標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 42968.1-2023 集成電路 電磁抗擾度測量 第1部分:通用條件和定義》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)之一,旨在為集成電路在電磁環(huán)境下的性能測試提供一套標(biāo)準(zhǔn)化的方法與規(guī)定。該標(biāo)準(zhǔn)的第一部分專注于確立適用于所有后續(xù)具體測試方法的通用條件及術(shù)語定義,確保了不同實(shí)驗(yàn)室之間結(jié)果的一致性和可比性。
標(biāo)準(zhǔn)中詳細(xì)描述了電磁抗擾度測試的基本原則、環(huán)境要求、設(shè)備配置以及測試程序等關(guān)鍵要素。其中,對于術(shù)語的準(zhǔn)確界定尤為重要,它幫助明確了諸如“干擾源”、“敏感度水平”等概念的確切含義,從而減少了因理解差異導(dǎo)致的測試偏差。此外,還規(guī)定了被測樣品(DUT)的選擇標(biāo)準(zhǔn)、安裝方式及其與測試儀器之間的連接要求,這些都直接影響到最終數(shù)據(jù)的有效性。
關(guān)于測試環(huán)境,標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了需要控制的因素,比如溫度、濕度等物理?xiàng)l件,以保證實(shí)驗(yàn)結(jié)果不受外界因素的影響。同時(shí),對用于產(chǎn)生或模擬電磁場的裝置也有明確的要求,包括但不限于其頻率范圍、功率等級等參數(shù)設(shè)置,這些都是為了能夠準(zhǔn)確地再現(xiàn)特定類型的電磁干擾情景,并據(jù)此評估集成電路產(chǎn)品的實(shí)際抵抗能力。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2023-09-07 頒布
- 2024-01-01 實(shí)施
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文檔簡介
ICS31200
CCSL.56
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T429681—2023/IEC62132-12015
.:
集成電路電磁抗擾度測量
第1部分通用條件和定義
:
Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity—
Part1Generalconditionsanddefinitions
:
IEC62132-12015IDT
(:,)
2023-09-07發(fā)布2024-01-01實(shí)施
國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布
國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T429681—2023/IEC62132-12015
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語和定義
3………………1
試驗(yàn)條件
4…………………4
通則
4.1…………………4
環(huán)境條件
4.2……………4
試驗(yàn)發(fā)生器
4.3…………………………4
頻率范圍
4.4……………5
試驗(yàn)設(shè)備
5…………………5
概述
5.1…………………5
屏蔽
5.2…………………5
試驗(yàn)發(fā)生器和功率放大器
5.3…………5
其他組件
5.4……………5
試驗(yàn)布置
6…………………5
通則
6.1…………………5
試驗(yàn)電路板
6.2…………………………5
引腳選擇方案
6.3………………………6
引腳負(fù)載終端
6.4IC/…………………6
電源的要求
6.5…………………………6
的特殊要求
6.6IC………………………7
時(shí)間穩(wěn)定性
6.7IC………………………7
試驗(yàn)程序
7…………………7
監(jiān)測檢查
7.1……………7
人體暴露
7.2……………7
系統(tǒng)驗(yàn)證
7.3……………7
特殊程序
7.4……………8
試驗(yàn)報(bào)告
8…………………9
通則
8.1…………………9
抗擾度限值或等級
8.2…………………9
性能分級
8.3IC…………………………9
試驗(yàn)結(jié)果的說明
8.4……………………10
Ⅰ
GB/T429681—2023/IEC62132-12015
.:
附錄資料性試驗(yàn)方法比較
A()…………11
附錄資料性通用試驗(yàn)板的描述
B()……………………13
參考文獻(xiàn)
……………………16
Ⅱ
GB/T429681—2023/IEC62132-12015
.:
前言
本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是集成電路電磁抗擾度測量的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下
GB/T42968《》1。GB/T42968
部分
:
第部分通用條件和定義
———1:;
第部分輻射抗擾度測量帶狀線法
———8:IC。
本文件等同采用集成電路電磁抗擾度測量第部分通用條件和定義
