GB/T 42968.8-2023集成電路電磁抗擾度測量第8部分：輻射抗擾度測量IC帶狀線法

ICS31200

CCSL.56

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

集成電路電磁抗擾度測量

第8部分輻射抗擾度測量IC帶狀線法

:

Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—

Part8Measurementofradiatedimmunit—ICstrilinemethod

:yp

IEC62132-82012IDT

(:,)

2023-09-07發(fā)布2024-01-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

概述

4………………………2

試驗(yàn)條件

5…………………2

通則

5.1…………………2

電源電壓

5.2……………3

頻率范圍

5.3……………3

試驗(yàn)設(shè)備

6…………………3

通則

6.1…………………3

電纜

6.2…………………3

屏蔽

6.3…………………3

騷擾發(fā)生器

6.4RF………………………3

帶狀線

6.5IC……………3

終端

6.650Ω……………3

監(jiān)測器

6.7DUT…………………………3

試驗(yàn)布置

7…………………3

通則

7.1…………………3

試驗(yàn)配置

7.2……………4

試驗(yàn)板

7.3EMC(PCB)…………………4

試驗(yàn)程序

8…………………4

通則

8.1…………………4

運(yùn)行檢查

8.2……………4

抗擾度測量

8.3…………………………5

試驗(yàn)報(bào)告

9…………………6

射頻抗擾度接受電平

10……………………6

附錄規(guī)范性場強(qiáng)確定

A()………………7

附錄規(guī)范性帶狀線的描述

B()IC………………………9

附錄資料性封閉式帶狀線的幾何尺寸限制

C()………12

參考文獻(xiàn)

……………………16

Ⅰ

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是集成電路電磁抗擾度測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下

GB/T42968《》8。GB/T42968

部分

:

第部分通用條件和定義

———1:;

第部分輻射抗擾度測量帶狀線法

———8:IC。

本文件等同采用集成電路電磁抗擾度測量第部分輻射抗擾度測量

IEC62132-8:2012《8:IC

帶狀線法

》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本文件由全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC78)。

本文件起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院工業(yè)和信息化部電子第五研究所深圳市北測標(biāo)準(zhǔn)

:、、

技術(shù)服務(wù)有限公司天津先進(jìn)技術(shù)研究院北京智芯微電子科技有限公司浙江諾益科技有限公司揚(yáng)芯

、、、、

科技深圳有限公司廣州市誠臻電子科技有限公司北京無線電計(jì)量測試研究所廈門海諾達(dá)科學(xué)儀

()、、、

器有限公司河南凱瑞車輛檢測認(rèn)證中心有限公司中國家用電器研究院中國合格評定國家認(rèn)可中心

、、、、

北京芯可鑒科技有限公司東南大學(xué)中國汽車工程研究院股份有限公司廣東省科學(xué)院電子電器研究

、、、

所青島金匯源電子有限公司聯(lián)想北京有限公司西安優(yōu)來測科技有限公司中國電力科學(xué)研究院有

、、()、、

限公司廣州致遠(yuǎn)電子有限公司

、。

本文件主要起草人付君崔強(qiáng)方文嘯劉小軍吳建飛喬彥彬鄭益民葉暢楊紅波李楠

:、、、、、、、、、、

劉星汛梁吉明白云張艷艷朱賽靳冬劉佳陳燕寧邵鄂周香黃雪梅鄭泓李德鵬呂飛燕

、、、、、、、、、、、、、、

劉易勇賀偉陳勇志陳梅雙

、、、。

Ⅲ

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

引言

為規(guī)范集成電路電磁抗擾度測量以及為集成電路制造商和檢測機(jī)構(gòu)提供不同的電磁抗擾度測量

,

方法集成電路電磁抗擾度測量規(guī)定了集成電路電磁抗擾度測量的通用條件定義和

,GB/T42968《》、

不同測量方法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求擬由個部分構(gòu)成

,7。

第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁抗擾度測量的通用條件和定義

———1:。。

第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬帶

———2:TEMTEM。TEM

小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

TEM。

第部分大電流注入法目的在于規(guī)定大電流注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———3:(BCI)。。

第部分射頻功率直接注入法目的在于規(guī)定射頻功率直接注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———4:。。

第部分工作臺法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺法拉第籠法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———5:。。

第部分輻射抗擾度測量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———8:IC。IC。

第部分輻射抗擾度測量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求

———9:。。

Ⅳ

GB/T429688—2023/IEC62132-82012

.:

集成電路電磁抗擾度測量

第8部分輻射抗擾度測量IC帶狀線法

:

1范圍

本文件描述了集成電路對頻率范圍內(nèi)的射頻輻射電磁騷擾的抗擾度

(IC)150kHz~3GHz(RF)

測量方法

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

集成電路電磁抗擾度測量第部分通用條件和定義

GB/T42968.1—20231:(IEC62132-1:

2015,IDT)

注被引用的內(nèi)容與被引用的內(nèi)容沒有技術(shù)上的差異

:GB/T42968.1—2023IEC62132-1:2006。

國際電工術(shù)語第章電路理論

IEC60050-131131:[InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Chapter131:Circuittheory]

注電工術(shù)語電路理論

:GB/T2900.74—2008(IEC60050-131:2002,MOD)。

國際電工術(shù)語第章電磁兼容

IEC60050-161161:[InternationalElectrotechnicalVocabulary

(IEV)—Chapter161:Electromagneticcompatibility]

注電工術(shù)語電磁兼容

:GB/T4365—2003(IEC60050-161:1990+A1:1997+A