔn)直儀；3——反射鏡。8.1.4.3公差：a）、b）和c）X≤4000：0.040/1000；X＞4000：0.060/1000；局部公差：任意300測量長度上為0.020/1000。8.1.4.4檢驗工具：a)精密水平儀、激光干涉儀或其它光學(xué)角度誤差測量工具；b)精密水平儀；c)激光干涉儀或其它光學(xué)角度誤差測量工具。8.1.4.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.2.3.1.3和5.2.3.2.2的規(guī)定）。水平儀或光學(xué)測量裝置應(yīng)置于主軸箱上：aECX:俯仰）沿X軸方向（自準(zhǔn)直儀為垂直方向bEAX:傾斜）沿Z軸方向；cEBX:偏擺）沿X軸方向（自準(zhǔn)直儀為水平方向）?；鶞?zhǔn)水平儀固定在工作臺上，主軸箱位于行程的中間位置。當(dāng)X軸移動引起主軸箱和工作臺同時產(chǎn)生角位移時，這兩種角位移應(yīng)分別測量并給予標(biāo)明。檢驗應(yīng)在運動的兩個方向上沿行程均布的至少5個位置上進行。a)、b)、c)誤差分別計算，誤差以讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.1.5檢驗項目G58.1.5.1主軸箱移動（Y軸）的直線度：a）在YZ垂直平面內(nèi)（平行于主軸軸線的垂直平面EZYb）在XY垂直平面內(nèi)（垂直于主軸軸線的垂直平面）(EXY)。G58.1.5.2簡圖見圖7。標(biāo)引序號說明：1——鋼絲；2——顯微鏡。JB/T14484.1—20218.1.5.3公差：a）和b）1000測量長度上為0.020；4000測量長度內(nèi)，每增加1000，公差增加0.010；測量長度超過4000時，長度每增加1000，公差增加0.020。8.1.5.4檢驗工具。顯微鏡和鋼絲或光學(xué)方法。8.1.5.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.2.3.2.1.2和5.2.3.2.1.3的規(guī)定）。立柱滑座應(yīng)鎖緊，且立柱在其行程的中間位置鎖緊。鋼絲應(yīng)在固定工作臺和機床的另一個固定部件之間張緊，并盡可能靠近立柱的垂直導(dǎo)軌。如果主軸能鎖緊，顯微鏡或準(zhǔn)直望遠鏡可固定在主軸上，否則應(yīng)裝在主軸箱上。沿Y軸移動主軸箱，記錄顯微鏡或準(zhǔn)直望遠鏡讀數(shù)。a）、b）誤差分別計算。誤差以讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.1.6檢驗項目G68.1.6.1檢查主軸箱移動（Y軸）的角度誤差：a）在YZ垂直平面內(nèi)（EAY）；b）在ZX水平平面內(nèi)（EBY：傾斜）。G68.1.6.2簡圖見圖8。標(biāo)引序號說明：1——水平測量儀。8.1.6.3公差：a）和b）Y≤4000：0.040/1000；Y＞4000：0.060/1000。8.1.6.4檢驗工具：a)精密水平儀或光學(xué)角度誤差測量工具；c)平板、圓柱形角尺、水平儀和指示器/支架。8.1.6.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.2.3.1.3和5.2.3.2.2的規(guī)定）：a）在主軸箱上沿Z軸方向放置一水平儀，基準(zhǔn)水平儀沿相同方向放置在工作臺上，當(dāng)Y軸運動引起主軸箱和工作臺同時產(chǎn)生角位移時，這兩種角位移應(yīng)分別測量并給予說明。檢驗應(yīng)在Y軸上下兩個運動方向上沿行程均布的至少5個位置上進行。誤差以水平儀讀數(shù)的最大差值計。b）在工作臺上放置一平板，并調(diào)整至水平。將一圓柱形角尺置于平板上，指示器固定在主軸端部專用支架上，使其測頭觸及圓柱形角尺。在平板上沿Z軸方向放置一水平儀。主軸箱沿Y軸移動，在各測量位置記錄讀數(shù)。平板及圓柱形角尺移動距離d，調(diào)整平板使水平儀讀數(shù)與第一個位置相同，不移動X軸，重新調(diào)整指示器使其測頭觸及圓柱形角尺。然后，在主軸箱行程的各相同測量位置記錄指示器的讀數(shù)。