IEC62132-1:2015《1:》。
本文件做了下列最小限度的編輯性改動(dòng)
:
將僅在資料性附錄中引用的文件由
———IEC62132-2、IEC62132-5、IEC62132-8、IEC/TS62132-9
第章調(diào)至參考文獻(xiàn)
2;
用替換了資料性引用的
———GB/T42968.8IEC62132-8。
請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任
。。
本文件由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本文件由全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口
(SAC/TC78)。
本文件起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院北京智芯微電子科技有限公司浙江諾益科技有限
:、、
公司工業(yè)和信息化部電子第五研究所天津先進(jìn)技術(shù)研究院廣州市誠臻電子科技有限公司揚(yáng)芯科技
、、、、
深圳有限公司北京無線電計(jì)量測試研究所上海市計(jì)量測試技術(shù)研究院中國家用電器研究院河南
()、、、、
凱瑞車輛檢測認(rèn)證中心有限公司東南大學(xué)深圳市北測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司中國汽車工程研究院
、、、
股份有限公司北京芯可鑒科技有限公司南京信息工程大學(xué)中國信息通信研究院中國合格評定國家
、、、、
認(rèn)可中心廈門海諾達(dá)科學(xué)儀器有限公司蘇州泰思特電子科技有限公司鄭州新基業(yè)汽車電子有限公
、、、
司北京郵電大學(xué)南京容向測試設(shè)備有限公司上海電器設(shè)備檢測所有限公司中國電子科技集團(tuán)公司
、、、、
第三十二研究所
。
本文件主要起草人崔強(qiáng)付君喬彥彬鄭益民方文嘯吳建飛葉暢李楠朱賽楊紅波劉星汛
:、、、、、、、、、、、
李金龍張艷艷白云周香劉小軍黃雪梅陳燕寧邵鄂萬發(fā)雨臧琦劉佳梁吉明胡小軍郭文明
、、、、、、、、、、、、、、
張金玲邢立文張青青張先利陳梅雙
、、、、。
Ⅲ
GB/T429681—2023/IEC62132-12015
.:
引言
為規(guī)范集成電路電磁抗擾度測量以及為集成電路制造商和檢測機(jī)構(gòu)提供不同的電磁抗擾度測量
,
方法集成電路電磁抗擾度測量規(guī)定了集成電路電磁抗擾度測量的通用條件定義和
,GB/T42968《》、
不同測量方法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求擬由個(gè)部分構(gòu)成
,7。
第部分通用條件和定義目的在于規(guī)定集成電路電磁抗擾度測量的通用條件和定義
———1:。。
第部分輻射抗擾度測量小室和寬帶小室法目的在于規(guī)定小室和寬帶
———2:TEMTEM。TEM
小室法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
TEM。
第部分大電流注入法目的在于規(guī)定大電流注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———3:(BCI)。。
第部分射頻功率直接注入法目的在于規(guī)定射頻功率直接注入法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———4:。。
第部分工作臺法拉第籠法目的在于規(guī)定工作臺法拉第籠法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———5:。。
第部分輻射抗擾度測量帶狀線法目的在于規(guī)定帶狀線法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)
———8:IC。IC
要求
。
第部分輻射抗擾度測量表面掃描法目的在于規(guī)定表面掃描法的試驗(yàn)程序和試驗(yàn)要求
———9:。。
Ⅳ
GB/T429681—2023/IEC62132-12015
.:
集成電路電磁抗擾度測量
第1部分通用條件和定義
:
1范圍
本文件定義了集成電路傳導(dǎo)和輻射騷擾電磁抗擾度測量的通用信息描述了常規(guī)的試驗(yàn)條
(IC),
件試驗(yàn)設(shè)備和布置試驗(yàn)程序和試驗(yàn)報(bào)告內(nèi)容附錄中給出了試驗(yàn)方法的對照表幫助選擇適當(dāng)?shù)?/p>
、、。A,
測量方法
。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文
。,
件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于
,;,()
本文件
。
集成電路電磁抗擾度測量第部分大電流注入法
IEC62132-3(150kHz~1GHz)3:(BCI)
[Integratedcircuits—Measurementofelectromagneticimmunity,150kHzto1GHz—Part3:Bulk
currentinjection(BCI)method]
集成
溫馨提示
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