檢驗應(yīng)在Y軸上下兩個運動方向上沿行程均布的至少5個位置上進行。在每一個測量位置計算兩個讀數(shù)間的差值，角度誤差為最大差值與最小差值之間的差值除以距離d。JB/T14484.1—20218.2坐標(biāo)軸間的垂直度8.2.1檢驗項目G78.2.1.1立柱滑座移動（X軸）和立柱移動（W軸）間的垂直度。G78.2.1.2簡圖見圖9。8.2.1.3公差：任意1000測量長度上為0.030。8.2.1.4檢驗工具。平尺、角尺和指示器。8.2.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.2.2.4的規(guī)定）。主軸箱位于行程的中間位置并鎖緊。調(diào)整平尺使之與X軸方向平行a，角尺緊靠平尺放置。立柱滑座位于行程的中間位置并鎖緊。如果主軸能鎖緊，指示器可固定在主軸上，否則應(yīng)固定在主軸箱上。指示器測頭垂直觸及角尺的檢驗面。沿W軸移動立柱并記錄讀數(shù)。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.2.2檢驗項目G88.2.2.1主軸箱移動（Y軸）對：a）立柱滑座移動（X軸）的垂直度；b）立柱移動（W軸）的垂直度（僅適用于具有W軸運動的機床）。G88.2.2.2簡圖見圖10。8.2.2.3公差：a）和b）任意1000測量長度上為0.030。8.2.2.4檢驗工具。圓柱形角尺、平板、調(diào)整塊和指示器8.2.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.2.2.4的規(guī)定）。在工作臺上盡可能靠近機床主軸箱放置一平板，調(diào)整平板使其表面與立柱滑座移動（X軸）和立柱移動（W軸）平行a。圓柱形角尺放置在平板上。立柱滑座和立柱在其行程的中間位置鎖緊。如果主軸能鎖緊，指示器可固定在主軸上，否則應(yīng)固定在主軸箱上。a）指示器測頭沿X軸方向觸及圓柱形角尺，主軸箱沿Y軸移動，并記錄讀數(shù)。b）指示器測頭沿W軸方向觸及圓柱形角尺，主軸箱沿Y軸移動，并記錄讀數(shù)。a）、b）誤差分別計算。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.3機床分離式固定工作臺8.3.1一般要求在用戶廠檢驗。制造廠一般按B級生產(chǎn)，用戶需要A級必須在訂貨時明確提出。8.3.2檢驗項目G98.3.2.1工作臺臺面的平面度。G98.3.2.2簡圖見圖11。8.3.2.3公差。測量長度系指工作臺的長邊（O-X）或（O-Z）。A級：測量長度在1000以內(nèi)為0.050；測量長度超過1000時，每增加1000，公差增加0.020；最大公差為0.150。B級：測量長度在1000以內(nèi)為0.080；測量長度超過1000時，每增加1000，公差增加0.030；最大公差為0.400。8.3.2.4檢驗工具。精密水平儀或平尺、量塊和指示器或光學(xué)儀器。8.3.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.3.2.2、5.3.2.3和5.3.2.4的規(guī)定）。立柱滑座位于行程的中間位置。將精密水平儀和橋板放置在工作臺上，沿O-X和O-Y方向，在間距為500mm的不同位置處進行測量，并記錄讀數(shù)。誤差以各點對COA平面坐標(biāo)值的最大代數(shù)差值計。JB/T14484.1—20228.3.3檢驗項目G108.3.3.1工作臺的中間或基準(zhǔn)T形槽或其它基準(zhǔn)面對立柱滑座移動（X軸）的平行度。G108.3.3.2簡圖見圖12。8.3.3.3公差。A級：測量長度在1000以內(nèi)為0.090；測量長度超過1000時，每增加1000，公差增加0.025；最大公差為0.250。B級：測量長度在1000以內(nèi)為0.100；測量長度超過1000時，每增加1000，公差增加0.040；最大公差為0.450。8.3.3.4檢驗工具。指示器和專用角尺。8.3.3.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.4.2.2.2.2的規(guī)定）。如果主軸能鎖定，指示器可固定在主軸上，否則應(yīng)固定在主軸箱上。指示器的測頭可直接觸及T形槽的基準(zhǔn)面或觸及與基準(zhǔn)面接觸的專用角尺。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.3.4檢驗項目G118.3.4.1工作臺臺面對立柱滑座移動（X軸）的平行度。G118.3.4.2簡圖見圖13。8.3.4.3公差。A級：測量長度在1000以內(nèi)為0.040；測量長度超過1000時，每增加1000，公差增加0.025；最大公差為0.300。B級：測量長度在1000以內(nèi)為0.150；測量長度超過1000時，每增加1000，公差增加0.040；最大公差為0.600。8.3.4.4檢驗工具。指示器、平尺和量塊或光學(xué)方法。8.3.4.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.4.2.2.2.2的規(guī)定）。立柱在其行程的中間位置并鎖緊。主軸箱處于立柱的下端位置。平尺沿X軸方向平行于工作臺面放置在工作臺上，沿X軸移動立柱滑座，并記錄讀數(shù)。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.3.5檢驗項目G128.3.5.1工作臺臺面對以下軸線的平行度：a）工作臺臺面對立柱移動（W軸）的平行度；b）當(dāng)立柱無W軸運動時，檢查工作臺臺面對主軸箱移動（Y軸）的垂直度。G128.3.5.2簡圖見圖14。說明：1——始端；2——中端；3——末端。JB/T14484.1—20218.3.5.3公差：a）任意1000測量長度上：A級為0.065，B級為0.130；b）任意1000測量長度上：A級為0.100，B級為0.200。8.3.5.4檢驗工具：a）指示器和平尺或光學(xué)方法b）圓柱形角尺或精密角尺和指示器或光學(xué)方法8.3.5.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中的規(guī)定）。檢驗應(yīng)在立柱滑座沿床身的三個位置(中間和靠近兩端的位置)進行。a）5.4.2.2.2.2平尺沿W軸方向平行于工作臺面放置在工作臺上，沿W軸移動立柱，并記錄讀數(shù)。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。b）5.5.2.2.2.2在工作臺上放置一圓柱形角尺，將指示器固定在主軸上，使其測頭沿主軸軸線的方向觸及圓柱形角尺。測量時立柱鎖緊。沿Y軸移動主軸箱，并記錄讀數(shù)。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.4鏜軸8.4.1檢驗項目G138.4.1.1鏜軸的檢查：a）鏜軸錐孔的徑向跳動（鏜軸縮回）：1）在靠近鏜軸端部處；2）距鏜軸端部300mm處。b）鏜軸的徑向跳動：1）鏜軸縮回時；2）鏜軸伸出300mm處。c）周期性軸向竄動（鏜軸縮回）。G138.4.1.2簡圖見圖15。8.4.1.3公差：a）和b）D≤125，1)0.010、2)0.020；D＞125，1)0.015、2)0.030。c)：D≤125，0.010；D＞125，0.015。其中D為鏜軸直徑8.4.1.4檢驗工具。檢驗棒和指示器。8.4.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中的規(guī)定）：a）5.6.1.2.3b）5.6.1.2.2c）5.6.2.2.1和5.6.2.2.2施加力F的數(shù)值和方向由生產(chǎn)廠家給予規(guī)定。當(dāng)使用預(yù)緊的軸承時，不需施加作用力。JB/T14484.1—20218.4.2檢驗項目G148.4.2.1鏜軸軸線對立柱移動（W軸）的平行度（僅適用于具有W軸運動的機床）：a)在YZ垂直平面內(nèi)；b)在ZX水平平面內(nèi)。G148.4.2.2簡圖見圖16。8.4.2.3公差：a）和b）任意300測量長度上為0.020。8.4.2.4檢驗工具。指示器或者檢驗棒和平板。8.4.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.4.1.2.1和5.4.2.2.3的規(guī)定）。主軸箱位于行程的中間位置并鎖緊。鏜軸縮回。立柱滑座位于行程的中間位置并鎖緊。將檢驗棒安裝在鏜軸錐孔中進行檢驗。在鏜軸相隔180°的兩個位置檢測取其測量的算術(shù)平均值或在鏜軸回轉(zhuǎn)徑向跳動的算術(shù)平均位置進行檢驗。a）、b）誤差分別計算。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.4.3檢驗項目G158.4.3.1鏜軸軸線對立柱滑座移動（X軸）的垂直度。G158.4.3.2簡圖見圖17。8.4.3.3公差。0.030/1000。其中1000為觸及的兩個測量點間的距離。8.4.3.4檢驗工具。指示器和平尺。8.4.3.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.1.2.1和5.5.1.2.3.2的規(guī)定）。將平尺水平放置在工作臺上，并與立柱滑座的運動方向平行a。立柱和立柱滑座應(yīng)在其行程的中間位置并鎖緊。主軸箱位于立柱靠近下端的位置并鎖緊。鏜軸和滑枕應(yīng)縮回。將指示器固定在鏜軸上，使其測頭垂直觸及平尺檢驗面并記錄讀數(shù)。鏜軸轉(zhuǎn)動180o使指示器測頭重新觸及平尺檢驗面并記錄讀數(shù)。誤差以兩讀數(shù)的差值除以兩測量點間的距離計。JB/T14484.1—20218.4.4檢驗項目G168.4.4.1鏜軸軸線對主軸箱移動(Y軸)的垂直度。G168.4.4.2簡圖見圖18。8.4.4.3公差。0.030/1000，α≤90°。其中1000為觸及的兩個測量點間的距離。8.4.4.4檢驗工具。圓柱形角尺、調(diào)整塊和指示器。8.4.4.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.1.2.1和5.5.1.2.3.2的規(guī)定）。圓柱形角尺應(yīng)平行a于主軸箱的Y軸運動方向放置在工作臺上。主軸箱位于行程的中間位置并鎖緊。鏜軸和滑枕應(yīng)縮回。指示器固定在鏜軸上，使其測頭垂直觸及圓柱形角尺并記錄讀數(shù)。旋轉(zhuǎn)鏜軸180°,重復(fù)上述檢驗。誤差以兩讀數(shù)的差值除以兩測量點間的距離計。JB/T14484.1—20228.4.5檢驗項目G178.4.5.1鏜軸移動（Z軸a）與立柱運動（W軸）的平行度（有立柱滑座時b）與主軸箱運動（Y軸）的垂直度（立柱直接安裝在床身上）。G178.4.5.2簡圖見圖19。8.4.5.3公差。主軸伸長量；公差：+0.015（向上）；4D：+0.020，-0.040；6D：-0.080（向下）；說明：D代表鏜軸的直徑。主軸的伸長量不能超過主軸直徑的6倍，且不能超過1600。公差僅適用于主軸直徑不大于260；如果主軸直徑超過260，公差則需要用戶和供應(yīng)商/制造商協(xié)商確定。8.4.5.4檢驗工具。平尺，角尺，調(diào)整塊和指示器。8.4.5.5檢驗方法(按GB/T17421.1-1998中5.2.3.2.1.2、5.4.2.2.2.2和5.5.2.2.4的規(guī)定)：a)將平尺垂直放置在工作臺上，并與立柱的運動方向（W軸）平行a。鎖緊主軸旋轉(zhuǎn)。將指示器固定在主軸端部，并觸及平尺檢驗面。將主軸伸長到所要求的長度并記錄下每個位置指示器的讀數(shù)。b)調(diào)整平尺使放在上面的角尺垂直面與主軸箱運動方向(Y軸)平行，然后按a)項移動主軸檢測。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.5銑軸8.5.1檢驗項目G188.5.1.1銑軸端部的：a)徑向跳動；b)周期性軸向竄動；c)端面跳動（包括周期性軸向竄動）。G188.5.1.2簡圖見圖20。8.5.1.3公差：a)D≤125：0.010，D＞125：0.015；b)D≤125：0.010，D＞125：0.015；c)D≤125：0.020，D＞125：0.030。其中D為銑軸直徑。8.5.1.4檢驗工具。指示器。8.5.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中的規(guī)定）：a)5.6.1.2.2b)5.6.2.2.1和5.6.2.2.2施加力F的方向和數(shù)值由機床供應(yīng)商/制造商給予規(guī)定。主軸軸承有軸向預(yù)加載荷時，不需施加力F。c)5.6.3.2指示器測點至主軸軸線的距離A值應(yīng)盡可能大。JB/T14484.1—20228.6滑枕8.6.1檢驗項目G198.6.1.1滑枕移動（Z軸）對立柱移動（W軸）的平行度（僅適用于具有W軸運動的機床）：a)在YZ垂直平面內(nèi)；b)在ZX水平平面內(nèi)。G198.6.1.2簡圖見圖21。8.6.1.3公差：a）和b）500測量長度上為0.030。8.6.1.4檢驗工具。平尺、調(diào)整塊和指示器。8.6.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.4.2.2.2.2的規(guī)定）。在工作臺上平行a于立柱移動方向（W軸），分別按a)和b）所示位置放置平尺。立柱滑座在其行程的中間位置并鎖緊。主軸箱鎖緊。用固定在滑枕上的指示器檢驗滑枕相對平尺的移動。a）、b）誤差分別計算。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.6.2檢驗項目G208.6.2.1滑枕移動（Z軸）對立柱滑座移動（X軸）的垂直度。G208.6.2.2簡圖見圖22。8.6.2.3公差。500測量長度上為0.030。8.6.2.4檢驗工具。平尺、角尺、調(diào)整塊和指示器/支架。8.6.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中的5.5.2.2.4的規(guī)定）。立柱在行程的中間位置并鎖緊。在工作臺上平行a于立柱滑座移動方向放置平尺，然后將一角尺緊靠平尺放置。用固定在滑枕上的指示器檢驗滑枕移動與角尺檢驗面的平行度。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.6.3檢驗項目G218.6.3.1滑枕移動（Z軸）對主軸箱移動（Y軸）的垂直度。G218.6.3.2簡圖見圖23。8.6.3.3公差。500測量長度上為0.030。8.6.3.4檢驗工具。平尺、角尺、調(diào)整塊和指示器/支架。8.6.3.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.2.2.4的規(guī)定）。立柱在行程的中間位置并鎖緊。在工作臺上平行a于滑枕移動方向（Z軸）放置一平尺，然后將一角尺置于其上。用固定在滑枕上的指示器檢驗主軸箱移動與角尺檢測面的平行度。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20218.6.4檢驗項目G228.6.4.1銑軸軸線：a）與滑枕前端刀具或附件定位圓臺軸線的同軸度；b）對滑枕上刀具或附件支承面的垂直度。G228.6.4.2簡圖見圖24。8.6.4.3公差：a)0.020；b)0.020/500（500指兩個測量接觸點之間的距離）。8.6.4.4檢驗工具。指示器和檢驗棒。8.6.4.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998的規(guī)定a）5.4.4.2指示器固定在銑軸上，使其測頭觸及滑枕上刀具或附件定位圓臺面。旋轉(zhuǎn)銑軸檢驗。同軸度誤差以指示器讀數(shù)的的最大差值之半計。b）5.5.1.2.4.2指示器固定在銑軸上，使其測頭觸及滑枕上刀具或附件支承面邊緣處。旋轉(zhuǎn)銑軸檢驗。垂直度誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.7固定式平旋盤8.7.1檢驗項目G238.7.1.1鏜軸軸線和平旋盤軸線的同軸度（僅適用于平旋盤安裝在鏜軸軸承之外的軸承上的機床）：a)靠近平旋盤端面處；b)距平旋盤端面300mm處。G238.7.1.2簡圖見圖25。8.7.1.3公差：a)D≤125：0.020、D＞125：0.030；b)D≤125：0.030、D＞125：0.040。其中D為鏜軸直徑。8.7.1.4檢驗工具。指示器和檢驗棒。8.7.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.4.4.2的規(guī)定）。指示器固定在平旋盤上，其測頭分別在靠近平旋盤端面處和距平旋盤端面300mm處觸及鏜軸。旋轉(zhuǎn)鏜軸檢驗。a)、b)誤差分別計算，同軸度誤差以指示器讀數(shù)的最大差值之半計。JB/T14484.1—20218.7.2檢驗項目G248.7.2.1平旋盤回轉(zhuǎn)軸線對立柱滑座移動（X軸）的垂直度。（僅適用于平旋盤安裝在鏜軸軸承之外的軸承上的機床）G248.7.2.2簡圖見圖26。8.7.2.3公差。0.030/1000（1000指兩個測量接觸點之間的距離）。8.7.2.4檢驗工具。指示器、剛性支架、調(diào)整塊和平尺。8.7.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.1.2.1和5.5.1.2.3.2的規(guī)定）。立柱在行程的中間位置并鎖緊。主軸箱位于立柱下端位置并鎖緊。平尺置于工作臺上，并使其在水平面內(nèi)平行a于立柱滑座移動方向。指示器固定在平旋盤剛性支臂上，使其測頭觸及平尺檢驗面，記錄讀數(shù)。轉(zhuǎn)動平旋盤，直至指示器測頭重新觸及平尺，記錄讀數(shù)。誤差以兩讀數(shù)的差值除以兩測量點間的距離計。JB/T14484.1—20228.7.3檢驗項目G258.7.3.1平旋盤回轉(zhuǎn)軸線對主軸箱移動（Y軸）的垂直度。（僅適用于平旋盤安裝在鏜軸軸承之外的軸承上的機床）G258.7.3.2簡圖見圖27。8.7.3.3公差。0.030/1000（1000指兩個測量接觸點之間的距離）。8.7.3.4檢驗工具。指示器、剛性支架、平板、調(diào)整塊和圓柱形角尺。8.7.3.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.5.1.2.1和5.5.1.2.3.2的規(guī)定）。主軸箱在行程中間位置并鎖緊，主軸回縮。立柱在行程的中間位置并鎖緊。圓柱形角尺平行a于主軸箱移動方向（Y軸）置于工作臺上。指示器固定在平旋盤上，測頭觸及圓柱形角尺，記錄讀數(shù)。旋轉(zhuǎn)平旋盤，使指示器測頭重新觸及圓柱形角尺，記錄讀數(shù)。誤差以兩讀數(shù)的差值除以兩測量點間的距離計。JB/T14484.1—20218.8徑向滑塊運動（U軸）8.8.1檢驗項目G268.8.1.1平旋盤滑塊在水平面內(nèi)移動（U軸）對立柱滑座移動（X軸）的平行度。G268.8.1.2簡圖見圖28。8.8.1.3公差。300測量長度上為0.025。8.8.1.4檢驗工具。平尺、量塊和指示器/支架。8.8.1.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中5.4.2.2.5和5.4.2.2.2的規(guī)定）。平尺水平置于工作臺上，并使其檢測面平行a于立柱滑座移動方向（X軸），指示器固定在平旋盤徑向滑塊上。移動徑向滑塊檢驗，并記錄讀數(shù)差值。將平旋盤旋轉(zhuǎn)180°后，重復(fù)上述檢驗。誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20228.8.2檢驗項目G278.8.2.1平旋盤滑塊在垂直平面內(nèi)移動對：a）主軸箱移動(Y軸)的平行度；b）立柱移動（W軸）的垂直度（僅適用于具有立柱運動（W軸）的機床）。G278.8.2.2簡圖見圖29。8.8.2.3公差：a）和b）300測量長度上為0.025。8.8.2.4檢驗工具。角尺、平尺、指示器和調(diào)整塊。8.8.2.5檢驗方法（按GB/T17421.1-1998中的規(guī)定a)5.4.2.2.2將角尺平行a于主軸箱移動方向(Y軸)垂直放置在工作臺上，指示器固定在平旋盤徑向滑塊上。移動徑向滑塊檢驗，并記錄讀數(shù)差值。將平旋盤旋轉(zhuǎn)180°,重復(fù)上述檢驗。b)5.5.2.2.4將平尺平行b于立柱移動方向（W軸）水平放置在工作臺上。并在其上放置一圓柱形角尺/角尺。 指示器固定在徑向滑塊上。其測頭觸及角尺檢驗面，垂直移動徑向滑塊檢驗，并記錄讀數(shù)差值。平旋盤旋轉(zhuǎn)180°,重復(fù)上述檢驗。a)、b)誤差分別計算，誤差以指示器讀數(shù)的最大差值計。JB/T14484.1—20219工作精度檢驗9.1檢驗性質(zhì)M19.1.1加工單個試件，包括：a)鏜內(nèi)孔a1和a2；b)車外圓b1和b2；c)加工端面C。（僅適用于具有滑動鏜軸和固定式或可拆式平旋盤，或具有獨立銑軸的機床）M19.1.2試件簡圖見圖30。說明：1——試件；2——試件放大圖；3——試件安裝支架；4——工作臺；a見下頁序號1；b見下頁序號2；c見下頁序號3；d見下頁序號4；e見下頁序號5；f見下頁序號6鏜孔直徑d應(yīng)等于或略大于鏜軸直徑。車削直徑D的確定應(yīng)使（D-d）/2的值等于或略小于平旋盤徑向滑塊的最大行程。試件材料：鑄鐵。JB/T14484.1—20229.1.3檢驗項目及要求。1a和a：直徑每增加300mm，公孔徑量規(guī)和千分尺或其它具有相同精度的檢驗方法按GB/T17421.1-1998中檢測前，支架與工作臺的安裝面應(yīng)平直，支架安裝工件的端面與支架4)用平旋盤滑塊自動進給或用銑削23內(nèi)孔a和外圓b的同心度檢驗棒和指示器4外圓b1和b2與內(nèi)孔a1和a2基準(zhǔn)軸線的同軸度（GB/T立柱縱向移動300長度56端面C對內(nèi)孔a和a基準(zhǔn)軸檢驗棒和指示器或水平儀和JB/T14484.1—20219.2檢驗性質(zhì)M29.2.1加工兩個試件，包括：a)通過立柱滑座（X軸）自動移動、主軸箱垂直自動移動和立柱（W軸）自動移動，銑削A、C和D面。b)通過立柱滑座（X軸）自動移動、主軸箱垂直自動移動，銑削B面，至少兩次進刀，接刀處重疊約5mm至10mm。M29.2.2試件簡圖見圖31。說明：L(試件的長度或兩個試件外側(cè)面之間的距離)=1/2立柱滑座X軸的行程；a見下頁序號1；b見下頁序號2；c見下頁序號3。試件材料：鑄鐵。L≦1000時，l=h=150；L﹥1000時，l=h=200。JB/T14484.1—20229.2.3檢驗項目及要求。1檢驗方法按GB/T17421.1-1998中3.1、3.2.2、4.1、4.2、5.3.2.1和5.3.2.5的239.2.4切削條件。對于a)，用裝在主軸端部帶有適當(dāng)長度的刀柄的套式端銑刀。對于b)，用同一把銑刀進行銑削。刀具應(yīng)裝在刀桿上刃磨，安裝時應(yīng)符合下列公差：1）圓度（見GB/T1182-2008）≤0.010;2）徑向跳動≤0.020；3）端面跳動≤0.030。JB/T14484.1—20219.3檢驗性質(zhì)M39.3.1數(shù)控切削。M39.3.2試件簡圖見圖32。說明：H=100~200；h=0.4H；d=300。試件材料：鑄鐵。9.3.3檢驗項目及要求。12349.3.4切削條件。試件安裝基準(zhǔn)面應(yīng)平直，試件安裝在工作臺的中間位置。根據(jù)數(shù)控切削的精度要求編制程序，進行數(shù)控切削，檢驗圓度、平行度、垂直度和位置度。JB/T14484.1—202210定位精度和重復(fù)定位精度的檢驗10.1一般要求下列檢驗僅適用于具有數(shù)控軸線和回轉(zhuǎn)定位軸線的落地銑鏜床。進行檢驗時應(yīng)按GB/T17421.2-2016的規(guī)定，尤其是環(huán)境條件、機床的升溫、檢驗方法、結(jié)果的評定和表達。10.2檢驗項目P110.2.1立柱滑座移動（X軸）的定位精度和重復(fù)定位精度。P110.2.2簡圖見圖33。標(biāo)引序號說明：1——激光頭；2——干涉儀；3——反射器。10.2.3公差。測量長度≤500≤1000≤2000軸線雙向定位精度aA0.0200.0250.030軸線單向重復(fù)定位精度aR↑或R↓0.0100.0130.015軸線雙向重復(fù)定位精度R0.0140.0180.020軸線反向差值aB0.0100.0130.016軸線平均反向差值B0.0050.0060.008軸線雙向定位系統(tǒng)位置偏差aE0.0120.0150.018軸線的雙向平均位置偏差aM0.0080.0100.012測量長度超過2000軸線雙向定位系統(tǒng)位置偏差aE0.018+（測量長度每增加1000，公差增加0.006）軸線雙向平均位置偏差aM0.012+（測量長度每增加1000，公差增加0.003）軸線反向差值aB0.016+（測量長度每增加1000，公差增加0.003）JB/T14484.1—202110.2.4檢驗工具。標(biāo)準(zhǔn)長度尺和顯微鏡或激光測量裝置。10.2.5檢驗方法（按GB/T17421.2-2016中2、4.3.2和4.3.3的規(guī)定）。標(biāo)準(zhǔn)長度尺或激光測量裝置的光束軸線應(yīng)調(diào)整至與移動軸線平行。原則上，用快速進給速度來定位，但如果用戶和供方/制造廠達成協(xié)議，可用任意進給速度定位。檢驗時，應(yīng)標(biāo)明測量起始點的位置。JB/T14484.1—202210.3檢驗項目P210.3.1主軸箱移動（Y軸）的定位精度和重復(fù)定位精度。P2標(biāo)引序號說明：1——激光頭；2——干涉儀；3——反射器。10.3.3公差。測量長度≤500≤1000≤2000軸線雙向定位精度aA0.0200.0250.030軸線單向重復(fù)定位精度aR↑或R↓0.0100.0130.015軸線雙向重復(fù)定位精度R0.0140.0180.020軸線反向差值aB0.0100.0130.016軸線平均反向差值B0.0050.0060.008軸線雙向定位系統(tǒng)位置偏差aE0.0120.0150.018軸線雙向平均位置偏差aM0.0080.0100.012測量長度超過2000軸線雙向定位系統(tǒng)位置偏差aE0.018+（測量長度每增加1000，公差增加0.006）軸線雙向平均位置偏差aM0.012+（測量長度每增加1000，公差增加0.003）軸線反向差值aB0.016+（測量長度每增加1000，公差增加0.003）10.3.4檢驗工具。標(biāo)準(zhǔn)長度尺和顯微鏡或激光測量裝置。10.3.5檢驗方法（按GB/T17421.2-2016中2、4.3.2和4.3.3的規(guī)定）。標(biāo)準(zhǔn)長度尺或激光測量裝置的光束軸線應(yīng)調(diào)整至與移動軸線平行。原則上，用快速進給速度來定位，但如果用戶和供方/制造廠達成協(xié)議，可用任意進給速度定位。檢驗時，應(yīng)標(biāo)明測量起始點的位置。JB/T14484.1—202110.4檢驗項目P310.4.1立柱移動（W軸）的定位精度和重復(fù)定位精度。P310.4.2簡圖見圖35。標(biāo)引序號說明：1——激光頭；2——干涉儀；3——反射器。10.4.3公差。測量長度≤500≤1000≤2000軸線雙向定位精度aA0.0200.0250.030軸線單向重復(fù)定位精度aR↑或R↓0.0100.0130.015軸線雙向重復(fù)定位精度R0.0140.0180.020軸線反向差值aB0.0100.0130.016軸線平均反向差值B0.0050.0060.008軸線雙向定位系統(tǒng)位置偏差aE0.0120.0150.018軸線雙向平均位置偏差aM0.0080.0100.01210.4.4檢驗工具。標(biāo)準(zhǔn)長度尺和顯微鏡或激光測量裝置。10.4.5檢驗方法（按GB/T17421.2-2016中2、4.3.2和4.3.3的規(guī)定）。標(biāo)準(zhǔn)長度尺或激光測量裝置的光束軸線應(yīng)調(diào)整得與移動軸線平行。原則上，用快速進給速度來定位，但如果用戶和供方/制造廠達成協(xié)議，可用任意進給速度定位。檢驗時，應(yīng)標(biāo)明測量起始點的位置。JB/T14484.1—202210.5檢驗項目P410.5.1鏜軸或滑枕移動（Z軸）的定位精度和重復(fù)定位精度。P410.5.2簡圖見圖36。標(biāo)引序號說明：1——激光頭；2——干涉儀；3——反射器。10.5.3公差。測量長度≤500≤1000≤2000軸線雙向定位精度aA0.0250.0300.035軸線單向重復(fù)定位精度aR↑或R↓0.0130.0150.016軸線雙向重復(fù)定位精度R0.0180.0200.022軸線反向差值aB0.0130.0160.018軸線平均反向差值B0.0060.0080.010軸線雙向定位系統(tǒng)位置偏差aE0.0150.0180.022軸線雙向平均位置偏差aM0.0100.0120.01410.5.4檢驗工具。標(biāo)準(zhǔn)長度尺和顯微鏡或激光測量裝